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一種主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法及裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)與流程

文檔序號(hào):40598902發(fā)布日期:2025-01-07 20:39閱讀:9來源:國(guó)知局
一種主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法及裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)與流程

本申請(qǐng)實(shí)施例涉及主板檢測(cè)技術(shù),尤其涉及一種主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法及裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)。


背景技術(shù):

1、筆記本電腦的主板作為整個(gè)設(shè)備的核心組件,承載著所有硬件之間的通信和數(shù)據(jù)傳輸。主板的電信號(hào)檢測(cè)在確保主板正常工作和預(yù)防潛在故障方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。在現(xiàn)在的筆記本電腦開發(fā)中,電信號(hào)監(jiān)測(cè)主要還是依靠人工使用示波器碳棒觸碰主板待測(cè)試觸點(diǎn)完成,人力成本較高。

2、現(xiàn)有的機(jī)器人自動(dòng)電信號(hào)檢測(cè)方法,主要依靠2d或3d相機(jī)的視覺及手眼標(biāo)定來確定檢測(cè)位置,普遍存較大誤差:2d拍照存在畸變、相機(jī)內(nèi)參標(biāo)定存在誤差、手眼標(biāo)定存在誤差,導(dǎo)致誤差累積后達(dá)到1mm以上;3d設(shè)計(jì)數(shù)模實(shí)物存在誤差,導(dǎo)致配準(zhǔn)誤差,且3d相機(jī)成像本身存在畸變等變形會(huì)引入誤差,最終累積誤差超過2mm以上。現(xiàn)有的機(jī)器人自動(dòng)電信號(hào)檢測(cè)方法無法準(zhǔn)確定位較小的待測(cè)觸點(diǎn)。

3、因此,在使用機(jī)器人自動(dòng)執(zhí)行電信號(hào)檢測(cè)時(shí),如何準(zhǔn)確定位到小至0.5mm的觸點(diǎn)位置,這是目前的主要技術(shù)難點(diǎn)。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種及裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì),至少能解決前述的技術(shù)問題。

2、根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的第一方面,提供一種方法,主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法,包括:

3、提取待測(cè)試觸點(diǎn)及位置識(shí)別點(diǎn)在主板設(shè)計(jì)圖上的設(shè)計(jì)坐標(biāo);

4、以位置識(shí)別點(diǎn)為基準(zhǔn),構(gòu)建位置識(shí)別點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)與位置識(shí)別點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)的映射關(guān)系矩陣;

5、根據(jù)需要測(cè)試的項(xiàng)目,確定當(dāng)前要進(jìn)行測(cè)試的待測(cè)試觸點(diǎn),并獲取所述待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo);

6、根據(jù)映射關(guān)系矩陣以及待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo),確定待測(cè)試觸點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)。

7、在一些示例性的實(shí)施例中,所述以位置識(shí)別點(diǎn)為基準(zhǔn),構(gòu)建位置識(shí)別點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)與位置識(shí)別點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)的映射關(guān)系矩陣包括:

8、固定待測(cè)試主板,通過機(jī)械臂對(duì)待測(cè)試主板進(jìn)行示教,獲取位置識(shí)別點(diǎn)集的世界坐標(biāo);

9、根據(jù)位置識(shí)別點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)和示教獲取的位置識(shí)別點(diǎn)集的世界坐標(biāo),構(gòu)建坐標(biāo)映射關(guān)系矩陣。

10、在一些示例性的實(shí)施例中,所述根據(jù)位置識(shí)別點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)和示教獲取的位置識(shí)別點(diǎn)集的世界坐標(biāo),構(gòu)建坐標(biāo)映射關(guān)系矩陣包括:

11、根據(jù)位置識(shí)別點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)和示教獲取的位置識(shí)別點(diǎn)集世界坐標(biāo),構(gòu)建坐標(biāo)映射關(guān)系矩陣方程;

12、對(duì)所述標(biāo)映射關(guān)系矩陣方程構(gòu)建均方誤差表達(dá)式;

13、通過均方誤差表達(dá)式,確定所述坐標(biāo)映射關(guān)系矩陣參數(shù);

14、帶入位置識(shí)別點(diǎn)集的設(shè)計(jì)坐標(biāo)及世界坐標(biāo),獲得坐標(biāo)映射關(guān)系矩陣。

15、在一些示例性的實(shí)施例中,所述通過均方誤差表達(dá)式,確定坐標(biāo)映射關(guān)系矩陣參數(shù)包括:將滿足均方誤差表達(dá)式達(dá)到最小值條件的參數(shù),確定為坐標(biāo)映射關(guān)系矩陣參數(shù)。

16、在一些示例性的實(shí)施例中,所述方法還包括:將所述待測(cè)試觸點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)發(fā)送給機(jī)械臂,對(duì)所述待測(cè)試觸點(diǎn)進(jìn)行電信號(hào)測(cè)試。

17、在一些示例性的實(shí)施例中,所述方法還包括:建立待測(cè)試觸點(diǎn)設(shè)計(jì)坐標(biāo)數(shù)據(jù)庫(kù)。

18、在一些示例性的實(shí)施例中,所述獲取所述待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)包括:查詢所述待測(cè)試觸點(diǎn)設(shè)計(jì)坐標(biāo)數(shù)據(jù)庫(kù),獲取所述待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)。

19、根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的第二方面,提供一種主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定裝置,包括:

20、信息提取模塊,用于提取待測(cè)試觸點(diǎn)及位置識(shí)別點(diǎn)在主板設(shè)計(jì)圖上的設(shè)計(jì)坐標(biāo);

21、矩陣構(gòu)建模塊,用于以位置識(shí)別點(diǎn)為基準(zhǔn),構(gòu)建位置識(shí)別點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)與位置識(shí)別點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)的映射關(guān)系矩陣;

22、第一確定模塊,用于根據(jù)需要測(cè)試的項(xiàng)目,確定當(dāng)前要進(jìn)行測(cè)試的待測(cè)試觸點(diǎn),并獲取所述待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo);

23、第二確定模塊,用于根據(jù)映射關(guān)系矩陣以及待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo),確定待測(cè)試觸點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)。

24、根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的第三方面,提供一種電子設(shè)備,包括處理器和用于存儲(chǔ)處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器,其特征在于,所述處理器被配置為在調(diào)用存儲(chǔ)器中的可執(zhí)行指令時(shí),能夠執(zhí)行上述的方法的步驟。

25、根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的第三方面,提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)內(nèi)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述方法的步驟。

26、本申請(qǐng)所述的主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法及裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì),首先獲得筆記本電腦主板設(shè)計(jì)文件,并從設(shè)計(jì)文件中提取待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo),然后以位置識(shí)別點(diǎn)為基準(zhǔn),構(gòu)建從設(shè)計(jì)坐標(biāo)到待測(cè)試實(shí)物主板坐標(biāo)的映射關(guān)系矩陣方程,進(jìn)而通過構(gòu)建mse誤差表達(dá)式,并優(yōu)化其至最小,求解出映射關(guān)系矩陣的各個(gè)參數(shù)。得到映射關(guān)系矩陣后,在自動(dòng)化測(cè)試電信號(hào)時(shí),根據(jù)需要測(cè)試的香蜜,查詢建立的數(shù)據(jù)庫(kù)獲取測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo),然后根據(jù)映射關(guān)系矩陣計(jì)算實(shí)物主板待測(cè)試觸點(diǎn)的世界坐標(biāo),最后將發(fā)送待測(cè)試觸點(diǎn)的世界坐標(biāo)到機(jī)械臂,進(jìn)行測(cè)試。本申請(qǐng)能夠待將測(cè)觸點(diǎn)定位精確到0.5mm以內(nèi),解決了自動(dòng)進(jìn)行電信號(hào)檢測(cè)時(shí)的待測(cè)觸點(diǎn)定位精度問題,實(shí)現(xiàn)了筆記本電腦主板電信號(hào)測(cè)試的自動(dòng)化執(zhí)行。



技術(shù)特征:

1.一種主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法,其特征在于,所述以位置識(shí)別點(diǎn)為基準(zhǔn),構(gòu)建位置識(shí)別點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)與位置識(shí)別點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)的映射關(guān)系矩陣包括:

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法,其特征在于,所述根據(jù)位置識(shí)別點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)和示教獲取的位置識(shí)別點(diǎn)集的世界坐標(biāo),構(gòu)建坐標(biāo)映射關(guān)系矩陣包括:

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法,其特征在于,所述通過均方誤差表達(dá)式,確定坐標(biāo)映射關(guān)系矩陣參數(shù)包括:將滿足均方誤差表達(dá)式達(dá)到最小值條件的參數(shù),確定為坐標(biāo)映射關(guān)系矩陣參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法,其特征在于,所述方法還包括:將所述待測(cè)試觸點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)發(fā)送給機(jī)械臂,對(duì)所述待測(cè)試觸點(diǎn)進(jìn)行電信號(hào)測(cè)試。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法,其特征在于,所述方法還包括:建立待測(cè)試觸點(diǎn)設(shè)計(jì)坐標(biāo)數(shù)據(jù)庫(kù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法,其特征在于,所述獲取所述待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)包括:查詢所述待測(cè)試觸點(diǎn)設(shè)計(jì)坐標(biāo)數(shù)據(jù)庫(kù),獲取所述待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)。

8.一種主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定裝置,其特征在于,所述裝置包括:

9.一種電子設(shè)備,包括處理器和用于存儲(chǔ)處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器,其特征在于,所述處理器被配置為在調(diào)用存儲(chǔ)器中的可執(zhí)行指令時(shí),能夠執(zhí)行如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)內(nèi)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述方法的步驟。


技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)公開了一種主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法及裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì),所述方法包括:提取待測(cè)試觸點(diǎn)及位置識(shí)別點(diǎn)在主板設(shè)計(jì)圖上的設(shè)計(jì)坐標(biāo);以位置識(shí)別點(diǎn)為基準(zhǔn),構(gòu)建位置識(shí)別點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)與位置識(shí)別點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)的映射關(guān)系矩陣;根據(jù)需要測(cè)試的項(xiàng)目,確定當(dāng)前要進(jìn)行測(cè)試的待測(cè)試觸點(diǎn),并獲取所述待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo);根據(jù)映射關(guān)系矩陣以及待測(cè)試觸點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo),確定待測(cè)試觸點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)。本申請(qǐng)所述的主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法提高了待測(cè)觸點(diǎn)的定位精度,實(shí)現(xiàn)了筆記本電腦主板電信號(hào)測(cè)試的自動(dòng)化執(zhí)行。

技術(shù)研發(fā)人員:吳海濤,汪二虎,張偉,李飛,趙正寧,張程,吳際
受保護(hù)的技術(shù)使用者:合肥聯(lián)寶信息技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/1/6
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