1.一種跨框架api缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的跨框架api缺陷檢測方法，其特征在于，基于所述api缺陷代碼確定所述api缺陷代碼中的缺陷參數(shù)，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的跨框架api缺陷檢測方法，其特征在于，利用預(yù)設(shè)相似度算法從每個(gè)待測試的深度學(xué)習(xí)框架下的所有api中，遍歷查找與所述api缺陷代碼最相似的同類api，獲得同類api集，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的跨框架api缺陷檢測方法，其特征在于，預(yù)設(shè)相似度算法為：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的跨框架api缺陷檢測方法，其特征在于，對于所述同類api集中的每個(gè)同類api，利用所述每個(gè)同類api與所述api缺陷代碼的參數(shù)匹配關(guān)系，以及所述api缺陷代碼中的缺陷參數(shù)生成所述同類api對應(yīng)的測試用例，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的跨框架api缺陷檢測方法，其特征在于，獲得同類api集之后，所述方法還包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的跨框架api缺陷檢測方法，其特征在于，利用所述測試用例對所述同類api進(jìn)行模糊測試，獲得所述同類api的缺陷檢測結(jié)果，包括：
8.一種跨框架api缺陷檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述跨框架api缺陷檢測系統(tǒng)包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：處理器和用于存儲能夠在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序的存儲器；其中，所述處理器用于運(yùn)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)，執(zhí)行權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述方法的步驟。
10.一種存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)中存儲有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述方法的步驟。