1.基于兩階段對(duì)比學(xué)習(xí)的工業(yè)零部件缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括下述步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于兩階段對(duì)比學(xué)習(xí)的工業(yè)零部件缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述采集工業(yè)零部件的圖像數(shù)據(jù)集，具體為：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于兩階段對(duì)比學(xué)習(xí)的工業(yè)零部件缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述將訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中的正常樣本圖像進(jìn)行異常數(shù)據(jù)生成，得到多樣性的合成異常樣本，具體為：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于兩階段對(duì)比學(xué)習(xí)的工業(yè)零部件缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述通過(guò)第一階段訓(xùn)練，得到一個(gè)具有粗粒度異常定位能力的判別網(wǎng)絡(luò)，具體為：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于兩階段對(duì)比學(xué)習(xí)的工業(yè)零部件缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述將第一階段訓(xùn)練后的數(shù)據(jù)進(jìn)行第二階段的訓(xùn)練，使用對(duì)比學(xué)習(xí)框架來(lái)完成特征提取網(wǎng)絡(luò)的適應(yīng)性微調(diào)，學(xué)習(xí)正常樣本之間的相似性以及正常樣本與合成異常樣本之間的差異性，具體為：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述基于兩階段對(duì)比學(xué)習(xí)的工業(yè)零部件缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)正常樣本進(jìn)行數(shù)據(jù)增強(qiáng)，得到兩個(gè)增強(qiáng)視圖v1和v2，具體為：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于兩階段對(duì)比學(xué)習(xí)的工業(yè)零部件缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述構(gòu)建一個(gè)只含有正常特征的壓縮特征內(nèi)存庫(kù)，具體為：
8.基于兩階段對(duì)比學(xué)習(xí)的工業(yè)零部件缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，應(yīng)用于權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的基于兩階段對(duì)比學(xué)習(xí)的工業(yè)零部件缺陷檢測(cè)方法，包括圖像采集模塊、圖像異常生成模塊、判別網(wǎng)絡(luò)預(yù)訓(xùn)練模塊、負(fù)向引導(dǎo)對(duì)比學(xué)習(xí)模塊、壓縮特征內(nèi)存庫(kù)構(gòu)建模塊；
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，存儲(chǔ)有程序，其特征在于，所述程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的基于兩階段對(duì)比學(xué)習(xí)的工業(yè)零部件缺陷檢測(cè)方法。