本技術(shù)涉及測(cè)試，特別是涉及一種自動(dòng)化測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、隨著項(xiàng)目的開發(fā)，各種類型的測(cè)試需求越來越多，需要維護(hù)的測(cè)試用例類別及數(shù)量越來越龐大。在這種測(cè)試用例分類及數(shù)量都很多的情況下，需要根據(jù)測(cè)試用例建立測(cè)試計(jì)劃表，這些測(cè)試用例的信息若由人工檢查和寫入測(cè)試計(jì)劃表將十分耗時(shí)。

2、在日常的回歸測(cè)試中，若從表中提取測(cè)試命令后再進(jìn)行測(cè)試，除耗時(shí)之外，由于表格操作對(duì)格式的依賴比較強(qiáng)，在測(cè)試過程中去操作表格可能出錯(cuò)，影響正常的測(cè)試流程，大大影響了測(cè)試效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問題，提供一種能夠提高測(cè)試效率的自動(dòng)化測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。

2、第一方面，本技術(shù)提供了一種自動(dòng)化測(cè)試方法，所述方法包括：

3、獲取目標(biāo)項(xiàng)目的第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表；

4、根據(jù)所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，生成第一測(cè)試腳本；

5、在所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表發(fā)生更新的情況下，更新所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，得到第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，并根據(jù)所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表更新所述第一測(cè)試腳本，得到第二測(cè)試腳本；

6、交叉檢查所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表和所述第二測(cè)試腳本，在所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表和所述第二測(cè)試腳本檢查內(nèi)容一致的情況下，根據(jù)所述第二測(cè)試腳本得到目標(biāo)測(cè)試腳本，并按照所述目標(biāo)測(cè)試腳本進(jìn)行測(cè)試。

7、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述根據(jù)所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表更新所述第一測(cè)試腳本，得到第二測(cè)試腳本，包括：

8、對(duì)比所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表和所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，得到差異信息；

9、根據(jù)所述差異信息，對(duì)所述第一測(cè)試腳本進(jìn)行更新，得到第二測(cè)試腳本。

10、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述差異信息包括第一差異信息，所述第一差異信息包括新增子表和刪除子表中的至少一種；所述根據(jù)所述差異信息，對(duì)所述第一測(cè)試腳本進(jìn)行更新，得到第二測(cè)試腳本，包括：

11、若所述第一差異信息為新增子表，則獲取新增子表對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱及測(cè)試命令，并將所述新增子表對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱及測(cè)試命令更新至所述第一測(cè)試腳本，得到第二測(cè)試腳本；

12、若所述第一差異信息為刪除子表，則將所述第一測(cè)試腳本中刪除子表對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱標(biāo)記為刪除，得到第二測(cè)試腳本；

13、若所述第一差異信息為新增子表和刪除子表，則獲取新增子表對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱及測(cè)試命令，并將所述新增子表對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱及測(cè)試命令更新至所述第一測(cè)試腳本，同時(shí)，將所述第一測(cè)試腳本中刪除子表對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱標(biāo)記為刪除，得到第二測(cè)試腳本。

14、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述差異信息包括第二差異信息，對(duì)比所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表和所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，得到差異信息，包括：

15、依次將所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表中各子表中的每一行，與所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表中的相同行進(jìn)行對(duì)比，得到所述第二差異信息；

16、所述根據(jù)所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表更新所述第一測(cè)試腳本，得到第二測(cè)試腳本，包括：

17、若第二差異信息為子表的當(dāng)前行在所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表中不存在，則將所述當(dāng)前行的測(cè)試命令寫入第一測(cè)試腳本，得到第二測(cè)試腳本。

18、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述根據(jù)所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表更新所述第一測(cè)試腳本，得到第二測(cè)試腳本，包括：

19、若所述第二差異信息為子表的當(dāng)前行對(duì)應(yīng)的測(cè)試命令與所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表的相同行對(duì)應(yīng)的測(cè)試命令有差異，則將所述當(dāng)前行的測(cè)試命令替換第一測(cè)試腳本中對(duì)應(yīng)的測(cè)試命令，得到第二測(cè)試腳本；

20、若所述第二差異信息為子表的當(dāng)前行對(duì)應(yīng)的測(cè)試命令與所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表的相同行對(duì)應(yīng)的測(cè)試命令無差異，則判斷所述當(dāng)前行對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱與所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表的相同行對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱是否有差異；

21、在測(cè)試腳本組名稱有差異的情況下，則將當(dāng)前行對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱替換所述第一測(cè)試腳本中對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱，得到第二測(cè)試腳本。

22、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述根據(jù)所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表更新所述第一測(cè)試腳本，得到第二測(cè)試腳本，包括：

23、若第二差異信息為所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表中的測(cè)試用例名稱無法匹配所述各子表的測(cè)試用例名稱，則將所述第一測(cè)試腳本中無法匹配的測(cè)試用例名稱標(biāo)記為刪除，得到第二測(cè)試腳本。

24、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述獲取目標(biāo)項(xiàng)目的第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，包括：

25、獲取所述目標(biāo)項(xiàng)目的初始測(cè)試計(jì)劃表和待添加測(cè)試用例路徑；所述初始測(cè)試計(jì)劃表包括測(cè)試用例基本信息列、測(cè)試用例特征參數(shù)列和測(cè)試腳本組名稱列；

26、根據(jù)所述待添加測(cè)試用例路徑獲取測(cè)試用例文件，所述測(cè)試用例文件包括測(cè)試用例的基本信息和測(cè)試用例特征參數(shù)；

27、將所述測(cè)試用例基本信息寫入所述初始測(cè)試計(jì)劃表對(duì)應(yīng)的基本信息列；

28、將所述測(cè)試用例特征參數(shù)寫入所述初始測(cè)試計(jì)劃表對(duì)應(yīng)的特征參數(shù)列；

29、獲取測(cè)試腳本組名稱，并將測(cè)試腳本組名稱寫入初始測(cè)試計(jì)劃表對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本組名稱列，得到目標(biāo)項(xiàng)目的第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表。

30、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述根據(jù)所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，生成第一測(cè)試腳本，包括：

31、從所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表中獲取滿足預(yù)設(shè)條件的測(cè)試用例；

32、根據(jù)所述滿足預(yù)設(shè)條件的測(cè)試用例，生成第一測(cè)試腳本。

33、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述根據(jù)所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，生成第一測(cè)試腳本，包括：

34、遍歷所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表中的所有子表，獲取各子表對(duì)應(yīng)的每一測(cè)試用例的測(cè)試信息；

35、根據(jù)所述各子表對(duì)應(yīng)的每一測(cè)試用例的測(cè)試信息，生成第一測(cè)試腳本。

36、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試信息包括基本信息和測(cè)試腳本組名稱，所述遍歷所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表中的所有子表，獲取各子表對(duì)應(yīng)的每一測(cè)試用例的測(cè)試信息，包括：

37、遍歷每一所述子表獲取各子表對(duì)應(yīng)的每一測(cè)試用例的基本信息和測(cè)試腳本組名稱，所述基本信息包括優(yōu)先級(jí)和測(cè)試命令；

38、所述根據(jù)所述各子表對(duì)應(yīng)的每一測(cè)試用例的測(cè)試信息，生成第一測(cè)試腳本，包括：

39、根據(jù)所述優(yōu)先級(jí)和所述測(cè)試腳本組名稱，將所述測(cè)試命令寫入測(cè)試腳本組名稱對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本中，得到所述第一測(cè)試腳本。

40、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述交叉檢查所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表和所述第二測(cè)試腳本，在所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表和所述第二測(cè)試腳本檢查內(nèi)容一致的情況下，根據(jù)所述第二測(cè)試腳本得到目標(biāo)測(cè)試腳本，包括：

41、獲取第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表中的各子表的每一測(cè)試用例的測(cè)試命令、測(cè)試腳本組名稱；

42、根據(jù)所述各子表的每一測(cè)試用例的測(cè)試腳本組名稱從對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試腳本中查找所述測(cè)試用例的測(cè)試命令；

43、在所述各子表中的每一測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的測(cè)試命令和所述第二測(cè)試腳本中所述測(cè)試用例的測(cè)試命令一致的情況下，獲取測(cè)試用例的第一數(shù)量和測(cè)試腳本組的第一數(shù)量，以及測(cè)試用例的第二數(shù)量和測(cè)試腳本組的第二數(shù)量，其中，測(cè)試用例的第一數(shù)量表征各子表中測(cè)試用例的數(shù)量，測(cè)試腳本組的第一數(shù)量表征各子表中測(cè)試用例的測(cè)試腳本組的數(shù)量，測(cè)試用例的第二數(shù)量表征所述第二測(cè)試腳本中測(cè)試用例的數(shù)量，測(cè)試腳本組的第二數(shù)量表征第二測(cè)試腳本中測(cè)試用例的數(shù)量；

44、在所述測(cè)試用例的第一數(shù)量和測(cè)試用例的第二數(shù)量相等、且所述測(cè)試腳本組的第一數(shù)量和測(cè)試腳本組的第二數(shù)量相等的情況下，將所述第二測(cè)試腳本作為第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表的目標(biāo)測(cè)試腳本。

45、第二方面，本技術(shù)還提供了一種自動(dòng)化測(cè)試裝置，所述裝置包括：

46、獲取模塊，用于獲取目標(biāo)項(xiàng)目的第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表；

47、確定模塊，用于根據(jù)所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，生成第一測(cè)試腳本；

48、更新模塊，用于在所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表發(fā)生更新的情況下，更新所述第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，得到第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，并根據(jù)所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表更新所述第一測(cè)試腳本，得到第二測(cè)試腳本；

49、交叉檢查及測(cè)試模塊，用于交叉檢查所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表和所述第二測(cè)試腳本，在所述第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表和所述第二測(cè)試腳本檢查內(nèi)容一致的情況下，根據(jù)所述第二測(cè)試腳本得到目標(biāo)測(cè)試腳本，并按照所述目標(biāo)測(cè)試腳本進(jìn)行測(cè)試。

50、第三方面，本技術(shù)還提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述的方法的步驟。

51、第四方面，本技術(shù)還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述的方法的步驟。

52、第五方面，本技術(shù)還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述的方法的步驟。

53、上述自動(dòng)化測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，通過獲取第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表以及根據(jù)第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表生成的第一測(cè)試腳本，作為本次更新的上一次測(cè)試計(jì)劃表和測(cè)試腳本；其次更新第一目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，確定第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，作為本次更新的測(cè)試計(jì)劃表，并根據(jù)第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表，更新第一測(cè)試腳本，得到第二測(cè)試腳本，也即本次更新的測(cè)試腳本，最后交叉檢查第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表和第二測(cè)試腳本，在第二目標(biāo)測(cè)試計(jì)劃表和第二測(cè)試腳本檢查內(nèi)容一致的情況下，根據(jù)第二測(cè)試腳本得到目標(biāo)測(cè)試腳本，節(jié)省了手工操作生成測(cè)試腳本的時(shí)間，減少了測(cè)試腳本準(zhǔn)備的耗時(shí)，且保證了目標(biāo)測(cè)試腳本的準(zhǔn)確性，按照目標(biāo)測(cè)試腳本進(jìn)行測(cè)試，減少了目標(biāo)測(cè)試腳本生成時(shí)間以及測(cè)試流程的耗時(shí)，從而提高測(cè)試效率。