本公開涉及設(shè)備檢測，尤其涉及一種缺陷檢測方法和裝置。

背景技術(shù)：

1、在對顯示面板的屏幕質(zhì)檢過程中，會檢出各種各樣的缺陷，如：亮點或亮斑、暗點或暗斑、mura(指顯示亮度不均勻，造成各種痕跡的現(xiàn)象)、異物、臟污等缺陷。由于不同客戶對各類缺陷的容忍度不同，卡控精度也不同，因此，需要對各類缺陷進(jìn)行精細(xì)的分割。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本公開提供了一種缺陷檢測方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，以至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的以上技術(shù)問題。

2、根據(jù)本公開的第一方面，提供一種缺陷檢測方法，所述方法包括：

3、獲取待檢測對象對應(yīng)的待處理圖像；

4、根據(jù)所述待處理圖像的振幅譜，對所述待處理圖像進(jìn)行振幅值調(diào)整，得到待檢測圖像；基于所述待檢測圖像確定所述待檢測對象的缺陷檢測結(jié)果。

5、根據(jù)本公開的第二方面，提供一種缺陷檢測裝置，所述裝置包括：

6、獲取模塊，用于獲取待檢測對象對應(yīng)的待處理圖像；

7、第一處理模塊，用于根據(jù)所述待處理圖像的振幅譜，對所述待處理圖像進(jìn)行振幅值調(diào)整，得到待檢測圖像；

8、第二處理模塊，用于基于所述待檢測圖像確定所述待檢測對象的缺陷檢測結(jié)果。

9、根據(jù)本公開的第三方面，提供了一種電子設(shè)備，包括：

10、至少一個處理器；以及

11、與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，

12、所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執(zhí)行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執(zhí)行，以使所述至少一個處理器能夠執(zhí)行本公開所述的方法。

13、根據(jù)本公開的第四方面，提供了一種存儲有計算機(jī)指令的非瞬時計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述計算機(jī)指令用于使所述計算機(jī)執(zhí)行本公開所述的方法。

技術(shù)特征：

1.一種缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述待處理圖像的振幅譜，對所述待處理圖像進(jìn)行振幅值調(diào)整，得到待檢測圖像，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述確定所述第一振幅譜的極大值點，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述對所述極大值點進(jìn)行振幅值調(diào)整，包括以下之一：

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待檢測圖像確定所述待檢測對象的缺陷檢測結(jié)果之前，所述方法還包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待檢測圖像確定所述待檢測對象的缺陷檢測結(jié)果，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取待檢測對象對應(yīng)的待處理圖像，包括：

10.一種缺陷檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

技術(shù)總結(jié)
本公開提供了一種缺陷檢測方法和裝置，方法包括：獲取待檢測對象對應(yīng)的待處理圖像；根據(jù)所述待處理圖像的振幅譜，對所述待處理圖像進(jìn)行振幅值調(diào)整，得到待檢測圖像；基于所述待檢測圖像確定所述待檢測對象的缺陷檢測結(jié)果。

技術(shù)研發(fā)人員：潘慧,劉景賢
受保護(hù)的技術(shù)使用者：聯(lián)想（北京）有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2