本發(fā)明涉及傳感器領(lǐng)域,尤其涉及一種接觸式檢測(cè)模組及具有其的電子設(shè)備。
背景技術(shù):
蘋果iphone7系列的壓感指紋傳感器開啟了壓感指紋的行業(yè)需求,oppor9s雖然為固態(tài)按鈕設(shè)計(jì)但是沒有壓感,因此,目前除蘋果外,業(yè)內(nèi)尚未出現(xiàn)成熟的壓感方案。
參見蘋果公司的專利申請(qǐng)(公開號(hào)us2016/0033342a1)。
如圖1所示,手機(jī)殼體300的中心具有圓形的開口(未標(biāo)示),開口用于容納接觸式檢測(cè)模組200并通過位于其中的接觸式檢測(cè)模組200傳感信號(hào)。
這里,接觸式檢測(cè)模組200即為壓感指紋傳感器。
接觸式檢測(cè)模組200包括接觸式檢測(cè)組件200a及壓電傳感器200b。
接觸式檢測(cè)組件200a實(shí)質(zhì)為指紋識(shí)別組件,指紋識(shí)別組件200a包括蓋板201a、金屬環(huán)202a及指紋傳感芯片203a。
蓋板201a的外輪廓呈圓形,蓋板201a用于接收按壓操作。
金屬環(huán)202a的內(nèi)側(cè)形成有臺(tái)階部2021a。
指紋傳感芯片203a設(shè)置于蓋板201a的下方。
壓電傳感器200b包括彈性元件204b及電極205b。
彈性元件204b呈中空環(huán)狀,彈性元件204b及電極205b位于蓋板201a的下方,電極205b位于彈性元件204b的上下兩側(cè),且彈性元件204b及電極205b均承載于臺(tái)階部2021b處。
這里,彈性元件204b及電極205b通過打線206與指紋傳感芯片203a電性連接。
當(dāng)蓋板201a接收到按壓操作時(shí),彈性元件204b產(chǎn)生一定的形變,使得彈性元件204b兩端的電極205b之間產(chǎn)生電容變化量,打線206將電容變化量傳輸至指紋傳感芯片203a,而后指紋傳感芯片203a再將電容變化量傳導(dǎo)至處理單元進(jìn)行處理,以識(shí)別用戶按壓操作。
另外,為了提高檢測(cè)可靠性,還可于臺(tái)階2021b處設(shè)置多個(gè)壓力檢測(cè)點(diǎn)。
蘋果公司的接觸式檢測(cè)模組200存在如下缺陷:
(1)利用帶臺(tái)階部2021a的異型金屬環(huán)202a來(lái)承載彈性元件204b,制作難度及制作成本均較高;
(2)彈性元件204b及電極205b通過打線206與指紋傳感芯片203a電性連接,工藝復(fù)雜;
(3)為了防止壓力不均衡造成檢測(cè)誤差而設(shè)置多個(gè)檢測(cè)點(diǎn)意味著工藝成本進(jìn)一步提高。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
為解決上述問題,本發(fā)明提供一種接觸式檢測(cè)模組及具有其的電子設(shè)備,其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,工藝復(fù)雜度低,壽命長(zhǎng),且可容忍一定的裝配公差。
為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的之一,本發(fā)明一實(shí)施方式提供一種接觸式檢測(cè)模組,包括:
接觸式檢測(cè)組件,其用于接收按壓操作;
第一電極和與之相對(duì)設(shè)置的第二電極,第一電極和第二電極之間的距離隨著接觸式檢測(cè)組件接收按壓操作減??;
行程控制元件,用于限制接觸式檢測(cè)組件接收按壓操作時(shí)所述第一電極和第二電極之間的最大相對(duì)行程;
電容檢測(cè)電路,用于檢測(cè)所述第一電極和第二電極形成的電容值。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述接觸式檢測(cè)組件為指紋識(shí)別組件。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述第一電極和第二電極設(shè)置在指紋識(shí)別組件的內(nèi)部。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述第一電極和第二電極設(shè)置在所述指紋識(shí)別組件下方。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述行程控制元件具有彈性且用于支撐指紋識(shí)別組件,且所述行程控制元件提供與按壓操作產(chǎn)生的按壓力反向的復(fù)位力。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述行程控制元件設(shè)置在第一電極和第二電極之間,所述第二電極的底部設(shè)置頂柱,所述頂柱位于所述第二電極下表面中間區(qū)域。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述行程控制元件為剛性元件。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述行程控制元件設(shè)置在第一電極和第二電極之間,行程控制元件具有彈性。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述行程控制元件是中空型彈性元件。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),在接觸式檢測(cè)模組內(nèi)部具有柔性電路板,柔性電路板的第一表面與指紋識(shí)別組件電性連接,柔性電路板的第二表面形成所述第一電極,所述第二表面與所述第一表面相對(duì)設(shè)置。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),接觸式檢測(cè)模組還包括用以支撐所述指紋識(shí)別組件的承托件,所述承托件處形成所述第二電極。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述第一電極和第二電極設(shè)置在指紋識(shí)別組件的底部。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述行程控制元件設(shè)置在第一電極和第二電極之間,所述第二電極的底部設(shè)置頂柱,所述頂柱位于所述第二電極下表面中間區(qū)域。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),接觸式檢測(cè)模組還包括柔性電路板,柔性電路板彎折以至少部分包覆所述第一電極上表面及所述第二電極下表面,且所述柔性電路板上形成有供所述頂柱穿過的貫穿孔。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述行程控制元件為剛性中空型元件。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述行程控制元件具有彈性且設(shè)置在第一電極和第二電極之間。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述行程控制元件是中空型彈性元件。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),所述第一電極板及所述第二電極板由鋼片制成。
為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的之一,本發(fā)明一實(shí)施方式還提供一種電子設(shè)備,包括具有孔洞的殼體及如上任意一項(xiàng)技術(shù)方案所述的接觸式檢測(cè)模組,所述接觸式檢測(cè)模組位于所述孔洞內(nèi)。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明一實(shí)施方式的兩電極直接位于接觸式檢測(cè)組件的下方,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,工藝復(fù)雜度低,壽命長(zhǎng),且配合電容檢測(cè)電路進(jìn)行電荷量-壓力值的檢測(cè),實(shí)現(xiàn)壓電傳感器壓力值的檢測(cè)過程不受受壓位置的精度限制,避免壓力不均衡造成的檢測(cè)誤差,使得接觸式檢測(cè)模組可容忍一定的裝配公差。
附圖說(shuō)明
圖1是現(xiàn)有技術(shù)接觸式檢測(cè)模組剖視圖;
圖2是本發(fā)明一實(shí)施方式的電子設(shè)備示意圖;
圖3是本發(fā)明一實(shí)施方式的接觸式檢測(cè)模組第一角度立體圖;
圖4是本發(fā)明一實(shí)施方式的接觸式檢測(cè)模組第二角度立體圖;
圖5是本發(fā)明一實(shí)施方式的電容與電容檢測(cè)電路配合示意圖;
圖6是本發(fā)明一實(shí)施方式的接觸式檢測(cè)模組爆炸圖;
圖7是本發(fā)明一實(shí)施方式的接觸式檢測(cè)模組剖視圖;
圖8是本發(fā)明一實(shí)施方式的的接觸式檢測(cè)模組剖視側(cè)視圖;
圖9是本發(fā)明第一示例的接觸式檢測(cè)模組剖視圖;
圖10是本發(fā)明第二示例的接觸式檢測(cè)模組剖視圖;
圖11a是本發(fā)明第三示例的接觸式檢測(cè)模組剖視圖;
圖11b是圖11a中局部放大圖;
圖12a是本發(fā)明第四示例的接觸式檢測(cè)模組剖視圖;
圖12b是本發(fā)明第四示例的第一電極和第二電極被壓彎示意圖;
圖13是本發(fā)明第五示例的接觸式檢測(cè)模組剖視圖;
圖14是本發(fā)明第六示例的接觸式檢測(cè)模組剖視圖;
圖15是本發(fā)明第七示例的接觸式檢測(cè)模組剖視圖。
具體實(shí)施方式
以下將結(jié)合附圖所示的具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述。但這些實(shí)施方式并不限制本發(fā)明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員根據(jù)這些實(shí)施方式所做出的結(jié)構(gòu)、方法、或功能上的變換均包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
在本申請(qǐng)的各個(gè)圖示中,為了便于圖示,結(jié)構(gòu)或部分的某些尺寸會(huì)相對(duì)于其它結(jié)構(gòu)或部分夸大,因此,僅用于圖示本申請(qǐng)的主題的基本結(jié)構(gòu)。
另外,本文使用的例如“上”、“上方”、“下”、“下方”等表示空間相對(duì)位置的術(shù)語(yǔ)是出于便于說(shuō)明的目的來(lái)描述如附圖中所示的一個(gè)單元或特征相對(duì)于另一個(gè)單元或特征的關(guān)系??臻g相對(duì)位置的術(shù)語(yǔ)可以旨在包括設(shè)備在使用或工作中除了圖中所示方位以外的不同方位。例如,如果將圖中的設(shè)備翻轉(zhuǎn),則被描述為位于其他單元或特征“下方”或“之下”的單元將位于其他單元或特征“上方”。因此,示例性術(shù)語(yǔ)“下方”可以囊括上方和下方這兩種方位。設(shè)備可以以其他方式被定向(旋轉(zhuǎn)90度或其他朝向),并相應(yīng)地解釋本文使用的與空間相關(guān)的描述語(yǔ)。
如圖2所示,為本發(fā)明一實(shí)施方式的電子設(shè)備100的部分結(jié)構(gòu)示意圖。
電子設(shè)備100包括殼體101及接觸式檢測(cè)模組10。
所述殼體101上具有一容納所述接觸式檢測(cè)模組10的孔洞1011。
電子設(shè)備100通過接觸式檢測(cè)模組10進(jìn)行按壓信號(hào)的傳感。
需要說(shuō)明的是,電子設(shè)備100可為手機(jī)、pad、電子書等等。
在本實(shí)施方式中,結(jié)合圖3至圖8,接觸式檢測(cè)模組10包括接觸式檢測(cè)組件11、電容12以及電容檢測(cè)電路13。
接觸式檢測(cè)組件11用于接收按壓操作。
接觸式檢測(cè)組件11可為指紋識(shí)別組件,此時(shí),接觸式檢測(cè)模組10用于指紋信號(hào)的傳感,指紋信號(hào)例如可以進(jìn)行電子設(shè)備100的解鎖操作、應(yīng)用程序支付操作等等。
當(dāng)然,接觸式檢測(cè)組件11也可為其他組件,不以上述說(shuō)明為限。
接觸式檢測(cè)組件11包括金屬環(huán)111、蓋板112及指紋傳感芯片113。
蓋板112的外輪廓呈圓形,蓋板112用于接收按壓操作。
當(dāng)然,蓋板112也可為其他形態(tài),例如為腰圓形等等。
金屬環(huán)111的內(nèi)側(cè)形成有臺(tái)階部1111,該臺(tái)階部1111用于承載蓋板112。
指紋傳感芯片113設(shè)置于蓋板112的下方。
在本實(shí)施方式中,電容12包括相對(duì)設(shè)置的第一電極121、第二電極122,所述第一電極121和第二電極122設(shè)置在接觸式檢測(cè)組件11的底部。
這里,“接觸式檢測(cè)組件11的底部”實(shí)質(zhì)是指所述第一電極121和第二電極122至少部分凸伸出接觸式檢測(cè)組件11,結(jié)合圖8,可以看到,此時(shí)接觸式檢測(cè)組件11未完全包覆第一電極121及第二電極122,第二電極122暴露在金屬環(huán)111的外部。
第一電極121和第二電極122位于所述接觸式檢測(cè)組件11下方,接觸式檢測(cè)組件11在按壓操作下受到壓力,此時(shí),所述第一電極121和第二電極122受到下壓力,第一電極121和第二電極122之間的距離減小。
在第一電極121和第二電極122之間還設(shè)置有行程控制元件123,所述行程控制元件123為剛性元件,所述行程控制元件123具有彈性且用于支撐接觸式檢測(cè)組件11,且所述行程控制元件123提供與按壓操作產(chǎn)生的按壓力反向的復(fù)位力。
這里,行程控制元件123有兩個(gè)作用,其一,在第一電極121和第二電極122之間形成間隔以使得第一電極121和第二電極122形成空氣電容;其二,第一電極121和第二電極122受到下壓力彎曲時(shí),第一電極121和第二電極122之間的相對(duì)最大行程受到行程控制元件123限制。
在本實(shí)施方式中,行程控制元件123為中空型彈性元件,具體可為中空型圓環(huán)狀彈性元件,第一電極121和第二電極122為具有彈性的鋼片,其自身的彈力能夠使其在受到按壓操作發(fā)生形變后恢復(fù)。
所述第一電極121及所述第二電極122的其中之一連接所述電容檢測(cè)電路13,其中另一連接地端gnd。
這里,電容檢測(cè)電路13用于檢測(cè)所述第一電極121和第二電極122形成的電容值。
具體的,電容檢測(cè)電路13用于檢測(cè)所述第一電極121和第二電極122在接觸式檢測(cè)組件11接收的按壓操作下受到壓力時(shí)所述電容12的變化量,例如在第一電極121和第二電極122因壓力產(chǎn)生彈性形變時(shí),第一電極121和第二電極122之間的距離減小,根據(jù)電容相關(guān)公式(c=εs/4πkd,c=q/u,其中,c為電容,ε為常數(shù),s為第一電極和第二電極之間,d為上下電極板的距離,k為靜電力常量,q為電荷量,u為電壓),可以看到,當(dāng)接收到的按壓操作的壓力值n增大時(shí),距離d減小,電荷量q增大,電荷量q與壓力值n呈正比,也就是說(shuō),電容檢測(cè)電路13可以通過檢測(cè)電荷的方式來(lái)檢測(cè)電容的大小,從而間接測(cè)得按壓操作的壓力值n的大小。
這里,接觸式檢測(cè)模組10的電容12直接位于接觸式檢測(cè)組件11的下方,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,工藝復(fù)雜度低,壽命長(zhǎng),且配合電容檢測(cè)電路13進(jìn)行電荷量-壓力值(q-n)的檢測(cè),實(shí)現(xiàn)電容檢測(cè)電路13壓力值n的檢測(cè)過程不受受壓位置的精度限制,避免壓力不均衡造成的檢測(cè)誤差,使得接觸式檢測(cè)模組10可容忍一定的裝配公差。
需要說(shuō)明的是,接觸式檢測(cè)模組10對(duì)于指紋的識(shí)別操作及按壓操作壓力值n的檢測(cè)操作之間沒有必然的先后關(guān)系,其可根據(jù)實(shí)際情況而定。
在本實(shí)施方式中,所述接觸式檢測(cè)模組10還包括頂柱15,所述頂柱15位于所述第一電極121上表面中間區(qū)域和/或所述第二電極122下表面中間區(qū)域。
這里,以頂柱15位于第二電極122的中間區(qū)域?yàn)槔?/p>
頂柱15可與第二電極122一體成型,或是第二電極122的中間區(qū)域形成一容納所述頂柱15的凹槽以穩(wěn)定頂柱15的位置,又或是,當(dāng)接觸式檢測(cè)模組10組裝至電子設(shè)備100中時(shí),利用電子設(shè)備100中的一些結(jié)構(gòu)件(例如鍋?zhàn)衅械膹椘Y(jié)構(gòu))作為頂柱15。
在本實(shí)施方式中,頂住15為一實(shí)心柱體結(jié)構(gòu),其上端頂住第二電極122,其下端支撐在電子設(shè)備100內(nèi)部的力學(xué)結(jié)構(gòu)上。
可以看到,電容12的受力區(qū)域面積大于所述頂柱15的受力區(qū)域面積。
當(dāng)接觸式檢測(cè)模組10接收到按壓操作時(shí),在頂柱15作用下,即使是很小的壓力值n,所述第一電極121及所述第二電極122之間的距離也會(huì)發(fā)生變化,如此,便于提高檢測(cè)靈敏度,而且,頂柱15的設(shè)置可以有效確定電容12的受壓位置,提高檢測(cè)精度。
結(jié)合前述說(shuō)明,由于本實(shí)施方式的電容檢測(cè)電路13檢測(cè)的電荷量q與電容12所受的壓力值n呈正比,而與電容12的受壓位置無(wú)關(guān),此時(shí)允許頂柱15的安裝位置發(fā)生變化或存在一定的裝配公差,降低了裝配難度及工藝復(fù)雜度。
在本實(shí)施方式中,接觸式檢測(cè)模組10還包括柔性電路板16,柔性電路板16用以電性連接所述電容12及所述電容檢測(cè)電路13。
柔性電路板16的第一表面與指紋識(shí)別組件(接觸式檢測(cè)組件11)電性連接,柔性電路板16的第二表面形成所述第一電極121,所述第二表面與所述第一表面相對(duì)設(shè)置。
所述柔性電路板16彎折以至少部分包覆所述第一電極121上表面及所述第二電極122下表面,且所述柔性電路板16上形成有供所述頂柱15穿過的貫穿孔161,但不以此為限。
可以理解,第一電極121及第二電極122通過柔性電路板16與電容檢測(cè)電路13電性連接,而柔性電路板16的上端面與指紋傳感芯片113連接,如此,實(shí)現(xiàn)整個(gè)接觸式檢測(cè)模組10內(nèi)部的有序緊密連接。
在本實(shí)施方式中,第一電極121的厚度大于第二電極122的厚度,第一電極121被貼合在柔性電路板16的背面,第一電極121與指紋傳感芯片113分別貼合在柔性電路板16相對(duì)兩側(cè)的相應(yīng)位置。
這里,第一電極121不僅起到電極的作用,還起到芯片補(bǔ)強(qiáng)板的作用,芯片補(bǔ)強(qiáng)板是防止指紋傳感芯片113受力破裂的加強(qiáng)件。
第一電極121同時(shí)作為芯片補(bǔ)強(qiáng)板使用,能夠減小整個(gè)接觸式檢測(cè)模組10在縱向方向上的厚度。
下面,介紹本發(fā)明電容12的幾種具體示例,為描述方面,類似的部件采用類似的編號(hào)。
在第一示例中,結(jié)合圖9,第一電極121a和第二電極122a設(shè)置在接觸式檢測(cè)組件11的底部。
第一電極121a和第二電極122a之間的行程控制元件123a為彈性元件,行程控制元件123a為整片式結(jié)構(gòu)。
在圖9中,行程控制元件123a填充了第一電極121b和第二電極122b之間的間隙,行程控制元件123a為具有彈性的介電材料層,優(yōu)選的介電材料為彈性絕緣泡棉,泡棉的微觀結(jié)構(gòu)內(nèi)部具有很多中空的孔,該孔可以維持泡棉的彈性。
在第二示例中,結(jié)合圖10,第一電極121b和第二電極122b設(shè)置在接觸式檢測(cè)組件11的底部。
第二示例的行程控制元件123b與第一示例的行程控制元件123a材料相同,其區(qū)別在于,第二示例的行程控制元件123b為中空環(huán)狀結(jié)構(gòu)。
在第三示例中,結(jié)合圖11a,第一電極121c和第二電極122c設(shè)置在接觸式檢測(cè)組件11的內(nèi)部。
這里,“接觸式檢測(cè)組件11的內(nèi)部”實(shí)質(zhì)是指所述第一電極121c和第二電極122c位于接觸式檢測(cè)組件11圍成的空間內(nèi),結(jié)合圖11a,可以看到,此時(shí)接觸式檢測(cè)組件11完全包覆第一電極121c及第二電極122c。
指紋傳感芯片113c貼合在蓋板112c的底部,指紋傳感芯片113c的底部與柔性電路板16c貼合,在柔性電路板16c遠(yuǎn)離指紋傳感芯片113c的一面設(shè)置第一電極121c,第二電極122c設(shè)置在第一電極121c的下方,第一電極121c與第二電極122c之間形成一定間隙。
這里,柔性電路板16c僅包覆所述第一電極121c的上表面。
在本示例中,接觸式檢測(cè)模組10還包括用以支撐所述接觸式檢測(cè)組件11的承托件114c,承托件114c位于金屬環(huán)111c的底部,承托件114c與金屬環(huán)111c一體成形。
承托件114c與金屬環(huán)111c之間形成一供柔性電路板16c穿出的開孔。
所述承托件114c的處形成所述第二電極122c,這里,所述第二電極122c安裝在所述一體成形的承托件114c上以形成電容,與第一示例、第二示例不同的是,本示例的柔性電路板16c不需要彎折以部分的包覆第二電極122c。
在本示例中,行程控制元件123c設(shè)置在金屬環(huán)111c內(nèi)部的臺(tái)階部1111c上,蓋板112c被固定在行程控制元件123c之上,行程控制元件123c為彈性泡棉,行程控制元件123c的厚度小于第一電極121c和第二電極122c之間的間隙,使得第一電極121c和第二電極122c之間達(dá)到最大相對(duì)行程時(shí)也不會(huì)短接。
結(jié)合圖11b,行程控制元件123c的泡棉內(nèi)部具有中空的氣孔1231c,氣孔1231c使得泡棉具有彈性,從而使得行程控制元件123c在受壓后能夠恢復(fù)原狀。
在第四示例中,結(jié)合圖12a和圖12b,第一電極121d和第二電極122d設(shè)置在接觸式檢測(cè)組件11的內(nèi)部。
指紋傳感芯片113d貼合在蓋板112d的底部,指紋傳感芯片113d底部與柔性電路板16d貼合,在柔性電路板16d遠(yuǎn)離指紋傳感芯片113d的一面設(shè)置第一電極121d,第一電極121d與柔性電路板16d貼合并實(shí)現(xiàn)電連接,第二電極122d設(shè)置在第一電極121d的下方,第一電極121d與第二電極122d之間形成一定間隙,與第三示例不同的是,本示例的在第一電極121d和第二電極121d之間設(shè)置有中空型介電材料124d,例如玻璃、陶瓷、藍(lán)寶石等。
在本示例中,在金屬環(huán)111d的底部設(shè)置有承托件114d,承托件114d與金屬環(huán)111d一體成形,在承托件114d底部中心位置設(shè)置有頂住15d。
需要說(shuō)明的是,頂柱16d也可以是承托件114d的一部分。
結(jié)合圖12b,在按壓操作的壓力作用下,所述第二電極122d中心位置會(huì)隨著頂住15d的阻力而發(fā)生彈性形變,第一電極121d和第二電極122d的周緣區(qū)域因?yàn)橛兄锌招徒殡姴牧?24d支撐而不會(huì)發(fā)生形變。
在本示例中,第一電極121d和第二電極122d由具有彈性的鋼片制成,設(shè)置在蓋板112d和臺(tái)階部1111d之間的形成行程控制元件123d的泡棉在蓋板112d不受操作按壓力時(shí),輔助蓋板112d復(fù)位。
需要說(shuō)明的是,這里的中空型介電材料124d可以是與行程控制元件123d類似或相同的結(jié)構(gòu),下面的說(shuō)明也相同。
在第五示例中,結(jié)合圖13,第一電極121e和第二電極122e設(shè)置在接觸式檢測(cè)組件11的內(nèi)部。
指紋傳感芯片113e貼合在蓋板112e底部,指紋傳感芯片113e底部與柔性電路板16e貼合,在柔性電路板16e遠(yuǎn)離指紋傳感芯片113e的一面設(shè)置第一電極121e,第二電極122e設(shè)置在第一電極121e的下方,第一電極121e與第二電極122e之間形成一定間隙,在所述間隙內(nèi)填充介電材料124e,介電材料124e為整片式,所述介電材料124e為泡棉,在泡棉的內(nèi)部具有氣孔,氣孔使得泡棉具有彈性。
在本示例中,按壓操作壓縮泡棉,第一電極121e與第二電極122e之間的間隙縮小,利用相應(yīng)的電容檢測(cè)電路檢測(cè)出電容的變化,電容變化反映操作時(shí)安壓力的大小。
在本示例中,設(shè)置在蓋板112e和金屬環(huán)111e內(nèi)臺(tái)階部1111e之間的形成行程控制元件123e的泡棉在蓋板112e不受操作按壓力時(shí),輔助蓋板112e復(fù)位。
在第六示例中,結(jié)合圖14,第一電極121f和第二電極122f設(shè)置在接觸式檢測(cè)組件11的內(nèi)部。
指紋傳感芯片113f貼合在蓋板112f底部,指紋傳感芯片113f底部與柔性電路板16f貼合,在柔性電路板16f遠(yuǎn)離指紋傳感芯片113f的一面設(shè)置第一電極121f,第二電極122f設(shè)置在第一電極121f的下方,第一電極121f與第二電極122f形成一定間隙,在所述間隙中填充介電材料124f,所述介電材料124f為泡棉,在泡棉的內(nèi)部具有氣孔,氣孔使得泡棉具有彈性。
與第五示例不同的是,本示例的第一電極121f和第二電極122f之間的介電材料124f為彈性中空結(jié)構(gòu)。
在按壓操作所述蓋板112f時(shí),第一電極121f、第二電極122f之間的間隙縮小,利用相應(yīng)的電容檢測(cè)電路檢測(cè)出電容的變化,電容變換反映操作時(shí)按壓力的大小。
在本示例中,第一電極121f和第二電極122f由具有彈性的鋼片制成,設(shè)置在蓋板112f和金屬環(huán)111f內(nèi)的臺(tái)階部1111f之間的形成行程控制元件123f的泡棉在蓋板112f不受操作按壓力時(shí),輔助蓋板112f復(fù)位。
在第七示例中,結(jié)合圖15,第一電極121g和第二電極122g設(shè)置在接觸式檢測(cè)組件11的內(nèi)部。
指紋傳感芯片113g貼合在蓋板112g底部,指紋傳感芯片113g底部與柔性電路板16g貼合,與第六示例不同的是,本示例第一電極121g直接形成在柔性電路板16g遠(yuǎn)離指紋傳感芯片113g的一面。
在本示例中,在金屬環(huán)111g的底部設(shè)置有承托件114g,承托件114g與金屬環(huán)111g一體成形,與第六示例不同的是,本示例直接使用承托件114g作為第二電極122g。
在本示例中,省略獨(dú)立的第一121g、第二電極122g這些零件能夠減少整個(gè)接觸式檢測(cè)模組10的厚度,同時(shí)減少?gòu)?fù)雜度。
需要說(shuō)明的是,本發(fā)明的接觸式檢測(cè)模組10的結(jié)構(gòu)說(shuō)明不以上述示例為限,上述示例也可進(jìn)行合理的組合而形成新的示例。
應(yīng)當(dāng)理解,雖然本說(shuō)明書按照實(shí)施方式加以描述,但并非每個(gè)實(shí)施方式僅包含一個(gè)獨(dú)立的技術(shù)方案,說(shuō)明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見,本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)將說(shuō)明書作為一個(gè)整體,各實(shí)施方式中的技術(shù)方案也可以經(jīng)適當(dāng)組合,形成本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的其他實(shí)施方式。
上文所列出的一系列的詳細(xì)說(shuō)明僅僅是針對(duì)本發(fā)明的可行性實(shí)施方式的具體說(shuō)明,它們并非用以限制本發(fā)明的保護(hù)范圍,凡未脫離本發(fā)明技藝精神所作的等效實(shí)施方式或變更均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。