本技術(shù)涉及電力，特別是涉及一種基于內(nèi)特性反演確定gis斷路器內(nèi)部溫升差的方法及裝置。

背景技術(shù)：

1、氣體絕緣金屬封閉組合電器（gas?insulated?switchgear，gis）斷路器因體積小、可靠性高、通流能力強(qiáng)、智能化等優(yōu)點(diǎn)，在電網(wǎng)安全穩(wěn)定運(yùn)行中得到廣泛運(yùn)用。然而，?當(dāng)gis斷路器內(nèi)部導(dǎo)體由于接觸不良等原因引起發(fā)熱現(xiàn)象時(shí)，因其密封性嚴(yán)、結(jié)構(gòu)緊湊等特點(diǎn)容易導(dǎo)致負(fù)荷電流下gis斷路器內(nèi)部導(dǎo)體發(fā)熱嚴(yán)重，溫升過(guò)高，從而會(huì)導(dǎo)致加速絕緣材料老化引發(fā)短路，進(jìn)而會(huì)導(dǎo)致電力系統(tǒng)失穩(wěn)或越級(jí)跳閘，造成大面積停電事故。因此，對(duì)gis斷路器內(nèi)部導(dǎo)體溫度進(jìn)行測(cè)算，提前發(fā)現(xiàn)并消除內(nèi)部缺陷和隱患具有重要意義。

2、由于gis斷路器內(nèi)部導(dǎo)體溫升無(wú)法直接測(cè)量，因此，通過(guò)gis斷路器外殼溫度評(píng)估gis斷路器內(nèi)部溫度變化情況，是現(xiàn)有監(jiān)測(cè)和預(yù)防gis斷路器內(nèi)部由于溫度過(guò)高引發(fā)缺陷和故障的重要技術(shù)手段。然而，影響gis斷路器外殼溫升和內(nèi)部導(dǎo)體溫升之間的映射關(guān)系的因素較為復(fù)雜，從而，導(dǎo)致通過(guò)gis斷路器外殼溫度評(píng)估得到gis斷路器內(nèi)部溫升的速度較慢。

3、因此，如何快速確定gis斷路器內(nèi)部溫升差成為了一個(gè)亟待解決的問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)實(shí)施例提供了一種基于內(nèi)特性反演確定gis斷路器內(nèi)部溫升差的方法及相關(guān)裝置，可快速確定gis斷路器內(nèi)部溫升差。

2、第一方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種基于內(nèi)特性反演確定gis斷路器內(nèi)部溫升差的方法，該方法包括：

3、從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；其中，每個(gè)歷史外殼溫升差對(duì)應(yīng)一個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；

4、對(duì)多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差進(jìn)行擬合，得到歷史外殼溫升差和歷史內(nèi)部觸頭溫升差之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系；

5、從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的當(dāng)前外殼溫升差；

6、基于當(dāng)前外殼溫升差和關(guān)聯(lián)關(guān)系，確定gis斷路器的當(dāng)前內(nèi)部觸頭溫升差。

7、在其中一個(gè)實(shí)施例中，該方法還包括：確定gis斷路器的故障部位；將故障部位內(nèi)部觸頭溫升值調(diào)整至預(yù)設(shè)溫度，并將預(yù)設(shè)溫度對(duì)應(yīng)的通流值確定為通流上限值；基于通流上限值，對(duì)故障部位內(nèi)部觸頭以及gis斷路器故障狀態(tài)下的外殼進(jìn)行溫升測(cè)試，得到多個(gè)異常內(nèi)部觸頭溫升值以及多個(gè)異常外殼溫升值；每個(gè)異常內(nèi)部觸頭溫升值是指故障部位內(nèi)部觸頭的溫升值；每個(gè)異常外殼溫升值是指故障狀態(tài)下gis斷路器的外殼溫升值；基于多個(gè)異常內(nèi)部觸頭溫升值和多個(gè)正常內(nèi)部觸頭溫升值，確定多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差，并將多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)中；以及，基于多個(gè)異常外殼溫升值和多個(gè)正常外殼溫升值，確定多個(gè)歷史外殼溫升差，并將多個(gè)歷史外殼溫升差存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)中。

8、在其中一個(gè)實(shí)施例中，基于通流上限值，對(duì)故障部位內(nèi)部觸頭以及gis斷路器故障狀態(tài)下的外殼進(jìn)行溫升測(cè)試，得到多個(gè)異常內(nèi)部觸頭溫升值以及多個(gè)異常外殼溫升值，包括：確定小于或等于通流上限值的多個(gè)通流值；針對(duì)每個(gè)通流值，在確定故障部位內(nèi)部觸頭通入電流，且內(nèi)部觸頭的溫升值在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)小于或等于預(yù)設(shè)溫升差的情況下，獲取該通流值對(duì)應(yīng)的異常內(nèi)部觸頭溫升值以及gis斷路器故障狀態(tài)下的異常外殼溫升值。

9、在其中一個(gè)實(shí)施例中，該方法還包括：獲取通過(guò)溫度巡檢儀測(cè)量得到的gis斷路器的當(dāng)前正常內(nèi)部觸頭溫升值和當(dāng)前異常內(nèi)部觸頭溫升值；基于當(dāng)前正常內(nèi)部觸頭溫升值和當(dāng)前異常內(nèi)部觸頭溫升值，確定gis斷路器的實(shí)際內(nèi)部觸頭溫升差；確定實(shí)際內(nèi)部觸頭溫升差和當(dāng)前內(nèi)部觸頭溫升差之間的誤差；在誤差小于或等于預(yù)設(shè)誤差閾值的情況下，確定當(dāng)前內(nèi)部觸頭溫升差為gis斷路器的最終內(nèi)部觸頭溫升差。

10、在其中一個(gè)實(shí)施例中，該方法還包括：從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取每個(gè)內(nèi)部觸頭溫升差區(qū)間與gis斷路器的運(yùn)行狀態(tài)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系表；從對(duì)應(yīng)關(guān)系表中，查找最終內(nèi)部觸頭溫升差所屬的區(qū)間所對(duì)應(yīng)的gis斷路器的當(dāng)前運(yùn)行狀態(tài)；輸出gis斷路器的當(dāng)前運(yùn)行狀態(tài)，以使得用戶基于gis斷路器的當(dāng)前運(yùn)行狀態(tài)確定針對(duì)gis斷路器的決策結(jié)果。

11、在其中一個(gè)實(shí)施例中，該方法還包括：確定通流上限值對(duì)應(yīng)的內(nèi)部觸頭溫升差；將歷史內(nèi)部觸頭溫升差小于或等于通流上限值對(duì)應(yīng)的內(nèi)部觸頭溫升差的溫升差劃分為多個(gè)內(nèi)部觸頭溫升差區(qū)間，并確定每個(gè)內(nèi)部觸頭溫升差區(qū)間對(duì)應(yīng)的gis斷路器的運(yùn)行狀態(tài)；生成每個(gè)內(nèi)部觸頭溫升差區(qū)間與gis斷路器的運(yùn)行狀態(tài)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系表，并將對(duì)應(yīng)關(guān)系表存儲(chǔ)于數(shù)據(jù)庫(kù)中。

12、第二方面，本技術(shù)提供了一種基于內(nèi)特性反演確定gis斷路器內(nèi)部溫升差的裝置，該裝置包括：

13、獲取模塊，用于從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；其中，每個(gè)歷史外殼溫升差對(duì)應(yīng)一個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；

14、處理模塊，用于對(duì)多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差進(jìn)行擬合，得到歷史外殼溫升差和歷史內(nèi)部觸頭溫升差之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系；

15、獲取模塊，還用于從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的當(dāng)前外殼溫升差；

16、確定模塊，用于基于當(dāng)前外殼溫升差和關(guān)聯(lián)關(guān)系，確定gis斷路器的當(dāng)前內(nèi)部觸頭溫升差。

17、第三方面，本技術(shù)提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，處理器執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：

18、從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；其中，每個(gè)歷史外殼溫升差對(duì)應(yīng)一個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；

19、對(duì)多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差進(jìn)行擬合，得到歷史外殼溫升差和歷史內(nèi)部觸頭溫升差之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系；

20、從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的當(dāng)前外殼溫升差；

21、基于當(dāng)前外殼溫升差和關(guān)聯(lián)關(guān)系，確定gis斷路器的當(dāng)前內(nèi)部觸頭溫升差。

22、第四方面，本技術(shù)還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：

23、從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；其中，每個(gè)歷史外殼溫升差對(duì)應(yīng)一個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；

24、對(duì)多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差進(jìn)行擬合，得到歷史外殼溫升差和歷史內(nèi)部觸頭溫升差之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系；

25、從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的當(dāng)前外殼溫升差；

26、基于當(dāng)前外殼溫升差和關(guān)聯(lián)關(guān)系，確定gis斷路器的當(dāng)前內(nèi)部觸頭溫升差。

27、第五方面，本技術(shù)還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：

28、從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；其中，每個(gè)歷史外殼溫升差對(duì)應(yīng)一個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；

29、對(duì)多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差進(jìn)行擬合，得到歷史外殼溫升差和歷史內(nèi)部觸頭溫升差之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系；

30、從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的當(dāng)前外殼溫升差；

31、基于當(dāng)前外殼溫升差和關(guān)聯(lián)關(guān)系，確定gis斷路器的當(dāng)前內(nèi)部觸頭溫升差。

32、上述基于內(nèi)特性反演確定gis斷路器內(nèi)部溫升差的方法及相關(guān)裝置，計(jì)算機(jī)設(shè)備可從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；其中，每個(gè)歷史外殼溫升差對(duì)應(yīng)一個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差；對(duì)多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差進(jìn)行擬合，得到歷史外殼溫升差和歷史內(nèi)部觸頭溫升差之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系；從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取gis斷路器的當(dāng)前外殼溫升差；基于當(dāng)前外殼溫升差和關(guān)聯(lián)關(guān)系，確定gis斷路器的當(dāng)前內(nèi)部觸頭溫升差。采用該方法，在實(shí)際使用gis斷路器的過(guò)程中，在沒(méi)有仿真結(jié)果的情況下，計(jì)算機(jī)設(shè)備可通過(guò)內(nèi)特性反演的方式，基于多個(gè)歷史外殼溫升差和多個(gè)歷史內(nèi)部觸頭溫升差，確定歷史外殼溫升差和歷史內(nèi)部觸頭溫升差之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系，從而在獲取到當(dāng)前外殼溫升差的情況下，可基于所確定的關(guān)聯(lián)關(guān)系，快速確定gis斷路器內(nèi)部觸頭溫升差（或者稱為內(nèi)部溫升差）。