本發(fā)明涉及器件可靠性領(lǐng)域,特別是涉及一種i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法和裝置。
背景技術(shù):
隨著集成電路的集成度的不斷提高,對(duì)數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃缘囊笤诓粩嘣黾印S绕湓诖鎯?chǔ)領(lǐng)域,可靠性尤為重要,而存儲(chǔ)整機(jī)的可靠性離不開單板的可靠性,單板內(nèi)各類總線的信號(hào)質(zhì)量與單板可靠性息息相關(guān)。
以i2c總線為例,隨著單板規(guī)模的發(fā)展,一條i2c總線鏈路上掛載了各式各樣的設(shè)備。每個(gè)i2c設(shè)備都存在寄生電容,單板走線也有寄生電容,電容、上拉電阻都會(huì)影響i2c總線的上升下降時(shí)間,在這種情況下保證i2c總線信號(hào)質(zhì)量的穩(wěn)定可靠就顯得尤為重要。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的是提供了一種i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法和裝置,實(shí)現(xiàn)對(duì)i2c總線的總線電容和上拉電阻進(jìn)行動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié),保證i2c總線的信號(hào)質(zhì)量,提高單板的可靠性。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法,包括:
步驟1,判斷i2c總線的總線電容或上拉電阻是否超出預(yù)設(shè)范圍,其中,所述預(yù)設(shè)范圍為在正常i2c協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的總線電容值和上拉電阻值;
步驟2,若是,對(duì)超出所述預(yù)設(shè)范圍的所述總線電容或所述上拉電阻進(jìn)行動(dòng)態(tài)取值,使得所述i2c總線的總線電容或上拉電阻在所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi)。
其中,在所述步驟2包括:
計(jì)算當(dāng)前所述總線電容或上拉電阻與所述預(yù)設(shè)范圍的差值,調(diào)節(jié)接入所述i2c總線的接入所述芯片走線的長度,控制所述i2c總線的總線電容,或調(diào)節(jié)所述網(wǎng)絡(luò)電阻接入所述i2c總線的阻值,控制所述i2c總線的上拉電阻。
其中,在所述步驟2之后,還包括:
步驟3,將對(duì)所述i2c總線的總線電容或上拉電阻作為調(diào)節(jié)日志輸出。
除此之外,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置,包括:
判斷模塊,與i2c總線連接,用于檢測所述i2c總線的總線電容和上拉電阻是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi),其中,所述預(yù)設(shè)范圍為在正常i2c協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的總線電容值和上拉電阻值;
動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊,與所述判斷模塊、所述i2c總線連接,用于在所述判斷模塊檢測到所述i2c總線的總線電容或上拉電阻超出所述預(yù)設(shè)范圍時(shí),調(diào)節(jié)所述i2c總線的總線電容或上拉電阻到所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi)。
其中,所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊包括與所述i2c總線連接的芯片走線,通過接入所述芯片走線的長度,控制所述i2c總線的總線電容。
其中,所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊包括與所述i2c總線連接的網(wǎng)絡(luò)電阻,通過調(diào)節(jié)所述網(wǎng)絡(luò)電阻接入所述i2c總線的阻值,控制所述i2c總線的上拉電阻。
其中,還包括計(jì)算模塊,所述計(jì)算模塊與所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊、所述判斷模塊連接,用于計(jì)算所述i2c總線的總線電容和上拉電阻與所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi)的差值,所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊根據(jù)所述差值調(diào)節(jié)所述芯片走線或所述網(wǎng)絡(luò)電阻,調(diào)節(jié)所述i2c總線的總線電容或上拉電阻。
其中,還包括與所述判斷模塊、所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊連接的日志模塊,用于存儲(chǔ)并輸出所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊對(duì)所述i2c總線的總線電容和上拉電阻的調(diào)節(jié)過程。
其中,還包括與所述計(jì)算模塊、所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊連接的設(shè)置模塊,用于設(shè)置所述預(yù)設(shè)范圍以及設(shè)置所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊對(duì)所述i2c總線的總線電容和上拉電阻的調(diào)節(jié)量。
本發(fā)明實(shí)施例所提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法和裝置,與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下優(yōu)點(diǎn):
本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法,包括:
步驟1,判斷i2c總線的總線電容或上拉電阻是否超出預(yù)設(shè)范圍,其中,所述預(yù)設(shè)范圍為在正常i2c協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的總線電容值和上拉電阻值;
步驟2,若是,對(duì)超出所述預(yù)設(shè)范圍的所述總線電容或所述上拉電阻進(jìn)行動(dòng)態(tài)取值,使得所述i2c總線的總線電容或上拉電阻在所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi)。
本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置,包括:
判斷模塊,與i2c總線連接,用于檢測所述i2c總線的總線電容和上拉電阻是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi),其中,所述預(yù)設(shè)范圍為在正常i2c協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的總線電容值和上拉電阻值;
動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊,與所述判斷模塊、所述i2c總線連接,用于在所述判斷模塊檢測到所述i2c總線的總線電容或上拉電阻超出所述預(yù)設(shè)范圍時(shí),調(diào)節(jié)所述i2c總線的總線電容或上拉電阻到所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi)。
所述i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法和裝置,通過檢測i2c總線的總線電容或上拉電阻是否超出預(yù)設(shè)范圍,而該預(yù)設(shè)范圍是預(yù)設(shè)的在正常i2c協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的總線電容值和上拉電阻值,在超出預(yù)設(shè)范圍之后,對(duì)超出預(yù)設(shè)范圍的總線電容或上拉電阻進(jìn)行動(dòng)態(tài)取值,使得i2c總線的總線電容或上拉電阻在預(yù)設(shè)范圍內(nèi),保證了i2c總線信號(hào)的質(zhì)量,提高了單板的可靠性,提高了存儲(chǔ)機(jī)的可靠性。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法的一種具體實(shí)施方式的步驟流程示意圖;
圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法的另一種具體實(shí)施方式的步驟流程示意圖;
圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置的一種具體實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置的另一種具體實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置的再一種具體實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
請(qǐng)參考圖1~5,圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法的一種具體實(shí)施方式的步驟流程示意圖;圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法的另一種具體實(shí)施方式的步驟流程示意圖;圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置的一種具體實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖;圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置的另一種具體實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖;圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置的再一種具體實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。
在一種具體實(shí)施方式中,所述i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法,包括:
步驟1,判斷i2c總線的總線電容或上拉電阻是否超出預(yù)設(shè)范圍,其中,所述預(yù)設(shè)范圍為在正常i2c協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的總線電容值和上拉電阻值;這里的預(yù)設(shè)范圍是由管理者進(jìn)行設(shè)定的,可以是一次性輸入后不可更改,也可以是預(yù)設(shè)一個(gè)值,然后在后續(xù)的操作以及使用過程中,如果發(fā)現(xiàn)該值過大或過小都可以進(jìn)行重新設(shè)置,本發(fā)明對(duì)其不做具體限定。
步驟2,若是,對(duì)超出所述預(yù)設(shè)范圍的所述總線電容或所述上拉電阻進(jìn)行動(dòng)態(tài)取值,使得所述i2c總線的總線電容或上拉電阻在所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi),通過在總線電容或所述上拉電阻超出預(yù)設(shè)范圍時(shí),對(duì)其進(jìn)行動(dòng)態(tài)取值,這種動(dòng)態(tài)取值是分別進(jìn)行的,總線電容和上拉電阻不能夠同時(shí)動(dòng)態(tài)取值,彼此間形成干擾,造成已取值的參數(shù)的值發(fā)生改變。這里的動(dòng)態(tài)取值可以是系統(tǒng)隨機(jī)設(shè)定一個(gè)值,將超出預(yù)設(shè)范圍的總線電容或上拉電阻,也可以是隨機(jī)進(jìn)行動(dòng)態(tài)取值,對(duì)總線電容或所述上拉電阻增加或減少一個(gè)值,使其回歸預(yù)設(shè)范圍,保證i2c總線的信號(hào)質(zhì)量。
通過檢測i2c總線的總線電容或上拉電阻是否超出預(yù)設(shè)范圍,而該預(yù)設(shè)范圍是預(yù)設(shè)的在正常i2c協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的總線電容值和上拉電阻值,在超出預(yù)設(shè)范圍之后,對(duì)超出預(yù)設(shè)范圍的總線電容或上拉電阻進(jìn)行動(dòng)態(tài)取值,使得i2c總線的總線電容或上拉電阻在預(yù)設(shè)范圍內(nèi),保證了i2c總線信號(hào)的質(zhì)量,提高了單板的可靠性,提高了存儲(chǔ)機(jī)的可靠性。
而為了進(jìn)一步精確控制總線電容值和上拉電阻值,擴(kuò)大調(diào)節(jié)范圍,在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,在所述步驟2包括:
計(jì)算當(dāng)前所述總線電容或上拉電阻與所述預(yù)設(shè)范圍的差值,調(diào)節(jié)接入所述i2c總線的接入所述芯片走線的長度,控制所述i2c總線的總線電容,或調(diào)節(jié)所述網(wǎng)絡(luò)電阻接入所述i2c總線的阻值,控制所述i2c總線的上拉電阻。
通過將芯片走線接入i2c總線改變總線電容值,以及通過接入網(wǎng)絡(luò)電阻,控制上拉電阻值。
需要指出的是,本發(fā)明對(duì)于芯片走線的長度、材質(zhì)以及接入電容的長度控制方式不做具體限定,對(duì)于網(wǎng)絡(luò)電阻及其控制方式不做具體限定。
在本發(fā)明中還可以使用其它的電容接入以及電阻接入方式,本發(fā)明對(duì)此不作具體限定。
為了進(jìn)一步獲取當(dāng)前的i2c總線的總線電容和上拉電阻的信息,在所述步驟2之后,還包括:
步驟3,將對(duì)所述i2c總線的總線電容或上拉電阻作為調(diào)節(jié)日志輸出。
通過將對(duì)所述i2c總線的總線電容或上拉電阻作為調(diào)節(jié)日志輸出,管理人員可以實(shí)時(shí)獲取當(dāng)前的所述i2c總線的總線電容或上拉電阻的狀態(tài)以及調(diào)節(jié)過程和結(jié)果,方便當(dāng)前以及后續(xù)的對(duì)i2c總線的總線電容或上拉電阻的調(diào)節(jié)策略的調(diào)整和方案制作。
除此之外,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置,包括:
判斷模塊20,與i2c總線10連接,用于檢測所述i2c總線10的總線電容和上拉電阻是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi),其中,所述預(yù)設(shè)范圍為在正常i2c協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的總線電容值和上拉電阻值;
動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30,與所述判斷模塊20、所述i2c總線10連接,用于在所述判斷模塊20檢測到所述i2c總線10的總線電容或上拉電阻超出所述預(yù)設(shè)范圍時(shí),調(diào)節(jié)所述i2c總線10的總線電容或上拉電阻到所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi)。
本發(fā)明中對(duì)于動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30如何控制和調(diào)節(jié)i2c總線10的總線電容不做具體限定,在一個(gè)實(shí)施例中,所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30包括與所述i2c總線10連接的芯片走線,通過接入所述芯片走線的長度,控制所述i2c總線10的總線電容。采用增加芯片走線,控制接入的芯片走線的長度,控制所述i2c總線10的總線電容,提高了控制精確度,本發(fā)明對(duì)于芯片走線的類型以及具體長度不做具體限定。
在本發(fā)明中,除了上述的方式進(jìn)行總線電容控制之外,還可以采用如接入并聯(lián)或串聯(lián)固定的電容,實(shí)現(xiàn)對(duì)總線電容的控制,或者是采用其它的方式實(shí)現(xiàn)對(duì)總線電容的控制。
而對(duì)于i2c總線10的控制,在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30包括與所述i2c總線10連接的網(wǎng)絡(luò)電阻,通過調(diào)節(jié)所述網(wǎng)絡(luò)電阻接入所述i2c總線10的阻值,控制所述i2c總線10的上拉電阻。
通過接入網(wǎng)絡(luò)電阻控制i2c總線10的上拉電阻,由于網(wǎng)絡(luò)電阻具有穩(wěn)定性好、精度高、極低溫度系數(shù)的特性,使得網(wǎng)絡(luò)電阻的可靠性非常高,不會(huì)因?yàn)榻尤刖W(wǎng)絡(luò)電阻為整個(gè)i2c總線10的信號(hào)質(zhì)量控制帶來負(fù)面效應(yīng)。
需要指出的是,本發(fā)明中除了接入網(wǎng)絡(luò)電阻進(jìn)行述i2c總線10的上拉電阻控制之外,還可以采用其它的方式、方法控制上拉電阻,本發(fā)明中對(duì)于網(wǎng)絡(luò)電阻以及相應(yīng)的控制策略不做具體限定。
除了上述采用接入網(wǎng)絡(luò)電阻的方式控制上拉電阻之外,還可以采用諸如接入固定電阻,或者是其它能夠增加或減少上拉電阻的連接方式。
在本發(fā)明中,針對(duì)總線電容以及上拉電阻的控制,其目的是為了改善i2c總線10的信號(hào)質(zhì)量,因此在對(duì)其總線電容以及上拉電阻的控制過程中,一般會(huì)盡量避免使得波動(dòng)幅度過大,盡量降低對(duì)總線的信號(hào)質(zhì)量的影響,為了實(shí)現(xiàn)這一目的,在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述i2c總線10信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置還包括計(jì)算模塊40,所述計(jì)算模塊40與所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30、所述判斷模塊20連接,用于計(jì)算所述i2c總線10的總線電容和上拉電阻與所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi)的差值,所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30根據(jù)所述差值調(diào)節(jié)所述芯片走線或所述網(wǎng)絡(luò)電阻,調(diào)節(jié)所述i2c總線10的總線電容或上拉電阻。
通過計(jì)算模塊40計(jì)算超出預(yù)定范圍的總線電容或上拉電阻的部分,然后根據(jù)超量進(jìn)行合理的調(diào)節(jié),就能夠減少調(diào)控量,減少調(diào)控過程中總線信號(hào)的波動(dòng),提高總線信號(hào)質(zhì)量。
對(duì)于總線電容以及上拉電阻的控制與總線信號(hào)質(zhì)量有密切關(guān)系,高精度的調(diào)節(jié)過程帶來高質(zhì)量的總線信號(hào),也對(duì)于單板的可靠性有較的提升,管理員在對(duì)總線信號(hào)質(zhì)量的調(diào)節(jié)過程中,從輸出的總線信號(hào)上只能判斷出輸出總線信號(hào)的質(zhì)量是好還是不好,對(duì)于引起的原因確是不清楚,這對(duì)于管理來說,如何對(duì)于后續(xù)的總線信號(hào)質(zhì)量的調(diào)節(jié)是牧戶的、沒有有效的應(yīng)對(duì)策略,調(diào)節(jié)效率低下而且沒有針對(duì)性。為了解決這一結(jié)束問題,在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,所述i2c總線10信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置還包括與所述判斷模塊20、所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30連接的日志模塊50,用于存儲(chǔ)并輸出所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30對(duì)所述i2c總線10的總線電容和上拉電阻的調(diào)節(jié)過程。
通過將整個(gè)總線信號(hào)質(zhì)量調(diào)節(jié)過程中,總線電容和上拉電阻的控制過程作為日志通過日志模塊50進(jìn)行輸出,管理員可以據(jù)此快速分析獲得影響當(dāng)前總線信號(hào)質(zhì)量的因素,為了后續(xù)的調(diào)節(jié)策略提供依據(jù),提高提高調(diào)節(jié)效率。
一些器件如存儲(chǔ)主機(jī)等在進(jìn)行出廠時(shí),一般其設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)都是統(tǒng)一的,而對(duì)于不同的使用者來說,如果對(duì)于總線信號(hào)的質(zhì)量要求較低,采用原場設(shè)置即可,如果對(duì)于總線信號(hào)質(zhì)量的要求很高,就有可能需要進(jìn)行自行調(diào)節(jié),提高控制精度,因此,在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述i2c總線10信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)裝置還包括與所述計(jì)算模塊40、所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30連接的設(shè)置模塊60,用于設(shè)置所述預(yù)設(shè)范圍以及設(shè)置所述動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30對(duì)所述i2c總線10的總線電容和上拉電阻的調(diào)節(jié)量。
通過設(shè)置模塊60,不同的管理員可以根據(jù)實(shí)際的使用需求,進(jìn)行不同的總線電容以及上拉電阻的調(diào)節(jié),獲得各自需要的總線信號(hào)質(zhì)量。
需要指出的是,本發(fā)明對(duì)于設(shè)置模塊60的設(shè)置過程,不做具體限定,可以是采用類似檔位調(diào)節(jié)的方式,在幾個(gè)固定的調(diào)節(jié)點(diǎn)之間進(jìn)行調(diào)節(jié),也可以是采用連續(xù)調(diào)節(jié)的方式,如管理員直接輸入總線電容和上拉電阻的調(diào)節(jié)量,甚至是直接輸入需要的總線電容和上拉電阻,或者預(yù)先計(jì)算出不同的總線電容、上拉電阻對(duì)于信號(hào)質(zhì)量的影響關(guān)系,輸入需要的中心信號(hào)質(zhì)量。
在本發(fā)明中,常用的總線電容和上拉電阻搭配優(yōu)先采用固定搭配,在一定程度上能夠減少調(diào)節(jié)量,減少調(diào)節(jié)的復(fù)雜程度,在固定搭配不能夠滿足需要是采用動(dòng)態(tài)取值的方式,固定搭配和動(dòng)態(tài)取值可以是調(diào)節(jié)中的兩種固有模式,也可以是另外增加設(shè)備增加固定搭配和動(dòng)態(tài)取值的調(diào)節(jié)方式。
在本發(fā)明中,動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊30對(duì)于smbus是兼容的,但是在同一bus上是無法兼容i2c和smbus(系統(tǒng)管理總線)。
本發(fā)明中的i2c總線10信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法和裝置,不僅適用于i2c總線10信號(hào)質(zhì)量的調(diào)節(jié),也適用于smbus總線信號(hào)質(zhì)量的調(diào)節(jié)。
i2c信號(hào)質(zhì)量動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊過程,在一個(gè)實(shí)施例中,如圖5所示,如下:
單板中i2cbus1-4和smbus5分別連接到i2c信號(hào)質(zhì)量動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)模塊(bus1-4為i2c總線10,bus5為smbus),5個(gè)bus上分別接有不同數(shù)量、類型的設(shè)備,其中包括負(fù)載可變類型的設(shè)備。在單板正常工作過程中,5個(gè)bus都是在i2c或者smbus協(xié)議規(guī)范的信號(hào)質(zhì)量下工作,如果有任一個(gè)bus的信號(hào)質(zhì)量觸及模塊內(nèi)嵌的協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)限制,模塊通過更換總線電容、上拉電阻固定搭配或者動(dòng)態(tài)取值的方式將總線信號(hào)質(zhì)量維持在正常范圍。模塊對(duì)各個(gè)總線進(jìn)行的操作都保存在日志模塊50中,可通過串口模塊導(dǎo)出歷史日志,也能通過串口模塊進(jìn)行實(shí)時(shí)日志輸出。
綜上所述,本發(fā)明實(shí)施例提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法和裝置,通過檢測i2c總線的總線電容或上拉電阻是否超出預(yù)設(shè)范圍,而該預(yù)設(shè)范圍是預(yù)設(shè)的在正常i2c協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的總線電容值和上拉電阻值,在超出預(yù)設(shè)范圍之后,對(duì)超出預(yù)設(shè)范圍的總線電容或上拉電阻進(jìn)行動(dòng)態(tài)取值,使得i2c總線的總線電容或上拉電阻在預(yù)設(shè)范圍內(nèi),保證了i2c總線信號(hào)的質(zhì)量,提高了單板的可靠性,提高了存儲(chǔ)機(jī)的可靠性。
以上對(duì)本發(fā)明所提供的i2c總線信號(hào)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)方法和裝置進(jìn)行了詳細(xì)介紹。本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述,以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行若干改進(jìn)和修飾,這些改進(jìn)和修飾也落入本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。