本發(fā)明涉及量子計(jì)算，尤其是涉及一種量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法以及量子計(jì)算機(jī)。

背景技術(shù)：

1、量子計(jì)算機(jī)是一類遵循量子力學(xué)規(guī)律進(jìn)行高速數(shù)學(xué)和邏輯運(yùn)算、存儲及處理量子信息的物理裝置。量子計(jì)算機(jī)的特點(diǎn)主要有運(yùn)行速度較快、處置信息能力較強(qiáng)、應(yīng)用范圍較廣等。與一般計(jì)算機(jī)比較起來，信息處理量愈多，對于量子計(jì)算機(jī)實(shí)施運(yùn)算也就愈加有利，也就更能確保運(yùn)算具備精準(zhǔn)性。

2、量子芯片之于量子計(jì)算機(jī)就相當(dāng)于cpu之于傳統(tǒng)計(jì)算機(jī)，量子芯片是量子計(jì)算機(jī)的核心部件。隨著量子計(jì)算相關(guān)技術(shù)的不斷研究推進(jìn)，量子芯片上的量子比特位數(shù)也在逐年增加，可以預(yù)見的是，后續(xù)會出現(xiàn)更大規(guī)模的量子芯片，屆時(shí)量子芯片中的量子比特位數(shù)將會更多，量子計(jì)算機(jī)中也會搭載更大規(guī)模的量子芯片。

3、在量子芯片上線之前需要對量子芯片的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測試，并且在上線之后需要對量子芯片進(jìn)行校準(zhǔn)，這些測試以及校準(zhǔn)操作需要借助很多的硬件設(shè)備以及軟件程序以對量子芯片進(jìn)行相應(yīng)的測控實(shí)驗(yàn)，這里提到的測控實(shí)驗(yàn)是指對量子芯片中量子比特進(jìn)行控制以及讀取的實(shí)驗(yàn)?，F(xiàn)有技術(shù)中，針對不同測控實(shí)驗(yàn)需要調(diào)用不同的軟件程序，效率很低，極大影響了量子計(jì)算機(jī)的執(zhí)行效率。

4、因此，需要提出一種可以提高量子計(jì)算機(jī)執(zhí)行效率的方案。

5、需要說明的是，公開于本申請背景技術(shù)部分的信息僅僅旨在加深對本申請一般背景技術(shù)的理解，而不應(yīng)當(dāng)被視為承認(rèn)或以任何形式暗示該信息構(gòu)成已為本領(lǐng)域技術(shù)人員所公知的現(xiàn)有技術(shù)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供一種量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法以及量子計(jì)算機(jī)，用于剞劂吸納有技術(shù)中針對不同測控實(shí)驗(yàn)需要調(diào)用不同的軟件程序，效率很低，極大影響了量子計(jì)算機(jī)的執(zhí)行效率的問題。

2、為了解決以上技術(shù)問題，本發(fā)明提出一種量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法，包括：

3、在第一界面的第一子界面中配置并行實(shí)驗(yàn)環(huán)境，所述并行實(shí)驗(yàn)環(huán)境為量子芯片中參與執(zhí)行并行實(shí)驗(yàn)的器件，所述并行實(shí)驗(yàn)為多個量子比特同時(shí)執(zhí)行同一種測控實(shí)驗(yàn)；

4、在所述第一界面的測控實(shí)驗(yàn)展示欄中選擇待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)，在所述第一界面的第二子界面中生成所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)選項(xiàng)；

5、在所述第二子界面中配置所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)參數(shù)；

6、觸發(fā)第一界面中的第一控件，開始執(zhí)行所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)。

7、可選地，所述測控實(shí)驗(yàn)展示欄中多個并行實(shí)驗(yàn)通過列表形式展示。

8、可選地，所述第一界面的第三子界面中實(shí)時(shí)展示所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)的結(jié)果。

9、可選地，所述第三子界面中還實(shí)時(shí)展示當(dāng)前測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行進(jìn)度。

10、可選地，所述在第一界面的第一子界面中配置并行實(shí)驗(yàn)環(huán)境，包括：

11、配置實(shí)驗(yàn)比特、環(huán)境比特，所述實(shí)驗(yàn)比特為用于執(zhí)行并行實(shí)驗(yàn)的量子比特，所述環(huán)境比特為所述量子芯片中對所述實(shí)驗(yàn)比特存在影響的量子比特。

12、可選地，所述在第一界面的第一子界面中配置并行實(shí)驗(yàn)環(huán)境，還包括：

13、配置所述實(shí)驗(yàn)比特與環(huán)境比特之間的串?dāng)_矩陣，所述串?dāng)_矩陣用于校準(zhǔn)所述環(huán)境比特對所述實(shí)驗(yàn)比特的串?dāng)_影響。

14、可選地，所述方法還包括：

15、觸發(fā)所述第一界面中的第二控件，停止當(dāng)前正在執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)。

16、基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明還提出一種量子控制系統(tǒng)，利用上述特征描述中任一項(xiàng)所述的量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法。

17、基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明還提出一種量子計(jì)算機(jī)，包括上述特征描述中所述的量子控制系統(tǒng)。

18、基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明還提出一種可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被一處理器執(zhí)行時(shí)能實(shí)現(xiàn)上述特征描述中任一項(xiàng)所述的量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法。

19、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下有益效果：

20、本發(fā)明提出了一種量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法，在第一界面的第一子界面中配置并行實(shí)驗(yàn)環(huán)境，所述并行實(shí)驗(yàn)環(huán)境為量子芯片中參與執(zhí)行并行實(shí)驗(yàn)的器件，所述并行實(shí)驗(yàn)為多個量子比特同時(shí)執(zhí)行同一種測控實(shí)驗(yàn)。在所述第一界面的測控實(shí)驗(yàn)展示欄中選擇待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)，在所述第一界面的第二子界面中生成所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)選項(xiàng)。在所述第二子界面中配置所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)參數(shù)，觸發(fā)第一界面中的第一控件，開始執(zhí)行所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)。在第一界面中可以進(jìn)行多種并行實(shí)驗(yàn)執(zhí)行，無需調(diào)用多種軟件，有效提高了測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行效率，在一定程度上提高了量子計(jì)算機(jī)的執(zhí)行效率。

21、本發(fā)明提出的量子控制系統(tǒng)、量子計(jì)算機(jī)以及可讀存儲介質(zhì)，與所述量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法屬于同一發(fā)明構(gòu)思，因此具有相同的有益效果，在此不做贅述。

技術(shù)特征：

1.一種量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法，其特征在于，包括：

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測控實(shí)驗(yàn)展示欄中多個并行實(shí)驗(yàn)通過列表形式展示。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一界面的第三子界面中實(shí)時(shí)展示所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)的結(jié)果。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述第三子界面中還實(shí)時(shí)展示當(dāng)前測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行進(jìn)度。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述在第一界面的第一子界面中配置并行實(shí)驗(yàn)環(huán)境，包括：

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述在第一界面的第一子界面中配置并行實(shí)驗(yàn)環(huán)境，還包括：

7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

8.一種量子控制系統(tǒng)，其特征在于，利用權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法。

9.一種量子計(jì)算機(jī)，其特征在于，包括權(quán)利要求8所述的量子控制系統(tǒng)。

10.一種可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被一處理器執(zhí)行時(shí)能實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種量子芯片的測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行方法以及量子計(jì)算機(jī)，在第一界面的第一子界面中配置并行實(shí)驗(yàn)環(huán)境，所述并行實(shí)驗(yàn)環(huán)境為量子芯片中參與執(zhí)行并行實(shí)驗(yàn)的器件，所述并行實(shí)驗(yàn)為多個量子比特同時(shí)執(zhí)行同一種測控實(shí)驗(yàn)。在所述第一界面的測控實(shí)驗(yàn)展示欄中選擇待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)，在所述第一界面的第二子界面中生成所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)選項(xiàng)。在所述第二子界面中配置所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)參數(shù)，觸發(fā)第一界面中的第一控件，開始執(zhí)行所述待執(zhí)行的并行實(shí)驗(yàn)。在第一界面中可以進(jìn)行多種并行實(shí)驗(yàn)執(zhí)行，無需調(diào)用多種軟件，有效提高了測控實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行效率，在一定程度上提高了量子計(jì)算機(jī)的執(zhí)行效率。

技術(shù)研發(fā)人員：孔偉成,請求不公布姓名
受保護(hù)的技術(shù)使用者：本源量子計(jì)算科技（合肥）股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/30