1.一種用于芯片的電磁干擾抑制方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，獲取待抑制電磁干擾的目標(biāo)芯片的版圖數(shù)據(jù)，基于所述版圖數(shù)據(jù)，通過(guò)圖像分割算法，提取目標(biāo)芯片中各功能模塊的結(jié)構(gòu)參數(shù)和對(duì)應(yīng)器件的器件參數(shù)，基于所述結(jié)構(gòu)參數(shù)和所述器件參數(shù)，構(gòu)建包含所述目標(biāo)芯片的整體結(jié)構(gòu)和各個(gè)器件模型的多物理場(chǎng)耦合仿真模型包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述多物理場(chǎng)耦合仿真模型還包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述多物理場(chǎng)耦合仿真模型，通過(guò)機(jī)器學(xué)習(xí)算法，確定目標(biāo)芯片對(duì)應(yīng)的最優(yōu)激勵(lì)源包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，基于所述最優(yōu)激勵(lì)源，采用時(shí)域有限元方法，通過(guò)自適應(yīng)時(shí)間步長(zhǎng)控制策略，動(dòng)態(tài)調(diào)整仿真計(jì)算的時(shí)間步長(zhǎng)，計(jì)算獲得目標(biāo)芯片的瞬態(tài)多物理場(chǎng)分布包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，通過(guò)對(duì)瞬態(tài)多物理場(chǎng)分布進(jìn)行后處理，提取電磁干擾的時(shí)頻域多尺度分布特征，利用深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)時(shí)頻域多尺度分布特征進(jìn)行學(xué)習(xí)并分類，構(gòu)建電磁干擾的頻譜指紋庫(kù)，生成包含電磁干擾類型和干擾嚴(yán)重程度的電磁干擾識(shí)別結(jié)果包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于電磁干擾識(shí)別結(jié)果，通過(guò)抑制拓?fù)渌阉魉惴?，確定最優(yōu)抑制電路拓?fù)浒ǎ?/p>
8.一種用于芯片的電磁干擾抑制系統(tǒng)，用于實(shí)現(xiàn)前述權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序指令，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任意一項(xiàng)所述的方法。