本發(fā)明涉及軟件開發(fā)，特別是涉及一種功能函數(shù)測(cè)試方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、單元測(cè)試(unit?test)主要是用來對(duì)程序當(dāng)中的功能函數(shù)（function）進(jìn)行簡(jiǎn)單的測(cè)試，可以確保在最基礎(chǔ)的函式當(dāng)中的每一行代碼都被測(cè)試過，進(jìn)而提高程式品質(zhì)。可是相較于程式功能開發(fā)上，開發(fā)測(cè)試程式的時(shí)間資源相對(duì)稀缺。在實(shí)際的開發(fā)情況中，常常發(fā)生程式功能全部開發(fā)完畢，而測(cè)試該程式每個(gè)一個(gè)函數(shù)的單元測(cè)試的程式卻還沒有開發(fā)出來，造成測(cè)試不夠即時(shí)，無法快速反饋測(cè)試結(jié)果。

2、目前進(jìn)行單元測(cè)試多采用人工去撰寫每一個(gè)功能函數(shù)的測(cè)試代碼的方法，但是會(huì)消耗大量人力工時(shí)，無法快速且即時(shí)的針對(duì)每一個(gè)功能函數(shù)撰寫相對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼，甚至在完成所有功能函數(shù)的開發(fā)之后，程序開發(fā)者還沒有時(shí)間去開發(fā)測(cè)試代碼，也無從得知現(xiàn)有的功能函數(shù)是否有程式問題(bug)。這時(shí)候如果發(fā)現(xiàn)程式問題(bug)，就要花費(fèi)更多的時(shí)間重新修改原有的功能函數(shù)，以符合正確的函數(shù)行為，無法達(dá)到測(cè)試的即時(shí)性。并且就算已經(jīng)有所有功能函數(shù)的測(cè)試代碼，如果程序開發(fā)者只修改其中一部分功能函數(shù)代碼，也無法快速的找出相關(guān)的測(cè)試代碼，只能測(cè)試所有測(cè)試代碼，包含沒有更動(dòng)過的功能函數(shù)也要一起測(cè)試，這樣會(huì)增加無效測(cè)試時(shí)間。

3、可見，如何提高代碼測(cè)試的效率，是本領(lǐng)域技術(shù)人員需要解決的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例的目的是提供一種功能函數(shù)測(cè)試方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及程序產(chǎn)品，可以通過遍歷函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖，自動(dòng)生成功能函數(shù)的測(cè)試代碼，有助于解決無法快速的找出相關(guān)測(cè)試代碼進(jìn)行函數(shù)測(cè)試的問題，提高代碼測(cè)試的效率。

2、為解決上述技術(shù)問題，第一方面，本發(fā)明提供一種功能函數(shù)測(cè)試方法，包括：

3、獲取正在對(duì)待測(cè)試程序進(jìn)行代碼修改時(shí)所對(duì)應(yīng)的代碼修改片段；

4、從預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖中確定受所述代碼修改片段影響的功能函數(shù)，以得到相應(yīng)的待測(cè)試函數(shù)；所述預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖基于所述待測(cè)試程序中的各預(yù)設(shè)功能函數(shù)之間的關(guān)系進(jìn)行確定；

5、基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼，并利用所述測(cè)試代碼對(duì)所述待測(cè)試函數(shù)進(jìn)行測(cè)試。

6、在一些實(shí)施例中，所述從預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖中確定受所述代碼修改片段影響的功能函數(shù)之前，還包括：

7、基于所述待測(cè)試程序中的各所述預(yù)設(shè)功能函數(shù)分別對(duì)應(yīng)的函數(shù)傳入?yún)?shù)和函數(shù)回傳值，確定各所述預(yù)設(shè)功能函數(shù)之間的影響關(guān)系；

8、根據(jù)所述影響關(guān)系和各所述預(yù)設(shè)功能函數(shù)之間的調(diào)用關(guān)系，生成所述待測(cè)試程序?qū)?yīng)的所述預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖。

9、在一些實(shí)施例中，所述從預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖中確定受所述代碼修改片段影響的功能函數(shù)，包括：

10、根據(jù)所述代碼修改片段在所述預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖中的位置，確定所述代碼修改片段對(duì)應(yīng)的目標(biāo)功能函數(shù)所在的目標(biāo)節(jié)點(diǎn)；

11、基于所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)并根據(jù)所述影響關(guān)系和所述調(diào)用關(guān)系，遍歷所述預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖，以確定所述預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖中受所述代碼修改片段影響的功能函數(shù)。

12、在一些實(shí)施例中，所述功能函數(shù)測(cè)試方法還包括：

13、若所述目標(biāo)功能函數(shù)的子函數(shù)或所述目標(biāo)功能函數(shù)的子函數(shù)的函數(shù)傳入?yún)?shù)受所述代碼修改片段影響，則為所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)配置第一節(jié)點(diǎn)標(biāo)記和第二節(jié)點(diǎn)標(biāo)記；所述第一節(jié)點(diǎn)標(biāo)記表征所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)為觸發(fā)向下遍歷操作的節(jié)點(diǎn)，所述第二節(jié)點(diǎn)標(biāo)記表征所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)為待測(cè)試節(jié)點(diǎn)；

14、若所述目標(biāo)功能函數(shù)的函數(shù)回傳值受所述代碼修改片段影響，則為所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)配置第三節(jié)點(diǎn)標(biāo)記；所述第三節(jié)點(diǎn)標(biāo)記表征所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)為觸發(fā)向上遍歷操作的節(jié)點(diǎn)；

15、相應(yīng)的，所述基于所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)并根據(jù)所述影響關(guān)系和所述調(diào)用關(guān)系，遍歷所述預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖，包括：

16、基于所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)的所述第一節(jié)點(diǎn)標(biāo)記和所述第三節(jié)點(diǎn)標(biāo)記并根據(jù)所述影響關(guān)系和所述調(diào)用關(guān)系，遍歷所述預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖。

17、在一些實(shí)施例中，所述基于所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)并根據(jù)所述影響關(guān)系和所述調(diào)用關(guān)系，遍歷所述預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖的過程中，還包括：

18、將基于所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)遍歷到的節(jié)點(diǎn)作為新的目標(biāo)節(jié)點(diǎn)，繼續(xù)基于新的目標(biāo)節(jié)點(diǎn)并根據(jù)所述影響關(guān)系和所述調(diào)用關(guān)系，遍歷所述預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖，直至基于當(dāng)前的目標(biāo)節(jié)點(diǎn)未再遍歷到新的節(jié)點(diǎn)；

19、將遍歷到的攜帶有所述第二節(jié)點(diǎn)標(biāo)記的目標(biāo)節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的功能函數(shù)作為所述待測(cè)試函數(shù)。

20、在一些實(shí)施例中，所述基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼，包括：

21、判斷所述待測(cè)試函數(shù)的函數(shù)傳入?yún)?shù)是否包括預(yù)設(shè)外部資源函數(shù)的函數(shù)回傳值，以得到相應(yīng)的判斷結(jié)果；

22、基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型并根據(jù)所述判斷結(jié)果生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼。

23、在一些實(shí)施例中，所述基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型并根據(jù)所述判斷結(jié)果生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼，包括：

24、若所述待測(cè)試函數(shù)的函數(shù)傳入?yún)?shù)不包括所述預(yù)設(shè)外部資源函數(shù)的函數(shù)回傳值，則直接基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼；

25、若所述待測(cè)試函數(shù)的函數(shù)傳入?yún)?shù)包括所述預(yù)設(shè)外部資源函數(shù)的函數(shù)回傳值，則生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的模擬函數(shù)，并基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型根據(jù)所述模擬函數(shù)生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼。

26、在一些實(shí)施例中，所述生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的模擬函數(shù)，包括：

27、獲取預(yù)設(shè)模擬函數(shù)生成提示詞；

28、利用預(yù)設(shè)預(yù)訓(xùn)練模型并根據(jù)所述預(yù)設(shè)模擬函數(shù)生成提示詞，生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的所述模擬函數(shù)。

29、在一些實(shí)施例中，所述基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型根據(jù)所述模擬函數(shù)生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼，包括：

30、基于所述模擬函數(shù)查詢預(yù)設(shè)向量資料庫(kù)，以得到相應(yīng)的查詢結(jié)果；所述查詢結(jié)果包括所述預(yù)設(shè)向量資料庫(kù)中所述模擬函數(shù)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)函數(shù)和所述預(yù)設(shè)外部資源函數(shù)的日志檔案；

31、利用所述目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型并根據(jù)所述模擬函數(shù)和所述查詢結(jié)果，生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼。

32、在一些實(shí)施例中，所述利用所述目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型并根據(jù)所述模擬函數(shù)和所述查詢結(jié)果，生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼，包括：

33、獲取預(yù)設(shè)測(cè)試代碼生成提示詞；

34、將所述模擬函數(shù)、所述預(yù)設(shè)測(cè)試代碼生成提示詞和所述查詢結(jié)果輸入至所述目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型，以利用所述目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型生成所述待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼。

35、在一些實(shí)施例中，所述功能函數(shù)測(cè)試方法還包括：

36、生成所述待測(cè)試函數(shù)的測(cè)試日志；

37、將所述測(cè)試日志和所述測(cè)試代碼保存至預(yù)設(shè)向量資料庫(kù)，以便基于所述預(yù)設(shè)向量資料庫(kù)生成新的測(cè)試代碼。

38、在一些實(shí)施例中，所述功能函數(shù)測(cè)試方法還包括：

39、基于所述預(yù)設(shè)向量資料庫(kù)繼續(xù)對(duì)所述目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型進(jìn)行訓(xùn)練，以便基于訓(xùn)練后的目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型生成新的測(cè)試代碼。

40、第二方面，本發(fā)明公開了一種電子設(shè)備，包括：

41、存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序；

42、處理器，用于執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序以實(shí)現(xiàn)前述功能函數(shù)測(cè)試方法的步驟。

43、第三方面，本發(fā)明公開了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)前述功能函數(shù)測(cè)試方法的步驟。

44、第四方面，本發(fā)明公開了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序/指令，該計(jì)算機(jī)程序/指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)前述功能函數(shù)測(cè)試方法的步驟。

45、由上述技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明首先可以獲取正在對(duì)待測(cè)試程序進(jìn)行代碼修改時(shí)所對(duì)應(yīng)的代碼修改片段，然后從基于待測(cè)試程序中的各預(yù)設(shè)功能函數(shù)之間的關(guān)系確定出的預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖中確定受代碼修改片段影響的功能函數(shù)，以得到相應(yīng)的待測(cè)試函數(shù)，從而基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型生成待測(cè)試函數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼，并利用測(cè)試代碼對(duì)待測(cè)試函數(shù)進(jìn)行測(cè)試。

46、本發(fā)明的有益效果在于：在每一個(gè)功能函數(shù)開發(fā)出來后，即可生成相應(yīng)的函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖，根據(jù)代碼修改片段遍歷函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖后，自動(dòng)確定受代碼修改片段影響的功能函數(shù)，以利用預(yù)訓(xùn)練模型生成相應(yīng)的測(cè)試代碼，可以在較短的時(shí)間完成功能函數(shù)的測(cè)試，并反饋測(cè)試結(jié)果給程序開發(fā)者，有助于程序開發(fā)者在程式問題發(fā)生的初期得知每一個(gè)功能函式的測(cè)試結(jié)果，可以提高代碼測(cè)試的效率。