本發(fā)明涉及存儲(chǔ)設(shè)備領(lǐng)域，特別涉及一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的方法。本發(fā)明還涉及一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的裝置。

背景技術(shù)：

隨著互聯(lián)網(wǎng)、云計(jì)算、物聯(lián)網(wǎng)等技術(shù)的發(fā)展及廣泛應(yīng)用，在人類生活中，時(shí)時(shí)刻刻都會(huì)產(chǎn)生海量的數(shù)據(jù)需要處理及存儲(chǔ)，信息技術(shù)的高速發(fā)展對(duì)存儲(chǔ)系統(tǒng)的性能提出了更高的要求。固態(tài)硬盤(solid-statedisk，ssd)，因其讀寫速度快、能耗較低，而在存儲(chǔ)設(shè)備領(lǐng)域廣泛采用。在ssd上除了主控芯片和緩存芯片以外，其余的大部分位置都是nandflash(儲(chǔ)存型快閃記憶體)閃存芯片了。

但固態(tài)硬盤在使用一段時(shí)間之后，基于nand的材質(zhì)會(huì)因?yàn)殚L(zhǎng)期的讀寫或不使用某塊區(qū)域，導(dǎo)致存儲(chǔ)的電荷不穩(wěn)，出現(xiàn)讀取數(shù)據(jù)異常問題，此時(shí)需要調(diào)整讀電壓值重新獲得用戶數(shù)據(jù)。

現(xiàn)有技術(shù)調(diào)整讀電壓值方法為當(dāng)讀取nand中的數(shù)據(jù)異常時(shí)，需要逐一嘗試序列特征值，沒有區(qū)分由于不同原因?qū)е碌牟煌闆r，因此針對(duì)性差，導(dǎo)致數(shù)據(jù)重建成功的準(zhǔn)確率有限、效率低。

如何減少嘗試序列特征值的次數(shù)，進(jìn)而提高數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的針對(duì)性、準(zhǔn)確性和效率，是本領(lǐng)域技術(shù)人員目前需要解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的方法，提高了數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的效率和準(zhǔn)確性；本發(fā)明的另一目的是提供一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的裝置。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的方法，包括：

步驟s1：在對(duì)所述固態(tài)硬盤進(jìn)行讀取操作時(shí)，若出現(xiàn)讀取異常，檢測(cè)所述固態(tài)硬盤內(nèi)記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型；

步驟s2：從預(yù)設(shè)序列組中選取與所述故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列；

步驟s3：根據(jù)所述特征序列內(nèi)的配置參數(shù)依次調(diào)整讀電壓值，每次調(diào)整完成后，執(zhí)行讀取操作；若讀取成功，返回讀取結(jié)果，若讀取失敗，重復(fù)本操作，直至執(zhí)行完全部特征序列，返回讀取結(jié)果。

優(yōu)選地，所述步驟s1中的檢測(cè)所述固態(tài)硬盤內(nèi)記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型的過程包括：

按照若干個(gè)故障類型的優(yōu)先級(jí)由高到低的順序檢測(cè)所述固態(tài)硬盤，判斷是否出現(xiàn)相應(yīng)的故障類型；

當(dāng)檢測(cè)到某種故障類型時(shí)，進(jìn)行操作s2；

相應(yīng)的，步驟s3中，若依據(jù)此種故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列內(nèi)的全部配置參數(shù)調(diào)整后，均讀取失敗，則返回步驟s1檢測(cè)下一優(yōu)先級(jí)的故障類型。

優(yōu)選地，所述故障類型包括讀干擾；

所述檢測(cè)所述固態(tài)硬盤記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型的步驟為：

獲取所述讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的讀取次數(shù)，判斷所述讀取次數(shù)是否到達(dá)讀取門限，若是，則故障類型為讀干擾。

優(yōu)選地，所述故障類型包括寫干擾；

所述檢測(cè)所述固態(tài)硬盤記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型的步驟為：

獲取所述讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的寫入次數(shù)，判斷所述寫入次數(shù)是否達(dá)到寫入門限，若是，則故障類型為寫干擾。

優(yōu)選地，所述故障類型包括數(shù)據(jù)保持；

所述檢測(cè)所述固態(tài)硬盤記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型的步驟為：

獲取所述讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)，判斷所述固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)與所述固態(tài)硬盤中各區(qū)塊擦寫次數(shù)的平均值的差值是否超過閾值，若是，則故障類型為數(shù)據(jù)保持。

優(yōu)選地，所述故障類型包括區(qū)塊開放故障；

所述檢測(cè)所述固態(tài)硬盤記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型的步驟為：

獲取所述讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊是否包含未寫入部分，當(dāng)一個(gè)所述區(qū)塊中未全寫時(shí)，判定為區(qū)塊開放。

優(yōu)選地，所述配置參數(shù)為電壓偏移值。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明還提供了一種固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)重建優(yōu)化裝置，包括：

檢測(cè)模塊，用于在對(duì)所述固態(tài)硬盤進(jìn)行讀取操作時(shí)，若出現(xiàn)讀取異常，檢測(cè)所述固態(tài)硬盤，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型；

特征序列選取模塊，用于從預(yù)設(shè)序列組中選取與所述故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列；

調(diào)整模塊，用于根據(jù)所述特征序列內(nèi)的配置參數(shù)依次調(diào)整讀電壓值，調(diào)整完一次后，執(zhí)行讀取操作，若讀取成功，返回讀取結(jié)果，若讀取失敗，重復(fù)本操作，直至執(zhí)行完全部特征序列，返回讀取結(jié)果。

優(yōu)選地，所述檢測(cè)模塊中還包括：

優(yōu)先級(jí)設(shè)置單元，用于為若干各故障類型設(shè)置優(yōu)先級(jí)順序；

檢驗(yàn)單元，用于按照所述若干個(gè)故障類型的優(yōu)先級(jí)由高到低的順序檢測(cè)所述固態(tài)硬盤內(nèi)記錄的狀態(tài)參數(shù)；

判斷單元，用于根據(jù)所述固態(tài)硬盤中記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷是否出現(xiàn)相應(yīng)的故障類型，每檢測(cè)到一種故障類型后，就觸發(fā)所述特征序列選取模塊選取與該故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列；

相應(yīng)的，所述調(diào)整模塊依據(jù)此種故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列內(nèi)的全部配置參數(shù)調(diào)整后，若均調(diào)整失敗，則觸發(fā)所述檢驗(yàn)單元，檢驗(yàn)下一優(yōu)先級(jí)的故障類型。

優(yōu)選地，所述檢測(cè)模塊具體包括：

讀取次數(shù)檢測(cè)單元，用于獲取所述讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的讀取次數(shù)；

讀干擾判斷單元，用于判斷所述讀取次數(shù)是否到達(dá)讀取門限，若是，則故障類型為讀干擾；若不是，觸發(fā)下一優(yōu)先級(jí)的判斷單元；

寫入次數(shù)檢測(cè)單元，用于獲取所述讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的寫入次數(shù)；

寫干擾判斷單元，用于獲取所述寫入次數(shù)是否到達(dá)寫入門限，若是，則故障類型為寫干擾；若不是，觸發(fā)下一優(yōu)先級(jí)的判斷單元；

固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)檢測(cè)單元，獲取所述讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)；

數(shù)據(jù)保持判斷單元，判斷所述固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)與所述固態(tài)硬盤中各區(qū)塊擦寫次數(shù)的平均值的差值是否超過閾值，若是，則故障類型為數(shù)據(jù)保持；若不是，觸發(fā)下一優(yōu)先級(jí)的判斷單元；

區(qū)塊全寫檢測(cè)單元，獲取所述讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊是否包含未寫入部分；

區(qū)塊開放故障判斷單元，當(dāng)一個(gè)所述區(qū)塊中未全寫時(shí)，判定為區(qū)塊開放；若不是，觸發(fā)下一優(yōu)先級(jí)的判斷單元。

本發(fā)明提供了一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的方法及裝置，在對(duì)固態(tài)硬盤進(jìn)行讀取操作時(shí)，若出現(xiàn)讀取異常，檢測(cè)所述固態(tài)硬盤內(nèi)記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型，從預(yù)設(shè)序列組中選取與故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列。由于本發(fā)明對(duì)導(dǎo)致固態(tài)硬盤讀取異常的原因進(jìn)行了分類，僅依據(jù)判斷出的故障類型選取對(duì)應(yīng)的特征序列調(diào)整讀電壓值，提高了調(diào)整過程的針對(duì)性，所以在實(shí)際操作中不需要漫無(wú)目的的逐個(gè)嘗試電壓序列的值，簡(jiǎn)化了數(shù)據(jù)重建過程，且提高了準(zhǔn)確率和效率。

附圖說(shuō)明

圖1為發(fā)明提供的一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化方法的過程的流程圖；

圖2為本發(fā)明提供的一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化方法的具體實(shí)施方式的流程圖；

圖3為本發(fā)明提供的一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本發(fā)明提供的一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化具體實(shí)施方式的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明的核心是提供一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的方法，提高了優(yōu)化過程的準(zhǔn)確率和效率；本發(fā)明的另一核心是提供一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的裝置。

為了使本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明方案，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。

本發(fā)明提供一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的方法。

參照?qǐng)D1，圖1為發(fā)明提供的一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化方法的過程的流程圖，該方法的具體流程為：

步驟s1：在對(duì)固態(tài)硬盤進(jìn)行讀取操作時(shí)，若出現(xiàn)讀取異常，檢測(cè)固態(tài)硬盤內(nèi)記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型；

步驟s2：從預(yù)設(shè)序列組中選取與故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列；

步驟s3：根據(jù)特征序列內(nèi)的配置參數(shù)依次調(diào)整讀電壓值，每次調(diào)整完成后，執(zhí)行讀取操作；若讀取成功，返回讀取結(jié)果，若讀取失敗，重復(fù)本操作，直至執(zhí)行完全部特征序列，返回讀取結(jié)果。

其中，特征序列中包含多個(gè)按照特定順序排列的配置參數(shù)。

參照?qǐng)D2，圖2為本發(fā)明提供的一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化方法的具體實(shí)施方式的流程圖。

在本具體實(shí)施方式中，本發(fā)明預(yù)先設(shè)置各個(gè)故障類型的優(yōu)先級(jí)順序，每次使用時(shí)調(diào)用優(yōu)先級(jí)順序，則該方法的具體步驟為：

步驟s11：對(duì)固態(tài)硬盤進(jìn)行讀取操作；

步驟s12：判斷是否出現(xiàn)讀取異常；

其中，可以通過判斷retry參數(shù)是否＝0的過程得知讀取是否異常，如果讀取正常，retry參數(shù)＝0；當(dāng)讀取異常時(shí)，retry參數(shù)＝1，不為0。另外，retry參數(shù)在讀取成功后清零。

判斷retry參數(shù)是否為0只是判斷讀取是否異常的一種具體手段，本發(fā)明對(duì)判斷讀取異常的操作不作限定。

步驟s13：檢測(cè)固態(tài)硬盤內(nèi)記錄的狀態(tài)參數(shù)；

其中，狀態(tài)參數(shù)是與所檢測(cè)的故障類型的判斷方法相對(duì)應(yīng)的，具體包括固態(tài)硬盤的讀取次數(shù)、寫入次數(shù)以及固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)等。

步驟s14：調(diào)用預(yù)先設(shè)置的故障類型的優(yōu)先級(jí)順序；

其中，故障類型可以為一個(gè)或多個(gè)，故障類型間的順序可由檢驗(yàn)者自行設(shè)置，也可由生產(chǎn)廠家設(shè)置。本發(fā)明對(duì)故障類型的優(yōu)先級(jí)不作限制。

步驟s15：按照若干個(gè)故障類型的優(yōu)先級(jí)由高到低的順序檢測(cè)固態(tài)硬盤，判定是否出現(xiàn)相應(yīng)的故障類型，當(dāng)檢測(cè)到某種故障類型時(shí)，進(jìn)行步驟s2；

步驟s2：從預(yù)設(shè)序列組中選取與故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列；

其中，配置參數(shù)為電壓偏移值，例如±5v，也可以是偏移量，例如±5％；配置參數(shù)也可以是具體的電壓值，當(dāng)然本發(fā)明不限制配置參數(shù)的具體類型。

步驟s31：判斷特征序列內(nèi)是否包含未用作調(diào)整的配置參數(shù)，若有，進(jìn)入步驟s32；若沒有，則返回步驟s15，進(jìn)入下一優(yōu)先級(jí)的故障類型的判定；

步驟s32：根據(jù)特征序列內(nèi)的配置參數(shù)依次調(diào)整讀電壓值；

步驟s33：執(zhí)行讀取操作；

步驟s34：將讀電壓值調(diào)整至初始狀態(tài)值；

此過程是為了使讀電壓值恢復(fù)初始值，以方便下一次調(diào)整讀電壓值。比如步驟s2中選取的配置參數(shù)為+5％，那么電壓值的恢復(fù)則可以將現(xiàn)有的讀電壓值/(1+5％)得到初始的讀電壓值。

此處對(duì)如何將讀電壓值調(diào)整至調(diào)整前的狀態(tài)的具體過程不作限定。

步驟s35：判斷是否讀取成功，如果成功，返回讀取結(jié)果；如果失敗，返回步驟s31。

其中，可以通過判斷retry參數(shù)是否＝0的過程得知讀取是否成功，如果讀取成功，retry參數(shù)＝0；當(dāng)讀取失敗時(shí)，retry參數(shù)＝1，不為0。retry參數(shù)在讀取成功后清零；也可以根據(jù)判斷eccerr的狀態(tài)得出相同的結(jié)論。在本領(lǐng)域中，判斷讀取成功的操作不止上述兩種，本發(fā)明對(duì)此也不作限定。

具體的，故障類型包括讀干擾(readdisturb)。

則步驟s1中檢測(cè)固態(tài)硬盤記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型的步驟為：

獲取讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的讀取次數(shù)，判斷讀取次數(shù)是否到達(dá)讀取門限，若是，則故障類型為讀干擾。

讀取門限可以為5次，針對(duì)不同實(shí)施環(huán)境，讀取門限也會(huì)有不同數(shù)值。本發(fā)明對(duì)該數(shù)值不作具體限制。

另外，故障類型包括寫干擾(programdisturb)。

那么步驟s1中檢測(cè)固態(tài)硬盤記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型的步驟為：

獲取讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的寫入次數(shù)，判斷寫入次數(shù)是否達(dá)到寫入門限，若是，則故障類型為寫干擾。

寫入門限可為3次，同理于讀取門限，對(duì)寫入門限的具體數(shù)值亦不加以限定。

具體來(lái)說(shuō)，故障類型包括數(shù)據(jù)保持(dataretention)。

那么步驟s1中檢測(cè)固態(tài)硬盤記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型的步驟為：

獲取讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)(programerase，pe)，判斷固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)與固態(tài)硬盤中各區(qū)塊擦寫次數(shù)的平均值的差值是否超過閾值，若是，則故障類型為數(shù)據(jù)保持。

這里的固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)以及閾值與nand材質(zhì)有關(guān)系，本發(fā)明對(duì)此不加以限定。

具體的，故障類型包括區(qū)塊開放故障(openblock)。

則步驟s1中檢測(cè)固態(tài)硬盤記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型的步驟為：

獲取讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊是否包含未寫入部分，當(dāng)一個(gè)區(qū)塊中未全寫時(shí)，判定為區(qū)塊開放故障。

就以上列舉的四種故障模式舉例，優(yōu)先級(jí)順序可以為“讀干擾-寫干擾-數(shù)據(jù)保持-開放故障”，例如，當(dāng)檢測(cè)到讀取次數(shù)未超過讀取特定門限時(shí)，判定不是讀干擾，并檢測(cè)下一優(yōu)先級(jí)的故障類型即寫干擾是否存在。

本實(shí)施例與是實(shí)施例一相比，預(yù)先設(shè)置故障類型的優(yōu)先級(jí)順序，并按照順序進(jìn)行檢測(cè)，該順序可以按照故障類型發(fā)生的可能性排列，這種方法可以減少不常見故障類型的檢測(cè)，減少檢測(cè)的次數(shù)，大大提高檢測(cè)效率進(jìn)而優(yōu)化數(shù)據(jù)重建。

在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，不預(yù)先設(shè)置故障類型的優(yōu)先級(jí)，而是分別判斷是否出現(xiàn)各種故障類型，當(dāng)出現(xiàn)多個(gè)故障類型時(shí)，同時(shí)分別選取各故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列，再按照特定的優(yōu)選順序選取配置參數(shù)。

其中，根據(jù)不同的需求也可隨機(jī)設(shè)置各故障類型的檢測(cè)順序以及配置順序。本發(fā)明對(duì)此不加以限制。

本實(shí)施例與實(shí)施例一相比，同時(shí)進(jìn)行各故障類型的檢測(cè)，縮短了檢測(cè)所用的時(shí)間，并按照優(yōu)選順序配置特征參數(shù)，減少了實(shí)現(xiàn)讀取成功所需要的調(diào)整次數(shù)，大大縮短了數(shù)據(jù)重建所需要的時(shí)間，提高了效率。

以上的兩種具體實(shí)施方式僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)，這些改進(jìn)也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。

本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)重建的方法在對(duì)固態(tài)硬盤進(jìn)行讀取操作時(shí)，若出現(xiàn)讀取異常，檢測(cè)固態(tài)硬盤內(nèi)記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型，從預(yù)設(shè)序列組中選取與故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列。由于本發(fā)明對(duì)導(dǎo)致固態(tài)硬盤讀取異常的原因進(jìn)行了分類，僅依據(jù)判斷出的故障類型選取對(duì)應(yīng)的特征序列調(diào)整讀電壓值，提高了調(diào)整過程的針對(duì)性，所以在實(shí)際操作中不需要漫無(wú)目的的逐個(gè)嘗試電壓序列的值，簡(jiǎn)化了數(shù)據(jù)重建過程，且提高了準(zhǔn)確率和效率。

本發(fā)明還提供了一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的裝置，參照?qǐng)D3，圖3位本發(fā)明提供的一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

該裝置包括：

檢測(cè)模塊100，用于在對(duì)固態(tài)硬盤進(jìn)行讀取操作時(shí)，若出現(xiàn)讀取異常，檢測(cè)固態(tài)硬盤，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型；

特征序列選取模塊200，用于從預(yù)設(shè)序列組中選取與故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列；

調(diào)整模塊300，用于根據(jù)特征序列內(nèi)的配置參數(shù)依次調(diào)整讀電壓值，調(diào)整完一次后，執(zhí)行讀取操作，若讀取成功，返回讀取結(jié)果，若讀取失敗，重復(fù)本操作，直至執(zhí)行完全部特征序列，返回讀取結(jié)果。

在優(yōu)選實(shí)施例中，如圖4所示，圖4為本發(fā)明提供的一種固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建優(yōu)化具體實(shí)施方式的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。檢測(cè)模塊100中具體包括：

優(yōu)先級(jí)設(shè)置單元110，用于為若干各故障類型設(shè)置優(yōu)先級(jí)順序；

獲取單元120，用于獲取固態(tài)硬盤中記錄的狀態(tài)參數(shù)；

檢驗(yàn)單元130，用于按照若干個(gè)故障類型的優(yōu)先級(jí)由高到低的順序檢測(cè)固態(tài)硬盤內(nèi)記錄的狀態(tài)參數(shù)；

判斷單元140，用于根據(jù)固態(tài)硬盤中記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷是否出現(xiàn)相應(yīng)的故障類型，每檢測(cè)到一種故障類型后，就觸發(fā)依次特征序列選取模塊200選取與該故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列；

相應(yīng)的，選取模塊300依據(jù)此種故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列內(nèi)的全部配置參數(shù)調(diào)整后，若均調(diào)整失敗，則觸發(fā)檢驗(yàn)單元130，檢驗(yàn)下一優(yōu)先級(jí)的故障類型。

其中，在第三種具體實(shí)施中，檢測(cè)模塊100具體包括：

讀取次數(shù)檢測(cè)單元，用于獲取讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的讀取次數(shù)；

讀干擾判斷單元，用于判斷讀取次數(shù)是否到達(dá)讀取門限，若是，則故障類型為讀干擾；

寫入次數(shù)檢測(cè)單元，用于獲取讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的寫入次數(shù)；

寫干擾判斷單元，用于獲取寫入次數(shù)是否到達(dá)寫入門限，若是，則故障類型為寫干擾；

固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)檢測(cè)單元，獲取讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的寫入次數(shù)；

數(shù)據(jù)保持判斷單元，判斷寫入次數(shù)是否達(dá)到寫入門限，若是，則故障類型為寫干擾；

區(qū)塊全寫檢測(cè)單元，獲取讀取操作對(duì)應(yīng)的區(qū)塊的固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)；

區(qū)塊開放判斷單元，判斷固態(tài)硬盤擦寫次數(shù)與固態(tài)硬盤中各區(qū)塊擦寫次數(shù)的平均值的差值是否超過閾值，若是，則故障類型為數(shù)據(jù)保持。

進(jìn)一步可知，在檢測(cè)模塊100需要按照優(yōu)先級(jí)順序檢測(cè)故障類型時(shí)，以上各個(gè)故障檢測(cè)單元在判斷結(jié)果不是本類型的故障時(shí)，觸發(fā)下一優(yōu)先級(jí)的檢測(cè)單元。

當(dāng)然，當(dāng)檢測(cè)模塊100不按照優(yōu)先級(jí)順序檢測(cè)時(shí)，以上各個(gè)故障類型對(duì)應(yīng)的檢測(cè)單元可以并發(fā)進(jìn)行檢測(cè)。

本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)重建的裝置在對(duì)固態(tài)硬盤進(jìn)行讀取操作時(shí)，若出現(xiàn)讀取異常，檢測(cè)固態(tài)硬盤內(nèi)記錄的狀態(tài)參數(shù)，判斷出現(xiàn)讀取異常的故障類型，從預(yù)設(shè)序列組中選取與故障類型對(duì)應(yīng)的特征序列。由于本發(fā)明對(duì)導(dǎo)致固態(tài)硬盤讀取異常的原因進(jìn)行了分類，僅依據(jù)判斷出的故障類型選取對(duì)應(yīng)的特征序列調(diào)整讀電壓值，提高了調(diào)整過程的針對(duì)性，所以在實(shí)際操作中不需要漫無(wú)目的的逐個(gè)嘗試電壓序列的值，簡(jiǎn)化了數(shù)據(jù)重建過程，且提高了準(zhǔn)確率和效率。

以上對(duì)本發(fā)明所提供的固態(tài)硬盤中數(shù)據(jù)重建的方法及裝置進(jìn)行了詳細(xì)介紹。本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行若干改進(jìn)和修飾，這些改進(jìn)和修飾也落入本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。