本技術(shù)涉及風(fēng)電，具體涉及一種密封件的壽命預(yù)測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、密封件是風(fēng)電機(jī)組中一種重要的零部件。目前無法獲知密封件在風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境中的壽命，由于風(fēng)機(jī)多分布在交通不便的地方，無法及時(shí)登機(jī)查看密封件的運(yùn)行狀態(tài)(例如性能表現(xiàn)或者損耗程度)，導(dǎo)致如果密封件已經(jīng)使用的時(shí)長(zhǎng)到達(dá)密封件的壽命而沒有及時(shí)發(fā)現(xiàn)，極有可能引發(fā)密封件失效漏油事故。而如果在密封件已經(jīng)使用的時(shí)長(zhǎng)尚沒有到達(dá)密封件的壽命時(shí)，提前更換密封件，勢(shì)必會(huì)造成各種資源的浪費(fèi)。

2、有鑒于此，針對(duì)如何預(yù)測(cè)密封件的壽命，還需要進(jìn)一步討論研究。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)提供了一種密封件的壽命預(yù)測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，能夠較為準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)密封件的壽命。

2、第一方面，提供了一種密封件的壽命預(yù)測(cè)方法，所述方法包括：

3、獲取第一密封件的臺(tái)架壽命，所述臺(tái)架壽命用于指示所述第一密封件在測(cè)試臺(tái)架上保持有效的時(shí)長(zhǎng)，所述測(cè)試臺(tái)架用于模擬風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境；

4、基于所述第一密封件的臺(tái)架壽命以及壽命預(yù)測(cè)模型獲得所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命，所述預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命用于指示所述第一密封件在所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境保持有效的時(shí)長(zhǎng)，所述壽命預(yù)測(cè)模型用于指示臺(tái)架壽命與預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，所述壽命預(yù)測(cè)模型是基于樣本密封件集合的臺(tái)架壽命以及所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命確定的，所述樣本密封件集合包括所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境中已應(yīng)用的至少一個(gè)密封件。

5、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述獲取第一密封件的臺(tái)架壽命，包括：向所述測(cè)試臺(tái)架加載環(huán)境應(yīng)力參數(shù)；在加載有所述環(huán)境應(yīng)力參數(shù)的測(cè)試臺(tái)架上，針對(duì)所述第一密封件進(jìn)行耐久性測(cè)試，得到所述第一密封件的臺(tái)架壽命。

6、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述環(huán)境應(yīng)力參數(shù)包括溫度、轉(zhuǎn)速、加工參數(shù)或者裝配參數(shù)中至少一項(xiàng)。

7、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述第一密封件的臺(tái)架壽命以及壽命預(yù)測(cè)模型獲得所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命之前，所述方法還包括：獲取所述樣本密封件集合的臺(tái)架壽命以及所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命；基于所述樣本密封件集合的臺(tái)架壽命以及所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命生成所述密封件的壽命預(yù)測(cè)模型。

8、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述樣本密封件集合包括第一樣本密封件以及第二樣本密封件，所述第一樣本密封件與所述第二樣本密封件具有相同的規(guī)格和相同的批次，所述獲取所述樣本密封件集合的臺(tái)架壽命以及所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命，包括：在加載有所述環(huán)境應(yīng)力參數(shù)的測(cè)試臺(tái)架上，針對(duì)所述第一樣本密封件進(jìn)行耐久性測(cè)試，得到所述第一樣本密封件的臺(tái)架壽命；從所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境獲取所述第二樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命。

9、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一樣本密封件在裝配至所述測(cè)試臺(tái)架之前已經(jīng)在所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境使用第一時(shí)長(zhǎng)，所述第一樣本密封件的臺(tái)架壽命包括實(shí)際剩余臺(tái)架壽命，所述壽命預(yù)測(cè)模型包括初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型以及目標(biāo)壽命預(yù)測(cè)模型，所述基于所述樣本密封件集合的臺(tái)架壽命以及所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命確定所述密封件的壽命預(yù)測(cè)模型，包括：

10、基于所述第一樣本密封件的實(shí)際剩余臺(tái)架壽命以及所述第一時(shí)長(zhǎng)對(duì)所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，得到所述目標(biāo)壽命預(yù)測(cè)模型，所述實(shí)際剩余臺(tái)架壽命是指所述第一樣本密封件從所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境重新裝配至所述測(cè)試臺(tái)架后在所述耐久性測(cè)試過程中保持有效的時(shí)長(zhǎng)。

11、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述第一樣本密封件的實(shí)際剩余臺(tái)架壽命以及所述第一時(shí)長(zhǎng)對(duì)所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，包括：

12、基于所述第一時(shí)長(zhǎng)以及所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型，獲得所述第一樣本密封件的預(yù)測(cè)剩余臺(tái)架壽命；

13、基于所述第一樣本密封件的實(shí)際剩余臺(tái)架壽命以及所述第一樣本密封件的預(yù)測(cè)剩余臺(tái)架壽命獲得第一偏差，所述第一偏差是指預(yù)測(cè)剩余臺(tái)架壽命相較于實(shí)際剩余臺(tái)架壽命的偏差；

14、基于所述第一偏差對(duì)所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。

15、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第二樣本密封件在裝配至所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境之前已經(jīng)在所述測(cè)試臺(tái)架使用第二時(shí)長(zhǎng)，所述第二樣本密封件的現(xiàn)場(chǎng)壽命包括實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命，所述壽命預(yù)測(cè)模型包括初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型以及目標(biāo)壽命預(yù)測(cè)模型，所述基于所述樣本密封件集合的現(xiàn)場(chǎng)壽命以及所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命確定所述密封件的壽命預(yù)測(cè)模型，包括：

16、基于所述第二樣本密封件的實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命以及所述第二時(shí)長(zhǎng)對(duì)所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，得到所述目標(biāo)壽命預(yù)測(cè)模型，所述實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命是指所述第二樣本密封件從所述測(cè)試臺(tái)架重新裝配至所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境后有效的時(shí)長(zhǎng)。

17、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述第二樣本密封件的實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命以及所述第二時(shí)長(zhǎng)對(duì)所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，包括：

18、基于所述第二時(shí)長(zhǎng)以及所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型，獲得所述第二樣本密封件的預(yù)測(cè)剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命；

19、基于所述第二樣本密封件的實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命以及所述第二樣本密封件的預(yù)測(cè)剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命獲得第二偏差，所述第二偏差是指預(yù)測(cè)剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命相較于實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命的偏差；

20、基于所述第二偏差對(duì)所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。

21、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述獲取所述樣本密封件集合的臺(tái)架壽命以及所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命，包括：

22、基于多個(gè)密封件的失效原因信息，從所述多個(gè)密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命中確定所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命。

23、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于多個(gè)密封件的失效原因信息，從所述多個(gè)密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命中確定所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命，包括：

24、響應(yīng)于所述第一樣本密封件的失效原因信息指示由于材料老化或者磨損造成所述第一樣本密封件失效，將所述第一樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命加入至所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命；或者，

25、響應(yīng)于第三樣本密封件的失效原因信息指示由于安裝造成失效或者產(chǎn)品質(zhì)量造成所述第三樣本密封件失效，將所述第三樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命從所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命中刪除。

26、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述從所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境獲取所述第二樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命，包括：

27、從所述樣本密封件集合中每個(gè)樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命中，選擇最短的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命，作為所述第二樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命。

28、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述第一密封件的臺(tái)架壽命以及壽命預(yù)測(cè)模型獲得所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命之后，所述方法還包括：

29、基于所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命以及壽命指標(biāo)，對(duì)所述第一密封件的可靠性進(jìn)行檢測(cè)；

30、響應(yīng)于所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命大于或等于所述壽命指標(biāo)，輸出第一檢測(cè)結(jié)果，所述第一檢測(cè)結(jié)果指示所述第一密封件滿足所述壽命指標(biāo)；或者，

31、響應(yīng)于所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命小于所述壽命指標(biāo)，輸出第二檢測(cè)結(jié)果，所述第一檢測(cè)結(jié)果用于指示所述第一密封件不滿足所述壽命指標(biāo)。

32、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述方法還包括：

33、基于基準(zhǔn)密封件的臺(tái)架壽命以及壽命預(yù)測(cè)模型獲得所述基準(zhǔn)密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命；

34、對(duì)所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命與所述基準(zhǔn)密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命進(jìn)行比較，得到比較結(jié)果；

35、基于所述比較結(jié)果輸出壽命改進(jìn)性報(bào)告，所述壽命改進(jìn)性報(bào)告指示所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命相較于所述基準(zhǔn)密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命提升的程度。

36、第二方面，提供了一種密封件的壽命預(yù)測(cè)裝置，所述裝置包括：

37、臺(tái)架壽命獲取模塊，用于獲取第一密封件的臺(tái)架壽命，所述臺(tái)架壽命用于指示所述第一密封件在測(cè)試臺(tái)架上保持有效的時(shí)長(zhǎng)，所述測(cè)試臺(tái)架用于模擬風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境；

38、現(xiàn)場(chǎng)壽命預(yù)測(cè)模塊，用于基于所述第一密封件的臺(tái)架壽命以及壽命預(yù)測(cè)模型獲得所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命，所述預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命用于指示所述第一密封件在所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境保持有效的時(shí)長(zhǎng)，所述壽命預(yù)測(cè)模型用于指示臺(tái)架壽命與預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，所述壽命預(yù)測(cè)模型是基于樣本密封件集合的臺(tái)架壽命以及所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命確定的，所述樣本密封件集合包括所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境中已應(yīng)用的至少一個(gè)密封件。

39、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述臺(tái)架壽命獲取模塊，用于向所述測(cè)試臺(tái)架加載環(huán)境應(yīng)力參數(shù)；在加載有所述環(huán)境應(yīng)力參數(shù)的測(cè)試臺(tái)架上，針對(duì)所述第一密封件進(jìn)行耐久性測(cè)試，得到所述第一密封件的臺(tái)架壽命。

40、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述環(huán)境應(yīng)力參數(shù)包括溫度、轉(zhuǎn)速、加工參數(shù)或者裝配參數(shù)中至少一項(xiàng)。

41、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述裝置還包括：樣本獲取模塊，用于獲取所述樣本密封件集合的臺(tái)架壽命以及所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命；

42、模型生成模塊，用于基于所述樣本密封件集合的臺(tái)架壽命以及所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命生成所述密封件的壽命預(yù)測(cè)模型。

43、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述樣本密封件集合包括第一樣本密封件以及第二樣本密封件，所述第一樣本密封件與所述第二樣本密封件具有相同的規(guī)格和相同的批次，所述樣本獲取模塊，用于在加載有所述環(huán)境應(yīng)力參數(shù)的測(cè)試臺(tái)架上，針對(duì)所述第一樣本密封件進(jìn)行耐久性測(cè)試，得到所述第一樣本密封件的臺(tái)架壽命；從所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境獲取所述第二樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命。

44、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一樣本密封件在裝配至所述測(cè)試臺(tái)架之前已經(jīng)在所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境使用第一時(shí)長(zhǎng)，所述第一樣本密封件的臺(tái)架壽命包括實(shí)際剩余臺(tái)架壽命，所述壽命預(yù)測(cè)模型包括初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型以及目標(biāo)壽命預(yù)測(cè)模型，所述模型生成模塊，用于基于所述第一樣本密封件的實(shí)際剩余臺(tái)架壽命以及所述第一時(shí)長(zhǎng)對(duì)所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，得到所述目標(biāo)壽命預(yù)測(cè)模型，所述實(shí)際剩余臺(tái)架壽命是指所述第一樣本密封件從所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境重新裝配至所述測(cè)試臺(tái)架后在所述耐久性測(cè)試過程中保持有效的時(shí)長(zhǎng)。

45、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述模型生成模塊，用于基于所述第一時(shí)長(zhǎng)以及所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型，獲得所述第一樣本密封件的預(yù)測(cè)剩余臺(tái)架壽命；基于所述第一樣本密封件的實(shí)際剩余臺(tái)架壽命以及所述第一樣本密封件的預(yù)測(cè)剩余臺(tái)架壽命獲得第一偏差，所述第一偏差是指預(yù)測(cè)剩余臺(tái)架壽命相較于實(shí)際剩余臺(tái)架壽命的偏差；基于所述第一偏差對(duì)所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。

46、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第二樣本密封件在裝配至所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境之前已經(jīng)在所述測(cè)試臺(tái)架使用第二時(shí)長(zhǎng)，所述第二樣本密封件的現(xiàn)場(chǎng)壽命包括實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命，所述壽命預(yù)測(cè)模型包括初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型以及目標(biāo)壽命預(yù)測(cè)模型，所述模型生成模塊，用于基于所述第二樣本密封件的實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命以及所述第二時(shí)長(zhǎng)對(duì)所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，得到所述目標(biāo)壽命預(yù)測(cè)模型，所述實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命是指所述第二樣本密封件從所述測(cè)試臺(tái)架重新裝配至所述風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境后有效的時(shí)長(zhǎng)。

47、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述模型生成模塊，用于基于所述第二時(shí)長(zhǎng)以及所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型，獲得所述第二樣本密封件的預(yù)測(cè)剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命；基于所述第二樣本密封件的實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命以及所述第二樣本密封件的預(yù)測(cè)剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命獲得第二偏差，所述第二偏差是指預(yù)測(cè)剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命相較于實(shí)際剩余現(xiàn)場(chǎng)壽命的偏差；

48、基于所述第二偏差對(duì)所述初始?jí)勖A(yù)測(cè)模型中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。

49、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述樣本獲取模塊，用于基于多個(gè)密封件的失效原因信息，從所述多個(gè)密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命中確定所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命。

50、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述樣本獲取模塊，用于響應(yīng)于所述第一樣本密封件的失效原因信息指示由于材料老化或者磨損造成所述第一樣本密封件失效，將所述第一樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命加入至所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命；或者，響應(yīng)于第三樣本密封件的失效原因信息指示由于安裝造成失效或者產(chǎn)品質(zhì)量造成所述第三樣本密封件失效，將所述第三樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命從所述樣本密封件集合的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命中刪除。

51、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述樣本獲取模塊，用于從所述樣本密封件集合中每個(gè)樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命中，選擇最短的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命，作為所述第二樣本密封件的實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)壽命。

52、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述裝置還包括：

53、可靠性檢測(cè)模塊，用于基于所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命以及壽命指標(biāo)，對(duì)所述第一密封件的可靠性進(jìn)行檢測(cè)；

54、輸出模塊，用于響應(yīng)于所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命大于或等于所述壽命指標(biāo)，輸出第一檢測(cè)結(jié)果，所述第一檢測(cè)結(jié)果指示所述第一密封件滿足所述壽命指標(biāo)；或者，

55、響應(yīng)于所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命小于所述壽命指標(biāo)，輸出第二檢測(cè)結(jié)果，所述第一檢測(cè)結(jié)果用于指示所述第一密封件不滿足所述壽命指標(biāo)。

56、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述現(xiàn)場(chǎng)壽命預(yù)測(cè)模塊，還用于基于基準(zhǔn)密封件的臺(tái)架壽命以及壽命預(yù)測(cè)模型獲得所述基準(zhǔn)密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命；

57、所述裝置還包括：比較模塊，用于對(duì)所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命與所述基準(zhǔn)密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命進(jìn)行比較，得到比較結(jié)果；

58、輸出模塊，用于基于所述比較結(jié)果輸出壽命改進(jìn)性報(bào)告，所述壽命改進(jìn)性報(bào)告指示所述第一密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命相較于所述基準(zhǔn)密封件的預(yù)測(cè)現(xiàn)場(chǎng)壽命提升的程度。

59、第三方面，提供了一種計(jì)算設(shè)備，所述計(jì)算設(shè)備包括：處理器，所述處理器與存儲(chǔ)器耦合，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有至少一條計(jì)算機(jī)程序指令，所述至少一條計(jì)算機(jī)程序指令由所述處理器加載并執(zhí)行，以使所述計(jì)算設(shè)備實(shí)現(xiàn)上述第一方面或第一方面任一種可選方式。

60、第四方面，提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有至少一條指令，所述指令在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行時(shí)，使得計(jì)算機(jī)執(zhí)行上述第一方面或第一方面任一種可選方式。

61、第五方面，提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序指令，當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序指令被計(jì)算機(jī)加載并運(yùn)行時(shí)，使得所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行上述第一方面或第一方面任一種可選方式所提供的方法。

62、第六方面，提供了一種芯片，包括存儲(chǔ)器和處理器，存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)指令，處理器用于從存儲(chǔ)器中調(diào)用并運(yùn)行該計(jì)算機(jī)指令，以執(zhí)行上述第一方面及其第一方面任意可能的實(shí)現(xiàn)方式中的方法。

63、由此可見，本技術(shù)實(shí)施例具有如下有益效果：

64、由于模型是基于樣本密封件集合在測(cè)試臺(tái)架上的壽命以及樣本密封件集合在風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境上實(shí)際的壽命確定的，使得模型通過樣本能夠?qū)W習(xí)到密封件在測(cè)試臺(tái)架上的壽命與在風(fēng)電場(chǎng)工況環(huán)境上的壽命之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，因此模型針對(duì)一個(gè)風(fēng)電場(chǎng)工況下壽命未知的密封件(第一密封件)，能夠結(jié)合密封件在測(cè)試臺(tái)架上的壽命準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)出該密封件在風(fēng)電場(chǎng)工況下的壽命。