專利名稱：鍵盤測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種鍵盤狀態(tài)的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，尤其涉及一種具自動(dòng)測(cè)試電子設(shè)備鍵盤功能及記錄、儲(chǔ)存測(cè)試結(jié)果的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)。
鍵盤廣泛使用于各種電子設(shè)備中，以作為電子設(shè)備的控制命令或數(shù)據(jù)輸入的周邊設(shè)備，例如常見(jiàn)的個(gè)人計(jì)算機(jī)、工業(yè)控制器、收銀機(jī)……等等具信息輸入功能的電子設(shè)備，因此，鍵盤的品質(zhì)優(yōu)劣及其功能是否可正常操作，將直接影響該電子設(shè)備的操作穩(wěn)定性，并且，由于鍵盤中最為直接的操作單元件為按鍵，故按鍵的測(cè)試對(duì)于鍵盤而言，實(shí)為重要之一環(huán)。
然而，傳統(tǒng)上，一般業(yè)界對(duì)于上述鍵盤中的微處理器、LED顯示燈及按鍵功能之測(cè)試，則是以人工方式來(lái)測(cè)試，即以人工方式逐一測(cè)試該鍵盤中的微處理器、LED顯示燈及每一個(gè)按鍵，不但費(fèi)時(shí)費(fèi)工，且其測(cè)試效率較低；再者，諸如以人工逐一壓按按鍵的測(cè)試方式，由于每一按鍵壓的力道大小不一，或因按鍵鍵帽表面壓受力極易產(chǎn)生誤判的情況，將使該鍵盤的測(cè)試品質(zhì)更加惡壞，況且，在測(cè)試更多種不同型態(tài)鍵盤的狀態(tài)下，諸如機(jī)械接點(diǎn)式鍵盤及電容薄膜式鍵盤，其兩者壓按壓力間明顯有差距，以現(xiàn)有技術(shù)之人工一逐一壓按測(cè)試，將使測(cè)試者因指尖壓按力道需隨時(shí)調(diào)節(jié)變動(dòng)而倍感艱辛，同時(shí)，在測(cè)試過(guò)程中，亦極易因壓力的變化過(guò)大，而使誤判的機(jī)率大幅增加，嚴(yán)重影響鍵盤產(chǎn)品的品質(zhì)管制，實(shí)乃目前業(yè)界所極待解決的主要課題。
本發(fā)明的主要目的在于提供一種鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，它能以逐一自動(dòng)測(cè)試鍵盤的微處理器、按鍵壓按及燈號(hào)顯示功能，節(jié)省鍵盤測(cè)試的人力及工時(shí)，進(jìn)而提升鍵盤的測(cè)試效率。
本發(fā)明的再一目的在于提供一種鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，它能使該測(cè)試壓按鍵盤的輸出壓按力量一致，由此可以降低因各按鍵壓按測(cè)試的力道而引起的誤判機(jī)率，以提高鍵盤的測(cè)試品質(zhì)。
本發(fā)明的又一目的在于提供一種鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，它能使該測(cè)試壓按鍵盤的力量可經(jīng)由元件接觸或氣嘴氣體噴出的方式加以精確調(diào)整控制，以符合不同壓按力道的鍵盤測(cè)試。
本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的一種鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，用以作電子設(shè)備的鍵盤功能測(cè)試，其特點(diǎn)是包括一測(cè)試裝置，其具有預(yù)設(shè)鍵盤測(cè)試的微處理器、顯示燈及按鍵壓按等測(cè)試參數(shù)、比對(duì)判讀測(cè)試結(jié)果、錯(cuò)誤警示及儲(chǔ)存測(cè)式數(shù)據(jù)之功能，并與上述鍵盤作電氣連按，以接收該待測(cè)鍵盤的微處理器信號(hào)及每一按鍵的壓按信號(hào)加以測(cè)試比對(duì)；一燈號(hào)感測(cè)器，用以測(cè)試上述待測(cè)鍵盤的LED顯示燈號(hào)顯示功能，并將測(cè)試結(jié)果送至上述測(cè)試裝置判讀；一按鍵按測(cè)試機(jī)構(gòu)，以接觸方式壓按測(cè)試待測(cè)鍵盤中的按鍵壓按功能，并將測(cè)試結(jié)果送入測(cè)試裝置；一橫軸移位驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其受測(cè)試裝置控制，以驅(qū)動(dòng)該按鍵測(cè)試機(jī)構(gòu)作橫軸位移，以使該按鍵壓按測(cè)試機(jī)構(gòu)作橫軸位移，從而使上述待測(cè)鍵盤的每一按鍵均可作壓按測(cè)試；一警示裝置，其受測(cè)試裝置的驅(qū)動(dòng)，在該待測(cè)鍵盤的處理器、LED顯示燈號(hào)測(cè)試及按鍵壓按測(cè)試結(jié)果有異常、故障狀態(tài)下，發(fā)出警示信號(hào)。
在上述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中，其中，所述的該測(cè)試裝置為PC個(gè)人計(jì)算機(jī)及PLC可編程控制器的復(fù)合結(jié)構(gòu)所組成。
在上述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中，其中，所述的該燈號(hào)感測(cè)器是由若干光感測(cè)元件構(gòu)成。
在上述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中，其中，所述的該按鍵壓按測(cè)試機(jī)構(gòu)包括一氣動(dòng)元件組及末端元件組。
在上述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中，其中，所述的該氣動(dòng)元件組由若干氣壓缸所構(gòu)成。
在上述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中，其中，所述的該末端元件組為若干接觸元件。
在上述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中，其中，所述的該末端元件組為若干氣嘴，以氣體噴出方式來(lái)壓按該鍵盤。
在上述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中，其中，所述的該測(cè)試裝置中儲(chǔ)存記錄一測(cè)試控制流程信息。
在上述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中，其中，所述的該測(cè)試控制流程信息，其鍵盤測(cè)試步驟包括a.測(cè)試鍵盤微處理器功能；b.判別鍵盤微處理器功能是否正常；c.測(cè)試鍵盤LED顯示燈顯示功能；d.判別鍵盤LED顯示燈功能是否正常；e.測(cè)試鍵盤的按鍵壓按功能；f.橫軸移動(dòng)逐一測(cè)試鍵盤上每一按鍵的壓按功能；g.判別鍵盤上每一按鍵的壓按功能是否正常；h.儲(chǔ)存及記錄鍵盤測(cè)試結(jié)果。
在上述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中，其中，所述的該測(cè)試控制流程信息，在測(cè)試結(jié)果舁常、故障時(shí)，它包含一警示流程，其步驟為a.發(fā)出警示信號(hào)；b.記錄及儲(chǔ)存異常、故障的測(cè)試結(jié)果。
本發(fā)明由于采用了上述的技術(shù)方案，因此，當(dāng)由該測(cè)試裝置在進(jìn)行各測(cè)試步驟中的其中一步驟發(fā)生檢測(cè)錯(cuò)誤或故障時(shí)，能驅(qū)動(dòng)一警示裝置發(fā)出警示信號(hào)或燈號(hào)，并且該檢測(cè)錯(cuò)誤的信號(hào)號(hào)或測(cè)試結(jié)果，則由測(cè)試裝置記錄儲(chǔ)存，以自動(dòng)測(cè)試鍵盤各項(xiàng)功能及記錄其測(cè)試結(jié)果。
通過(guò)以下對(duì)本發(fā)明鍵盤測(cè)試系統(tǒng)的一實(shí)施例結(jié)合其附圖及其實(shí)際操作的詳細(xì)描述，可以進(jìn)一步理解本發(fā)明的目的、具體結(jié)構(gòu)特征和優(yōu)點(diǎn)。其中，附圖為

圖1是依據(jù)本發(fā)明提出的鍵盤測(cè)系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖；圖2是依據(jù)本發(fā)明提出的鍵盤測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試流程圖；首先請(qǐng)參見(jiàn)圖1所示，這是本發(fā)明鍵盤測(cè)試系統(tǒng)100的系統(tǒng)方塊圖，其中，該鍵盤測(cè)試系統(tǒng)100包括一測(cè)試裝置10，其型態(tài)不拘，在本發(fā)明中是列以PC個(gè)人計(jì)算機(jī)及PLC可編程控制器復(fù)合的型態(tài)所構(gòu)成的，是具有預(yù)設(shè)鍵盤測(cè)試的微處理器、顯示燈及按鍵壓按等測(cè)試參數(shù)、比對(duì)判讀測(cè)試結(jié)果、錯(cuò)誤警示及儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)的功能，且進(jìn)一步地，并可作鍵盤自動(dòng)測(cè)試控制流程信息的儲(chǔ)存及執(zhí)行，其詳細(xì)的控制流程在以下文中會(huì)有詳細(xì)說(shuō)明，容后陳明。
一待測(cè)鍵盤20，它以電氣連接方式與上述的測(cè)試裝置10相連結(jié)，以使待測(cè)鍵盤200的微處理器信號(hào)及按鍵壓按測(cè)試信號(hào)，得以連接送至測(cè)試裝置10中判讀比對(duì)，且以待測(cè)鍵盤200中的微處理器測(cè)試為優(yōu)先。
一燈號(hào)感測(cè)器20，它由光感測(cè)元件所構(gòu)成，用以測(cè)試上述待測(cè)鍵盤200上的LED燈號(hào)顯示是否正常，并將測(cè)試結(jié)果回傳至上述的測(cè)試裝置10中。
一按鍵壓按測(cè)試機(jī)構(gòu)30，它包括一氣動(dòng)元件組31及末端元件組32所構(gòu)成，該氣動(dòng)元件組31由若干氣壓缸所組成，受該測(cè)試裝置10的驅(qū)動(dòng)，而使其動(dòng)作桿作伸縮之運(yùn)動(dòng)，該末端元件組32則設(shè)于氣動(dòng)元件組31中的各氣壓缸的動(dòng)作桿末端，得以接觸待測(cè)鍵盤200的按鍵或不接觸待測(cè)鍵盤200的按鍵方式，壓按該待測(cè)鍵盤200的按鍵，例如該末端元件組32為若干接觸元件構(gòu)成時(shí)，則可通過(guò)伸、縮運(yùn)動(dòng)來(lái)接觸壓按該待測(cè)鍵盤200的按鍵；或該末端元件組32為若干噴氣氣嘴構(gòu)成時(shí)，則可通過(guò)由氣體氣壓噴氣方式，以不接觸待測(cè)鍵盤200的方式，由該噴出的氣體壓力控制，使該待測(cè)鍵盤200的按鍵作壓按操作的動(dòng)作。
一橫軸移位驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)40，是用以驅(qū)動(dòng)橫移上述按鍵壓按測(cè)試機(jī)構(gòu)30，使該末端元件組32得以通過(guò)由逐步橫移方式來(lái)逐一地按壓操作該待測(cè)鍵盤200中的每一按鍵，使該待測(cè)鍵盤200的每一個(gè)按鍵壓按測(cè)試結(jié)果，得以回傳至上述的測(cè)試裝置10中作比對(duì)判讀，該橫軸移位驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)40亦受該測(cè)試裝置10的驅(qū)動(dòng)控制，以配合待測(cè)鍵盤200的按鍵布設(shè)位置及鍵距來(lái)作同步位移驅(qū)動(dòng)該按鍵壓按測(cè)試機(jī)構(gòu)30。
一警示裝置50，由聲音及燈號(hào)警示元件構(gòu)成，諸如以蜂鳴器及LED顯示燈構(gòu)成，其中，受上述測(cè)試裝置10的驅(qū)動(dòng)，以在上述待測(cè)鍵盤200進(jìn)行微處理器、LED顯示燈及按鍵壓測(cè)試等任一項(xiàng)測(cè)試結(jié)果有異狀或故障時(shí)，則由該警示裝置50發(fā)出聲音及顯示燈號(hào)的警訊，并停止所有測(cè)試動(dòng)作，以使現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)控人員得以將該測(cè)試故障或不良之待測(cè)鍵盤200作適當(dāng)?shù)奶幚?，并且將該測(cè)試錯(cuò)誤的結(jié)果，同時(shí)送入該測(cè)試裝置10中來(lái)加以儲(chǔ)存、記錄。
請(qǐng)配合參見(jiàn)圖2所示，這是本發(fā)明中待測(cè)鍵盤200的測(cè)試流程，即是用來(lái)驅(qū)動(dòng)控制上述本發(fā)明的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)100的步驟，其相對(duì)的控制軟件信息則可寫入及儲(chǔ)存于上述測(cè)試裝置10中來(lái)執(zhí)行，其中，步驟300，是測(cè)試鍵盤微處理器功能的步驟，即是測(cè)試裝置10以電氣連接方式來(lái)檢測(cè)該待測(cè)鍵盤200中的微處理器功能，再以步驟310判讀微處理測(cè)試功能是否正常，此步驟則以測(cè)試裝置10中所預(yù)先儲(chǔ)存的待測(cè)鍵盤200的微處理器標(biāo)準(zhǔn)信息與實(shí)際待測(cè)鍵盤200所測(cè)得的微處理器信息加以比對(duì)，若為正常，繼續(xù)步驟320，即測(cè)試鍵盤LED顯示燈的功能，其由上述的燈號(hào)感測(cè)器20來(lái)加以測(cè)試該待測(cè)鍵盤200中的各LED燈號(hào)的顯示功能，并以步驟330來(lái)加以判斷該鍵盤LED顯示功能是否正常，若為正常，則再以步驟340進(jìn)行測(cè)試裝置壓按功能，其是以上述按鍵壓按測(cè)試機(jī)構(gòu)30來(lái)進(jìn)行該待測(cè)鍵盤200的各按鍵壓按測(cè)試，并再以步驟350進(jìn)行逐一橫移壓按待測(cè)鍵盤200上的每一按鍵，以作所有的按鍵測(cè)試，并以步驟360來(lái)判讀該待測(cè)鍵盤200的按鍵壓按功能是否正常。
上述步驟360的待測(cè)鍵盤200的各按鍵壓按測(cè)試功能判讀，若其結(jié)果皆為正常，則以步驟370加以儲(chǔ)存、記錄其結(jié)果，即將該測(cè)試功能正常的結(jié)果，儲(chǔ)存、記錄在上述之測(cè)試裝置10中，并由該測(cè)試裝置10本身的顯示裝置(圖未顯示)來(lái)顯示告知現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)控人員，以對(duì)該功能正常的待測(cè)鍵盤200作適當(dāng)之處理，并繼續(xù)下一個(gè)待測(cè)鍵盤200的功能測(cè)試。
在上述步驟310、步驟330及步驟360中對(duì)該待測(cè)鍵盤200的微處理器、LED顯示燈及每一按鍵壓按測(cè)試功能判讀的步驟中，若其中有任一判別步驟為不正常的狀態(tài)，即該鍵盤微處理器、LED顯示燈或每一個(gè)按鍵功能的任一者有測(cè)試異?；蚬收现疇顟B(tài)，則進(jìn)行一警示流程，即以步驟380發(fā)出警示信號(hào)，其由該測(cè)試裝置10驅(qū)動(dòng)該警示裝置50發(fā)出聲響或燈號(hào)顯示，以警示現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)控人員對(duì)該測(cè)試功能異?；蚬收系拇郎y(cè)鍵盤作適當(dāng)?shù)奶幚恚⒁圆襟E390加以記錄、儲(chǔ)存該錯(cuò)誤的測(cè)試結(jié)果及信息，并停止一切的測(cè)試動(dòng)作，直至該測(cè)試功能異?；蚬收系拇郎y(cè)鍵盤200作脫離上述本發(fā)明的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)100的動(dòng)作為止。
綜上所述，上述本發(fā)明所示的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)100，由其整體技術(shù)所顯現(xiàn)的發(fā)明精神，乃是在于提供一種可自動(dòng)測(cè)試各種電子設(shè)備鍵盤中的微處理、LED顯示燈及每一按鍵功能，并自動(dòng)將其測(cè)試結(jié)果作儲(chǔ)存、記錄，并于測(cè)試功能異常時(shí)，發(fā)出警訊及記錄其異常及故障之信息，可達(dá)到節(jié)省人力、工時(shí)之鍵盤測(cè)試效果。
權(quán)利要求
1.一種鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，用以作電子設(shè)備的鍵盤功能測(cè)試，其特征在于包括一測(cè)試裝置，其具有預(yù)設(shè)鍵盤測(cè)試的微處理器、顯示燈及按鍵壓按等測(cè)試參數(shù)、比對(duì)判讀測(cè)試結(jié)果、錯(cuò)誤警示及儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)之功能，并與上述鍵盤作電氣連接，以接收該待測(cè)鍵盤的微處理器信號(hào)及每一按鍵的壓按信號(hào)加以測(cè)試比對(duì)；一燈號(hào)感測(cè)器，用以測(cè)試上述待測(cè)鍵盤的LED顯示燈號(hào)顯示功能，并將測(cè)試結(jié)果送至上述測(cè)試裝置判讀；一按鍵按測(cè)試機(jī)構(gòu)，以接觸方式壓按測(cè)試待測(cè)鍵盤中的按鍵壓按功能，并將測(cè)試結(jié)果送入測(cè)試裝置；一橫軸移位驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其受測(cè)試裝置控制，以驅(qū)動(dòng)該按鍵測(cè)試機(jī)構(gòu)作橫軸位移，以使該按鍵壓按測(cè)試機(jī)構(gòu)作橫軸位移，從而使上述待測(cè)鍵盤的每一按鍵均可作壓按測(cè)試，以及；一警示裝置，其受測(cè)試裝置的驅(qū)動(dòng)，在該待測(cè)鍵盤的處理器、LED顯示燈號(hào)測(cè)試及按鍵壓按測(cè)試結(jié)果有異常、故障狀態(tài)下，發(fā)出警示信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的該測(cè)試裝置為PC個(gè)人計(jì)算機(jī)及PLC可編程控制器的復(fù)合結(jié)構(gòu)所組成。
3.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的該燈號(hào)感測(cè)器是由若干光感測(cè)元件構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的該按鍵壓按測(cè)試機(jī)構(gòu)包括一氣動(dòng)元件組及末端元件組。
5.如權(quán)利要求4所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的該氣動(dòng)元件組由若干氣壓缸所構(gòu)成。
6.如權(quán)利要求4所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的該末端元件組為若干接觸元件。
7.如權(quán)利要求4所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的該末端元件組為若干氣嘴，以氣體噴出方式來(lái)壓按該鍵盤。
8.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的該測(cè)試裝置中儲(chǔ)存記錄一測(cè)試控制流程信息。
9.如權(quán)利要求8所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的該測(cè)試控制流程信息，其鍵盤測(cè)試步驟包括a.測(cè)試鍵盤微處理器功能；b.判別鍵盤微處理器功能是否正常；c.測(cè)試鍵盤LED顯示燈顯示功能；d.判別鍵盤LED顯示燈功能是否正常；e.測(cè)試鍵盤的按鍵壓按功能；f.橫軸移動(dòng)逐一測(cè)試鍵盤上每一按鍵的壓按功能；g.判別鍵盤上每一按鍵的壓按功能是否正常，以及；h.儲(chǔ)存及記錄鍵盤測(cè)試結(jié)果。
10.如權(quán)利要求8、9所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的該測(cè)試控制流程信息，在測(cè)試結(jié)果舁常、故障時(shí)，它包含一警示流程，其步驟為a.發(fā)出警示信號(hào)，以及；b.記錄及儲(chǔ)存異常、故障的測(cè)試結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明數(shù)據(jù)一種鍵盤測(cè)試系統(tǒng),用作電子設(shè)備的鍵盤功能測(cè)試,其特點(diǎn)是包括:一測(cè)試裝置,其預(yù)設(shè)鍵盤測(cè)試的微處理器、顯示燈及按鍵壓按等測(cè)試參數(shù)、比對(duì)判讀測(cè)試結(jié)果、錯(cuò)誤警示及儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)的功能;一燈號(hào)感測(cè)器,以測(cè)試LED顯示功能;一按鍵按測(cè)試機(jī)構(gòu);一橫軸移位驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),以驅(qū)動(dòng)按鍵測(cè)試機(jī)構(gòu)作橫軸位移;一警示裝置,其在測(cè)試結(jié)果有異?；蚬收蠣顟B(tài)下,發(fā)出警示信號(hào),并由測(cè)試裝置記錄儲(chǔ)存其測(cè)試結(jié)果。
文檔編號(hào)G06F3/023GK1257241SQ9812643
公開(kāi)日2000年6月21日 申請(qǐng)日期1998年12月17日 優(yōu)先權(quán)日1998年12月17日
發(fā)明者郭歷優(yōu) 申請(qǐng)人:英群企業(yè)股份有限公司