本申請(qǐng)涉及集成電路，特別是涉及一種配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法、配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路、芯片及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、單粒子翻轉(zhuǎn)(si?ng?l?e?event?upset，seu)是由于空間粒子輻射而導(dǎo)致存儲(chǔ)單元發(fā)生位翻轉(zhuǎn)，數(shù)據(jù)由0變成1，或由1變成0。單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)是瞬態(tài)的、非破壞性的，但是它可能會(huì)改變微電子電路的ram(random?access?memory，隨機(jī)訪問(wèn)存儲(chǔ)器)構(gòu)型，對(duì)可編程電子硬件所執(zhí)行的功能產(chǎn)生不利影響。

2、目前，復(fù)雜的微控制器產(chǎn)品中的sram存儲(chǔ)器在應(yīng)用過(guò)程中需要進(jìn)行頻繁地檢測(cè)，以便檢測(cè)并糾正sram存儲(chǔ)器中產(chǎn)生的新的硬錯(cuò)誤和軟錯(cuò)誤?，F(xiàn)有技術(shù)中針對(duì)所有檢測(cè)到的錯(cuò)誤進(jìn)行相同的預(yù)設(shè)操作，導(dǎo)致數(shù)據(jù)檢測(cè)及糾正占據(jù)實(shí)際應(yīng)用的大量時(shí)間，導(dǎo)致系統(tǒng)應(yīng)用正常運(yùn)行的時(shí)間減少，不利于提高系統(tǒng)的工作效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、基于此，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法、配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路、芯片及電子設(shè)備以解決現(xiàn)有技術(shù)中數(shù)據(jù)檢測(cè)及糾正占據(jù)實(shí)際應(yīng)用的大量時(shí)間導(dǎo)致的不利于提高系統(tǒng)工作效率的技術(shù)問(wèn)題。

2、第一方面，本申請(qǐng)一實(shí)施例提供一種配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法，包括：

3、對(duì)存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中的配置數(shù)據(jù)進(jìn)行錯(cuò)誤糾正碼校驗(yàn)，得到至少一個(gè)出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀；

4、當(dāng)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀存在seu錯(cuò)誤時(shí)，確定所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀的seu錯(cuò)誤的錯(cuò)誤等級(jí)；

5、根據(jù)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀以及所述錯(cuò)誤等級(jí)生成seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)；

6、將所述seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)發(fā)送至控制模塊，以使所述控制模塊根據(jù)所述錯(cuò)誤等級(jí)對(duì)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行處理。

7、可選地，所述確定所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀的seu錯(cuò)誤的錯(cuò)誤等級(jí)，包括：

8、根據(jù)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀的地址信息在預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤分類(lèi)表中進(jìn)行查詢(xún)，得到所述錯(cuò)誤等級(jí)，其中，所述錯(cuò)誤分類(lèi)表用于存儲(chǔ)所述配置數(shù)據(jù)中每位數(shù)據(jù)字的數(shù)據(jù)類(lèi)型，所述數(shù)據(jù)類(lèi)型為影響系統(tǒng)正常運(yùn)行的關(guān)鍵數(shù)據(jù)或不影響系統(tǒng)正常運(yùn)行的非關(guān)鍵數(shù)據(jù)，所述錯(cuò)誤等級(jí)包括與所述關(guān)鍵數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的關(guān)鍵數(shù)據(jù)錯(cuò)誤以及與所述非關(guān)鍵數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的非關(guān)鍵數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。

9、可選地，所述配置數(shù)據(jù)包括應(yīng)用數(shù)據(jù)以及ecc數(shù)據(jù)；

10、所述對(duì)存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中的配置數(shù)據(jù)進(jìn)行錯(cuò)誤糾正碼校驗(yàn)，得到至少一個(gè)出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀，包括：

11、根據(jù)所述ecc數(shù)據(jù)，對(duì)所述應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行錯(cuò)誤糾正碼校驗(yàn)，得到所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀。

12、可選地，所述根據(jù)所述錯(cuò)誤等級(jí)對(duì)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行處理，包括：

13、若所述錯(cuò)誤等級(jí)為非關(guān)鍵數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，則繼續(xù)基于存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中的所述配置數(shù)據(jù)運(yùn)行系統(tǒng)應(yīng)用，并糾正所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀；

14、若所述錯(cuò)誤等級(jí)為關(guān)鍵數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，則停止基于存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中的所述配置數(shù)據(jù)運(yùn)行系統(tǒng)應(yīng)用，啟動(dòng)單粒子翻轉(zhuǎn)保護(hù)程序并糾正所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀。

15、可選地，所述根據(jù)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀以及所述錯(cuò)誤等級(jí)生成seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)之后，還包括：

16、將所述seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)存儲(chǔ)至錯(cuò)誤跟蹤寄存器中。

17、可選地，所述根據(jù)所述錯(cuò)誤等級(jí)對(duì)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行處理，包括：

18、若所述錯(cuò)誤等級(jí)為非關(guān)鍵數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，則繼續(xù)基于存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中的所述配置數(shù)據(jù)運(yùn)行系統(tǒng)應(yīng)用；

19、當(dāng)所述系統(tǒng)應(yīng)用停止時(shí)，從所述錯(cuò)誤跟蹤寄存器中獲取所述錯(cuò)誤等級(jí)為非關(guān)鍵數(shù)據(jù)錯(cuò)誤的至少一個(gè)seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，將獲取的所述seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行修復(fù)，將修復(fù)后的所述配置數(shù)據(jù)幀重新寫(xiě)入所述存儲(chǔ)器中。

20、第二方面，本申請(qǐng)一實(shí)施例提供一種配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路，包括：存儲(chǔ)器、ecc檢測(cè)模塊以及控制模塊；

21、所述存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)配置數(shù)據(jù)；

22、所述ecc檢測(cè)模塊，用于對(duì)存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中的配置數(shù)據(jù)進(jìn)行錯(cuò)誤糾正碼校驗(yàn)，得到至少一個(gè)出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀；當(dāng)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀存在seu錯(cuò)誤時(shí)，確定所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀的seu錯(cuò)誤的錯(cuò)誤等級(jí)；根據(jù)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀以及所述錯(cuò)誤等級(jí)生成seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)；將所述seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)發(fā)送至所述控制模塊；

23、所述控制模塊，用于根據(jù)所述錯(cuò)誤等級(jí)對(duì)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行處理。

24、可選地，所述配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路還包括第一存儲(chǔ)模塊，用于存儲(chǔ)錯(cuò)誤分類(lèi)表，其中，所述錯(cuò)誤分類(lèi)表用于存儲(chǔ)所述配置數(shù)據(jù)中每位數(shù)據(jù)字的數(shù)據(jù)類(lèi)型，所述數(shù)據(jù)類(lèi)型為影響系統(tǒng)正常運(yùn)行的關(guān)鍵數(shù)據(jù)或不影響系統(tǒng)正常運(yùn)行的非關(guān)鍵數(shù)據(jù)；

25、所述ecc檢測(cè)模塊，用于根據(jù)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀的地址信息在預(yù)設(shè)的錯(cuò)誤分類(lèi)表中進(jìn)行查詢(xún)，得到所述錯(cuò)誤等級(jí)，其中，所述錯(cuò)誤等級(jí)包括與所述關(guān)鍵數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的關(guān)鍵數(shù)據(jù)錯(cuò)誤以及與所述非關(guān)鍵數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的非關(guān)鍵數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。

26、第三方面，本申請(qǐng)一實(shí)施例提供一種芯片，包括上述的配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路。

27、第四方面，本申請(qǐng)一實(shí)施例提供一種電子設(shè)備，包括上述的芯片。

28、本申請(qǐng)實(shí)施例提供的配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法、配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路、芯片及電子設(shè)備，對(duì)存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中的配置數(shù)據(jù)進(jìn)行錯(cuò)誤糾正碼校驗(yàn)，得到至少一個(gè)出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀；當(dāng)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀存在seu錯(cuò)誤時(shí)，確定所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀的seu錯(cuò)誤的錯(cuò)誤等級(jí)；根據(jù)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀以及所述錯(cuò)誤等級(jí)生成seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)；將所述seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)發(fā)送至控制模塊，以使所述控制模塊根據(jù)所述錯(cuò)誤等級(jí)對(duì)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行處理；通過(guò)上述方式，檢測(cè)出seu錯(cuò)誤時(shí)，先確定出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀的seu錯(cuò)誤的錯(cuò)誤等級(jí)，根據(jù)錯(cuò)誤等級(jí)進(jìn)行處理，減少檢測(cè)及糾錯(cuò)時(shí)間，有利于降低系統(tǒng)應(yīng)用正常運(yùn)行的被占用時(shí)間，有利于提高系統(tǒng)的工作效率。

技術(shù)特征：

1.一種配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法，其特征在于,包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法，其特征在于，所述確定所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀的seu錯(cuò)誤的錯(cuò)誤等級(jí)，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法，其特征在于，所述配置數(shù)據(jù)包括應(yīng)用數(shù)據(jù)以及ecc數(shù)據(jù)；

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述錯(cuò)誤等級(jí)對(duì)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行處理，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀以及所述錯(cuò)誤等級(jí)生成seu錯(cuò)誤數(shù)據(jù)之后，還包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述錯(cuò)誤等級(jí)對(duì)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行處理，包括：

7.一種配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路，其特征在于,包括：存儲(chǔ)器、ecc檢測(cè)模塊以及控制模塊；

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路，其特征在于，所述配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路還包括第一存儲(chǔ)模塊，用于存儲(chǔ)錯(cuò)誤分類(lèi)表，其中，所述錯(cuò)誤分類(lèi)表用于存儲(chǔ)所述配置數(shù)據(jù)中每位數(shù)據(jù)字的數(shù)據(jù)類(lèi)型，所述數(shù)據(jù)類(lèi)型為影響系統(tǒng)正常運(yùn)行的關(guān)鍵數(shù)據(jù)或不影響系統(tǒng)正常運(yùn)行的非關(guān)鍵數(shù)據(jù)；

9.一種芯片，其特征在于，包括如權(quán)利要求7所述的配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路。

10.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括如權(quán)利要求9所述的芯片。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種配置數(shù)據(jù)檢測(cè)方法、配置數(shù)據(jù)檢測(cè)電路、芯片及電子設(shè)備，對(duì)存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中的配置數(shù)據(jù)進(jìn)行錯(cuò)誤糾正碼校驗(yàn)，得到至少一個(gè)出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀；當(dāng)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀存在SEU錯(cuò)誤時(shí)，確定所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀的SEU錯(cuò)誤的錯(cuò)誤等級(jí)；根據(jù)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀以及所述錯(cuò)誤等級(jí)生成SEU錯(cuò)誤數(shù)據(jù)；將所述SEU錯(cuò)誤數(shù)據(jù)發(fā)送至控制模塊，以使所述控制模塊根據(jù)所述錯(cuò)誤等級(jí)對(duì)所述出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行處理；通過(guò)上述方式，檢測(cè)出SEU錯(cuò)誤時(shí)，先確定出錯(cuò)數(shù)據(jù)幀的SEU錯(cuò)誤的錯(cuò)誤等級(jí)，根據(jù)錯(cuò)誤等級(jí)進(jìn)行處理，減少檢測(cè)及糾錯(cuò)時(shí)間，有利于降低系統(tǒng)應(yīng)用正常運(yùn)行的被占用時(shí)間，有利于提高系統(tǒng)的工作效率。

技術(shù)研發(fā)人員：周東方,粟怡杰,劉蒲霞,傅啟攀
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市紫光同創(chuàng)電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2