本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種觸摸檢測方法和裝置。

背景技術(shù)：

目前，隨著觸摸屏尺寸的不斷增大，大尺寸的觸摸屏成品在觸控壓力一致性方面的性能較差。產(chǎn)品開發(fā)人員往往通過增加采樣點數(shù)或者統(tǒng)一使用時間復(fù)雜度較高的濾波算法，過濾無效數(shù)據(jù)，計算出準(zhǔn)確的觸摸軌跡。

但是，增加采樣點數(shù)和統(tǒng)一使用時間復(fù)雜度較高的濾波算法的方式會導(dǎo)致主處理器的負擔(dān)增大，在性能要求嚴(yán)格的嵌入式系統(tǒng)中，往往又會導(dǎo)致觸控顯示刷新延遲等問題，影響用戶的觸控體驗。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供一種觸摸檢測方法和裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中大尺寸電阻式觸摸屏的性能和觸控準(zhǔn)確性無法同時滿足的問題。

第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種觸摸檢測方法，該觸摸檢測方法包括：

若檢測到用戶通過觸摸屏輸入觸摸數(shù)據(jù)，則對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到所述觸摸屏的二維坐標(biāo)系中的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，其中，所述n為整數(shù)；

根據(jù)所述n個x軸電壓采樣值和所述n個y軸電壓采樣值，判斷所述觸摸點所在的位置是否屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域；

若所述觸摸點所在的位置屬于所述問題區(qū)域，則繼續(xù)對所述觸摸點進行電壓值采樣，并根據(jù)采樣數(shù)據(jù)計算所述觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值；

根據(jù)所述x軸電壓值和所述y軸電壓值，確定所述觸摸點在所述觸摸屏的位置坐標(biāo)。

另一方面，本發(fā)明實施例提供了一種觸摸檢測裝置，該觸摸檢測裝置包括:

采樣模塊，用于若檢測到用戶通過觸摸屏輸入觸摸數(shù)據(jù)，則對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到所述觸摸屏的二維坐標(biāo)系中的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，其中，所述n為整數(shù)；

判斷模塊，用于根據(jù)所述n個x軸電壓采樣值和所述n個y軸電壓采樣值，判斷所述觸摸點所在的位置是否屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域；

計算模塊，用于若所述觸摸點所在的位置屬于所述問題區(qū)域，則繼續(xù)對所述觸摸點進行電壓值采樣，并根據(jù)采樣數(shù)據(jù)計算所述觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值；

第一確定模塊，用于根據(jù)所述x軸電壓值和所述y軸電壓值，確定所述觸摸點在所述觸摸屏的位置坐標(biāo)。

本發(fā)明實施例若檢測到用戶通過觸摸屏輸入的觸摸數(shù)據(jù)，則對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到n個x軸采樣電壓值和n個y軸采樣電壓值，并根據(jù)n個x軸采樣電壓值和n個y軸采樣電壓值，判斷觸摸點所在的位置是否屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域，若該觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點的電壓值進行采樣，并根據(jù)采樣數(shù)據(jù)計算該觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值，然后根據(jù)x軸電壓值和y軸電壓值，確定該觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。通過對觸摸點的電壓值進行采樣，識別出觸控壓力不一致的問題區(qū)域，只針對問題區(qū)域通過增加采樣點使用時間復(fù)雜度較高的優(yōu)化算法，而對正常區(qū)域可以仍然采用采樣點較少的常規(guī)過濾算法，從而在減少對系統(tǒng)處理能力的占用，降低處理器的處理負荷，提高觸控性能的同時，也避免了觸控顯示刷新延遲等問題，使得終端能夠及時準(zhǔn)確地響應(yīng)觸摸操作對應(yīng)的控制指令。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實施例一提供的一種觸摸檢測方法的流程圖；

圖2是本發(fā)明實施例提供的一種觸摸檢測方法中觸摸屏坐標(biāo)分布示意圖；

圖3是本發(fā)明實施例二提供的一種觸摸檢測方法的流程圖；

圖4是本發(fā)明實施例三提供的一種觸摸檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5是本發(fā)明實施例四提供的一種觸摸檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

以下結(jié)合具體附圖對本發(fā)明的實現(xiàn)進行詳細的描述。

實施例一：

圖1是本發(fā)明實施例一提供的一種觸摸檢測方法的流程圖，本發(fā)明實施例的執(zhí)行主體為智能終端設(shè)備，其具體可以是包含大尺寸電阻式觸摸屏的智能手機等智能終端設(shè)備，圖1示例的觸摸檢測方法具體可以包括步驟S101至步驟S104，詳述如下：

S101、若檢測到用戶通過觸摸屏輸入觸摸數(shù)據(jù)，則對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到觸摸屏的二維坐標(biāo)系中的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，其中，n為整數(shù)。

具體地，若檢測到用戶通過觸摸屏輸入觸摸數(shù)據(jù)，則可以通過觸摸控制芯片對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到的電壓采樣值具體可以是電壓AD值，即電壓的模數(shù)轉(zhuǎn)換值，在以觸摸屏的左上角為坐標(biāo)原點的二維坐標(biāo)系中，該電壓AD值可以包括x軸的電壓采樣值和y軸的電壓采樣值。通過對觸摸點的n次電壓值采樣，可以得到觸摸屏的二維坐標(biāo)系中的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值。

S102、根據(jù)n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，判斷觸摸點所在的位置是否屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域。

具體地，根據(jù)步驟S101得到的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，判斷觸摸點所在的位置是否屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域。

對觸摸靈敏的觸摸屏來說，正常觸摸滑動時采集到的電壓AD值是連續(xù)的，因此在一個觸摸點采集到的多個電壓AD值之間的差值也很小，如果出現(xiàn)較大的差值，則可以認(rèn)定該觸摸點所在的位置屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域。當(dāng)用戶在觸摸不靈敏的區(qū)域進行觸摸操作時，終端無法準(zhǔn)確響應(yīng)該觸摸操作對應(yīng)的控制指令。

S103、若觸摸點所在的位置屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點進行電壓值采樣，并根據(jù)采樣數(shù)據(jù)計算該觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值。

具體的，若觸摸點所在的位置屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點進行多次電壓值采樣，將得到的采樣數(shù)據(jù)與步驟S101采樣得到的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值一起進行統(tǒng)計，根據(jù)步驟S101和步驟S103采樣得到的全部電壓采樣值計算該觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值。例如，可以對全部x軸電壓采樣值和全部y軸電壓采樣值分別取平均值作為該觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值，也可以對全部x軸電壓采樣值取中間值，對全部y軸電壓采樣值取中間值，分別作為該觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值。具體計算方法可以根據(jù)實際應(yīng)用的需要進行選擇，此處不做限制。

S104、根據(jù)x軸電壓值和y軸電壓值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。

具體地，根據(jù)步驟S103得到的x軸電壓值和y軸電壓值，計算觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。

需要說明的是，觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)的計算完全依賴于x軸電壓值和y軸電壓值這兩個電壓AD值，若x軸電壓值和y軸電壓值這兩個電壓AD值可靠，則計算出的位置坐標(biāo)就正確。

在根據(jù)電壓AD值計算觸摸點的位置坐標(biāo)時，可以按照電壓AD值的取值范圍將觸摸屏劃分為若干數(shù)據(jù)區(qū)域，具體數(shù)據(jù)區(qū)域的劃分?jǐn)?shù)量可以根據(jù)觸摸屏的分辨率進行靈活的調(diào)節(jié)。以12位的電壓AD值為例，如圖2所示，在以觸摸屏左上角為原點的二維坐標(biāo)系中，可以將x軸和y軸按照電壓AD值劃分為八個區(qū)域，則每個區(qū)域的電壓AD值分別為區(qū)域0(0～511)、區(qū)域1(512～1023)、區(qū)域2(1024～1535)、…、區(qū)域7(3584～4095)，則整個觸摸屏可以劃分為8*8即64個區(qū)域。根據(jù)當(dāng)前的x軸電壓值和y軸電壓值，可以判斷出該觸摸點具體屬于哪一個區(qū)域，進而計算出在該區(qū)域的具體位置坐標(biāo)。

通過本發(fā)明實施例的方法，當(dāng)檢測出觸摸點所在的位置屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域時，對該問題區(qū)域的觸摸點通過增加采樣點，執(zhí)行時間復(fù)雜度較高的優(yōu)化算法來確定觸摸點的準(zhǔn)確位置，而對觸摸靈敏的正常區(qū)域可以仍然采用采樣點較少的常規(guī)過濾算法，從而不需要對整個屏幕都采用增加采樣點數(shù)或者均采用時間復(fù)雜度高的優(yōu)化算法，采用本發(fā)明實施例的方法，能夠減少對系統(tǒng)處理能力的占用，降低處理器的處理負荷，提高觸控性能，同時，由于降低了處理器的處理負荷，因此也避免了觸控顯示刷新延遲等問題，從而使得終端能夠及時準(zhǔn)確地響應(yīng)觸摸操作對應(yīng)的控制指令。

本實施例中，若檢測到用戶通過觸摸屏輸入的觸摸數(shù)據(jù)，則對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到n個x軸采樣電壓值和n個y軸采樣電壓值，并根據(jù)n個x軸采樣電壓值和n個y軸采樣電壓值，判斷觸摸點所在的位置是否屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域，若該觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點的電壓值進行采樣，并根據(jù)采樣數(shù)據(jù)計算該觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值，然后根據(jù)x軸電壓值和y軸電壓值，確定該觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。通過對觸摸點的電壓值進行采樣，識別出觸控壓力不一致的問題區(qū)域，只針對問題區(qū)域通過增加采樣點使用時間復(fù)雜度較高的優(yōu)化算法，而對正常區(qū)域可以仍然采用采樣點較少的常規(guī)過濾算法，從而在減少對系統(tǒng)處理能力的占用，降低處理器的處理負荷，提高觸控性能的同時，也避免了觸控顯示刷新延遲等問題，使得終端能夠及時準(zhǔn)確的響應(yīng)觸摸操作對應(yīng)的控制指令。

實施例二：

圖3是本發(fā)明實施例二提供的一種觸摸檢測方法的流程圖，本發(fā)明實施例的執(zhí)行主體為智能終端設(shè)備，其具體可以是包含大尺寸電阻式觸摸屏的智能手機等智能終端設(shè)備，圖3示例的觸摸檢測方法具體可以包括步驟S201至步驟S215，詳述如下：

S201、若檢測到用戶通過觸摸屏輸入的觸摸數(shù)據(jù)，則對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到觸摸屏的二維坐標(biāo)系中的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，其中，n為整數(shù)。

具體地，若檢測到用戶通過觸摸屏輸入觸摸數(shù)據(jù)，則可以通過觸摸控制芯片對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到的電壓采樣值具體可以是電壓AD值，即電壓的模數(shù)轉(zhuǎn)換值，在以觸摸屏的左上角為坐標(biāo)原點的二維坐標(biāo)系中，該電壓AD值可以包括x軸的電壓采樣值和y軸的電壓采樣值。通過對觸摸點的n次電壓值采樣，可以得到觸摸屏的二維坐標(biāo)系中的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值。

S202、將n個x軸電壓采樣值劃分成m1組，并計算每組x軸電壓采樣值的平均值，得到m1個x軸電壓平均值，其中，m1為小于或者等于n的整數(shù)。

具體地，將步驟S201采集到的n個x軸電壓采樣值劃分成m1組，計算每組中x軸電壓采樣值的平均值，得到m1個x軸電壓平均值。

S203、將n個y軸電壓采樣值劃分成m2組，并計算每組y軸電壓采樣值的平均值，得到m2個y軸電壓平均值，其中，m2為小于或者等于n的整數(shù)。

具體地，將步驟S201采集到的n個y軸電壓采樣值劃分成m2組，計算每組中y軸電壓采樣值的平均值，得到m2個y軸電壓平均值。

需要說明的是，m1和m2均是小于或者等于n的整數(shù)，m1和m2可以相同也可以不相同。若m1或者m2等于n，則每組只包含一個電壓采樣值，其平均值即為該電壓采樣值。

可以理解的是，m1或m2的值越小，其運算量越小，執(zhí)行效率越高，但檢測準(zhǔn)確度會降低，m1或m2的值越大，其運算量越大，執(zhí)行效率越低，但檢測準(zhǔn)確度會提高。

S204、在m1個x軸電壓平均值中，計算相鄰兩個x軸電壓平均值的絕對差值，得到m1個x軸絕對差值。

具體地，在步驟S202得到的m1個x軸電壓平均值中，計算相鄰兩個x軸電壓平均值的差值，并對該差值取絕對值，得到m1個x軸絕對差值。

例如，若在步驟S202得到3個x軸電壓平均值分別為a1，a2和a3，則計算a1和a2的絕對差值，a2和a3的絕對差值，以及a3和a1的絕對差值，得到3個x軸絕對差值。

S205、在m2個y軸電壓平均值中，計算相鄰兩個y軸電壓平均值的絕對差值，得到m2個y軸絕對差值。

具體地，在步驟S203得到的m2個y軸電壓平均值中，計算相鄰兩個y軸電壓平均值的差值，并對該差值取絕對值，得到m2個y軸絕對差值。

例如，若在步驟S203得到4個y軸電壓平均值分別為b1，b2，b3和b4，則計算b1和b2的絕對差值，b2和b3的絕對差值，b3和b4的絕對差值，以及b4和b1的絕對差值，得到4個y軸絕對差值。

S206、若在m1個x軸絕對差值中存在至少一個x軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的x軸偏差閾值，或者在m2個y軸絕對差值中存在至少一個y軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域。

具體地，對觸摸靈敏的觸摸屏來說，正常觸摸滑動時采集到的電壓AD值是連續(xù)的，因此在一個觸摸點采集到的多個電壓AD值之間的差值也很小，如果在m1個x軸絕對差值中存在至少一個x軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的x軸偏差閾值，或者在m2個y軸絕對差值中存在至少一個y軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的y軸偏差閾值，則認(rèn)為該觸摸點采集到的電壓AD值出現(xiàn)了異常，可以認(rèn)定該觸摸點所在的位置屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域。

需要說明的是，x軸偏差閾值和y軸偏差閾值可以相同，也可以不相同，具體可以根據(jù)實際應(yīng)用的觸摸屏環(huán)境進行設(shè)置，此處不做限制。

若m1個x軸絕對差值均小于或者等于x軸偏差閾值，并且m2個y軸絕對差值均小于或者等于y軸偏差閾值，則流程跳轉(zhuǎn)到步驟S213繼續(xù)執(zhí)行。

可以理解的是，在本發(fā)明實施例中，是判斷若在m1個x軸絕對差值中存在至少一個x軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的x軸偏差閾值，或者在m2個y軸絕對差值中存在至少一個y軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，在其他發(fā)明實施例中，也可以是判斷若在m1個x軸絕對差值中存在至少一個x軸絕對差值大于或者等于預(yù)設(shè)的x軸偏差閾值，或者在m2個y軸絕對差值中存在至少一個y軸絕對差值大于或者等于預(yù)設(shè)的y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域。

為了更好的理解步驟S201至步驟S206，現(xiàn)舉例說明如下。

假設(shè)n等于9，即對觸摸點進行9次電壓值采樣，并將該9次采樣得到的9個x軸電壓AD值和9個y軸電壓AD值分別記錄在數(shù)組tempXY[0][9]和tempXY[1][9]中，假設(shè)m1和m2均等于3，則將tempXY[0][9]和tempXY[1][9]分別分成3組取平均值，并將平均值存儲在avgXY[0][3]和avgXY[1][3]中。

以x軸電壓采樣值為例：

avgXY[0][0]＝(tempXY[0][0]+tempXY[0][1]+tempXY[0][2])/3

avgXY[0][1]＝(tempXY[0][3]+tempXY[0][4]+tempXY[0][5])/3

avgXY[0][2]＝(tempXY[0][6]+tempXY[0][7]+tempXY[0][8])/3

計算相鄰的x軸電壓平均值之間的絕對差值：

diffXY[0][0]＝|avgXY[0][0]-avgXY[0][1]|

diffXY[0][1]＝|avgXY[0][1]-avgXY[0][2]|

diffXY[0][2]＝|avgXY[0][2]-avgXY[0][0]|

同理，對y軸電壓采樣值，可以得到diffXY[1][0]、diffXY[1][1]和diffXY[1][2]。

若在diffXY[0][0]、diffXY[0][1]和diffXY[0][2]中，存在至少一個值大于預(yù)設(shè)的x軸偏差閾值，或者在diffXY[1][0]、diffXY[1][1]和diffXY[1][2]中，存在至少一個y軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域。

S207、若觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點進行p次電壓值采樣，得到p個x軸電壓采樣值和p個y軸電壓采樣值。

具體地，若根據(jù)步驟S206確認(rèn)觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，則按照與步驟S201相同的方法繼續(xù)對該觸摸點進行p次電壓值采樣，得到p個x軸電壓采樣值和p個y軸電壓采樣值。

S208、對n+p個x軸電壓采樣值按照遞增順序進行排序。

具體地，將步驟S201采樣得到的n個x軸電壓采樣值和步驟S207采樣得到的p個x軸電壓采樣值，按照遞增順序進行排列。

S209、根據(jù)排序后的n+p個x軸電壓采樣值，將第個x軸電壓采樣值和第個x軸電壓采樣值的平均值確定為觸摸點的x軸電壓值。

具體地，根據(jù)步驟S208排序得到的n+p個x軸電壓采樣值，將中間兩個位置，即第個x軸電壓采樣值和第個x軸電壓采樣值的平均值確定為觸摸點的x軸電壓值。

例如，n等于9，p等于9，則對按遞增順序排序后得到的18個x軸電壓采樣值，取排在第9位和第10位的x軸電壓采樣值的平均值，作為觸摸點的x軸電壓值。

可以理解的是，在本發(fā)明實施例中，對n+p個x軸電壓采樣值是按照遞增的順序進行排序，在其他發(fā)明實施例中，也可以是對n+p個x軸電壓采樣值是按照遞減的順序進行排序，此處不做限制。

S210、對n+p個y軸電壓采樣值按照遞增順序進行排序。

具體地，將步驟S201采樣得到的n個y軸電壓采樣值和步驟S207采樣得到的p個y軸電壓采樣值，按照遞增順序進行排列。

S211、根據(jù)排序后的n+p個y軸電壓采樣值，將第個y軸電壓采樣值和第個y軸電壓采樣值的平均值確定為觸摸點的y軸電壓值。

具體地，根據(jù)步驟S210排序得到的n+p個y軸電壓采樣值，將中間兩個位置，即第個y軸電壓采樣值和第個y軸電壓采樣值的平均值確定為觸摸點的y軸電壓值。

例如，n等于9，p等于9，則對按遞增順序排序后得到的18個y軸電壓采樣值，取排在第9位和第10位的y軸電壓采樣值的平均值，作為觸摸點的y軸電壓值。

可以理解的是，在本發(fā)明實施例中，對n+p個y軸電壓采樣值是按照遞增的順序進行排序，在其他發(fā)明實施例中，也可以是對n+p個y軸電壓采樣值是按照遞減的順序進行排序，此處不做限制。

S212、根據(jù)x軸電壓值和y軸電壓值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。

具體地，根據(jù)步驟S209得到的x軸電壓值和步驟S211得到的y軸電壓值，計算觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。

需要說明的是，觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)的計算完全依賴于x軸電壓值和y軸電壓值這兩個電壓AD值，若x軸電壓值和y軸電壓值這兩個電壓AD值可靠，則計算出的位置坐標(biāo)就正確。

在根據(jù)電壓AD值計算觸摸點的位置坐標(biāo)時，可以按照電壓AD值的取值范圍將觸摸屏劃分為若干數(shù)據(jù)區(qū)域，具體數(shù)據(jù)區(qū)域的劃分?jǐn)?shù)量可以根據(jù)觸摸屏的分辨率進行靈活的調(diào)節(jié)。以12位的電壓AD值為例，如圖2所示，在以觸摸屏左上角為原點的二維坐標(biāo)系中，可以將x軸和y軸按照電壓AD值劃分為八個區(qū)域，則每個區(qū)域的電壓AD值分別為區(qū)域0(0～511)、區(qū)域1(512～1023)、區(qū)域2(1024～1535)、…、區(qū)域7(3584～4095)，則整個觸摸屏可以劃分為8*8即64個區(qū)域。根據(jù)當(dāng)前的x軸電壓值和y軸電壓值，可以判斷出該觸摸點具體屬于哪一個區(qū)域，進而計算出在該區(qū)域的具體位置坐標(biāo)。

在根據(jù)x軸電壓值和y軸電壓值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)之后，流程跳轉(zhuǎn)到步驟S215。

S213、若m1個x軸絕對差值均小于或者等于x軸偏差閾值，并且m2個y軸絕對差值均小于或者等于y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置不屬于問題區(qū)域。

具體地，若根據(jù)步驟S206判斷若m1個x軸絕對差值均小于或者等于x軸偏差閾值，并且m2個y軸絕對差值均小于或者等于y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置屬于觸摸靈敏的正常區(qū)域，不屬于問題區(qū)域。

S214、根據(jù)n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。

具體地，若觸摸點所在的位置屬于觸摸靈敏的正常區(qū)域，則直接根據(jù)步驟S201采樣得到的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，采用常規(guī)過濾算法確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)，不需要繼續(xù)增加采樣點數(shù)或使用時間復(fù)雜度高的優(yōu)化算法來確定位置坐標(biāo)，從而降低了處理器的處理負荷。

S215、流程結(jié)束。

本實施例中，若檢測到觸摸屏被觸摸，則對觸摸點的電壓值進行n次采樣，得到n個x軸采樣電壓值和n個y軸采樣電壓值，并根據(jù)n個x軸采樣電壓值和n個y軸采樣電壓值，將n個x軸電壓采樣值劃分成m1組，并計算每組x軸電壓采樣值的平均值，得到m1個x軸電壓平均值，并在m1個x軸電壓平均值中，計算相鄰兩個x軸電壓平均值的絕對差值，得到m1個x軸絕對差值，同理對n個y軸電壓采樣值劃分成m2組，按照與x軸采樣電壓值同樣的方法得到m2個y軸絕對差值，若在m1個x軸絕對差值中存在至少一個x軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的x軸偏差閾值，或者在m2個y軸絕對差值中存在至少一個y軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，若該觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點進行p次電壓值采樣，得到p個x軸電壓采樣值和p個y軸電壓采樣值，對n+p個x軸電壓采樣值按照遞增順序進行排序，根據(jù)排序后的n+p個x軸電壓采樣值，將第個x軸電壓采樣值和第個x軸電壓采樣值的平均值確定為觸摸點的x軸電壓值，同樣方法可以得到觸摸點的y軸電壓值，然后根據(jù)x軸電壓值和y軸電壓值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。若m1個x軸絕對差值均小于或者等于x軸偏差閾值，并且m2個y軸絕對差值均小于或者等于y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置不屬于問題區(qū)域，則直接根據(jù)n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。通過對觸摸點的電壓值進行采樣，識別出觸控壓力不一致的問題區(qū)域，當(dāng)檢測出觸摸點所在的位置屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域時，對該問題區(qū)域的觸摸點通過增加采樣點，執(zhí)行時間復(fù)雜度較高的優(yōu)化算法來確定觸摸點的準(zhǔn)確位置，而對觸摸靈敏的正常區(qū)域可以仍然采用采樣點較少的常規(guī)過濾算法，從而不需要對整個屏幕都采用增加采樣點數(shù)或者均采用時間復(fù)雜度高的優(yōu)化算法，通過本發(fā)明實施例的方法能夠減少對系統(tǒng)處理能力的占用，降低處理器的處理負荷，提高觸控性能，同時，由于降低了處理器的處理負荷，因此也避免了觸控顯示刷新延遲等問題，從而使得終端能夠及時準(zhǔn)確的響應(yīng)觸摸操作對應(yīng)的控制指令。

實施例三：

圖4是本發(fā)明實施例三提供的一種觸摸檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實施例相關(guān)的部分。圖4示例的一種觸摸檢測裝置可以是前述實施例一提供的觸摸檢測方法的執(zhí)行主體。圖4示例的一種觸摸檢測裝置包括參數(shù)采樣模塊31、判斷模塊32、計算模塊33和第一確定模塊34，各功能模塊詳細說明如下：

采樣模塊31，用于若檢測到用戶通過觸摸屏輸入觸摸數(shù)據(jù)，則對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到該觸摸屏的二維坐標(biāo)系中的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，其中，n為整數(shù)；

判斷模塊32，用于根據(jù)n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，判斷觸摸點所在的位置是否屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域；

計算模塊33，用于若觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點進行電壓值采樣，并根據(jù)采樣數(shù)據(jù)計算該觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值；

第一確定模塊34，用于根據(jù)x軸電壓值和y軸電壓值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。

本實施例提供的一種觸摸檢測裝置中各模塊實現(xiàn)各自功能的過程，具體可參考前述圖1所示實施例的描述，此處不再贅述。

從上述圖4示例的一種觸摸檢測裝置可知，本實施例中，若檢測到用戶通過觸摸屏輸入的觸摸數(shù)據(jù)，則對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到n個x軸采樣電壓值和n個y軸采樣電壓值，并根據(jù)n個x軸采樣電壓值和n個y軸采樣電壓值，判斷觸摸點所在的位置是否屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域，若該觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點的電壓值進行采樣，并根據(jù)采樣數(shù)據(jù)計算該觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值，然后根據(jù)x軸電壓值和y軸電壓值，確定該觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。通過對觸摸點的電壓值進行采樣，識別出觸控壓力不一致的問題區(qū)域，只針對問題區(qū)域通過增加采樣點使用時間復(fù)雜度較高的優(yōu)化算法，而對正常區(qū)域可以仍然采用采樣點較少的常規(guī)過濾算法，從而在減少對系統(tǒng)處理能力的占用，降低處理器的處理負荷，提高觸控性能的同時，也避免了觸控顯示刷新延遲等問題，使得終端能夠及時準(zhǔn)確的響應(yīng)觸摸操作對應(yīng)的控制指令。

實施例四：

圖5是本發(fā)明實施例四提供的一種觸摸檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實施例相關(guān)的部分。圖5示例的一種觸摸檢測裝置可以是前述實施例二提供的觸摸檢測方法的執(zhí)行主體。圖5示例的一種觸摸檢測裝置包括參數(shù)采樣模塊41、判斷模塊42、計算模塊43和第一確定模塊44，各功能模塊詳細說明如下：

采樣模塊41，用于若檢測到用戶通過觸摸屏輸入觸摸數(shù)據(jù)，則對檢測到的觸摸點進行n次電壓值采樣，得到該觸摸屏的二維坐標(biāo)系中的n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，其中，n為整數(shù)；

判斷模塊42，用于根據(jù)n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，判斷觸摸點所在的位置是否屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域；

計算模塊43，用于若觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點進行電壓值采樣，并根據(jù)采樣數(shù)據(jù)計算該觸摸點的x軸電壓值和y軸電壓值；

第一確定模塊44，用于根據(jù)x軸電壓值和y軸電壓值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。

進一步地，判斷模塊42包括：

第一劃分子模塊421，用于將n個x軸電壓采樣值劃分成m1組，并計算每組x軸電壓采樣值的平均值，得到m1個x軸電壓平均值，其中，m1為小于或者等于n的整數(shù)；

第二劃分子模塊422，用于將n個y軸電壓采樣值劃分成m2組，并計算每組y軸電壓采樣值的平均值，得到m2個y軸電壓平均值，其中，m2為小于或者等于n的整數(shù)；

第一絕對差子模塊423，用于在m1個x軸電壓平均值中，計算相鄰兩個x軸電壓平均值的絕對差值，得到m1個x軸絕對差值；

第二絕對差子模塊424，用于在m2個y軸電壓平均值中，計算相鄰兩個y軸電壓平均值的絕對差值，得到m2個y軸絕對差值；

問題區(qū)域確認(rèn)子模塊425，用于若在m1個x軸絕對差值中存在至少一個x軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的x軸偏差閾值，或者在m2個y軸絕對差值中存在至少一個y軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域。

進一步地，計算模塊43包括：

二次采樣子模塊431，用于若觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點進行p次電壓值采樣，得到p個x軸電壓采樣值和p個y軸電壓采樣值；

第一排序子模塊432，用于對n+p個x軸電壓采樣值按照遞增順序進行排序；

第一平均值子模塊433，用于根據(jù)排序后的n+p個x軸電壓采樣值，將第個x軸電壓采樣值和第個x軸電壓采樣值的平均值確定為觸摸點的x軸電壓值；

第二排序子模塊434，用于對n+p個y軸電壓采樣值按照遞增順序進行排序；

第二平均值子模塊435，用于根據(jù)排序后的n+p個y軸電壓采樣值，將第個y軸電壓采樣值和第個y軸電壓采樣值的平均值確定為觸摸點的y軸電壓值。

進一步地，該觸摸檢測裝置還包括：

正常區(qū)域確認(rèn)模塊45，用于若m1個x軸絕對差值均小于或者等于預(yù)設(shè)的x軸偏差閾值，并且m2個y軸絕對差值均小于或者等于預(yù)設(shè)的y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置不屬于問題區(qū)域。

進一步地，若觸摸點所在的位置不屬于問題區(qū)域，則該觸摸檢測裝置還包括：

第二確定模塊46，用于根據(jù)n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。

本實施例提供的一種觸摸檢測裝置中各模塊實現(xiàn)各自功能的過程，具體可參考前述圖3所示實施例的描述，此處不再贅述。

從上述圖5示例的一種觸摸檢測裝置可知，本實施例中，若檢測到觸摸屏被觸摸，則對觸摸點的電壓值進行n次采樣，得到n個x軸采樣電壓值和n個y軸采樣電壓值，并根據(jù)n個x軸采樣電壓值和n個y軸采樣電壓值，將n個x軸電壓采樣值劃分成m1組，并計算每組x軸電壓采樣值的平均值，得到m1個x軸電壓平均值，并在m1個x軸電壓平均值中，計算相鄰兩個x軸電壓平均值的絕對差值，得到m1個x軸絕對差值，同理對n個y軸電壓采樣值劃分成m2組，按照與x軸采樣電壓值同樣的方法得到m2個y軸絕對差值，若在m1個x軸絕對差值中存在至少一個x軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的x軸偏差閾值，或者在m2個y軸絕對差值中存在至少一個y軸絕對差值大于預(yù)設(shè)的y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，若該觸摸點所在的位置屬于問題區(qū)域，則繼續(xù)對該觸摸點進行p次電壓值采樣，得到p個x軸電壓采樣值和p個y軸電壓采樣值，對n+p個x軸電壓采樣值按照遞增順序進行排序，根據(jù)排序后的n+p個x軸電壓采樣值，將第個x軸電壓采樣值和第個x軸電壓采樣值的平均值確定為觸摸點的x軸電壓值，同樣方法可以得到觸摸點的y軸電壓值，然后根據(jù)x軸電壓值和y軸電壓值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。若m1個x軸絕對差值均小于或者等于x軸偏差閾值，并且m2個y軸絕對差值均小于或者等于y軸偏差閾值，則確認(rèn)觸摸點所在的位置不屬于問題區(qū)域，則直接根據(jù)n個x軸電壓采樣值和n個y軸電壓采樣值，確定觸摸點在觸摸屏的位置坐標(biāo)。通過對觸摸點的電壓值進行采樣，識別出觸控壓力不一致的問題區(qū)域，當(dāng)檢測出觸摸點所在的位置屬于觸摸不靈敏的問題區(qū)域時，對該問題區(qū)域的觸摸點通過增加采樣點，執(zhí)行時間復(fù)雜度較高的優(yōu)化算法來確定觸摸點的準(zhǔn)確位置，而對觸摸靈敏的正常區(qū)域可以仍然采用采樣點較少的常規(guī)過濾算法，從而不需要對整個屏幕都采用增加采樣點數(shù)或者均采用時間復(fù)雜度高的優(yōu)化算法，通過本發(fā)明實施例的方法能夠減少對系統(tǒng)處理能力的占用，降低處理器的處理負荷，提高觸控性能，同時，由于降低了處理器的處理負荷，因此也避免了觸控顯示刷新延遲等問題，從而使得終端能夠及時準(zhǔn)確的響應(yīng)觸摸操作對應(yīng)的控制指令。

需要說明的是，本說明書中的各個實施例均采用遞進的方式描述，每一個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同或者相似的部分互相參見即可。對于裝置類實施例而言，由于其與方法實施例基本相似，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法實施例的部分說明即可。

值得注意的是，上述裝置實施例中，所包括的各個模塊只是按照功能邏輯進行劃分的，但并不局限于上述的劃分，只要能夠?qū)崿F(xiàn)相應(yīng)的功能即可；另外，各功能模塊的具體名稱也只是為了便于相互區(qū)分，并不用于限制本發(fā)明的保護范圍。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解，實現(xiàn)上述各實施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，相應(yīng)的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì)中，所述的存儲介質(zhì)，如ROM/RAM、磁盤或光盤等。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。