本技術(shù)涉及數(shù)據(jù)處理，特別是涉及一種元器件工藝性能評(píng)估方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、隨著電子元器件產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，元器件的硬件功能檢測(cè)手段亦日趨完備。然而元器件工藝性能作為影響元器件長(zhǎng)期、可靠應(yīng)用的重要因素，目前針對(duì)其進(jìn)行整體、全面評(píng)估的技術(shù)手段及計(jì)算模型卻相對(duì)缺乏。

2、現(xiàn)有的元器件工藝性能檢測(cè)技術(shù)為針對(duì)某一項(xiàng)工藝性能，如針對(duì)引腳可焊性、共面性、熱耐受性中的某一工藝性能，開(kāi)展工藝性能測(cè)試，得到單點(diǎn)工藝測(cè)試結(jié)果，且單點(diǎn)工藝測(cè)試結(jié)果以文字描述形式表征，可以詳細(xì)描述該工藝性能的單點(diǎn)工藝測(cè)試結(jié)果。然而，這一傳統(tǒng)方法并不夠準(zhǔn)確、全面，亟需提供一種兼顧準(zhǔn)確與全面的元器件工藝性能評(píng)估方法，以補(bǔ)全現(xiàn)行元器件性能評(píng)估中工藝性能評(píng)估的空缺，推動(dòng)元器件產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題，提供一種準(zhǔn)確且全面的元器件工藝性能評(píng)估方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。

2、第一方面，本技術(shù)提供了一種元器件工藝性能評(píng)估方法，包括：

3、獲取元器件的初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)；

4、確定初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)與元器件工藝性能的關(guān)聯(lián)度，并基于關(guān)聯(lián)度，從初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)中篩選工藝性能測(cè)試指標(biāo)；

5、根據(jù)工藝性能測(cè)試指標(biāo)，對(duì)元器件進(jìn)行性能評(píng)估，得到工藝性能測(cè)試結(jié)果；

6、確定工藝性能測(cè)試指標(biāo)的指標(biāo)權(quán)重系數(shù)，并根據(jù)指標(biāo)權(quán)重系數(shù)、工藝性能測(cè)試結(jié)果以及工藝性能測(cè)試結(jié)果，生成元器件的工藝性能評(píng)估結(jié)果。

7、在其中一個(gè)實(shí)施例中，根據(jù)指標(biāo)權(quán)重系數(shù)、工藝性能測(cè)試結(jié)果以及工藝性能測(cè)試結(jié)果，生成元器件的工藝性能評(píng)估結(jié)果，包括：

8、根據(jù)指標(biāo)權(quán)重系數(shù)與工藝性能測(cè)試結(jié)果，生成元器件的工藝性能評(píng)估量化值；

9、查詢工藝性能評(píng)估量化值匹配的初始工藝性能評(píng)估結(jié)果，并基于工藝性能測(cè)試結(jié)果，獲取元器件的工藝性能薄弱點(diǎn)；

10、根據(jù)初始工藝性能評(píng)估結(jié)果與工藝性能薄弱點(diǎn)，生成元器件的工藝性能評(píng)估結(jié)果。

11、在其中一個(gè)實(shí)施例中，查詢工藝性能評(píng)估量化值匹配的初始工藝性能評(píng)估結(jié)果，包括：

12、當(dāng)工藝性能評(píng)估量化值處于預(yù)設(shè)第一評(píng)估量化范圍時(shí)，初始工藝性能評(píng)估結(jié)果為評(píng)估通過(guò)；

13、當(dāng)工藝性能評(píng)估量化值處于預(yù)設(shè)第二評(píng)估量化范圍時(shí)，初始工藝性能評(píng)估結(jié)果為評(píng)估未通過(guò)；

14、當(dāng)工藝性能評(píng)估量化值處于預(yù)設(shè)第三評(píng)估量化范圍時(shí)，初始工藝性能評(píng)估結(jié)果為待繼續(xù)評(píng)估。

15、在其中一個(gè)實(shí)施例中，基于工藝性能測(cè)試結(jié)果，獲取元器件的工藝性能薄弱點(diǎn)，包括：

16、將工藝性能測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)換為工藝性能測(cè)試量化值；

17、當(dāng)工藝性能測(cè)試量化值處于預(yù)設(shè)測(cè)試量化范圍時(shí)，將工藝性能測(cè)試量化值對(duì)應(yīng)的工藝性能測(cè)試指標(biāo)作為元器件的工藝性能薄弱點(diǎn)。

18、在其中一個(gè)實(shí)施例中，確定工藝性能測(cè)試指標(biāo)的指標(biāo)權(quán)重系數(shù)，包括：

19、獲取工藝性能測(cè)試指標(biāo)的測(cè)試指標(biāo)數(shù)量；

20、基于工藝性能測(cè)試指標(biāo)對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)工藝性能分配參數(shù)與測(cè)試指標(biāo)數(shù)量，生成工藝性能測(cè)試指標(biāo)的指標(biāo)權(quán)重系數(shù)，其中，預(yù)設(shè)工藝性能分配參數(shù)用于表征工藝性能測(cè)試指標(biāo)對(duì)元器件工藝性能評(píng)估的影響。

21、在其中一個(gè)實(shí)施例中，初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)包括元器件共面性、元器件可焊性、元器件熱耐受性、元器件尺寸穩(wěn)定性、元器件熱穩(wěn)定性、元器件吸濕性、元器件端子耐溶蝕性、元器件鍍層一致性、元器件鍍層穩(wěn)定性以及元器件端子耐受性的至少一種；

22、基于關(guān)聯(lián)度，從初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)中篩選工藝性能測(cè)試指標(biāo)，包括：

23、從元器件共面性、元器件可焊性、元器件熱耐受性、元器件尺寸穩(wěn)定性、元器件熱穩(wěn)定性、元器件吸濕性、元器件端子耐溶蝕性、元器件鍍層一致性、元器件鍍層穩(wěn)定性以及元器件端子耐受性的至少一種中，篩選預(yù)設(shè)測(cè)試指標(biāo)數(shù)量個(gè)關(guān)聯(lián)度大于預(yù)設(shè)關(guān)聯(lián)度閾值的工藝性能測(cè)試指標(biāo)。

24、第二方面，本技術(shù)還提供了一種元器件工藝性能評(píng)估裝置，包括：

25、指標(biāo)獲取模塊，用于獲取元器件的初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)；

26、指標(biāo)篩選模塊，用于確定初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)與元器件工藝性能的關(guān)聯(lián)度，并基于關(guān)聯(lián)度，從初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)中篩選工藝性能測(cè)試指標(biāo)；

27、指標(biāo)評(píng)估模塊，用于根據(jù)工藝性能測(cè)試指標(biāo)，對(duì)元器件進(jìn)行性能評(píng)估，得到工藝性能測(cè)試結(jié)果；

28、性能評(píng)估模塊，用于確定工藝性能測(cè)試指標(biāo)的指標(biāo)權(quán)重系數(shù)，并根據(jù)指標(biāo)權(quán)重系數(shù)、工藝性能測(cè)試結(jié)果以及工藝性能測(cè)試結(jié)果，生成元器件的工藝性能評(píng)估結(jié)果。

29、第三方面，本技術(shù)還提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，處理器執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：

30、獲取元器件的初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)；

31、確定初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)與元器件工藝性能的關(guān)聯(lián)度，并基于關(guān)聯(lián)度，從初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)中篩選工藝性能測(cè)試指標(biāo)；

32、根據(jù)工藝性能測(cè)試指標(biāo)，對(duì)元器件進(jìn)行性能評(píng)估，得到工藝性能測(cè)試結(jié)果；

33、確定工藝性能測(cè)試指標(biāo)的指標(biāo)權(quán)重系數(shù)，并根據(jù)指標(biāo)權(quán)重系數(shù)、工藝性能測(cè)試結(jié)果以及工藝性能測(cè)試結(jié)果，生成元器件的工藝性能評(píng)估結(jié)果。

34、第四方面，本技術(shù)還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：

35、獲取元器件的初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)；

36、確定初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)與元器件工藝性能的關(guān)聯(lián)度，并基于關(guān)聯(lián)度，從初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)中篩選工藝性能測(cè)試指標(biāo)；

37、根據(jù)工藝性能測(cè)試指標(biāo)，對(duì)元器件進(jìn)行性能評(píng)估，得到工藝性能測(cè)試結(jié)果；

38、確定工藝性能測(cè)試指標(biāo)的指標(biāo)權(quán)重系數(shù)，并根據(jù)指標(biāo)權(quán)重系數(shù)、工藝性能測(cè)試結(jié)果以及工藝性能測(cè)試結(jié)果，生成元器件的工藝性能評(píng)估結(jié)果。

39、第五方面，本技術(shù)還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：

40、獲取元器件的初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)；

41、確定初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)與元器件工藝性能的關(guān)聯(lián)度，并基于關(guān)聯(lián)度，從初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)中篩選工藝性能測(cè)試指標(biāo)；

42、根據(jù)工藝性能測(cè)試指標(biāo)，對(duì)元器件進(jìn)行性能評(píng)估，得到工藝性能測(cè)試結(jié)果；

43、確定工藝性能測(cè)試指標(biāo)的指標(biāo)權(quán)重系數(shù)，并根據(jù)指標(biāo)權(quán)重系數(shù)、工藝性能測(cè)試結(jié)果以及工藝性能測(cè)試結(jié)果，生成元器件的工藝性能評(píng)估結(jié)果。

44、上述元器件工藝性能評(píng)估方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，全面考慮了影響元器件性能的潛在工藝因素，并通過(guò)初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)的形式將其表示出來(lái)，通過(guò)初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)與元器件工藝性能的關(guān)聯(lián)度，從初始工藝性能測(cè)試指標(biāo)中篩選工藝性能測(cè)試指標(biāo)，使得性能測(cè)試指標(biāo)的代表性強(qiáng)，提高了根據(jù)性能測(cè)試指標(biāo)進(jìn)行性能評(píng)估的準(zhǔn)確率，進(jìn)一步地，提出賦權(quán)概念，結(jié)合根據(jù)工藝性能測(cè)試指標(biāo)，對(duì)元器件進(jìn)行性能評(píng)估得到的工藝性能測(cè)試結(jié)果、工藝性能測(cè)試指標(biāo)對(duì)應(yīng)的指標(biāo)權(quán)重系數(shù)以及工藝性能測(cè)試結(jié)果，生成工藝性能評(píng)估結(jié)果，實(shí)現(xiàn)全方面、多維度地準(zhǔn)確評(píng)估元器件性能。