1.一種sdk功能接入檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的sdk功能接入測(cè)試方法,其特征在于,所述根據(jù)所述目標(biāo)函數(shù)在所述sdk日志文件的位置確定目標(biāo)識(shí)別范圍,包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的sdk功能接入測(cè)試方法,其特征在于,所述在所述目標(biāo)識(shí)別范圍內(nèi)進(jìn)行日志語句識(shí)別,得到待檢測(cè)日志語句,包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的sdk功能接入測(cè)試方法,其特征在于,所述對(duì)所述目標(biāo)操作數(shù)據(jù)分別進(jìn)行完整性檢測(cè)和合規(guī)性檢測(cè),包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的sdk功能接入測(cè)試方法,其特征在于,所述基于各完整性標(biāo)識(shí)進(jìn)行完整性檢測(cè),包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的sdk功能接入測(cè)試方法,其特征在于,所述判斷所述各分類數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)類型,根據(jù)所述各分類數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)類型確定所述各分類數(shù)據(jù)的合規(guī)性檢測(cè)規(guī)則,包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的sdk功能接入測(cè)試方法,其特征在于,所述基于完整性檢測(cè)結(jié)果和合規(guī)性檢測(cè)結(jié)果生成功能接入檢測(cè)報(bào)告,包括:
8.一種sdk功能接入檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
9.一種電子設(shè)備,一種電子設(shè)備,所述設(shè)備包括:一個(gè)或多個(gè)處理器;存儲(chǔ)裝置,用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序,當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行,使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的sdk功能接入檢測(cè)方法。
10.一種存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令在由計(jì)算機(jī)處理器執(zhí)行時(shí)用于執(zhí)行如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的sdk功能接入檢測(cè)方法。