本技術(shù)涉及異常識別，尤其涉及一種異常識別方法、異常識別設(shè)備、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在電子產(chǎn)品(3c產(chǎn)品)制成工藝中，由于工藝的不完善性，容易造成攝像孔產(chǎn)生裂紋缺陷，導(dǎo)致產(chǎn)品報廢。為避免這一問題，相關(guān)技術(shù)中出現(xiàn)有缺陷檢測方法，采用該缺陷檢測方法，可對攝像孔是否存在裂紋缺陷這一異常進(jìn)行檢測。在制作工藝中，攝像孔的異常除了裂紋缺陷這一類異常，還包括表面劃傷、臟污等這類干擾異常。如何識別或區(qū)分這兩類異常成為了亟待解決的問題。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本技術(shù)提供了一種異常識別方法、異常識別設(shè)備、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，以至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的以上技術(shù)問題。

2、根據(jù)本技術(shù)的第一方面，提供了一種異常識別方法，包括：

3、獲得檢測圖像的檢測區(qū)域以及所述檢測區(qū)域內(nèi)的異常區(qū)，所述檢測區(qū)域包括待識別對象；

4、基于所述檢測區(qū)域的邊界信息，得到所述檢測區(qū)域的至少兩個目標(biāo)輪廓；

5、基于所述異常區(qū)的邊界信息，獲得所述異常區(qū)的第一參考線；

6、基于所述第一參考線和所述至少兩個目標(biāo)輪廓，獲得所述異常區(qū)的第二參考線；

7、基于所述第一參考線和所述第二參考線，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型。

8、在一可實施方式中，所述基于所述異常區(qū)的邊界信息，獲得所述異常區(qū)的第一參考線，包括：

9、基于所述異常區(qū)的邊界信息，得到所述異常區(qū)的最小外接矩形；

10、基于最小外接矩形的中心點、參照角度以及檢測圖像的圖像屬性，獲得至少兩個目標(biāo)點；

11、基于至少兩個目標(biāo)點，得到所述異常區(qū)的第一參考線。

12、在一可實施方式中，所述基于所述第一參考線和所述至少兩個目標(biāo)輪廓，獲得所述異常區(qū)的第二參考線，包括：

13、所述至少兩個目標(biāo)輪廓包括第一輪廓和第二輪廓；

14、獲得所述第一參考線與所述第一輪廓的第一交點；

15、獲得所述第一交點到第二輪廓的第二交點；

16、基于第一交點和第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線。

17、在一可實施方式中，所述基于所述第一參考線和所述第二參考線，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型，包括：

18、基于第一參考線上的參考點和第二參考線上的參考點，得到第一參考線和第二參考線之間的夾角角度；

19、基于所述夾角角度，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型。

20、在一可實施方式中，所述基于所述檢測區(qū)域的邊界信息，得到所述檢測區(qū)域的至少兩個目標(biāo)輪廓，包括：

21、所述檢測區(qū)域由多條邊界線構(gòu)成；

22、從多條邊界線中，確定滿足預(yù)設(shè)輪廓條件的兩條或多條邊界線；

23、將滿足預(yù)設(shè)輪廓條件的兩條或多條邊界線作為至少兩個目標(biāo)輪廓，所述至少兩個目標(biāo)輪廓之間相互平行。

24、在一可實施方式中，所述基于最小外接矩形的中心點、參照角度以及檢測圖像的圖像屬性，獲得至少兩個目標(biāo)點，包括：

25、所述圖像屬性包括圖像的寬度值和高度值；

26、基于最小外接矩形的中心點的橫坐標(biāo)、參考角度的正弦值以及圖像目標(biāo)值，得到第一橫坐標(biāo)和第二橫坐標(biāo)；

27、基于最小外接矩形的中心點的縱坐標(biāo)、參考角度的余弦值以及圖像目標(biāo)值，得到第一縱坐標(biāo)和第二縱坐標(biāo)；

28、基于所述第一橫坐標(biāo)和所述第一縱坐標(biāo)，得到第一目標(biāo)點；

29、基于所述第二橫坐標(biāo)和所述第二縱坐標(biāo)，得到第二目標(biāo)點；

30、其中，所述圖像目標(biāo)值通過對圖像的寬度值和高度值的平方和進(jìn)行根號運算而得。

31、在一可實施方式中，所述基于所述夾角角度，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型，包括：

32、響應(yīng)于所述夾角角度為非銳角角度，將所述夾角角度轉(zhuǎn)換成銳角角度；

33、基于轉(zhuǎn)換成的銳角角度，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型。

34、在一可實施方式中，所述基于所述夾角角度，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型，包括：

35、響應(yīng)于所述夾角角度為銳角角度且滿足第一條件，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型為裂紋缺陷類型；

36、響應(yīng)于所述夾角角度為銳角角度且滿足第二條件，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型為干擾缺陷類型。

37、在一可實施方式中，所述基于所述異常區(qū)的邊界信息，獲得所述異常區(qū)的第一參考線，包括：

38、響應(yīng)于檢測區(qū)域內(nèi)存在有滿足預(yù)設(shè)合并條件的兩個或多個異常區(qū)，則將滿足預(yù)設(shè)合并條件的所述兩個或多個異常區(qū)進(jìn)行合并；

39、基于合并的異常區(qū)的邊界信息，獲得合并的異常區(qū)的第一參考線。

40、在一可實施方式中，所述第一交點的數(shù)量為至少兩個；

41、所述基于第一交點和第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線，包括：

42、從至少兩個第一交點中，得到滿足第一預(yù)設(shè)條件的第一交點；

43、基于滿足第一預(yù)設(shè)條件的第一交點和所述第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線。

44、在一可實施方式中，所述第二交點的數(shù)量為多個；

45、所述基于第一交點和第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線，包括：

46、從至少兩個第二交點中，得到滿足第二預(yù)設(shè)條件的第二交點；

47、基于第一交點和滿足第二預(yù)設(shè)條件的第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線。

48、在一可實施方式中，所述第一交點和第二交點的數(shù)量均為至少兩個；

49、所述基于第一交點和第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線，包括：

50、從至少兩個第一交點中，得到滿足第一預(yù)設(shè)條件的第一交點；

51、從至少兩個第二交點中，得到滿足第二預(yù)設(shè)條件的第二交點；

52、基于滿足第一預(yù)設(shè)條件的第一交點以及滿足第二預(yù)設(shè)條件的第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線。

53、根據(jù)本技術(shù)的第二方面，提供了一種異常識別設(shè)備，包括：

54、第一獲得單元，用于獲得檢測圖像的檢測區(qū)域以及所述檢測區(qū)域內(nèi)的異常區(qū)，所述檢測區(qū)域包括待識別對象；

55、第二獲得單元，用于基于所述檢測區(qū)域的邊界信息，得到所述檢測區(qū)域的至少兩個目標(biāo)輪廓；

56、第三獲得單元，用于基于所述異常區(qū)的邊界信息，獲得所述異常區(qū)的第一參考線；

57、第四獲得單元，用于基于所述第一參考線和所述至少兩個目標(biāo)輪廓，獲得所述異常區(qū)的第二參考線；

58、確定單元，用于基于所述第一參考線和所述第二參考線，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型。

59、在一可實施方式中，所述第三獲得單元，用于：

60、基于所述異常區(qū)的邊界信息，得到所述異常區(qū)的最小外接矩形；

61、基于最小外接矩形的中心點、參照角度以及檢測圖像的圖像屬性，獲得至少兩個目標(biāo)點；

62、基于至少兩個目標(biāo)點，得到所述異常區(qū)的第一參考線。

63、在一可實施方式中，所述第四獲得單元，用于：

64、所述至少兩個目標(biāo)輪廓包括第一輪廓和第二輪廓；

65、獲得所述第一參考線與所述第一輪廓的第一交點；

66、獲得所述第一交點到第二輪廓的第二交點；

67、基于第一交點和第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線。

68、在一可實施方式中，所述確定單元，用于：

69、基于第一參考線上的參考點和第二參考線上的參考點，得到第一參考線和第二參考線之間的夾角角度；

70、基于所述夾角角度，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型。

71、在一可實施方式中，所述第二獲得單元，用于：

72、所述檢測區(qū)域由多條邊界線構(gòu)成；

73、從多條邊界線中，確定滿足預(yù)設(shè)輪廓條件的兩條或多條邊界線；

74、將滿足預(yù)設(shè)輪廓條件的兩條或多條邊界線作為至少兩個目標(biāo)輪廓，所述至少兩個目標(biāo)輪廓之間相互平行。

75、在一可實施方式中，所述第三獲得單元，用于：

76、所述圖像屬性包括圖像的寬度值和高度值；

77、基于最小外接矩形的中心點的橫坐標(biāo)、參考角度的正弦值以及圖像目標(biāo)值，得到第一橫坐標(biāo)和第二橫坐標(biāo)；

78、基于最小外接矩形的中心點的縱坐標(biāo)、參考角度的余弦值以及圖像目標(biāo)值，得到第一縱坐標(biāo)和第二縱坐標(biāo)；

79、基于所述第一橫坐標(biāo)和所述第一縱坐標(biāo)，得到第一目標(biāo)點；

80、基于所述第二橫坐標(biāo)和所述第二縱坐標(biāo)，得到第二目標(biāo)點；

81、其中，所述圖像目標(biāo)值通過對圖像的寬度值和高度值的平方和進(jìn)行根號運算而得。

82、在一可實施方式中，所述確定單元，用于：

83、響應(yīng)于所述夾角角度為非銳角角度，將所述夾角角度轉(zhuǎn)換成銳角角度；

84、基于轉(zhuǎn)換成的銳角角度，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型。

85、在一可實施方式中，所述確定單元，用于：

86、響應(yīng)于所述夾角角度為銳角角度且滿足第一條件，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型為裂紋缺陷類型；

87、響應(yīng)于所述夾角角度為銳角角度且滿足第二條件，確定待識別對象的所述異常區(qū)的異常類型為干擾缺陷類型。

88、在一可實施方式中，所述第三獲得單元，用于：

89、響應(yīng)于檢測區(qū)域內(nèi)存在有滿足預(yù)設(shè)合并條件的兩個或多個異常區(qū)，則將滿足預(yù)設(shè)合并條件的所述兩個或多個異常區(qū)進(jìn)行合并；

90、基于合并的異常區(qū)的邊界信息，獲得合并的異常區(qū)的第一參考線。

91、在一可實施方式中，所述第四獲得單元，用于：

92、所述第一交點的數(shù)量為至少兩個；

93、從至少兩個第一交點中，得到滿足第一預(yù)設(shè)條件的第一交點；

94、基于滿足第一預(yù)設(shè)條件的第一交點和所述第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線。

95、在一可實施方式中，所述第四獲得單元，用于：

96、所述第二交點的數(shù)量為多個；

97、從至少兩個第二交點中，得到滿足第二預(yù)設(shè)條件的第二交點；

98、基于第一交點和滿足第二預(yù)設(shè)條件的第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線。

99、在一可實施方式中，所述第四獲得單元，用于：

100、所述第一交點和第二交點的數(shù)量均為至少兩個；

101、從至少兩個第一交點中，得到滿足第一預(yù)設(shè)條件的第一交點；

102、從至少兩個第二交點中，得到滿足第二預(yù)設(shè)條件的第二交點；

103、基于滿足第一預(yù)設(shè)條件的第一交點以及滿足第二預(yù)設(shè)條件的第二交點，得到所述異常區(qū)的第二參考線。

104、根據(jù)本技術(shù)的第三方面，提供了一種電子設(shè)備，包括：

105、至少一個處理器；以及

106、與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，

107、所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執(zhí)行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執(zhí)行，以使所述至少一個處理器能夠執(zhí)行本技術(shù)所述的方法。

108、根據(jù)本技術(shù)的第四方面，提供了一種存儲有計算機(jī)指令的非瞬時計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述計算機(jī)指令用于使所述計算機(jī)執(zhí)行本技術(shù)所述的方法。

109、根據(jù)本技術(shù)的第五方面，提供了一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計算機(jī)程序或指令，所述計算機(jī)程序或指令被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)本技術(shù)所述的方法。

110、本技術(shù)技術(shù)方案，可以基于檢測區(qū)域內(nèi)異常區(qū)的兩條參考線(第一參考線和第二參考線)，實現(xiàn)對異常區(qū)的異常是裂紋缺陷異常，還是傷痕、臟污等干擾異常的識別或區(qū)分。

111、應(yīng)當(dāng)理解，本部分所描述的內(nèi)容并非旨在標(biāo)識本技術(shù)的實施例的關(guān)鍵或重要特征，也不用于限制本技術(shù)的范圍。本技術(shù)的其它特征將通過以下的說明書而變得容易理解。