本發(fā)明涉及一種基于多尺度特征的金氧半場(chǎng)效晶體管壽命預(yù)測(cè)方法，屬于半導(dǎo)體。

背景技術(shù)：

1、隨著電子設(shè)備的快速發(fā)展，對(duì)半導(dǎo)體器件的可靠性要求越來(lái)越高。金氧半場(chǎng)效晶體管作為半導(dǎo)體器件的核心組件，其壽命預(yù)測(cè)對(duì)于保證電子設(shè)備穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要。與之相對(duì)應(yīng)的是，如何準(zhǔn)確的對(duì)金氧半場(chǎng)效晶體管進(jìn)行壽命預(yù)測(cè)，成為了亟待解決的問(wèn)題。

2、目前，通常采用單一尺度實(shí)現(xiàn)對(duì)金氧半場(chǎng)效晶體管的壽命預(yù)測(cè)。

3、雖然上述方法能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)金氧半場(chǎng)效晶體管的壽命預(yù)測(cè)，但是，在進(jìn)行壽命預(yù)測(cè)時(shí)，未考慮結(jié)合金氧半場(chǎng)效晶體管的多尺度特征，造成對(duì)金氧半場(chǎng)效晶體管進(jìn)行壽命預(yù)測(cè)時(shí)，存在準(zhǔn)確性較差的問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供一種基于多尺度特征的金氧半場(chǎng)效晶體管壽命預(yù)測(cè)方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其主要目的在于提高對(duì)金氧半場(chǎng)效晶體管進(jìn)行壽命預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確性。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的一種基于多尺度特征的金氧半場(chǎng)效晶體管壽命預(yù)測(cè)方法，包括：

3、接收預(yù)測(cè)指令，基于所述預(yù)測(cè)指令確認(rèn)出預(yù)測(cè)環(huán)境，其中，預(yù)測(cè)環(huán)境包括目標(biāo)場(chǎng)效應(yīng)晶體管及壽命預(yù)測(cè)系統(tǒng)，其中，壽命預(yù)測(cè)系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)采集單元、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化單元、數(shù)據(jù)分析單元及結(jié)果反饋單元；

4、利用所述壽命預(yù)測(cè)系統(tǒng)確認(rèn)出壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)；

5、基于所述目標(biāo)場(chǎng)效應(yīng)晶體管解析出預(yù)測(cè)參數(shù)，其中，預(yù)測(cè)參數(shù)包括：目標(biāo)工作電壓組、目標(biāo)工作溫度、目標(biāo)封裝標(biāo)準(zhǔn)、檢索溫度均值及目標(biāo)結(jié)溫，利用所述預(yù)測(cè)參數(shù)，在壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行檢索，得到目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命；

6、利用結(jié)果反饋單元將所述目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命發(fā)送至預(yù)測(cè)指令的發(fā)起端，實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)場(chǎng)效應(yīng)晶體管的壽命預(yù)測(cè)。

7、可選地，所述利用所述壽命預(yù)測(cè)系統(tǒng)確認(rèn)出壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)，包括：

8、確認(rèn)接收來(lái)自數(shù)據(jù)采集單元的數(shù)據(jù)采集指令，基于所述數(shù)據(jù)采集指令獲取測(cè)試樣本集，其中，測(cè)試樣本集中包括多個(gè)測(cè)試樣本，基于所述測(cè)試樣本集獲取測(cè)試樣本參數(shù)，其中，測(cè)試樣本參數(shù)包括參考封裝標(biāo)準(zhǔn)及參考尺寸結(jié)構(gòu)；

9、根據(jù)所述參考封裝標(biāo)準(zhǔn)及參考尺寸結(jié)構(gòu)，分別匯總所述測(cè)試樣本，得到一個(gè)或多個(gè)初始測(cè)試樣本集；

10、對(duì)一個(gè)或多個(gè)初始測(cè)試樣本集中每一個(gè)初始測(cè)試樣本集均執(zhí)行如下操作：

11、利用預(yù)構(gòu)建的分組閾值，在初始測(cè)試樣本集中提取出多個(gè)測(cè)試樣本集，其中，測(cè)試樣本集中測(cè)試樣本的數(shù)量與所述分組閾值相同；

12、基于所述多個(gè)測(cè)試樣本集獲取所述壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)。

13、可選地，所述基于所述多個(gè)測(cè)試樣本集獲取所述壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)，包括：

14、獲取金氧半場(chǎng)效晶體管的一個(gè)或多個(gè)工作電壓范圍及工作溫度范圍，利用預(yù)設(shè)的第一溫度劃分?jǐn)?shù)值，在工作溫度范圍中提取出多個(gè)第一工作溫度，分別在所述一個(gè)或多個(gè)工作電壓范圍中提取出一個(gè)或多個(gè)第一工作電壓集，其中，第一工作電壓集與所述工作電壓范圍一一對(duì)應(yīng)，且第一工作電壓集中包括多個(gè)第一工作電壓；

15、以組合的形式，利用一個(gè)或多個(gè)第一工作電壓集獲取多個(gè)工作電壓組，且工作電壓組中包括一個(gè)或多個(gè)第一工作電壓，且一個(gè)或多個(gè)第一工作電壓所對(duì)應(yīng)的數(shù)量與一個(gè)或多個(gè)第一工作電壓集所對(duì)應(yīng)的數(shù)量相同；

16、以組合的形式，將多個(gè)工作電壓組中的工作電壓組、多個(gè)第一工作溫度中的第一工作溫度與多個(gè)測(cè)試樣本集中的測(cè)試樣本集進(jìn)行關(guān)聯(lián)，得到多個(gè)初始測(cè)試組，其中，初始測(cè)試組中包括一個(gè)工作電壓組、一個(gè)第一工作溫度及測(cè)試樣本集；

17、對(duì)多個(gè)初始測(cè)試組中每一個(gè)初始測(cè)試組均執(zhí)行如下操作：

18、識(shí)別所述初始測(cè)試組的工作模式，得到識(shí)別工作模式，其中，識(shí)別工作模式為正向工作模式、反向工作模式或體二極管模式；

19、利用所述識(shí)別工作模式對(duì)初始測(cè)試組執(zhí)行標(biāo)識(shí)操作，得到匹配測(cè)試組，匯總所述匹配測(cè)試組，得到多個(gè)匹配測(cè)試組；

20、基于所述多個(gè)匹配測(cè)試組獲取壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)。

21、可選地，所述基于所述多個(gè)匹配測(cè)試組獲取壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)，包括：

22、從所述多個(gè)匹配測(cè)試組中依次提取匹配測(cè)試組，并對(duì)所提取的匹配測(cè)試組執(zhí)行如下操作：

23、對(duì)匹配測(cè)試組所對(duì)應(yīng)測(cè)試樣本集中每一個(gè)測(cè)試樣本均執(zhí)行如下操作：

24、設(shè)定測(cè)試樣本所處環(huán)境的溫度為匹配測(cè)試組所對(duì)應(yīng)的第一工作溫度，以匹配測(cè)試組所對(duì)應(yīng)的工作電壓組，啟動(dòng)所述測(cè)試樣本，基于啟動(dòng)后的測(cè)試樣本獲取導(dǎo)通電阻時(shí)序，其中，導(dǎo)通電阻時(shí)序中包括多個(gè)導(dǎo)通電阻；

25、匯總所述導(dǎo)通電阻時(shí)序，得到導(dǎo)通電阻時(shí)序集，利用所述導(dǎo)通電阻時(shí)序集獲取導(dǎo)通電阻組時(shí)序，其中，導(dǎo)通電阻組時(shí)序中包括多個(gè)導(dǎo)通電阻時(shí)序組，且導(dǎo)通電阻時(shí)序組中包括多個(gè)導(dǎo)通電阻，且導(dǎo)通電阻時(shí)序組中多個(gè)導(dǎo)通電阻所對(duì)應(yīng)的數(shù)量為所述分組閾值；

26、從所述導(dǎo)通電阻組時(shí)序中提取出第一個(gè)導(dǎo)通電阻時(shí)序組，得到分析電阻時(shí)序組，利用分析電阻時(shí)序組所對(duì)應(yīng)的多個(gè)導(dǎo)通電阻獲取導(dǎo)通電阻方差，其中，導(dǎo)通電阻方差為多個(gè)導(dǎo)通電阻的方差；

27、比較所述導(dǎo)通電阻方差與預(yù)設(shè)的導(dǎo)通方差閾值；

28、若導(dǎo)通電阻方差大于等于所述導(dǎo)通方差閾值，則利用匹配測(cè)試組所對(duì)應(yīng)的工作電壓組及第一工作溫度獲取更新測(cè)試組，并以所述更新測(cè)試組為所述匹配測(cè)試組，返回所述對(duì)匹配測(cè)試組所對(duì)應(yīng)測(cè)試樣本集中每一個(gè)測(cè)試樣本均執(zhí)行如下操作的步驟；

29、若導(dǎo)通電阻方差小于所述導(dǎo)通方差閾值，則利用所述導(dǎo)通電阻組時(shí)序獲取導(dǎo)通電阻均值時(shí)序，其中，導(dǎo)通電阻均值時(shí)序包括多個(gè)導(dǎo)通電阻均值，導(dǎo)通電阻均值與導(dǎo)通電阻時(shí)序組一一對(duì)應(yīng)，且導(dǎo)通電阻均值為導(dǎo)通電阻時(shí)序組所對(duì)應(yīng)多個(gè)導(dǎo)通電阻的均值；

30、基于所述導(dǎo)通電阻均值時(shí)序獲取壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)。

31、可選地，所述基于所述導(dǎo)通電阻均值時(shí)序獲取壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)，包括：

32、在導(dǎo)通電阻均值時(shí)序中依次提取第一導(dǎo)通電阻均值，并對(duì)所提取的第一導(dǎo)通電阻均值均執(zhí)行如下操作：

33、基于所提取的第一導(dǎo)通電阻均值，在導(dǎo)通電阻均值時(shí)序中確認(rèn)出第二導(dǎo)通電阻均值，其中，第二導(dǎo)通電阻均值與第一導(dǎo)通電阻均值相鄰，且第二導(dǎo)通電阻均值在導(dǎo)通電阻均值時(shí)序中滯后于所述第一導(dǎo)通電阻均值；

34、利用第一導(dǎo)通電阻均值及第二導(dǎo)通電阻均值獲取導(dǎo)通電阻變化值，利用導(dǎo)通電阻變化值確認(rèn)出排序時(shí)間，其中，排序時(shí)間的計(jì)算公式如下所示：

35、；

36、其中，表示排序時(shí)間，表示取最小值，表示第一導(dǎo)通電阻均值所對(duì)應(yīng)的時(shí)間，表示第二導(dǎo)通電阻均值所對(duì)應(yīng)的時(shí)間；

37、利用排序時(shí)間對(duì)導(dǎo)通電阻變化值進(jìn)行標(biāo)識(shí)，得到排序電阻變化值，匯總所述排序電阻變化值，得到排序電阻變化值集，按照排序時(shí)間由先至后的順序，對(duì)排序電阻變化值集中的排序電阻變化值進(jìn)行排序，得到排序電阻變化序列；

38、利用所述排序電阻變化序列、預(yù)構(gòu)建的變分模態(tài)分解算法及預(yù)構(gòu)建的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型獲取第一預(yù)測(cè)壽命；

39、根據(jù)所述測(cè)試樣本獲取第二測(cè)試壽命，匯總所述第二測(cè)試壽命，得到第二測(cè)試壽命集，基于所述第二測(cè)試壽命集獲取第二測(cè)試壽命均值，其中，第二測(cè)試壽命均值為第二測(cè)試壽命集中多個(gè)第二測(cè)試壽命的均值，利用第一測(cè)試壽命及第二測(cè)試壽命均值計(jì)算壽命偏差比例，計(jì)算公式如下所示：

40、；

41、其中，表示所述壽命偏差比例，表示第一預(yù)測(cè)壽命，表示所述第二測(cè)試壽命均值；

42、比較所述壽命偏差比例與預(yù)設(shè)的壽命偏差閾值；

43、若所述壽命偏差比例大于所述壽命偏差閾值，則返回所述則利用匹配測(cè)試組所對(duì)應(yīng)的工作電壓組及第一工作溫度獲取更新測(cè)試組的步驟；

44、若所述壽命偏差比例小于等于所述壽命偏差閾值，則基于第一預(yù)測(cè)壽命及第二測(cè)試壽命均值計(jì)算參考?jí)勖?，?jì)算公式如下所示：

45、；

46、其中，表示參考?jí)勖?，均為預(yù)設(shè)的系數(shù)；

47、基于所述參考?jí)勖@取壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)。

48、可選地，所述基于所述參考?jí)勖@取壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)，包括：

49、利用啟動(dòng)后的測(cè)試樣本及預(yù)構(gòu)建的溫度傳感器獲取監(jiān)測(cè)溫度時(shí)序，并以啟動(dòng)所述測(cè)試樣本的時(shí)間為起點(diǎn)，實(shí)時(shí)記錄時(shí)間，得到實(shí)時(shí)時(shí)間，其中，監(jiān)測(cè)溫度時(shí)序中包括多個(gè)監(jiān)測(cè)溫度組，其中，監(jiān)測(cè)溫度組由監(jiān)測(cè)時(shí)間及監(jiān)測(cè)溫度所構(gòu)成，基于預(yù)構(gòu)建的滑動(dòng)窗口，在所述監(jiān)測(cè)溫度時(shí)序中依次提取分析溫度時(shí)序，其中，預(yù)設(shè)了滑動(dòng)窗口的步長(zhǎng)，分析溫度時(shí)序中包括多個(gè)監(jiān)測(cè)溫度組，對(duì)所提取的分析溫度時(shí)序執(zhí)行如下操作：

50、基于所述分析溫度時(shí)序獲取分析溫度方差，其中，分析溫度方差為分析溫度時(shí)序中多個(gè)監(jiān)測(cè)溫度的方差，比較所述分析溫度方差與預(yù)設(shè)的溫度方差閾值；

51、若所述分析溫度方差大于等于所述溫度方差閾值，則基于所述分析溫度時(shí)序獲取分析溫度均值，其中，分析溫度均值為分析溫度時(shí)序中多個(gè)監(jiān)測(cè)溫度的均值，對(duì)分析溫度時(shí)序中的每一個(gè)監(jiān)測(cè)溫度均執(zhí)行如下操作：

52、利用所述監(jiān)測(cè)溫度及分析溫度均值獲取分析溫度差值，其中，分析溫度差值為監(jiān)測(cè)溫度與分析溫度均值的絕對(duì)差值，匯總所述分析溫度差值，得到分析溫度差值集，按照分析溫度差值由大到小的順序?qū)Ψ治鰷囟炔钪导械姆治鰷囟炔钪颠M(jìn)行排序，得到分析溫度差值序列；

53、在分析溫度差值序列中提取出第一個(gè)分析溫度差值，得到剔除溫度差值，獲取剔除溫度差值在分析溫度時(shí)序中的位序，得到剔除位序，若剔除位序?yàn)?，則返回所述在所述監(jiān)測(cè)溫度時(shí)序中依次提取分析溫度時(shí)序的步驟；

54、若剔除位序不為1，則在分析溫度時(shí)序中剔除該剔除溫度差值所對(duì)應(yīng)的監(jiān)測(cè)溫度，得到更新溫度時(shí)序，以更新溫度時(shí)序?yàn)榉治鰷囟葧r(shí)序，返回所述基于所述分析溫度時(shí)序獲取分析溫度方差的步驟，并記錄在分析溫度時(shí)序中剔除該剔除溫度差值所對(duì)應(yīng)監(jiān)測(cè)溫度的數(shù)量，得到剔除數(shù)量；

55、當(dāng)剔除數(shù)量大于等于預(yù)設(shè)的剔除閾值或分析溫度方差大于等于所述溫度方差閾值，則返回所述在所述監(jiān)測(cè)溫度時(shí)序中依次提取分析溫度時(shí)序的步驟，直至分析溫度方差小于所述溫度方差閾值，得到目標(biāo)溫度時(shí)序；

56、基于所述目標(biāo)溫度時(shí)序、參考?jí)勖皩?shí)時(shí)時(shí)間獲取壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)。

57、可選地，所述基于所述目標(biāo)溫度時(shí)序、參考?jí)勖皩?shí)時(shí)時(shí)間獲取壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)，包括：

58、在所述監(jiān)測(cè)溫度時(shí)序中確認(rèn)出起始時(shí)間，其中，起始時(shí)間為監(jiān)測(cè)溫度時(shí)序中第一個(gè)監(jiān)測(cè)溫度組所對(duì)應(yīng)的監(jiān)測(cè)時(shí)間，利用所述目標(biāo)溫度時(shí)序確認(rèn)出終止時(shí)間，其中，終止時(shí)間為目標(biāo)溫度時(shí)序中最后一個(gè)監(jiān)測(cè)溫度組所對(duì)應(yīng)的監(jiān)測(cè)時(shí)間；

59、利用所述目標(biāo)溫度時(shí)序獲取目標(biāo)溫度均值，其中，目標(biāo)溫度均值為目標(biāo)溫度時(shí)序所對(duì)應(yīng)多個(gè)監(jiān)測(cè)溫度的均值；

60、基于所述起始時(shí)間及終止時(shí)間確認(rèn)出檢測(cè)時(shí)間，其中，檢測(cè)時(shí)間為起始時(shí)間與終止時(shí)間的絕對(duì)差值，當(dāng)所述實(shí)時(shí)時(shí)間達(dá)到檢測(cè)時(shí)間時(shí)，利用啟動(dòng)后的測(cè)試樣本獲取門極閾值電壓；

61、基于所述門極閾值電壓計(jì)算工作結(jié)溫，計(jì)算公式如下所示：

62、；

63、其中，表示工作結(jié)溫，表示門極閾值電壓，表示預(yù)設(shè)的修正系數(shù)；

64、利用所述工作結(jié)溫、目標(biāo)溫度均值及參考?jí)勖@取壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)。

65、可選地，所述利用所述工作結(jié)溫、目標(biāo)溫度均值及參考?jí)勖@取壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)，包括：

66、關(guān)聯(lián)所述工作結(jié)溫、參考封裝標(biāo)準(zhǔn)、目標(biāo)溫度均值、第一工作溫度、工作電壓組、識(shí)別工作模式及參考?jí)勖?，得到關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)；

67、確認(rèn)接收來(lái)自數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化單元的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化指令，基于所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化指令獲取標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)模版，將關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)導(dǎo)入至標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)模版，得到檢測(cè)數(shù)據(jù)，其中，檢測(cè)數(shù)據(jù)如下所示：

68、；

69、其中，表示所述檢測(cè)數(shù)據(jù)，表示參考封裝標(biāo)準(zhǔn)，表示所述識(shí)別工作模式，且的取值為1、2或3，當(dāng)為1時(shí)，表示正向工作模式，當(dāng)為2時(shí)，表示反向工作模式，當(dāng)為3時(shí)，表示體二極管模式，表示第一工作溫度，表示工作結(jié)溫，表示目標(biāo)溫度均值，表示參考?jí)勖?，表示工作電壓組，且，其中，分別表示工作電壓組中的第一個(gè)第一工作電壓、第二個(gè)第一工作電壓及第個(gè)第一工作電壓，表示工作電壓組中共有個(gè)第一工作電壓；

70、利用檢測(cè)數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的工作模式分別匯總所述檢測(cè)數(shù)據(jù)，得到三個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)集；

71、匯總所述三個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)集，得到壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)。

72、可選地，所述利用所述預(yù)測(cè)參數(shù)，在壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行檢索，得到目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命，包括：

73、識(shí)別預(yù)測(cè)參數(shù)中目標(biāo)工作電壓組所對(duì)應(yīng)的工作模式，得到目標(biāo)工作模式；

74、利用所述預(yù)測(cè)參數(shù)中的目標(biāo)封裝標(biāo)準(zhǔn)及目標(biāo)工作模式，在所述壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)中確認(rèn)出檢索壽命數(shù)據(jù)集，其中，檢索壽命數(shù)據(jù)集所對(duì)應(yīng)的工作模式為所述目標(biāo)工作模式，且檢索壽命數(shù)據(jù)集所對(duì)應(yīng)的參考封裝標(biāo)準(zhǔn)為所述目標(biāo)封裝標(biāo)準(zhǔn)，且檢索壽命數(shù)據(jù)集中包括多個(gè)檢索壽命數(shù)據(jù)；

75、對(duì)多個(gè)檢索壽命數(shù)據(jù)中每一個(gè)檢索壽命數(shù)據(jù)均執(zhí)行如下操作：

76、利用所述檢索壽命數(shù)據(jù)，在檢索壽命數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的檢測(cè)數(shù)據(jù)中確認(rèn)出參考檢索數(shù)據(jù)，其中，參考檢索數(shù)據(jù)如下所示：

77、；

78、其中，表示參考檢索數(shù)據(jù)；

79、利用預(yù)測(cè)參數(shù)獲取目標(biāo)檢索數(shù)據(jù)，匯總所述參考檢索數(shù)據(jù)及目標(biāo)檢索數(shù)據(jù)，得到壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)集；

80、確認(rèn)接收來(lái)自數(shù)據(jù)分析單元的數(shù)據(jù)分析指令，基于所述數(shù)據(jù)分析指令獲取k-means聚類算法，利用所述k-means聚類算法，將所述壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)集聚類為多個(gè)壽命檢索數(shù)據(jù)集，在多個(gè)壽命檢索數(shù)據(jù)集中確認(rèn)出目標(biāo)壽命檢索數(shù)據(jù)集，其中，目標(biāo)壽命檢索數(shù)據(jù)集為包括目標(biāo)檢索數(shù)據(jù)的壽命檢索數(shù)據(jù)集；

81、基于所述目標(biāo)壽命檢索數(shù)據(jù)集計(jì)算目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命。

82、可選地，所述基于所述目標(biāo)壽命檢索數(shù)據(jù)集計(jì)算目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命，包括：

83、利用目標(biāo)壽命檢索數(shù)據(jù)集中的目標(biāo)檢索數(shù)據(jù)及目標(biāo)壽命檢索數(shù)據(jù)集所對(duì)應(yīng)多個(gè)參考檢索數(shù)據(jù)中每一個(gè)參考檢索數(shù)據(jù)計(jì)算參考權(quán)重值，計(jì)算公式如下所示：

84、；

85、其中，表示參考權(quán)重值，均為預(yù)設(shè)的系數(shù)，且，分別表示目標(biāo)檢索數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的目標(biāo)工作溫度、目標(biāo)結(jié)溫及檢索溫度均值，分別表示參考檢索數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的第一工作溫度、工作結(jié)溫及目標(biāo)溫度均值，分別表示目標(biāo)工作電壓組中第個(gè)目標(biāo)工作電壓及工作電壓組中第個(gè)第一工作電壓；

86、匯總所述參考權(quán)重值，得到參考權(quán)重值集，基于所述參考權(quán)重值集計(jì)算目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命，計(jì)算公式如下所示：

87、；

88、其中，表示所述目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命，表示參考權(quán)重值集中共有個(gè)參考權(quán)重值，分別表示參考權(quán)重值集中第個(gè)參考權(quán)重值及參考權(quán)重值集中第個(gè)參考權(quán)重值，表示參考權(quán)重值集中第個(gè)參考權(quán)重值所對(duì)應(yīng)的參考?jí)勖?/p>

89、為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明還提供一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括：

90、至少一個(gè)處理器；以及，

91、與所述至少一個(gè)處理器通信連接的存儲(chǔ)器；其中，

92、所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有可被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行的指令，所述指令被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行，以實(shí)現(xiàn)上述所述的基于多尺度特征的金氧半場(chǎng)效晶體管壽命預(yù)測(cè)方法。

93、為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有至少一個(gè)指令，所述至少一個(gè)指令被電子設(shè)備中的處理器執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)上述所述的基于多尺度特征的金氧半場(chǎng)效晶體管壽命預(yù)測(cè)方法。

94、相比于背景技術(shù)所述問(wèn)題，本發(fā)明先利用所述壽命預(yù)測(cè)系統(tǒng)確認(rèn)出壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)，且在確認(rèn)壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)時(shí)考慮了金氧半場(chǎng)效晶體管的參考封裝標(biāo)準(zhǔn)、第一工作溫度、目標(biāo)溫度均值、工作電壓組及工作結(jié)溫，可見本發(fā)明實(shí)施例在構(gòu)建壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)時(shí)就考慮了金氧半場(chǎng)效晶體管的多個(gè)特征，進(jìn)而，為準(zhǔn)確的獲取目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命奠定基礎(chǔ)，且在獲取測(cè)試樣本的相關(guān)參數(shù)時(shí)，其中，相關(guān)參數(shù)包括：目標(biāo)溫度均值、工作結(jié)溫及參考?jí)勖鼤r(shí)，又分別設(shè)定的不同的篩選要求，以提高獲取相關(guān)參數(shù)的準(zhǔn)確性，進(jìn)而，提高獲取目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命的準(zhǔn)確性。本發(fā)明基于所述目標(biāo)場(chǎng)效應(yīng)晶體管解析出預(yù)測(cè)參數(shù)，其中，預(yù)測(cè)參數(shù)包括：目標(biāo)工作電壓組、目標(biāo)工作溫度、目標(biāo)封裝標(biāo)準(zhǔn)、檢索溫度均值及目標(biāo)結(jié)溫，利用所述預(yù)測(cè)參數(shù)，在壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行檢索，得到目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命，可見本發(fā)明先利用目標(biāo)工作電壓組識(shí)別出目標(biāo)工作模式，又結(jié)合目標(biāo)封裝標(biāo)準(zhǔn)及目標(biāo)工作模式實(shí)現(xiàn)對(duì)壽命預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)的檢索，得到檢測(cè)壽命數(shù)據(jù)庫(kù)集，又根據(jù)k-means聚類算法結(jié)合目標(biāo)場(chǎng)效應(yīng)晶體管的目標(biāo)工作電壓組、目標(biāo)工作溫度、檢索溫度均值及目標(biāo)結(jié)溫，在檢測(cè)壽命數(shù)據(jù)庫(kù)集中檢索出目標(biāo)壽命檢索數(shù)據(jù)集，且根據(jù)目標(biāo)壽命檢索數(shù)據(jù)集中不同的參考檢測(cè)數(shù)據(jù)計(jì)算了不同的參考權(quán)重值，進(jìn)而，通過(guò)不同的參考權(quán)重值設(shè)定參考權(quán)重值所對(duì)應(yīng)參考?jí)勖谋壤?，提高了所獲取目標(biāo)預(yù)測(cè)壽命的準(zhǔn)確性。因此本發(fā)明提出的基于多尺度特征的金氧半場(chǎng)效晶體管壽命預(yù)測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其主要目的在于提高對(duì)金氧半場(chǎng)效晶體管進(jìn)行壽命預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確性。