本申請(qǐng)屬于電力設(shè)施,具體涉及一種電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置、方法及設(shè)備。
背景技術(shù):
1、在電纜的敷設(shè)過程中,為了適應(yīng)多變的敷設(shè)環(huán)境,電纜嘗嘗需要進(jìn)行轉(zhuǎn)彎敷設(shè)。然而,轉(zhuǎn)彎敷設(shè)不可避免地會(huì)導(dǎo)致電纜結(jié)構(gòu)發(fā)生形變,從而產(chǎn)生應(yīng)力。一旦所產(chǎn)生的應(yīng)力大小超出了電纜結(jié)構(gòu)的應(yīng)力承載能力,電纜結(jié)構(gòu)可能會(huì)出現(xiàn)損傷,進(jìn)而對(duì)電纜的正常運(yùn)行構(gòu)成嚴(yán)重威脅。
2、當(dāng)前,對(duì)于電纜的轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力大小是否存在異常,普遍依賴于工作人員的經(jīng)驗(yàn)判斷,這種人工判斷的方式不僅主觀性強(qiáng),難以確保判斷的準(zhǔn)確性,并且隨著電纜系統(tǒng)復(fù)雜性的增加,工作人員的經(jīng)驗(yàn)逐漸不足以支撐識(shí)別判斷。因此,如何快速、準(zhǔn)確地確定電纜轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力數(shù)據(jù),從而有效地預(yù)測(cè)并避免潛在問題是本領(lǐng)域人員亟需解決的問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置、方法及設(shè)備,目的在于快速、準(zhǔn)確地識(shí)別出線芯與絕緣層是否存在由電纜彎曲過度導(dǎo)致的異常,從而保證電纜的正常運(yùn)行。
2、第一方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置,所述裝置包括:
3、電纜參數(shù)獲取模塊,用于獲取電纜的物理參數(shù);其中,所述物理參數(shù)包括線芯半徑、線芯材料、絕緣層厚度以及絕緣層材料中的至少一種;
4、彎曲參數(shù)獲取模塊,用于獲取所述電纜的轉(zhuǎn)彎區(qū)段的彎曲參數(shù);其中,所述彎曲參數(shù)包括區(qū)段長(zhǎng)度以及彎曲半徑;
5、應(yīng)力分析模塊,用于將所述物理參數(shù)以及所述彎曲參數(shù)輸入至預(yù)先構(gòu)建的應(yīng)力分析模型,根據(jù)所述應(yīng)力分析模型的輸出結(jié)果,確定所述轉(zhuǎn)彎區(qū)段中各位置的應(yīng)力數(shù)據(jù)。
6、第二方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析方法,所述方法包括:
7、通過電纜參數(shù)獲取模塊獲取電纜的物理參數(shù);其中,所述物理參數(shù)包括線芯半徑、線芯材料、絕緣層厚度以及絕緣層材料中的至少一種;
8、通過彎曲參數(shù)獲取模塊獲取所述電纜的轉(zhuǎn)彎區(qū)段的彎曲參數(shù);其中,所述彎曲參數(shù)包括區(qū)段長(zhǎng)度以及彎曲半徑;
9、通過應(yīng)力分析模塊將所述物理參數(shù)以及所述彎曲參數(shù)輸入至預(yù)先構(gòu)建的應(yīng)力分析模型,根據(jù)所述應(yīng)力分析模型的輸出結(jié)果,確定所述轉(zhuǎn)彎區(qū)段中各位置的應(yīng)力數(shù)據(jù)。
10、第三方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種電子設(shè)備,該電子設(shè)備包括處理器、存儲(chǔ)器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的程序或指令,所述程序或指令被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如第一方面所述的方法的步驟。
11、第四方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種可讀存儲(chǔ)介質(zhì),所述可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)程序或指令,所述程序或指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如第一方面所述的方法的步驟。
12、第五方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種芯片,所述芯片包括處理器和通信接口,所述通信接口和所述處理器耦合,所述處理器用于運(yùn)行程序或指令,實(shí)現(xiàn)如第一方面所述的方法。
13、在本申請(qǐng)實(shí)施例中,電纜參數(shù)獲取模塊,用于獲取電纜的物理參數(shù);其中,所述物理參數(shù)包括線芯半徑、線芯材料、絕緣層厚度以及絕緣層材料中的至少一種;彎曲參數(shù)獲取模塊,用于獲取所述電纜的轉(zhuǎn)彎區(qū)段的彎曲參數(shù);其中,所述彎曲參數(shù)包括區(qū)段長(zhǎng)度以及彎曲半徑;應(yīng)力分析模塊,用于將所述物理參數(shù)以及所述彎曲參數(shù)輸入至預(yù)先構(gòu)建的應(yīng)力分析模型,根據(jù)所述應(yīng)力分析模型的輸出結(jié)果,確定所述轉(zhuǎn)彎區(qū)段中各位置的應(yīng)力數(shù)據(jù)。上述電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置,通過根據(jù)電纜的物理參數(shù)以及彎曲參數(shù)確定電纜轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力數(shù)據(jù),可以快速、準(zhǔn)確地識(shí)別出線芯與絕緣層是否存在由電纜彎曲過度導(dǎo)致的異常,從而保證電纜的正常運(yùn)行。
1.一種電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置,其特征在于,所述裝置包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置,其特征在于,所述應(yīng)力分析模塊,包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置,其特征在于,所述幾何體建立單元,具體用于:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置,其特征在于,所述彎曲參數(shù)獲取模塊,還用于:
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置,其特征在于,所述幾何體建立單元,還用于:
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置,其特征在于,所述應(yīng)力分析單元,具體用于:
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析裝置,其特征在于,所述裝置還包括:
8.一種電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析方法,其特征在于,所述方法包括:
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析方法,其特征在于,通過應(yīng)力分析模塊將所述物理參數(shù)以及所述彎曲參數(shù)輸入至預(yù)先構(gòu)建的應(yīng)力分析模型,根據(jù)所述應(yīng)力分析模型的輸出結(jié)果,確定所述轉(zhuǎn)彎區(qū)段中各位置的應(yīng)力數(shù)據(jù),包括:
10.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括處理器,存儲(chǔ)器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的程序或指令,所述程序或指令被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求8-9中任一項(xiàng)所述的電纜敷設(shè)轉(zhuǎn)彎位置的應(yīng)力分析方法的步驟。