1.一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述獲取目標(biāo)電力設(shè)備的目標(biāo)紅外光圖像和目標(biāo)可見光圖像，并對(duì)所述目標(biāo)紅外光圖像和所述目標(biāo)可見光圖像進(jìn)行圖像處理，以得到紅外光子圖像集合和可見光子圖像集合；具體為：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述獲取所述紅外光子圖像集合和所述可見光子圖像集合之間的特征相似度矩陣，并根據(jù)匈牙利算法獲取所述特征相似度矩陣中相似度值之和最大的目標(biāo)元素集合；具體為：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述對(duì)所述目標(biāo)元素集合中各元素對(duì)應(yīng)的所述紅外光子圖像和所述可見光子圖像進(jìn)行關(guān)鍵點(diǎn)計(jì)算，得到所述目標(biāo)元素集合對(duì)應(yīng)的關(guān)鍵點(diǎn)集合；具體為：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述對(duì)所述關(guān)鍵點(diǎn)集合進(jìn)行優(yōu)化處理以得到目標(biāo)關(guān)鍵點(diǎn)集合，并構(gòu)建所述目標(biāo)關(guān)鍵點(diǎn)集合的映射矩陣；具體為：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述通過所述映射矩陣將所述目標(biāo)紅外光圖像和所述目標(biāo)可見光圖像進(jìn)行配準(zhǔn)，并將配準(zhǔn)后的所述目標(biāo)紅外光圖像和所述目標(biāo)可見光圖像進(jìn)行融合得到目標(biāo)檢測(cè)圖像；具體為：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述映射矩陣通過如下公式表達(dá)：
8.一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述的一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別方法，其特征在于，所述系統(tǒng)包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括處理器，存儲(chǔ)器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的程序或指令，所述程序或指令被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任意一項(xiàng)所述的一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別方法的步驟。
10.一種可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)程序或指令，所述程序或指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任意一項(xiàng)所述的一種電力設(shè)備缺陷識(shí)別方法的步驟。