本申請涉及計(jì)算機(jī),尤其涉及一種負(fù)載異常處理方法、電子設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,可應(yīng)用于負(fù)載管理。
背景技術(shù):
1、隨著互聯(lián)網(wǎng)的快速發(fā)展,越來越多的服務(wù)場景需要高性能的系統(tǒng)支持。系統(tǒng)負(fù)載是衡量系統(tǒng)性能的重要指標(biāo)之一,當(dāng)系統(tǒng)負(fù)載偏高時(shí),容易出現(xiàn)服務(wù)響應(yīng)時(shí)間長、服務(wù)不穩(wěn)定等現(xiàn)象。因此,為了保障服務(wù)的有效進(jìn)行,往往會對系統(tǒng)負(fù)載進(jìn)行檢測。然而,相關(guān)技術(shù)中在檢測到系統(tǒng)負(fù)載偏高時(shí),往往是通過重新部署現(xiàn)場等事后重現(xiàn)的方式,并結(jié)合人工分析,來定位導(dǎo)致負(fù)載偏高的根源,定位時(shí)長長、效率低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請實(shí)施例提供一種負(fù)載異常處理方法、電子設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,以緩解或解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的一項(xiàng)或多項(xiàng)技術(shù)問題。
2、第一方面,本申請實(shí)施例提供了一種負(fù)載異常處理方法,包括:獲取待測設(shè)備在負(fù)載檢測周期內(nèi)的負(fù)載信息,其中,所述待測設(shè)備中運(yùn)行有至少一個進(jìn)程;若所述負(fù)載信息表征所述待測設(shè)備的負(fù)載處于異常狀態(tài),則根據(jù)所述待測設(shè)備的至少一個進(jìn)程信息,確定所述至少一個進(jìn)程中導(dǎo)致所述異常狀態(tài)的目標(biāo)進(jìn)程,其中,所述至少一個進(jìn)程信息是在所述負(fù)載檢測周期內(nèi)采集的,所述進(jìn)程信息包括所述至少一個進(jìn)程的性能數(shù)據(jù)。
3、第二方面,本申請實(shí)施例提供了一種負(fù)載異常處理方法,包括:獲取操作系統(tǒng)在負(fù)載檢測周期內(nèi)的負(fù)載信息,其中,所述操作系統(tǒng)中運(yùn)行有至少一個進(jìn)程;若所述負(fù)載信息表征所述操作系統(tǒng)的負(fù)載處于異常狀態(tài),則根據(jù)所述操作系統(tǒng)的至少一個進(jìn)程信息,確定所述至少一個進(jìn)程中導(dǎo)致所述異常狀態(tài)的目標(biāo)進(jìn)程,其中,所述至少一個進(jìn)程信息是在所述負(fù)載檢測周期內(nèi)采集的,所述進(jìn)程信息包括所述至少一個進(jìn)程的性能數(shù)據(jù)。
4、第三方面,本申請實(shí)施例提供了一種電子設(shè)備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上的計(jì)算機(jī)程序,處理器在執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)本申請實(shí)施例任一項(xiàng)的方法。
5、第四方面,本申請實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì),計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)內(nèi)存儲有計(jì)算機(jī)程序,計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本申請實(shí)施例任一項(xiàng)的方法。
6、第五方面,本申請實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,包括計(jì)算機(jī)程序,計(jì)算機(jī)程序在被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本申請實(shí)施例任一項(xiàng)的方法。
7、根據(jù)本申請實(shí)施例的技術(shù)方案,通過在負(fù)載檢測周期內(nèi)采集待測設(shè)備的多個進(jìn)程信息,并在待測設(shè)備的負(fù)載處于異常狀態(tài)時(shí),根據(jù)負(fù)載檢測周期內(nèi)采集的多個進(jìn)程信息確定導(dǎo)致負(fù)載異常的目標(biāo)進(jìn)程。不僅實(shí)現(xiàn)了負(fù)載異常根源的自動化定位,而且由于在負(fù)載檢測周期內(nèi)采集了待測設(shè)備的多個進(jìn)程信息,而無需事后重現(xiàn),因此縮短了負(fù)載異常根源的定位時(shí)長,提升了負(fù)載異常根源的定位效率。
8、上述說明僅是本申請技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本申請的技術(shù)手段,可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施,并且為了讓本申請的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂,以下特舉本申請的具體實(shí)施方式。
1.一種負(fù)載異常處理方法,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,所述進(jìn)程信息包括進(jìn)程間的調(diào)用關(guān)系及所述至少一個進(jìn)程在多個維度的性能數(shù)據(jù),所述根據(jù)所述待測設(shè)備的至少一個進(jìn)程信息,確定所述至少一個進(jìn)程中導(dǎo)致所述異常狀態(tài)的目標(biāo)進(jìn)程,包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,所述進(jìn)程信息還包括所述進(jìn)程信息的采集時(shí)間,所述根據(jù)多個所述進(jìn)程信息中的性能數(shù)據(jù),確定導(dǎo)致所述異常狀態(tài)的目標(biāo)維度,包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的方法,所述根據(jù)所述目標(biāo)維度的性能數(shù)據(jù)及多個所述進(jìn)程信息中的調(diào)用關(guān)系,確定所述目標(biāo)進(jìn)程,包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的方法,所述方法還包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,所述采集所述待測設(shè)備中當(dāng)前運(yùn)行的各進(jìn)程的子進(jìn)程信息,包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,所述多個維度選自于以下維度:
8.一種負(fù)載異常處理方法,包括:
9.一種電子設(shè)備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上的計(jì)算機(jī)程序,所述處理器在執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的方法。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)內(nèi)存儲有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的方法。
11.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,包括計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序在被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的方法。