1.一種電磁暫態(tài)仿真用負荷模型參數(shù)辨識方法，所述方法包括：
2.根據(jù)權利要求1所述的方法，所述方法還包括：
3.根據(jù)權利要求1所述的方法，所述方法還包括：
4.根據(jù)權利要求1所述的方法，所述對元件參數(shù)進行配置，包括確定判斷數(shù)據(jù)集方差，所述判斷數(shù)據(jù)集方差包括：電流i方差、有功p方差以及無功q方差；
5.根據(jù)權利要求1所述的方法，所述對元件參數(shù)進行配置，包括：元件類型、元件名稱、參數(shù)名稱、參數(shù)類型、參數(shù)修改位置、參數(shù)初值、參數(shù)值傷上限以及步長。
6.根據(jù)權利要求2所述的方法，所述將配置后的元件參數(shù)作為二維空間中的坐標點，還包括：
7.根據(jù)權利要求6所述的方法，所述基于方差基準值以及配置元件參數(shù)的參數(shù)預設步長，調整元件參數(shù)的參數(shù)值，并計算二維空間中各坐標點的判斷數(shù)據(jù)集方差，包括：
8.根據(jù)權利要求2所述的方法，基于方差基準值以及配置元件參數(shù)的參數(shù)預設步長，調整元件參數(shù)的參數(shù)值，并計算二維空間中各坐標點的判斷數(shù)據(jù)集方差，當判斷數(shù)據(jù)集方差為有功p方差、和無功q方差時，使用的算法為：
9.根據(jù)權利要求1所述的方法，當未能獲取元件參數(shù)的最優(yōu)解時，減少參數(shù)的步長，重新進行參數(shù)值的尋優(yōu)計算。
10.一種電磁暫態(tài)仿真用負荷模型參數(shù)辨識系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：
11.根據(jù)權利要求10所述的系統(tǒng)，其中：
12.根據(jù)權利要求10所述的系統(tǒng)，所述結果單元還用于：
13.根據(jù)權利要求10所述的系統(tǒng)，所述初始單元，用于對元件參數(shù)進行配置，包括確定判斷數(shù)據(jù)集方差，所述判斷數(shù)據(jù)集方差包括：電流i方差、有功p方差以及無功q方差；
14.根據(jù)權利要求10所述的系統(tǒng)，所述初始單元，用于對元件參數(shù)進行配置，包括：元件類型、元件名稱、參數(shù)名稱、參數(shù)類型、參數(shù)修改位置、參數(shù)初值、參數(shù)值傷上限以及步長。
15.根據(jù)權利要求11所述的系統(tǒng)，所述計算單元，用于將配置后的元件參數(shù)作為二維空間中的坐標點，還用于：
16.根據(jù)權利要求15所述的系統(tǒng)，所述結果單元，用于基于方差基準值以及配置元件參數(shù)的參數(shù)預設步長，調整元件參數(shù)的參數(shù)值，并計算二維空間中各坐標點的判斷數(shù)據(jù)集方差，還用于：
17.根據(jù)權利要求11所述的系統(tǒng)，所述結果單元，用于基于方差基準值以及配置元件參數(shù)的參數(shù)預設步長，調整元件參數(shù)的參數(shù)值，并計算二維空間中各坐標點的判斷數(shù)據(jù)集方差，當判斷數(shù)據(jù)集方差為有功p方差、和無功q方差時，使用的算法為：
18.根據(jù)權利要求10所述的系統(tǒng)，所述結果單元，還用于當未能獲取元件參數(shù)的最優(yōu)解時，減少參數(shù)的步長，重新進行參數(shù)值的尋優(yōu)計算。
19.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序用于執(zhí)行權利要求1-9中任一項所述的方法。
20.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括：處理器和存儲器；其中，