本技術(shù)涉及計算機(jī)，尤其涉及一種測試用例選擇方法、計算設(shè)備和計算機(jī)程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、軟件安全測試中，通過手工或業(yè)務(wù)自動化觸發(fā)代碼執(zhí)行，監(jiān)控代碼執(zhí)行情況，建立測試用例與代碼函數(shù)的對應(yīng)關(guān)系，后續(xù)如果有哪個代碼函數(shù)變更，則能反向關(guān)聯(lián)出受影響的測試用例，通過自動化或手工執(zhí)行關(guān)聯(lián)出來的測試用例進(jìn)行執(zhí)行。

2、但是，在代碼函數(shù)變更較大時，可能會出現(xiàn)無法匹配到測試用例的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)實(shí)施例提供了一種測試用例選擇方法、計算設(shè)備和計算機(jī)程序產(chǎn)品，將測試用例關(guān)聯(lián)的代碼函數(shù)替換為測試標(biāo)簽，測試標(biāo)簽用于概括測試用例的測試內(nèi)容，考慮測試內(nèi)容和待測試代碼的適配度，無需考慮代碼函數(shù)變更對選擇測試用例的影響，降低無法匹配到測試用例的可能性。

2、第一方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種測試用例選擇方法，應(yīng)用于計算設(shè)備，包括：

3、確定待測試代碼；從多個測試標(biāo)簽中，確定待測試代碼的功能匹配的至少一個測試標(biāo)簽；基于待測試代碼的功能匹配的至少一個測試標(biāo)簽，確定用于對待測試代碼進(jìn)行測試的測試用例；其中，每個測試標(biāo)簽關(guān)聯(lián)至少一個測試用例，測試標(biāo)簽用于指示關(guān)聯(lián)的至少一個測試用例的測試內(nèi)容。

4、本方案中，將測試用例關(guān)聯(lián)的代碼函數(shù)替換為測試標(biāo)簽，測試標(biāo)簽用于概括測試用例的測試內(nèi)容，考慮測試內(nèi)容和待測試代碼的適配度，無需考慮代碼函數(shù)變更對選擇測試用例的影響，降低無法匹配到測試用例的可能性。

5、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，從多個測試標(biāo)簽中，確定待測試代碼的功能匹配的至少一個測試標(biāo)簽，包括：

6、基于待測試代碼，確定至少一個問題，至少一個問題用于詢問待測試代碼匹配的測試標(biāo)簽；將至少一個問題分別輸入到ai模型中，得到ai模型輸出的至少一個問題的答案；基于至少一個問題的答案，確定待測試代碼匹配的至少一個測試標(biāo)簽。

7、本方案中，通過問答的方式，使得ai模型能夠分析待測試代碼和測試標(biāo)簽之間的關(guān)系，可更加方便快速準(zhǔn)確的確定待測試代碼匹配的測試標(biāo)簽。

8、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，基于待測試代碼，確定至少一個問題，包括：

9、基于待測試代碼、多個測試標(biāo)簽和多個測試標(biāo)簽中每個測試標(biāo)簽的補(bǔ)充說明內(nèi)容，確定至少一個問題；補(bǔ)充說明內(nèi)容用于說明對每個測試標(biāo)簽的解釋。

10、本方案中，確定問題的過程考慮到了測試標(biāo)簽的補(bǔ)充說明，使得問題更為明確，提高ai模型輸出的問題的答案的參考價值。

11、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，至少一個問題包括第一問題；第一問題用于詢問第一填充字段的第一填充內(nèi)容匹配的測試標(biāo)簽，第一填充內(nèi)容為待測試代碼；和/或，

12、至少一個問題包括多個測試標(biāo)簽中每個測試標(biāo)簽對應(yīng)的第二問題，第二問題用于詢問第一填充字段的第一填充內(nèi)容是否匹配第二填充字段的第二填充內(nèi)容，第二填充內(nèi)容為第二問題對應(yīng)的測試標(biāo)簽和/或第二問題對應(yīng)的測試標(biāo)簽的補(bǔ)充說明內(nèi)容；

13、至少一個問題包括多個測試標(biāo)簽中每個測試標(biāo)簽對應(yīng)的第三問題，第三問題用于詢問第一填充字段的第一填充內(nèi)容是否未匹配第三填充字段的第三填充內(nèi)容，第三填充內(nèi)容為第三問題對應(yīng)的測試標(biāo)簽和/或第三問題對應(yīng)的測試標(biāo)簽的補(bǔ)充說明內(nèi)容。

14、本方案中，通過構(gòu)造多種問題，使得ai模型輸出的多種問題的答案，提高ai模型輸出的問題的答案的參考價值。

15、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，測試標(biāo)簽用于指示安全風(fēng)險，補(bǔ)充說明內(nèi)容用于說明每個測試標(biāo)簽的安全風(fēng)險分類，第一問題用于詢問第一填充字段的第一填充內(nèi)容匹配的測試標(biāo)簽和安全風(fēng)險分類。

16、本方案中，在問題中增加安全風(fēng)險分類，提高ai模型輸出的第一問題的答案的參考價值。

17、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，基于至少一個問題的答案，確定待測試代碼匹配的至少一個測試標(biāo)簽，包括：

18、對于多個測試標(biāo)簽中的每個測試標(biāo)簽，在第一問題的答案至少用于指示測試標(biāo)簽，測試標(biāo)簽對應(yīng)的第二問題的答案為是，測試標(biāo)簽對應(yīng)的第三問題的答案為否的情況下，確定待測試代碼和測試標(biāo)簽匹配。

19、本方案中，在多種問題的答案一致認(rèn)為匹配測試標(biāo)簽時，確定待測試代碼和測試標(biāo)簽匹配，提高待測試代碼匹配的測試標(biāo)簽的參考價值。

20、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，方法還包括：

21、獲取待關(guān)聯(lián)的測試用例，提取待關(guān)聯(lián)的測試用例中的至少一個關(guān)鍵詞；將至少一個關(guān)鍵詞和多個測試標(biāo)簽匹配，得到待關(guān)聯(lián)的測試用例關(guān)聯(lián)的至少一個測試標(biāo)簽。

22、本方案中，通過提取待測試用例中的關(guān)鍵詞，并對關(guān)鍵詞和測試標(biāo)簽匹配，從而提高測試用例和測試標(biāo)簽的適配度。

23、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，待測試代碼匹配的至少一個測試標(biāo)簽用于說明使用待測試代碼的功能產(chǎn)生的安全風(fēng)險。

24、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，待測試代碼用于指示應(yīng)用版本變更后改變的代碼。

25、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，待測試代碼為應(yīng)用代碼中的函數(shù)。

26、第二方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種測試用例選擇裝置，測試用例選擇裝置包括若干個模塊，各個模塊用于執(zhí)行本技術(shù)實(shí)施例第一方面提供的測試用例選擇方法中的各個步驟，關(guān)于模塊的劃分在此不做限制。該測試用例選擇裝置各個模塊所執(zhí)行的具體功能及達(dá)到的有益效果請參考本技術(shù)實(shí)施例第一方面提供的測試用例選擇方法的各個步驟的功能，在此不再贅述。

27、示例地，測試用例選擇裝置，包括：

28、代碼確定模塊，用于確定待測試代碼；

29、匹配模塊，用于從多個測試標(biāo)簽中，確定待測試代碼的功能匹配的至少一個測試標(biāo)簽；

30、選擇模塊，用于基于待測試代碼的功能匹配的至少一個測試標(biāo)簽，確定用于對待測試代碼進(jìn)行測試的測試用例；其中，每個測試標(biāo)簽關(guān)聯(lián)至少一個測試用例，測試標(biāo)簽用于指示關(guān)聯(lián)的至少一個測試用例的測試內(nèi)容。

31、本方案中，將測試用例關(guān)聯(lián)的代碼函數(shù)替換為測試標(biāo)簽，測試標(biāo)簽用于概括測試用例的測試內(nèi)容，考慮測試內(nèi)容和待測試代碼的適配度，無需考慮代碼函數(shù)變更對選擇測試用例的影響，降低無法匹配到測試用例的可能性。

32、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，匹配模塊，包括：問題確定單元、回答單元和匹配單元；其中，

33、問題確定單元，用于基于待測試代碼，確定至少一個問題，至少一個問題用于詢問待測試代碼匹配的測試標(biāo)簽；

34、回答單元，用于將至少一個問題分別輸入到ai模型中，得到ai模型輸出的至少一個問題的答案；

35、匹配單元，用于基于至少一個問題的答案，確定待測試代碼匹配的至少一個測試標(biāo)簽。

36、本方案中，通過問答的方式，使得ai模型能夠分析待測試代碼和測試標(biāo)簽之間的關(guān)系，可更加方便快速準(zhǔn)確的確定待測試代碼匹配的測試標(biāo)簽。

37、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，問題確定單元，用于基于待測試代碼、多個測試標(biāo)簽和多個測試標(biāo)簽中每個測試標(biāo)簽的補(bǔ)充說明內(nèi)容，確定至少一個問題；補(bǔ)充說明內(nèi)容用于說明對每個測試標(biāo)簽的解釋。

38、本方案中，確定問題的過程考慮到了測試標(biāo)簽的補(bǔ)充說明，使得問題更為明確，提高ai模型輸出的問題的答案的參考價值。

39、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，至少一個問題包括第一問題；第一問題用于詢問第一填充字段的第一填充內(nèi)容匹配的測試標(biāo)簽，第一填充內(nèi)容為待測試代碼；和/或，

40、至少一個問題包括多個測試標(biāo)簽中每個測試標(biāo)簽對應(yīng)的第二問題，第二問題用于詢問第一填充字段的第一填充內(nèi)容是否匹配第二填充字段的第二填充內(nèi)容，第二填充內(nèi)容為第二問題對應(yīng)的測試標(biāo)簽和/或第二問題對應(yīng)的測試標(biāo)簽的補(bǔ)充說明內(nèi)容；

41、至少一個問題包括多個測試標(biāo)簽中每個測試標(biāo)簽對應(yīng)的第三問題，第三問題用于詢問第一填充字段的第一填充內(nèi)容是否未匹配第三填充字段的第三填充內(nèi)容，第三填充內(nèi)容為第三問題對應(yīng)的測試標(biāo)簽和/或第三問題對應(yīng)的測試標(biāo)簽的補(bǔ)充說明內(nèi)容。

42、本方案中，通過構(gòu)造多種問題，使得ai模型輸出的多種問題的答案，提高ai模型輸出的問題的答案的參考價值。

43、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，測試標(biāo)簽用于指示安全風(fēng)險，補(bǔ)充說明內(nèi)容用于說明每個測試標(biāo)簽的安全風(fēng)險分類，第一問題用于詢問第一填充字段的第一填充內(nèi)容匹配的測試標(biāo)簽和安全風(fēng)險分類。

44、本方案中，在問題中增加安全風(fēng)險分類，提高ai模型輸出的第一問題的答案的參考價值。

45、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，匹配單元，用于對于多個測試標(biāo)簽中的每個測試標(biāo)簽，在第一問題的答案至少用于指示測試標(biāo)簽，測試標(biāo)簽對應(yīng)的第二問題的答案為是，測試標(biāo)簽對應(yīng)的第三問題的答案為否的情況下，確定待測試代碼和測試標(biāo)簽匹配。

46、本方案中，在多種問題的答案一致認(rèn)為匹配測試標(biāo)簽時，確定待測試代碼和測試標(biāo)簽匹配，提高待測試代碼匹配的測試標(biāo)簽的參考價值。

47、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，裝置還包括：

48、關(guān)聯(lián)模塊，用于獲取待關(guān)聯(lián)的測試用例，提取待關(guān)聯(lián)的測試用例中的至少一個關(guān)鍵詞；將至少一個關(guān)鍵詞和多個測試標(biāo)簽匹配，得到待關(guān)聯(lián)的測試用例關(guān)聯(lián)的至少一個測試標(biāo)簽。

49、本方案中，通過提取待測試用例中的關(guān)鍵詞，并對關(guān)鍵詞和測試標(biāo)簽匹配，從而提高測試用例和測試標(biāo)簽的適配度。

50、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，待測試代碼匹配的至少一個測試標(biāo)簽用于說明使用待測試代碼的功能產(chǎn)生的安全風(fēng)險。

51、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，待測試代碼用于指示應(yīng)用版本變更后改變的代碼。

52、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，待測試代碼為應(yīng)用代碼中的函數(shù)。

53、第三方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種測試用例選擇裝置，包括：至少一個存儲器，用于存儲程序；至少一個處理器，用于執(zhí)行存儲器存儲的程序，當(dāng)存儲器存儲的程序被執(zhí)行時，處理器用于執(zhí)行第一方面中提供的方法。

54、第四方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種測試用例選擇裝置，裝置運(yùn)行計算機(jī)程序指令，以執(zhí)行第一方面中所提供的方法。示例性的，該裝置可以為芯片，或處理器。

55、在一個例子中，該裝置可以包括處理器，該處理器可以與存儲器耦合，讀取存儲器中的指令并根據(jù)該指令執(zhí)行第一方面中所提供的方法。其中，該存儲器可以集成在芯片或處理器中，也可以獨(dú)立于芯片或處理器之外。

56、第五方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種計算機(jī)存儲介質(zhì)，計算機(jī)存儲介質(zhì)中存儲有指令，當(dāng)指令在計算機(jī)上運(yùn)行時，使得計算機(jī)執(zhí)行第一方面中所提供的方法。

57、第六方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種包含指令的計算機(jī)程序產(chǎn)品，當(dāng)指令在計算機(jī)上運(yùn)行時，使得計算機(jī)執(zhí)行第一方面中所提供的方法。