本發(fā)明涉及圖像處理,尤其涉及基于圖像識(shí)別的金屬帶材缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù):
1、隨著工業(yè)和智能制造的推進(jìn),企業(yè)對(duì)生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量的要求日益提高,金屬帶材在建筑、汽車、電子等多個(gè)行業(yè)廣泛應(yīng)用,產(chǎn)品質(zhì)量直接影響到下游行業(yè)的安全性和性能。檢測(cè)缺陷成為提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵。在金屬帶材的切割、沖壓或成形過(guò)程中,如果刀具磨損或未對(duì)準(zhǔn),可能會(huì)在表面留下凹坑;凹坑缺陷會(huì)直接影響金屬帶材的外觀和結(jié)構(gòu)完整性,降低產(chǎn)品的整體質(zhì)量,而對(duì)于凹坑缺陷,傳統(tǒng)的人工檢測(cè)方式已難以滿足快速、高效的生產(chǎn)需求,因此自動(dòng)化的檢測(cè)系統(tǒng)能夠大幅度提高檢測(cè)速度,降低生產(chǎn)線上的人工成本,提升整體生產(chǎn)效率。
2、馮鳴、劉祎等,改進(jìn)反銳化掩模的自適應(yīng)圖像增強(qiáng)算法,測(cè)試技術(shù)學(xué)報(bào),2020年第34卷第1期,在該論文中提出了一種改進(jìn)反銳化掩模技術(shù)的自適應(yīng)圖像增強(qiáng)算法,該算法通過(guò)使用正弦函數(shù)來(lái)自適應(yīng)地控制鄰域內(nèi)不同像素的權(quán)重,使圖像平坦區(qū)域和邊緣部分進(jìn)行不同程度的增強(qiáng)。
3、由于污垢區(qū)域與金屬帶材上的凹坑缺陷在金屬帶材表面圖像中可能會(huì)呈現(xiàn)出相似的灰度值表現(xiàn),因此使用反銳化掩模算法增強(qiáng)圖像時(shí),對(duì)金屬帶材表面圖像中的每個(gè)像素點(diǎn)使用同樣大小的高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差,可能會(huì)導(dǎo)致污垢區(qū)域被增強(qiáng),進(jìn)而導(dǎo)致在后續(xù)的缺陷檢測(cè)過(guò)程中將污垢區(qū)域錯(cuò)誤地檢測(cè)為凹坑缺陷,同時(shí)也可能會(huì)將潛在的凹坑缺陷區(qū)域過(guò)度模糊,使其細(xì)節(jié)信息丟失,這樣也會(huì)影響最終對(duì)于潛在凹坑缺陷區(qū)域的準(zhǔn)確檢測(cè)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、為了解決噪聲的存在導(dǎo)致使用dbscan算法對(duì)溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行異常檢測(cè)時(shí)的準(zhǔn)確性降低,可能會(huì)將溫度數(shù)據(jù)中的異常數(shù)據(jù)識(shí)別為正常數(shù)據(jù)的技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供基于圖像識(shí)別的金屬帶材缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
2、第一方面,本發(fā)明提供基于圖像識(shí)別的金屬帶材缺陷檢測(cè)方法,采用如下的技術(shù)方案:
3、基于圖像識(shí)別的金屬帶材缺陷檢測(cè)方法,包括步驟:
4、采集金屬帶材表面圖像;獲取金屬帶材表面圖像中每個(gè)像素點(diǎn)的重要程度;基于所述重要程度,獲取重要像素點(diǎn);獲取每個(gè)重要像素點(diǎn)的凹坑可能性:
5、;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的凹坑可能性;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的初級(jí)凹坑可能性;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域的中心像素點(diǎn)的第m個(gè)鄰域方向的灰度變化因子;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域的中心像素點(diǎn)的所有鄰域方向的灰度變化因子均值;exp()代表以自然常數(shù)為底數(shù)的指數(shù)函數(shù);norm()代表歸一化函數(shù);
6、獲取每個(gè)重要像素點(diǎn)的高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差;代表預(yù)設(shè)高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差;
7、基于所述高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差對(duì)金屬帶材表面圖像進(jìn)行增強(qiáng),得到增強(qiáng)圖像,對(duì)增強(qiáng)圖像進(jìn)行邊緣檢測(cè)識(shí)別凹坑缺陷區(qū)域。
8、本發(fā)明的創(chuàng)新性在于對(duì)每個(gè)像素點(diǎn)的灰度表現(xiàn)以及其鄰近像素的灰度值進(jìn)行深入分析,以評(píng)估每個(gè)像素點(diǎn)的凹坑可能性,可以顯著提升圖像處理的針對(duì)性和效果,進(jìn)而根據(jù)每個(gè)像素點(diǎn)的凹坑可能性自適應(yīng)獲取每個(gè)像素點(diǎn)的高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差,使得對(duì)污垢區(qū)域像素點(diǎn)的高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差較大,盡可能將污垢區(qū)域平滑點(diǎn),對(duì)凹坑缺陷區(qū)域的高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差較小,保留其細(xì)節(jié),減少因相似灰度特征而導(dǎo)致的誤檢,從而實(shí)現(xiàn)更為精確的圖像增強(qiáng)。
9、優(yōu)選的,所述獲取金屬帶材表面圖像中每個(gè)像素點(diǎn)的重要程度,包括:
10、;
11、式中,代表第n個(gè)像素點(diǎn)的重要程度;代表金屬帶材表面圖像中所有像素點(diǎn)的灰度均值;代表第n個(gè)像素點(diǎn)的灰度值;代表超參數(shù);代表第n個(gè)像素點(diǎn)的第k個(gè)鄰域像素點(diǎn)的灰度值;代表第n個(gè)像素點(diǎn)的鄰域像素點(diǎn)的個(gè)數(shù),norm()代表歸一化函數(shù)。
12、重要程度較大的像素點(diǎn)可能為凹坑缺陷區(qū)域以及污垢區(qū)域,便于后續(xù)對(duì)其進(jìn)行分析。
13、優(yōu)選的,所述獲取重要像素點(diǎn),包括:
14、預(yù)設(shè)重要程度閾值t1,若任意像素點(diǎn)的重要程度大于或等于重要程度閾值t1,將該像素點(diǎn)記為重要像素點(diǎn),獲取金屬帶材表面圖像中的所有重要像素點(diǎn)。
15、便于后續(xù)對(duì)重要像素點(diǎn)進(jìn)行分析,區(qū)分凹坑缺陷像素點(diǎn)以及污垢區(qū)域像素點(diǎn)。
16、優(yōu)選的,所述重要像素點(diǎn)的初級(jí)凹坑可能性的獲取包括:
17、獲取每個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域;
18、;
19、式中,代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的初級(jí)凹坑可能性;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域的中心像素點(diǎn)的灰度值;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域中的灰度值最小值;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域的中心像素點(diǎn)的重要程度;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的重要程度;exp()代表以自然常數(shù)為底數(shù)的指數(shù)函數(shù)。
20、便于后續(xù)根據(jù)每個(gè)重要像素點(diǎn)的初級(jí)凹坑可能性,獲取每個(gè)重要像素點(diǎn)的凹坑可能性。
21、優(yōu)選的,所述獲取每個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域,包括:
22、基于每個(gè)重要像素點(diǎn)的重要程度對(duì)每個(gè)重要像素點(diǎn)進(jìn)行區(qū)域生長(zhǎng),得到每個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域。
23、優(yōu)選的,所述灰度變化因子的獲取包括:
24、獲取每個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域的中心像素點(diǎn)的每個(gè)鄰域方向序列;
25、;
26、式中,代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域的中心像素點(diǎn)的第m個(gè)鄰域方向的灰度變化因子;norm()代表歸一化函數(shù);代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域的中心像素點(diǎn)的第m個(gè)鄰域方向序列中的最后一個(gè)像素點(diǎn)的灰度值;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域的中心像素點(diǎn)的灰度值;代表第r個(gè)重要像素點(diǎn)的臨近區(qū)域的中心像素點(diǎn)的第m個(gè)鄰域方向序列中相鄰像素點(diǎn)之間的灰度差值為正數(shù)的個(gè)數(shù)。
27、優(yōu)選的,所述基于所述高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差對(duì)金屬帶材表面圖像進(jìn)行增強(qiáng),得到增強(qiáng)圖像,包括:
28、根據(jù)每個(gè)重要像素點(diǎn)的高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差,使用反銳化掩模算法對(duì)每個(gè)重要像素點(diǎn)進(jìn)行模糊處理,得到模糊圖像,根據(jù)金屬帶材表面圖像減去模糊圖像,得到細(xì)節(jié)圖像,將細(xì)節(jié)圖像與金屬帶材表面圖像相加得到增強(qiáng)圖像。
29、對(duì)污垢區(qū)域進(jìn)行了大幅度的模糊,對(duì)凹坑缺陷區(qū)域細(xì)節(jié)進(jìn)行了保留,得到的增強(qiáng)圖像更加準(zhǔn)確。
30、第二方面,本發(fā)明提供基于圖像識(shí)別的金屬帶材缺陷檢測(cè)系統(tǒng),采用如下的技術(shù)方案:
31、基于圖像識(shí)別的金屬帶材缺陷檢測(cè)系統(tǒng),包括:處理器和存儲(chǔ)器,所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序指令,當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序指令被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述基于圖像識(shí)別的金屬帶材缺陷檢測(cè)方法。
32、通過(guò)采用上述技術(shù)方案,將上述的基于圖像識(shí)別的金屬帶材缺陷檢測(cè)方法生成計(jì)算機(jī)程序,并存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器中,以被處理器加載并執(zhí)行,從而根據(jù)存儲(chǔ)器及處理器制作終端設(shè)備,方便使用。
33、本發(fā)明具有以下技術(shù)效果:本發(fā)明的目的在于對(duì)每個(gè)像素點(diǎn)的灰度表現(xiàn)以及其鄰近像素的灰度值進(jìn)行分析,來(lái)評(píng)估每個(gè)像素點(diǎn)的凹坑可能性,顯著提升了圖像處理的針對(duì)性和效果,進(jìn)而根據(jù)每個(gè)像素點(diǎn)的凹坑可能性自適應(yīng)獲取每個(gè)像素點(diǎn)的高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差,使得對(duì)污垢區(qū)域像素點(diǎn)的高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差較大,盡可能將污垢區(qū)域平滑點(diǎn),對(duì)凹坑缺陷區(qū)域的高斯模糊標(biāo)準(zhǔn)差較小,保留其細(xì)節(jié),減少因相似灰度特征而導(dǎo)致的誤檢,從而實(shí)現(xiàn)更為精確的圖像增強(qiáng)。