1.基于大數(shù)據(jù)的商標布局及監(jiān)控的方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于大數(shù)據(jù)的商標布局及監(jiān)控的方法,其特征在于,所述待布局商標的圖形子域劃分方式的判定過程包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于大數(shù)據(jù)的商標布局及監(jiān)控的方法,其特征在于,基于所述幾何要素數(shù)量大于等于所述預(yù)設(shè)幾何要素數(shù)量的比對確定基于擴散基準子域并進行周邊子域擴散劃分。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于大數(shù)據(jù)的商標布局及監(jiān)控的方法,其特征在于,所述子域劃分形狀的判定過程包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于大數(shù)據(jù)的商標布局及監(jiān)控的方法,其特征在于,所述擴散基準子域是所述待布局商標的圖形中輪廓凸出點最多的區(qū)域。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于大數(shù)據(jù)的商標布局及監(jiān)控的方法,其特征在于,所述單次擴散面積根據(jù)擴散基準子域的相鄰圖形的最遠距離確定。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于大數(shù)據(jù)的商標布局及監(jiān)控的方法,其特征在于,所述相似商標圖形的判定過程包括:
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于大數(shù)據(jù)的商標布局及監(jiān)控的方法,其特征在于,所述相似商標圖形是否符合預(yù)設(shè)標準的判定過程包括:
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于大數(shù)據(jù)的商標布局及監(jiān)控的方法,其特征在于,針對所述待布局商標的圖形的子域劃分面積的減小設(shè)置有若干減小方式,且每種減小方式對于待布局商標的圖形的子域劃分面積的減小幅度不同。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基于大數(shù)據(jù)的商標布局及監(jiān)控的方法,其特征在于,所述監(jiān)控周期時長的修正過程包括: