本發(fā)明涉及檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種指紋模組的測試方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著移動(dòng)終端的發(fā)展，指紋識(shí)別已經(jīng)成為移動(dòng)終端的標(biāo)準(zhǔn)配置，用戶常用它來解鎖屏幕、進(jìn)行支付等操作。一般的，移動(dòng)終端采用電容式指紋識(shí)別技術(shù)，通過移動(dòng)終端的指紋模組獲取人體指紋的指紋數(shù)據(jù)，然后再與預(yù)先存儲(chǔ)的指紋數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，通過判斷兩者是否匹配來完成用戶的操作。

眾所周知，在生產(chǎn)過程中，需要對(duì)指紋模組進(jìn)行測試以判斷指紋模組能夠被正常使用，現(xiàn)有技術(shù)中，一般通過在待測試終端中人工錄入指紋數(shù)據(jù)，然后在測試時(shí)，再錄入指紋數(shù)據(jù)以判斷待測試終端能夠解鎖的方法判斷該待測試終端的指紋模組是否能夠正常使用，這種方法在大批量生產(chǎn)中，由于每一臺(tái)待測試終端均需要人工錄入一個(gè)指紋數(shù)據(jù)，而耗費(fèi)大量的時(shí)間，使得測試效率較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明主要提供一種指紋模組的測試方法及系統(tǒng)，旨在解決大批量生產(chǎn)中，指紋模組的測試效率較低的問題。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種指紋模組的測試方法，所述方法包括：在多個(gè)待測試終端中批量導(dǎo)入第一指紋圖像的第一指紋數(shù)據(jù)；使用設(shè)置有所述第一指紋圖像的指紋膜接觸所述多個(gè)待測試終端的指紋模組以獲取所述第一指紋圖像的第二指紋數(shù)據(jù)；檢測所述第二指紋數(shù)據(jù)與所述第一指紋數(shù)據(jù)匹配程度；根據(jù)所述匹配程度輸出匹配結(jié)果。

其中，所述檢測所述第二指紋圖像與所述第一指紋圖像匹配程度包括：檢測所述第二指紋數(shù)據(jù)與所述第一指紋數(shù)據(jù)的匹配程度是否大于閾值；所述根據(jù)匹配程度輸出匹配結(jié)果包括：若大于閾值，則所述待測試終端解鎖成功；若不大于閾值，則所述待測試終端解鎖失敗。

其中，所述設(shè)置有所述第一指紋圖像的指紋膜的制備方法包括：提供一指紋并在硅膠基體上形成所述指紋的指紋紋路；將融合有電容液的軟性電容材料壓蓋在所述硅膠基體上并覆蓋所述指紋紋路以在所述軟性電容材料上形成所述指紋紋路；固化所述軟性電容材料以形成具有所述指紋紋路的所述指紋膜。

其中，所述在多個(gè)待測試終端中批量導(dǎo)入第一指紋圖像的第一指紋數(shù)據(jù)包括：獲取所述指紋膜的所述第一指紋數(shù)據(jù)；將所述第一指紋數(shù)據(jù)錄入至測試軟件中；將所述測試軟件拷貝至每一所述待測試終端。

其中，所述指紋膜為指紋套。

其中，所述獲取所述指紋膜上的第一指紋數(shù)據(jù)包括：采集所述指紋紋路的所述第一指紋圖像；對(duì)所述第一指紋圖像進(jìn)行預(yù)處理；提取預(yù)處理后的第一指紋圖像的指紋特征以生成所述第一指紋數(shù)據(jù)。

其中，所述使用設(shè)置有所述第一指紋圖像的指紋膜接觸所述多個(gè)待測試終端的指紋模組以獲取所述第一指紋圖像的第二指紋數(shù)據(jù)包括：使用設(shè)置有所述第一指紋圖像的指紋膜接觸每一所述待測試終端的指紋模組以采集所述指紋紋路的第二指紋圖像；對(duì)所述第二指紋圖像進(jìn)行預(yù)處理；提取預(yù)處理后的第二指紋圖像的指紋特征以生成所述第二指紋數(shù)據(jù)。

其中，所述方法進(jìn)一步包括：刪除每一所述待測試終端中的所述測試軟件。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種指紋模組的測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括：多個(gè)待測試終端，所述多個(gè)待測試中設(shè)有批量導(dǎo)入的第一指紋圖像的第一指紋數(shù)據(jù)；指紋膜，所述指紋膜設(shè)置有所述第一指紋圖像，用于接觸所述多個(gè)待測試終端的指紋模組以使得所述多個(gè)待測試終端獲取所述第一指紋圖像的第二指紋數(shù)據(jù)；所述多個(gè)待測試終端進(jìn)一步檢測所述第二指紋數(shù)據(jù)與所述第一指紋數(shù)據(jù)的匹配程度并根據(jù)所述匹配程度輸出匹配結(jié)果。

其中，所述指紋膜為指紋套。

本發(fā)明的有益效果是：區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本發(fā)明通過在多個(gè)待測試終端中批量導(dǎo)入第一指紋圖像的第一指紋數(shù)據(jù)；使用設(shè)置有第一指紋圖像的指紋膜接觸多個(gè)待測試終端的指紋模組以獲取第一指紋圖像的第二指紋數(shù)據(jù)；檢測第二指紋數(shù)據(jù)與第一指紋數(shù)據(jù)匹配程度；根據(jù)匹配程度輸出匹配結(jié)果的方法，使得多個(gè)待測試終端的指紋模組在測試時(shí)，由于多個(gè)待測試終端中設(shè)有批量導(dǎo)入的第一指紋圖像的第一指紋數(shù)據(jù)，可直接使用設(shè)有第一指紋圖像的指紋膜接觸多個(gè)待測試終端的指紋模組，而不需要在每一待測試終端中再錄入第一指紋數(shù)據(jù)，減少了大批量生產(chǎn)過程指紋模組的測試時(shí)間，提高了測試效率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明指紋模組的測試方法實(shí)施例的流程示意圖；

圖2是圖1中步驟s11的具體流程示意圖；

圖3是圖1中步驟s12的具體流程示意圖；

圖4是圖3中步驟s121的具體流程示意圖；

圖5是圖1中步驟s13的具體流程示意圖；

具體實(shí)施方式

為使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明所提供的指紋模組的測試方法及系統(tǒng)做進(jìn)一步詳細(xì)描述。

參閱圖1，本發(fā)明提供的指紋模組的測試方法實(shí)施例包括：

s11：制備設(shè)置有第一指紋圖像的指紋膜；

參閱圖2，該步驟s11可具體包括：

s111：提供一指紋并在硅膠基體上形成該指紋的指紋紋路；

具體地，可使用電吹風(fēng)的熱吹風(fēng)模式對(duì)硅膠基體進(jìn)行加熱使其完全軟化，在一定溫度下，將人的手指在垂直方向上按壓在軟化的硅膠基體上，形成一定深度的凹槽，待軟化的硅膠基體冷卻變硬之后，抽離手指，即可使得該手指的指紋紋路被拓印至硅膠基體上。在完成拓印之后，檢查拓印的指紋紋路是否清晰且與手指的指紋紋路是否有偏差，若清晰且沒有偏差，則該拓印結(jié)束，若不清晰或指紋紋路有偏差，則需要重復(fù)該步驟以在硅膠基體上重新拓印指紋紋路。

可選的，該凹槽的深度為0.5mm～1mm。

s112：將融合有電容液的軟性電容材料壓蓋在硅膠基體上并覆蓋指紋紋路以在軟性電容材料上形成指紋紋路；

具體地，取適量軟性電容材料并將該軟性電容材料按壓呈片狀，然后將電容液均勻滴入該軟性電容材料上，進(jìn)一步手動(dòng)揉捏滴入電容液的軟性電容材料以使得軟性電容材料與電容液相互融合，最后將融合有電容液的軟性電容材料從下向上的按壓在硅膠基體上且覆蓋硅膠基體上的指紋紋路，以使得硅膠基體上的指紋紋路拓印至融合有電容液的軟性電容材料上。

s113：固化軟性電容材料以形成具有指紋紋路的指紋膜。

具體地，將上述步驟s112中拓印有該指紋紋路的軟性電容材料冷卻一定時(shí)間以固化該軟性電容材料，在冷卻完成之后，即可形成具有該指紋紋路的指紋膜，該指紋膜可以模擬上述指紋紋路以具有與該指紋紋路相同的指紋特征及感應(yīng)參數(shù)，且具有一定的任性，使用壽命較長。

可選的，該步驟s11中形成的指紋膜為指紋套，在用戶使用時(shí)，可直接戴在手指上，為用戶使用帶來便利。

s12：在多個(gè)待測試終端中批量導(dǎo)入第一指紋圖像的第一指紋數(shù)據(jù)；

參閱圖3，該步驟s12可具體包括：

s121：獲取指紋膜上的第一指紋數(shù)據(jù)；

參閱圖4，該步驟s121可具體包括：

s1211：采集指紋紋路的第一指紋圖像；

具體地，使用拓印有上述指紋紋路的指紋膜接觸移動(dòng)終端的指紋模組，可選的，將指紋套直接戴在手指上以按壓指紋模組，該指紋模組對(duì)指紋膜上的指紋紋路進(jìn)行多次多幀掃描，以采集指紋膜上的指紋紋路的第一指紋圖像。

s1212：對(duì)第一指紋圖像進(jìn)行預(yù)處理；

具體地，通過極值濾波、一次平滑、銳化、二次平滑、細(xì)化等一系列的dsp圖像處理，以完成對(duì)第一指紋圖像的數(shù)據(jù)處理。

s1213：提取預(yù)處理后的第一指紋圖像的指紋特征以生成第一指紋數(shù)據(jù)。

可選的，提取預(yù)處理后的第一指紋圖像的中的特征點(diǎn)，比如終結(jié)點(diǎn)、分叉點(diǎn)、分歧點(diǎn)、孤立點(diǎn)、環(huán)點(diǎn)、短紋、方向、曲率及位置等特征點(diǎn)，以生成第一指紋數(shù)據(jù)，然后將保存該第一指紋數(shù)據(jù)至指紋庫。

其中，該第一指紋數(shù)據(jù)在本實(shí)施例中作為測試的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此在步驟s1211中的指紋模組為已經(jīng)被測試且完好的指紋模組，以保證生成的第一指紋數(shù)據(jù)能夠作為測試的模板數(shù)據(jù)。

s122：將第一指紋數(shù)據(jù)錄入至測試軟件中；

具體地，將上述步驟s121中生產(chǎn)的第一指紋數(shù)據(jù)編譯至移動(dòng)終端的測試軟件中。

s123：將測試軟件拷貝至每一待測試終端。

具體地，將步驟s122中的測試軟件批量下載至每一待測試終端，以保證每一待測試終端均包括上述的第一指紋數(shù)據(jù)。

s13：使用設(shè)置有第一指紋圖像的指紋膜接觸多個(gè)待測試終端的指紋模組以獲取第一指紋圖像的第二指紋數(shù)據(jù)；

參閱圖5，該步驟s13可具體包括：

s131：使用設(shè)置有第一指紋圖像的指紋膜接觸每一待測試終端的指紋模組以采集指紋紋路的第二指紋圖像；

可選的，在待測試終端進(jìn)入測試模式下，測試人員可直接將指紋膜的指紋套戴在手指上以按壓待測試終端的指紋模組，待測試終端的指紋模組對(duì)指紋膜進(jìn)行全掃描，以采集指紋膜上的指紋紋路的第二指紋圖像。

對(duì)于多個(gè)待測試終端而言，測試人員可使用一個(gè)指紋套按壓每一待測試終端的指紋模組，也可以使用批量生產(chǎn)的指紋套按壓每一待測試終端的指紋模組。

s132：對(duì)第二指紋圖像進(jìn)行預(yù)處理；

具體地，通過極值濾波、一次平滑、銳化、二次平滑、細(xì)化等一系列的dsp圖像處理，以完成對(duì)第二指紋圖像的數(shù)據(jù)處理。

s133：提取預(yù)處理后的第二指紋圖像的指紋特征以生成第二指紋數(shù)據(jù)。

可選的，提取預(yù)處理后的第二指紋圖像的中的特征點(diǎn)，比如終結(jié)點(diǎn)、分叉點(diǎn)、分歧點(diǎn)、孤立點(diǎn)、環(huán)點(diǎn)、短紋、方向、曲率及位置等特征點(diǎn)，以生成第二指紋數(shù)據(jù)。

s14：檢測第二指紋數(shù)據(jù)與第一指紋數(shù)據(jù)匹配程度；

具體地，檢測第二指紋數(shù)據(jù)與上述步驟s12中錄入待測試終端的測試軟件中的第一指紋數(shù)據(jù)的匹配程度是否大于閾值，該閾值可自主設(shè)置，在此不作限制。

s15：根據(jù)匹配程度輸出匹配結(jié)果。

具體地，若上述步驟s14中檢測的第二指紋數(shù)據(jù)與第一指紋數(shù)據(jù)的匹配程度大于閾值，則待測試終端解鎖成功，即可說明該待測試終端的指紋模組可正常使用，若第二指紋數(shù)據(jù)與第一指紋數(shù)據(jù)的匹配程度不大于閾值，則待測試終端結(jié)束失敗，即可說明該待測試終端的指紋模組不可正常使用，進(jìn)而完成對(duì)待測試終端的指紋模組的測試。

進(jìn)一步參閱圖1，本實(shí)施例還包括：

s16：刪除每一待測試終端中的測試軟件。

具體地，在測試完成之后，對(duì)待測試終端進(jìn)行數(shù)據(jù)清零的恢復(fù)出廠設(shè)置，將測試軟件及測試軟件中的指紋數(shù)據(jù)從待測試終端中刪除，以避免影響用戶的使用。

本發(fā)明提供的指紋模組的測試系統(tǒng)實(shí)施例包括多個(gè)待測試終端及指紋膜。

多個(gè)待測試終端中設(shè)置有批量導(dǎo)入的第一指紋圖像的第一指紋數(shù)據(jù)。

指紋膜設(shè)置有第一指紋圖像，用于接觸多個(gè)待測試終端的指紋模組以使得多個(gè)待測試終端獲取第一指紋圖像的第二指紋數(shù)據(jù)。

多個(gè)待測試終端進(jìn)一步檢測第二指紋數(shù)據(jù)與第一指紋數(shù)據(jù)的匹配程度并根據(jù)匹配程度輸出匹配結(jié)果。

可選的，該指紋膜為指紋套。

其中，具體實(shí)施方法可參照上述實(shí)施例中相應(yīng)的步驟，在此不再贅述。

區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明通過在多個(gè)待測試終端中批量導(dǎo)入第一指紋圖像的第一指紋數(shù)據(jù)；使用設(shè)置有第一指紋圖像的指紋膜接觸多個(gè)待測試終端的指紋模組以獲取第一指紋圖像的第二指紋數(shù)據(jù)；檢測第二指紋數(shù)據(jù)與第一指紋數(shù)據(jù)匹配程度；根據(jù)匹配程度輸出匹配結(jié)果的方法，使得多個(gè)待測試終端的指紋模組在測試時(shí)，由于多個(gè)待測試終端中設(shè)有批量導(dǎo)入的第一指紋圖像的第一指紋數(shù)據(jù)，可直接使用設(shè)有第一指紋圖像的指紋膜接觸多個(gè)待測試終端的指紋模組，而不需要在每一待測試終端中再錄入第一指紋數(shù)據(jù)，減少了大批量生產(chǎn)過程指紋模組的測試時(shí)間，提高了測試效率。

以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。