本實用新型涉及一種測試裝置，具體的說是一種散熱測試裝置。

背景技術：

由于內(nèi)存產(chǎn)品市場競爭日益激烈，公司研發(fā)投入DDR4產(chǎn)品，故DDR4產(chǎn)品測試系統(tǒng)開發(fā)。跟DDR3相比，DDR4讀寫指令需要更長的啟動時間周期(也就是讀寫指令下達后需花費多少時間周期數(shù)據(jù)才會出現(xiàn)在接口上)，因此在相同頻率下，DDR4的讀寫效率會比DDR3低，對測試設備要求相應較高，需要開發(fā)高效率的測試設備。

技術實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的在于克服上述不足之處，從而提供一種散熱測試裝置。本實用新型是通過下述技術方案解決上述技術問題的：一種散熱測試裝置，包括：設備主體1、測試裝置2和散熱裝置3，所述測試裝置2安裝在設備主體1的上方，所述散熱裝置3安裝在設備主體1的內(nèi)部，所述散熱裝置3安裝測試裝置2的下方，所述測試裝置2包括：測試單元21、T-cal讀取器22和CP機23，所述測試單元21通過T-cal讀取器22與CP機23相連；

所述散熱裝置3包括：控制模塊和降溫裝置31，所述控制模塊與降溫裝置31連接。

優(yōu)選的，所述降溫裝置31包括：主板311、CPU312、集熱板313、導風槽314和散熱排風管315，所述CPU312安裝在主板311上，所述 集熱板313設置在CPU312的上方，所述導風槽314設置在集熱板313的兩側，所述散熱排風管315與導風槽314連接。

優(yōu)選的，所述測試裝置2上安裝有開關4；所述開關4與控制模塊連接。

優(yōu)選的，所述設備主體1上還安裝有異常急停按鈕5，所述異常急停按鈕5與控制模塊連接。

優(yōu)選的，所述設備主體1的下方安裝有4個萬向輪6。

本實用新型的有益效果：本實用新型可實現(xiàn)DDR4產(chǎn)品量產(chǎn)的可能，有效排除測試過程中產(chǎn)生的熱量，設備現(xiàn)狀便于生產(chǎn)線量產(chǎn)批量操作，測試單元板安裝結構便于日常維護維修。

附圖說明

圖1為本實用新型的主視圖

圖2為本實用新型的側視圖

圖3為本實用新型的降溫裝置的結構圖

圖4為本實用新型的控制原理圖

圖中：1-設備主體；2-測試裝置；

3-散熱裝置；31-降溫裝置；311-主板；312-CPU；313-集熱板；314-導風槽；315-散熱排風管；

4-開關；5-異常急停按鈕；6-萬向輪。

具體實施方式

以下是本實用新型的具體實施例并結合附圖，對本實用新型的技術方案作進一步的描述，但本實用新型并不限于這些實例。

如圖1至圖4所示，一種散熱測試裝置，包括：設備主體1、測試裝置2和散熱裝置3，所述測試裝置2安裝在設備主體1的上方，所述散熱裝置3安裝在設備主體1的內(nèi)部，所述散熱裝置3安裝測試裝置2的下方，所述測試裝置2包括：測試單元21、T-cal讀取器22和CP機23，所述測試單元21通過T-cal讀取器22與CP機23相連；所述散熱裝置3包括：控制模塊和降溫裝置31，所述控制模塊與降溫裝置31連接。

在本實施例中，優(yōu)選的，所述降溫裝置31包括：主板311、CPU312、集熱板313、導風槽314和散熱排風管315，所述CPU312安裝在主板311上，所述集熱板313設置在CPU312的上方，所述導風槽314設置在集熱板313的兩側，所述散熱排風管315與導風槽314連接。在本實施例中，優(yōu)選的，所述測試裝置2上安裝有開關4；所述開關4與控制模塊連接。

在本實施例中，優(yōu)選的，所述設備主體1上還安裝有異常急停按鈕5，所述異常急停按鈕5與控制模塊連接。

在本實施例中，優(yōu)選的，所述設備主體1的下方安裝有4個萬向輪6。以上所述僅為本實用新型的優(yōu)選實施例方式，不能以此來限定本實用新型保護的范圍，本領域的技術人員在本實用新型的基礎上所做的任何非實質(zhì)性的變化及替換均屬于本實用新型所要求保護的范圍。