專利名稱：測試儀接口裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型屬計算機接口裝置領域。
隨著計算機、單板機的普遍使用，以前的測試儀目前發(fā)生根本變化，計算機、單板機等嫁接到以前的測試儀中，從而組成新的測試儀，接口裝置是連接計算機、單板機和傳感器的橋梁，它對測試精度、工作效率有重大影響?，F(xiàn)有的測試儀接口裝置，存在許多不足，如抗干擾性能差，導致測量精度低，轉(zhuǎn)換速度低，時差誤差大，工作電流小，易損壞等。
本實用新型的目的在于克服上述現(xiàn)有技術中的不足之處，提供一種抗干擾，測試精度高，不易損壞的測試儀接口裝置。
本實用新型由傳感器接口電路、開關斷口接口電路和分合閘信號接口電路組成，三者均采用光電隔離方式，使計算機與傳感器信號、開關斷口信號、分合閘信號成懸浮狀態(tài)，以防外界干擾，光電耦合器采用TLP521－2。在傳感器接口電路中，采用電阻和光電耦合器把傳感器提供的電壓信號轉(zhuǎn)變成電流信號，然后再轉(zhuǎn)變成電壓信號提供給計算機。在開關斷口接口電路中，由電阻、光電耦合器中的發(fā)光二極管組成一個恒流源，使輸出電平的變化直接反映開關端口有無電阻的合分狀態(tài)。在分合閘信號接口電路中，通過電阻和橋式整流電路把分合閘信號轉(zhuǎn)換成電流信號，為計算機提供采樣啟動信號及其它信號，同時，并聯(lián)壓敏電阻以吸收過電壓，并聯(lián)電容以吸收外界電壓沖擊。
以下將結合附圖
對本實用新型作進一步的說明附圖為本實用新型結構圖。J1、J2為傳感器信號輸入端，A、B、C、D、E、F為開關斷口、M、N分別為分閘信號和合閘信號。1、2、3、4、5、6、7、8、13、14、15、16、17、18、19、20為輸出端。G1、G2接地，電壓為零，V1、V2為供電電壓。本實施例有八個光電耦合器，分別為附圖中小方框T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7、T8，型號均為TLP521－2，每個光電耦合器由兩路光耦組成。光耦D1、D2組成光電耦合器T1、光耦D3、D4組成光電耦合器T2光耦D5、D6組成光電耦合器T3、光耦D7、D8組成光電耦合器T4，光耦D9、D10組成光電耦合器T5，光耦D11、D12組成光電耦合器T6，光耦D13、D14組成光電耦合器T7，光耦D15、D16組成光電耦合器T8，每個光耦由發(fā)光二極管和光電管組成。
傳感器接口電路由電阻R1、R2、R15、R16，光耦D1、D2組成，傳感器信號從J1、J2輸入，電阻R1、R2和光耦D1、D2把電壓信號轉(zhuǎn)換成電流信號，后再由光耦D1、D2，電阻R15、R16把電流信號轉(zhuǎn)換成電壓信號由輸出端1、2輸給計算機。傳感器的信號和計算機的接收信號通過光電耦合器T1使其隔離。由于傳感器提供兩波形信號的前沿后沿的時差決定測試儀測量精度，因此在信號傳送中必須保證時差不變，而光電耦合器T1具有以上特性。
開關斷口接口電路共有6個斷口，即A、B、C、D、E、F，輸出端有3、4、5、6、7、8、13、14、15、16、17、18。開關斷口電路由電阻R3、R4、R5、R6、R7、R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14、R17、R18、R19、R20、R21、R22、R23、R24、R25、R26、R27、R28和光電耦合器T2、T3、T4、T5、T6、T7組成。每個斷口的結構相同，以斷口A為例，它是由電阻R3、R4，光耦D3、D4中的發(fā)光二極管及開關斷口組成一個回路，電阻R4與光耦D4中的發(fā)光二極管并聯(lián)后再與電阻R3及光耦D3中的發(fā)光二極管串聯(lián)。當開關斷口閉合時，回路有電流流過。當開關閉合后有電阻時，流過回路的電流較小，該電流流過光耦D3中的發(fā)光二極管，使光耦D3導通，輸出低電平；由于電阻R4與光耦D4中的發(fā)光二極管組成一個流過電阻R4的恒流源，使其回路中大部分電流從電阻R4流過，而流過光耦D4中的發(fā)光二極管的電流極小，無法使光耦D2導通，輸出為高電平。當開關斷口閉合后無電阻時，流過回路的電流較大，光耦D3導通，輸出低電平；而回路中一定量的電流從電阻R4流過，其余的電流從光耦D4中的發(fā)光二極管流過，光耦D4導通，輸出低電平。當開關斷口斷開時，回路無電流，輸出均為高電平。這樣，兩路光耦D3、D4的輸出電平的變化可直接反應開關斷口有電阻或無電阻的合分狀態(tài)。
分合閘信號接口電路由壓敏電阻R35、R36，電阻R29、R30、R31、R32、R33、R34，橋式整流器D17、D18，光電耦合器T8，電容C構成。壓敏電阻R35、R36并接在分閘信號M和合閘信號N之間，起著吸收來自分合閘操作電壓中的過電壓。電阻R31、R32、R33、R34和橋式整流器D17、D18將分合閘信號M、N的電壓信號轉(zhuǎn)換成電流信號，并使光耦D15、D16導通，輸出低電平，由輸出端19、20輸入到計算機。和光耦D15、D16中的發(fā)光二極管并聯(lián)的電容C的作用是保護光耦D15、D16中的發(fā)光二極管，吸收外界的沖擊電壓，減少發(fā)光二極管的沖擊電流。采用橋式整流的目的在于滿足分合閘信號M、N交直流均可輸入的需要，同時，保護光耦D15、D16中的發(fā)光二極管。
本實用新型應用于由傳感器、計算機組成的測試儀的接口裝置中，它的優(yōu)點是采用光耦隔離方式，使計算機與傳感器信號、開關斷口信號、分合閘信號成懸浮狀態(tài)，以防外界干擾，轉(zhuǎn)換速度快，能保證延時差不變，同時，不易損壞，可靠性強。
權利要求1.測試儀接口裝置，由傳感器接口電路、開關斷口接口電路、分合閘信號接口電路組成，其特征在于傳感器接口電路、開關接口電路、分合閘信號接口電路均采用光電耦合器TLP521-2；開關斷口接口電路采用由電阻(R4)和光耦(D4)中的發(fā)光二極管組成一個恒流源；分合閘信號接口電路中，壓敏電阻(R35)和(R36)并接在分合閘信號之間，電容(C)并連在光電耦合器TLP521-2中的發(fā)光二極管上。
專利摘要測試儀接口裝置，由傳感器接口電路、開關斷口接口電路、分合閘信號接口電路組成，各電路均采用光電耦合器，使計算機與各信號源成懸浮狀態(tài)，以防外界干擾。本實用新型的優(yōu)點是抗干擾，提高測試儀精度，保證時差不變，可靠性強，適用于由傳感器、計算機組成的測試儀的接口裝置中。
文檔編號G06F3/00GK2166479SQ9321047
公開日1994年5月25日 申請日期1993年4月19日 優(yōu)先權日1993年4月19日
發(fā)明者韓旭, 周勇 申請人:韓旭