本發(fā)明實(shí)施例涉及芯片測(cè)試，具體涉及一種死鎖測(cè)試方法、裝置、系統(tǒng)及相關(guān)設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、在計(jì)算設(shè)備中，主設(shè)備和從設(shè)備基于總線架構(gòu)進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。其中，主設(shè)備和從設(shè)備之間通常需要依序進(jìn)行數(shù)據(jù)的傳輸和接收。

2、然而，隨著芯片集成規(guī)模越來(lái)越大，計(jì)算設(shè)備內(nèi)的主設(shè)備和從設(shè)備也越來(lái)越大，對(duì)應(yīng)的總線架構(gòu)也設(shè)計(jì)的越來(lái)越復(fù)雜。其中，在總線架構(gòu)存在設(shè)計(jì)缺陷時(shí)，可能出現(xiàn)死鎖的情況。

3、因此，如何在芯片設(shè)計(jì)階段測(cè)試出總線架構(gòu)是否存在導(dǎo)致死鎖的缺陷，是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟需解決的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例提供一種死鎖測(cè)試方法、裝置、系統(tǒng)及相關(guān)設(shè)備，以在芯片設(shè)計(jì)階段測(cè)試出總線架構(gòu)是否存在導(dǎo)致死鎖的缺陷。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實(shí)施例提供如下技術(shù)方案。

3、第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種死鎖測(cè)試方法，用于測(cè)試待測(cè)設(shè)計(jì)，其中，所述待測(cè)設(shè)計(jì)包括總線架構(gòu)，以及，連接在總線架構(gòu)中的多個(gè)主設(shè)備和從設(shè)備；所述方法包括：

4、選取連接至總線架構(gòu)中2個(gè)主設(shè)備分別為第一主設(shè)備和第二主設(shè)備，選取連接在總線架構(gòu)中2個(gè)從設(shè)備分別為第一從設(shè)備和第二從設(shè)備；

5、自第一主設(shè)備向第一從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，且自第二主設(shè)備向第二從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，其中，所述第一類型測(cè)試事務(wù)包括待測(cè)試寫(xiě)命令和待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)，且所述第一類型測(cè)試事務(wù)中的待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)大于或等于第一預(yù)設(shè)長(zhǎng)度；

6、在發(fā)送所述第一類型測(cè)試事務(wù)的預(yù)設(shè)時(shí)間間隔內(nèi)，啟動(dòng)自第一主設(shè)備向第二從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，且啟動(dòng)自第二主設(shè)備向第一從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，其中，所述第二類型測(cè)試事務(wù)包括待測(cè)試寫(xiě)命令和待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)，且所述第二類型測(cè)試事務(wù)中的待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)小于或等于第二預(yù)設(shè)長(zhǎng)度；所述第二預(yù)設(shè)長(zhǎng)度小于所述第一預(yù)設(shè)長(zhǎng)度，所述預(yù)設(shè)時(shí)間間隔小于所述第一類型測(cè)試事務(wù)的待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)的傳輸時(shí)間；

7、基于所述第一從設(shè)備和所述第二從設(shè)備接收的數(shù)據(jù)，確定是否產(chǎn)生死鎖。

8、可選的，所述方法還包括：

9、自第一主設(shè)備向第二從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，且自第二主設(shè)備向第一從設(shè)備發(fā)送所述第一類型測(cè)試事務(wù)；

10、在發(fā)送所述第一類型測(cè)試事務(wù)的預(yù)設(shè)時(shí)間間隔內(nèi)，啟動(dòng)自第一主設(shè)備向第一從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，且啟動(dòng)自第二主設(shè)備向第二從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸；

11、再次基于所述第一從設(shè)備和所述第二從設(shè)備接收的數(shù)據(jù)，確定是否產(chǎn)生死鎖。

12、可選的，所述選取連接至總線架構(gòu)中2個(gè)主設(shè)備分別為第一主設(shè)備和第二主設(shè)備，選取連接在總線架構(gòu)中2個(gè)從設(shè)備分別為第一從設(shè)備和第二從設(shè)備，包括：

13、隨機(jī)命名所述2個(gè)主設(shè)備分別為第一主設(shè)備和第二主設(shè)備；

14、將所述第一主設(shè)備的遠(yuǎn)端從設(shè)備命名為第一從設(shè)備，將另一從設(shè)備命名為第二從設(shè)備；或者，將所述第二主設(shè)備的遠(yuǎn)端從設(shè)備命名為第一從設(shè)備，將另一從設(shè)備命名為第二從設(shè)備。

15、可選的，所述第一類型測(cè)試事務(wù)為預(yù)先構(gòu)造的第一類型測(cè)試激勵(lì)，所述自第一主設(shè)備向第一從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，且自第二主設(shè)備向第二從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，具體為：

16、基于驗(yàn)證平臺(tái)的驗(yàn)證組件控制第一主設(shè)備向第一從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試激勵(lì)，且控制第二主設(shè)備向第二從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試激勵(lì)。

17、可選的，所述啟動(dòng)自第一主設(shè)備向第二從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，具體為，自第一主設(shè)備向第二從設(shè)備傳輸所述第二類型測(cè)試事務(wù)的待測(cè)試寫(xiě)命令；所述啟動(dòng)自第二主設(shè)備向第一從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，具體為，自第二主設(shè)備向第一從設(shè)備傳輸所述第二類型測(cè)試事務(wù)的待測(cè)試寫(xiě)命令。

18、可選的，所述第二類型測(cè)試事務(wù)為預(yù)先構(gòu)造的第二類型測(cè)試激勵(lì)，所述啟動(dòng)自第一主設(shè)備向第二從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，且啟動(dòng)自第二主設(shè)備向第一從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，具體為：

19、基于驗(yàn)證平臺(tái)的驗(yàn)證組件控制第一主設(shè)備向第二從設(shè)備發(fā)送第二類型測(cè)試激勵(lì)中的待測(cè)試寫(xiě)命令，且控制第二主設(shè)備向第一從設(shè)備發(fā)送第二類型測(cè)試激勵(lì)中的待測(cè)試寫(xiě)命令。

20、可選的，所述基于所述第一從設(shè)備和所述第二從設(shè)備接收的數(shù)據(jù)，確定是否產(chǎn)生死鎖，具體為：

21、確定所述第一從設(shè)備和所述第二從設(shè)備是否成功接收待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)，若是，則未產(chǎn)生死鎖，若否，則產(chǎn)生死鎖。

22、可選的，所述第一預(yù)設(shè)長(zhǎng)度為256個(gè)突發(fā)長(zhǎng)度，所述第二預(yù)設(shè)長(zhǎng)度為5個(gè)突發(fā)長(zhǎng)度；所述預(yù)設(shè)時(shí)間間隔小于或等于1個(gè)時(shí)鐘周期。

23、可選的，所述選取連接至總線架構(gòu)中2個(gè)主設(shè)備分別為第一主設(shè)備和第二主設(shè)備，選取連接在總線架構(gòu)中2個(gè)從設(shè)備分別為第一從設(shè)備和第二從設(shè)備的步驟之后，重復(fù)執(zhí)行所述自第一主設(shè)備向第一從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，且自第二主設(shè)備向第二從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，至，所述再次基于所述第一從設(shè)備和所述第二從設(shè)備接收的數(shù)據(jù)的步驟，直至預(yù)設(shè)條件；

24、其中，所述預(yù)設(shè)條件為：

25、所述基于所述第一從設(shè)備和所述第二從設(shè)備接收的數(shù)據(jù)，確定是否產(chǎn)生死鎖的步驟或所述再次基于所述第一從設(shè)備和所述第二從設(shè)備接收的數(shù)據(jù)，確定是否產(chǎn)生死鎖的步驟中確認(rèn)產(chǎn)生死鎖；

26、或者，

27、未產(chǎn)生死鎖，且所述自第一主設(shè)備向第一從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，且自第二主設(shè)備向第二從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，至，所述再次基于所述第一從設(shè)備和所述第二從設(shè)備接收的數(shù)據(jù)的步驟重復(fù)執(zhí)行至預(yù)設(shè)次數(shù)。

28、可選的，所述選取連接至總線架構(gòu)中2個(gè)主設(shè)備分別為第一主設(shè)備和第二主設(shè)備，選取連接在總線架構(gòu)中2個(gè)從設(shè)備分別為第一從設(shè)備和第二從設(shè)備的步驟之前，還包括：

29、構(gòu)建測(cè)試順序表，所述測(cè)試順序表用于指示不同主設(shè)備和從設(shè)備構(gòu)成的測(cè)試方案的測(cè)試順序，其中，不同測(cè)試方案中，主設(shè)備或從設(shè)備中的至少一設(shè)備為不同；

30、所述選取連接至總線架構(gòu)中2個(gè)主設(shè)備分別為第一主設(shè)備和第二主設(shè)備，選取連接在總線架構(gòu)中2個(gè)從設(shè)備分別為第一從設(shè)備和第二從設(shè)備的步驟，具體為，基于測(cè)試順序表中的順序，選取對(duì)應(yīng)測(cè)試方案中的主設(shè)備和從設(shè)備。

31、第二方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種死鎖測(cè)試裝置，用于測(cè)試待測(cè)設(shè)計(jì)，其中，所述待測(cè)設(shè)計(jì)包括總線架構(gòu)，以及，連接在總線架構(gòu)中的多個(gè)主設(shè)備和從設(shè)備；所述裝置包括：

32、設(shè)備選取模塊，用于選取連接至總線架構(gòu)中2個(gè)主設(shè)備分別為第一主設(shè)備和第二主設(shè)備，選取連接在總線架構(gòu)中2個(gè)從設(shè)備分別為第一從設(shè)備和第二從設(shè)備；

33、測(cè)試模塊，用于自第一主設(shè)備向第一從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，且自第二主設(shè)備向第二從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，其中，所述第一類型測(cè)試事務(wù)包括待測(cè)試寫(xiě)命令和待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)，且所述第一類型測(cè)試事務(wù)中的待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)大于或等于第一預(yù)設(shè)長(zhǎng)度；以及，在發(fā)送所述第一類型測(cè)試事務(wù)的預(yù)設(shè)時(shí)間間隔內(nèi)，啟動(dòng)自第一主設(shè)備向第二從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，且啟動(dòng)自第二主設(shè)備向第一從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，其中，所述第二類型測(cè)試事務(wù)包括待測(cè)試寫(xiě)命令和待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)，且所述第二類型測(cè)試事務(wù)中的待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)小于或等于第二預(yù)設(shè)長(zhǎng)度；所述第二預(yù)設(shè)長(zhǎng)度小于所述第一預(yù)設(shè)長(zhǎng)度，所述預(yù)設(shè)時(shí)間間隔小于所述第一類型測(cè)試事務(wù)的待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)的傳輸時(shí)間；

34、死鎖確認(rèn)模塊，用于基于所述第一從設(shè)備和所述第二從設(shè)備接收的數(shù)據(jù)，確定是否產(chǎn)生死鎖。

35、可選的，所述死鎖測(cè)試裝置，還包括：

36、順序表構(gòu)建模塊，用于構(gòu)建測(cè)試順序表，所述測(cè)試順序表用于指示不同主設(shè)備和從設(shè)備構(gòu)成的測(cè)試方案的測(cè)試順序，其中，不同測(cè)試方案中，主設(shè)備或從設(shè)備中的至少一設(shè)備為不同；

37、所述設(shè)備選取模塊，用于選取連接至總線架構(gòu)中2個(gè)主設(shè)備分別為第一主設(shè)備和第二主設(shè)備，選取連接在總線架構(gòu)中2個(gè)從設(shè)備分別為第一從設(shè)備和第二從設(shè)備，具體為，基于測(cè)試順序表中的順序，選取對(duì)應(yīng)測(cè)試方案中的主設(shè)備和從設(shè)備。

38、第三方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，所述芯片驗(yàn)證系統(tǒng)被配置為執(zhí)行如上述第一方面所述的死鎖測(cè)試方法。

39、第四方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括至少一個(gè)存儲(chǔ)器和至少一個(gè)處理器；所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)一條或多條計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令，所述處理器調(diào)用所述一條或多條計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令，以執(zhí)行如上述第一方面所述的死鎖測(cè)試方法。

40、第五方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)一條或多條計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令，所述一條或多條計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令用于執(zhí)行如上述第一方面所述的死鎖測(cè)試方法。

41、第六方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括一條或多條計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令，所述一條或多條計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令被執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述第一方面所述的死鎖測(cè)試方法。

42、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種死鎖測(cè)試方法、裝置、系統(tǒng)及相關(guān)設(shè)備，所述方法用于測(cè)試待測(cè)設(shè)計(jì)，其中，所述待測(cè)設(shè)計(jì)包括總線架構(gòu)，以及，連接在總線架構(gòu)中的多個(gè)主設(shè)備和從設(shè)備；其中，所述方法包括：選取連接至總線架構(gòu)中2個(gè)主設(shè)備分別為第一主設(shè)備和第二主設(shè)備，選取連接在總線架構(gòu)中2個(gè)從設(shè)備分別為第一從設(shè)備和第二從設(shè)備；自第一主設(shè)備向第一從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，且自第二主設(shè)備向第二從設(shè)備發(fā)送第一類型測(cè)試事務(wù)，其中，所述第一類型測(cè)試事務(wù)包括待測(cè)試寫(xiě)命令和待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)，且所述第一類型測(cè)試事務(wù)中的待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)大于或等于第一預(yù)設(shè)長(zhǎng)度；在發(fā)送所述第一類型測(cè)試事務(wù)的預(yù)設(shè)時(shí)間間隔內(nèi)，啟動(dòng)自第一主設(shè)備向第二從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，且啟動(dòng)自第二主設(shè)備向第一從設(shè)備進(jìn)行第二類型測(cè)試事務(wù)的傳輸，其中，所述第二類型測(cè)試事務(wù)包括待測(cè)試寫(xiě)命令和待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)，且所述第二類型測(cè)試事務(wù)中的待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)小于或等于第二預(yù)設(shè)長(zhǎng)度；所述第二預(yù)設(shè)長(zhǎng)度小于所述第一預(yù)設(shè)長(zhǎng)度，所述預(yù)設(shè)時(shí)間間隔小于所述第一類型測(cè)試事務(wù)的待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)的傳輸時(shí)間；基于所述第一從設(shè)備和所述第二從設(shè)備接收的數(shù)據(jù)，確定是否產(chǎn)生死鎖。

43、可以看出，本發(fā)明實(shí)施例中的死鎖測(cè)試方法，利用總線架構(gòu)中的2個(gè)主設(shè)備和2個(gè)從設(shè)備間進(jìn)行數(shù)據(jù)通信，模擬可能產(chǎn)生死鎖的場(chǎng)景，同時(shí)，通過(guò)首先基于第一主設(shè)備至第一從設(shè)備的路徑和第二主設(shè)備至第二從設(shè)備的路徑分別發(fā)送待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)較大的第一類型測(cè)試事務(wù)，為在先數(shù)據(jù)傳輸提供較大的數(shù)據(jù)延遲以誘發(fā)死鎖，之后，在發(fā)送所述第一類型測(cè)試事務(wù)的預(yù)設(shè)時(shí)間間隔內(nèi)，自第一主設(shè)備至第二從設(shè)備的路徑和第二主設(shè)備至第一從設(shè)備的路徑分別發(fā)送待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)較小的第二類型測(cè)試事務(wù)，其中，所述預(yù)設(shè)時(shí)間間隔小于所述第一類型測(cè)試事務(wù)的待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)的傳輸時(shí)間，從而在較小的時(shí)間間隔內(nèi)發(fā)出待測(cè)試寫(xiě)數(shù)據(jù)較小的第二類型測(cè)試事務(wù)，模擬可能出現(xiàn)在后命令先于在先命令到達(dá)從設(shè)備的場(chǎng)景，從而確定待測(cè)設(shè)計(jì)是否會(huì)產(chǎn)生死鎖，進(jìn)而在芯片設(shè)計(jì)階段確定總線架構(gòu)是否存在導(dǎo)致死鎖的缺陷，為在芯片設(shè)計(jì)階段排除死鎖缺陷提供支持。