技術特征：

1.一種基于維納濾波器的電子器件熱特性評估方法，其特征在于：所述方法包括以下步驟：

2.根據(jù)權利要求1所述的基于維納濾波器的電子器件熱特性評估方法，其特征在于：所述步驟3)中，待測電子器件的時間常數(shù)譜r(t)表示為：

3.根據(jù)權利要求1所述的基于維納濾波器的電子器件熱特性評估方法，其特征在于：所述步驟1)中，待測電子器件的熱阻抗曲線具體為：

4.根據(jù)權利要求1所述的基于維納濾波器的電子器件熱特性評估方法，其特征在于：所述步驟2)的具體步驟為：

5.根據(jù)權利要求1所述的基于維納濾波器的電子器件熱特性評估方法，其特征在于：所述步驟3)包括以下步驟：

6.根據(jù)權利要求2所述的基于維納濾波器的電子器件熱特性評估方法，其特征在于：所述維納濾波器具體為：

7.根據(jù)權利要求2或5所述的基于維納濾波器的電子器件熱特性評估方法，其特征在于：所述熱特性表征函數(shù)b(t)具體為：

8.根據(jù)權利要求1所述的基于維納濾波器的電子器件熱特性評估方法，其特征在于：所述步驟4)具體為：對所述時間常數(shù)譜進行網(wǎng)絡模型轉(zhuǎn)換，得到積分結構函數(shù)；將所述積分結構函數(shù)的熱容對熱阻求導，得到微分結構函數(shù)，根據(jù)所述微分結構函數(shù)得到電子器件的熱特性評估結果。

9.一種應用于如權利要求1～8任一所述電子器件熱特性評估方法的電子器件熱特性評估系統(tǒng)，其特征在于：包括：

技術總結
本發(fā)明公開了一種基于維納濾波器的電子器件熱特性評估方法。本發(fā)明方法具體為：通過熱測試得到待測電子器件的結溫，根據(jù)結溫計算得到待測電子器件的熱阻抗曲線，經(jīng)換元處理和求導處理，得到熱阻抗換元導數(shù)曲線；對熱阻抗換元導數(shù)曲線進行反卷積，得到待測電子器件的時間常數(shù)譜；根據(jù)時間常數(shù)譜得到電子器件的熱特性評估結果；反卷積過程中，將維納濾波器應用于熱阻抗換元導數(shù)曲線的頻域形式，并引入熱特性表征函數(shù)。本發(fā)明方法相較于現(xiàn)階段廣泛應用的兩種方法而言，調(diào)制方法更加簡單，準確性更加貼合實質(zhì)，且由此得到的結構函數(shù)能夠準確反應被測器件各層的熱特性。

技術研發(fā)人員：梅云輝,劉展鵬,李龍女,禹澤田
受保護的技術使用者：天津工業(yè)大學
技術研發(fā)日：
技術公布日：2025/1/2