本申請(qǐng)涉及計(jì)算機(jī)，尤其涉及一種電壓配置算法的驗(yàn)證方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、目前，可以通過電壓配置算法為內(nèi)存顆粒在多個(gè)待選電壓中選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)電壓，標(biāo)準(zhǔn)電壓可以用vref（voltage?reference）表示。內(nèi)存顆?？梢允褂脴?biāo)準(zhǔn)電壓進(jìn)行模擬信號(hào)與數(shù)字信號(hào)之間的轉(zhuǎn)換。

2、但是，在仿真環(huán)境中，不同的參考電壓不會(huì)使得內(nèi)存顆粒的仿真模型反饋的信號(hào)的眼寬有變化，由此在仿真環(huán)境中的電壓配置算法就無法獲得眼寬，也就無法選擇標(biāo)準(zhǔn)電壓，也就無法驗(yàn)證電壓配置算法的準(zhǔn)確性。

3、因此，目前只能依賴于內(nèi)存顆粒芯片本身才能對(duì)電壓配置算法是否準(zhǔn)確進(jìn)行驗(yàn)證。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電壓配置算法的驗(yàn)證方法、裝置及電子設(shè)備，如下：

2、一種電壓配置算法的驗(yàn)證方法，包括：

3、獲得內(nèi)存顆粒所部署的電壓配置算法的多個(gè)參考電壓；

4、從所述多個(gè)參考電壓中，確定目標(biāo)電壓；

5、根據(jù)所述目標(biāo)電壓以及所述多個(gè)參考電壓，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，以得到第二信號(hào)；

6、獲得所述電壓配置算法根據(jù)所述第二信號(hào)從所述多個(gè)參考電壓中所確定的標(biāo)準(zhǔn)電壓；

7、根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)電壓和所述目標(biāo)電壓，獲得驗(yàn)證結(jié)果，所述驗(yàn)證結(jié)果表征所述電壓配置算法是否準(zhǔn)確。

8、上述方法，優(yōu)選的，根據(jù)所述目標(biāo)電壓以及所述多個(gè)參考電壓，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，以得到第二信號(hào)，包括：

9、獲得每個(gè)所述參考電壓與所述目標(biāo)電壓之間的電壓差值；

10、根據(jù)所述電壓差值，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，以得到第二信號(hào)。

11、上述方法，優(yōu)選的，根據(jù)所述電壓差值，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，包括：

12、使用所述內(nèi)存顆粒對(duì)應(yīng)的采樣系數(shù)，對(duì)所述電壓差值對(duì)應(yīng)的絕對(duì)值進(jìn)行處理，以得到第一時(shí)段；

13、調(diào)整第一信號(hào)中所述第一時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值為預(yù)設(shè)的目標(biāo)值，以得到第二信號(hào)。

14、上述方法，優(yōu)選的，根據(jù)所述目標(biāo)電壓以及所述多個(gè)參考電壓，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，以得到第二信號(hào)，包括：

15、獲得每個(gè)所述參考電壓與所述目標(biāo)電壓之間的電壓差值；

16、根據(jù)所述電壓差值，獲得第三信號(hào)；

17、將所述第三信號(hào)與第一信號(hào)進(jìn)行按位與，以得到第二信號(hào)。

18、上述方法，優(yōu)選的，所述第三信號(hào)中第二時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值為預(yù)設(shè)的目標(biāo)值；

19、其中，所述第二時(shí)段通過以下方式獲得：

20、使用所述內(nèi)存顆粒對(duì)應(yīng)的采樣系數(shù)，對(duì)所述電壓差值對(duì)應(yīng)的絕對(duì)值進(jìn)行處理，以得到第二時(shí)段。

21、上述方法，優(yōu)選的，根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)電壓和所述目標(biāo)電壓，獲得驗(yàn)證結(jié)果，包括：

22、將所述標(biāo)準(zhǔn)電壓與所述目標(biāo)電壓進(jìn)行比對(duì)；

23、如果所述標(biāo)準(zhǔn)電壓與所述目標(biāo)電壓相一致，獲得表征所述電壓配置算法準(zhǔn)確的驗(yàn)證結(jié)果；

24、如果所述標(biāo)準(zhǔn)電壓與所述目標(biāo)電壓不一致，獲得表征所述電壓配置算法不準(zhǔn)確的驗(yàn)證結(jié)果。

25、上述方法，優(yōu)選的，所述電壓配置算法按照每個(gè)所述參考電壓各自對(duì)應(yīng)的所述第二信號(hào)獲得每個(gè)所述參考電壓對(duì)應(yīng)的眼寬參數(shù)，并根據(jù)所述眼寬參數(shù)從所述多個(gè)參考電壓中確定所述標(biāo)準(zhǔn)電壓；

26、其中，所述標(biāo)準(zhǔn)電壓對(duì)應(yīng)的眼寬參數(shù)在所有所述參考電壓各自對(duì)應(yīng)的所述眼寬參數(shù)中最大。

27、上述方法，優(yōu)選的，獲得電壓配置算法的多個(gè)參考電壓，包括：

28、通過后門方式，在時(shí)鐘信號(hào)的每個(gè)上升沿，讀取所述電壓配置算法對(duì)應(yīng)的電壓配置參數(shù)，所述電壓配置參數(shù)包括所述上升沿對(duì)應(yīng)的參考電壓。

29、一種電壓配置算法的驗(yàn)證裝置，包括：

30、參考獲得單元，用于獲得內(nèi)存顆粒所部署的電壓配置算法的多個(gè)參考電壓；

31、目標(biāo)確定單元，用于從所述多個(gè)參考電壓中，確定目標(biāo)電壓；

32、信號(hào)獲得單元，用于根據(jù)所述目標(biāo)電壓以及所述多個(gè)參考電壓，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，以得到第二信號(hào)；

33、信號(hào)處理單元，用于獲得所述電壓配置算法根據(jù)所述第二信號(hào)從所述多個(gè)參考電壓中所確定的標(biāo)準(zhǔn)電壓；

34、算法驗(yàn)證單元，用于根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)電壓和所述目標(biāo)電壓，獲得驗(yàn)證結(jié)果，所述驗(yàn)證結(jié)果表征所述電壓配置算法是否準(zhǔn)確。

35、一種電子設(shè)備，包括：

36、存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序以及所述計(jì)算機(jī)程序運(yùn)行所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)；

37、處理器，用于執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序，以實(shí)現(xiàn)：

38、獲得內(nèi)存顆粒所部署的電壓配置算法的多個(gè)參考電壓；

39、從所述多個(gè)參考電壓中，確定目標(biāo)電壓；

40、根據(jù)所述目標(biāo)電壓以及所述多個(gè)參考電壓，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，以得到第二信號(hào)；

41、獲得所述電壓配置算法根據(jù)所述第二信號(hào)從所述多個(gè)參考電壓中所確定的標(biāo)準(zhǔn)電壓；

42、根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)電壓和所述目標(biāo)電壓，獲得驗(yàn)證結(jié)果，所述驗(yàn)證結(jié)果表征所述電壓配置算法是否準(zhǔn)確。

43、一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序/指令，該計(jì)算機(jī)程序/指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述電壓配置算法的驗(yàn)證方法的步驟。

44、一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序/指令，該計(jì)算機(jī)程序/指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述電壓配置算法的驗(yàn)證方法的步驟。

45、從上述技術(shù)方案可以看出，本申請(qǐng)公開的一種電壓配置算法的驗(yàn)證方法、裝置及電子設(shè)備中，可以在獲得內(nèi)存顆粒所部署的電壓配置算法的多個(gè)參考電壓之后，按照從參考電壓中選出的目標(biāo)電壓以及每個(gè)其他參考電壓，調(diào)整提供給電壓配置算法的信號(hào)，這樣可以主動(dòng)改變電壓配置算法所使用的信號(hào)，進(jìn)而電壓配置算法可以根據(jù)這些不同的信號(hào)從參考電壓中選擇標(biāo)準(zhǔn)電壓，進(jìn)而根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)電壓和目標(biāo)電壓就可以獲得表征電壓配置算法是否準(zhǔn)確的驗(yàn)證結(jié)果，這一過程中不依賴于內(nèi)存顆粒本身，而是提前在內(nèi)存顆粒的設(shè)計(jì)階段就可以進(jìn)行算法驗(yàn)證，及時(shí)發(fā)現(xiàn)算法存在的問題，從而提高驗(yàn)證的可靠性，而且，不依賴于內(nèi)存顆粒本身進(jìn)行算法驗(yàn)證，就不會(huì)收到自然環(huán)境的影響，從而提高驗(yàn)證的準(zhǔn)確性。

技術(shù)特征：

1.一種電壓配置算法的驗(yàn)證方法，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，根據(jù)所述目標(biāo)電壓以及所述多個(gè)參考電壓，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，以得到第二信號(hào)，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，根據(jù)所述電壓差值，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，根據(jù)所述目標(biāo)電壓以及所述多個(gè)參考電壓，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，以得到第二信號(hào)，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，所述第三信號(hào)中第二時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值為預(yù)設(shè)的目標(biāo)值；

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)電壓和所述目標(biāo)電壓，獲得驗(yàn)證結(jié)果，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，所述電壓配置算法按照每個(gè)所述參考電壓各自對(duì)應(yīng)的所述第二信號(hào)獲得每個(gè)所述參考電壓對(duì)應(yīng)的眼寬參數(shù)，并根據(jù)所述眼寬參數(shù)從所述多個(gè)參考電壓中確定所述標(biāo)準(zhǔn)電壓；

8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，獲得內(nèi)存顆粒中所部署的電壓配置算法的多個(gè)參考電壓，包括：

9.一種電壓配置算法的驗(yàn)證裝置，包括：

10.一種電子設(shè)備，包括：

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)公開了一種電壓配置算法的驗(yàn)證方法、裝置及電子設(shè)備，所述方法包括：獲得內(nèi)存顆粒所部署的電壓配置算法的多個(gè)參考電壓；從所述多個(gè)參考電壓中，確定目標(biāo)電壓；根據(jù)所述目標(biāo)電壓以及所述多個(gè)參考電壓，調(diào)整第一信號(hào)中部分時(shí)段對(duì)應(yīng)的信號(hào)值，以得到第二信號(hào)；獲得所述電壓配置算法根據(jù)所述第二信號(hào)從所述多個(gè)參考電壓中所確定的標(biāo)準(zhǔn)電壓；根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)電壓和所述目標(biāo)電壓，獲得驗(yàn)證結(jié)果，所述驗(yàn)證結(jié)果表征所述電壓配置算法是否準(zhǔn)確。

技術(shù)研發(fā)人員：生蕾
受保護(hù)的技術(shù)使用者：鼎道智芯（上海）半導(dǎo)體有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6