電腦系統(tǒng)及其測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種電腦系統(tǒng)及其測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002] -種電腦系統(tǒng)包括一CPU、一與CPU相連的北橋芯片、一與北橋芯片相連的南橋芯 片及一UEFI(UnifiedExtensibleFirmwareInterface，統(tǒng)一的可擴(kuò)展固件接口）系統(tǒng)。所 述UEFI的功能與BIOS功能類似，負(fù)責(zé)在開機(jī)時(shí)做硬件啟動(dòng)和檢測(cè)等工作，并且擔(dān)任操作系 統(tǒng)控制硬件時(shí)的中介角色。所述UEFI對(duì)電腦系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，如果檢測(cè)到錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)， 這些錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)往往不能及時(shí)截取，給測(cè)試者分析錯(cuò)誤數(shù)據(jù)及錯(cuò)誤原因帶來不便。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種能截取測(cè)試時(shí)出現(xiàn)的錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)的電腦系統(tǒng)及 其測(cè)試方法。
[0004] -種電腦系統(tǒng)，包括一UEFI子系統(tǒng)，所述UEFI子系統(tǒng)包括一測(cè)試模組及一截圖模 組，所述測(cè)試模組用于測(cè)試所述電腦系統(tǒng)，所述電腦系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)，所述截圖 模組用以截取包含有錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)的畫面。
[0005] 進(jìn)一步地，所述電腦系統(tǒng)還包括一CPU、一與CPU相連的北橋芯片、一與北橋芯片 相連的南橋芯片及一連接至所述南橋芯片的USB存儲(chǔ)設(shè)備，所述UEFI子系統(tǒng)與所述南橋芯 片相連，所述截圖模組將截取的畫面存儲(chǔ)至所述USB存數(shù)設(shè)備。
[0006] 進(jìn)一步地，所述UEFI子系統(tǒng)還包括一加載模組，所述加載模組將所述測(cè)試模組及 截圖模組載入電腦系統(tǒng)。
[0007] 進(jìn)一步地，所述電腦系統(tǒng)還包括一與所述南橋芯片相連的鍵盤，所述鍵盤上設(shè)有 用于啟動(dòng)所述截圖模組的熱鍵，當(dāng)該熱鍵被點(diǎn)擊后，所述截圖模組截取電腦系統(tǒng)顯示的畫 面。
[0008] 進(jìn)一步地，所述測(cè)試模組在測(cè)試電腦系統(tǒng)時(shí)若檢測(cè)到錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)，所述截圖模 組自動(dòng)截取包含有錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)的畫面。
[0009] 進(jìn)一步地，所述電腦系統(tǒng)還包括一與所述北橋芯片相連的顯卡及與所述顯卡相連 的顯存。
[0010] -種測(cè)試方法，用于測(cè)試一電腦系統(tǒng)，所述電腦系統(tǒng)包括一UEFI子系統(tǒng)，所述 UEFI子系統(tǒng)包括一測(cè)試模組及一截圖模組，所述測(cè)試方法包括以下步驟：所述電腦系統(tǒng)開 機(jī)；所述測(cè)試模組運(yùn)行測(cè)試程序以測(cè)試所述電腦系統(tǒng)；所述電腦系統(tǒng)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)；所述 測(cè)試模組判斷是否檢測(cè)到錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)；如果檢測(cè)到錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)，所述截圖模組截取包 含有錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)的畫面；如果沒有檢測(cè)到錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)，則測(cè)試?yán)^續(xù)運(yùn)行直到預(yù)設(shè)的測(cè) 試流程結(jié)束。
[0011] 進(jìn)一步地，所述測(cè)試方法還包括在截取畫面后判斷所述電腦系統(tǒng)是否接有USB存 儲(chǔ)設(shè)備的步驟，如果所述電腦系統(tǒng)接有USB存儲(chǔ)設(shè)備，則將截取的畫面存儲(chǔ)至所述USB存儲(chǔ) 設(shè)備；如果所述電腦系統(tǒng)沒有接有USB存儲(chǔ)設(shè)備，則提示插入U(xiǎn)SB存儲(chǔ)設(shè)備。
[0012] 進(jìn)一步地，所述測(cè)試方法還包括在所述測(cè)試模組運(yùn)行測(cè)試程序以測(cè)試所述電腦系 統(tǒng)的步驟之前載入所述測(cè)試模組及截圖模組的步驟。
[0013] 進(jìn)一步地，所述測(cè)試方法還包括在截取包含有錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)的畫面的步驟之前點(diǎn) 擊一用于啟動(dòng)所述截圖模組的熱鍵。
[0014] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，上述電腦系統(tǒng)及其測(cè)試方法利用UEFI子系統(tǒng)的測(cè)試模組測(cè)試 電腦系統(tǒng)，利用UEFI子系統(tǒng)的截圖模組截取電腦系統(tǒng)在測(cè)試時(shí)顯示的包含有錯(cuò)誤測(cè)試數(shù) 據(jù)的畫面，方便測(cè)試者進(jìn)一步分析錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)。
【附圖說明】
[0015] 圖1是本發(fā)明電腦系統(tǒng)一較佳實(shí)施例的組成模塊圖。
[0016] 圖2是圖1中UEFI子系統(tǒng)的組成模塊圖。
[0017] 圖3是本發(fā)明電腦系統(tǒng)測(cè)試方法一較佳實(shí)施例的流程圖。
[0018] 主要元件符號(hào)說明
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種電腦系統(tǒng)，包括一肥FI子系統(tǒng)，其特征在于；所述肥FI子系統(tǒng)包括一測(cè)試模組 及一截圖模組，所述測(cè)試模組用于測(cè)試所述電腦系統(tǒng)，所述電腦系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)顯示測(cè)試數(shù) 據(jù)，所述截圖模組用W截取包含有錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)的畫面。
2. 如權(quán)利要求1所述的電腦系統(tǒng)，其特征在于：所述電腦系統(tǒng)還包括一 CPU、一與CPU 相連的北橋芯片、一與北橋芯片相連的南橋芯片及一連接至所述南橋芯片的USB存儲(chǔ)設(shè) 備，所述肥FI子系統(tǒng)與所述南橋芯片相連，所述截圖模組將截取的畫面存儲(chǔ)至所述USB存 數(shù)設(shè)備。
3. 如權(quán)利要求1所述的電腦系統(tǒng)，其特征在于；所述肥FI子系統(tǒng)還包括一加載模組， 所述加載模組將所述測(cè)試模組及截圖模組載入電腦系統(tǒng)。
4. 如權(quán)利要求2所述的電腦系統(tǒng)，其特征在于：所述電腦系統(tǒng)還包括一與所述南橋芯 片相連的鍵盤，所述鍵盤上設(shè)有用于啟動(dòng)所述截圖模組的熱鍵，當(dāng)該熱鍵被點(diǎn)擊后，所述截 圖模組截取電腦系統(tǒng)顯示的畫面。
5. 如權(quán)利要求1所述的電腦系統(tǒng)，其特征在于：所述測(cè)試模組在測(cè)試電腦系統(tǒng)時(shí)若檢 測(cè)到錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)，所述截圖模組自動(dòng)截取包含有錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)的畫面。
6. 如權(quán)利要求1所述的電腦系統(tǒng)，其特征在于：所述電腦系統(tǒng)還包括一與所述北橋芯 片相連的顯卡及與所述顯卡相連的顯存。
7. -種測(cè)試方法，用于測(cè)試一電腦系統(tǒng)，所述電腦系統(tǒng)包括一肥FI子系統(tǒng)，所述肥FI 子系統(tǒng)包括一測(cè)試模組及一截圖模組，所述測(cè)試方法包括W下步驟： 所述電腦系統(tǒng)開機(jī)； 所述測(cè)試模組運(yùn)行測(cè)試程序W測(cè)試所述電腦系統(tǒng)； 所述電腦系統(tǒng)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)； 所述測(cè)試模組判斷是否檢測(cè)到錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)； 如果檢測(cè)到錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)，所述截圖模組截取包含有錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)的畫面； 如果沒有檢測(cè)到錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)，則測(cè)試?yán)^續(xù)運(yùn)行直到預(yù)設(shè)的測(cè)試流程結(jié)束。
8. 如權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于：所述測(cè)試方法還包括在截取畫面后判 斷所述電腦系統(tǒng)是否接有USB存儲(chǔ)設(shè)備的步驟，如果所述電腦系統(tǒng)接有USB存儲(chǔ)設(shè)備，則將 截取的畫面存儲(chǔ)至所述USB存儲(chǔ)設(shè)備；如果所述電腦系統(tǒng)沒有接有USB存儲(chǔ)設(shè)備，則提示插 入U(xiǎn)SB存儲(chǔ)設(shè)備。
9. 如權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于：所述測(cè)試方法還包括在所述測(cè)試模組 運(yùn)行測(cè)試程序W測(cè)試所述電腦系統(tǒng)的步驟之前載入所述測(cè)試模組及截圖模組的步驟。
10. 如權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于：所述測(cè)試方法還包括在截取包含有錯(cuò) 誤測(cè)試數(shù)據(jù)的畫面的步驟之前點(diǎn)擊一用于啟動(dòng)所述截圖模組的熱鍵。
【專利摘要】一種電腦系統(tǒng)，包括一UEFI子系統(tǒng)，所述UEFI子系統(tǒng)包括一測(cè)試模組及一截圖模組，所述測(cè)試模組用于測(cè)試所述電腦系統(tǒng)，所述電腦系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)，所述截圖模組用以截取包含有錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)的畫面。本發(fā)明電腦系統(tǒng)及其測(cè)試方法能在測(cè)試出錯(cuò)時(shí)截取含有錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)的畫面，方便測(cè)試者分析錯(cuò)誤測(cè)試數(shù)據(jù)。
【IPC分類】G06F11-22, G06F11-34
【公開號(hào)】CN104679625
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201310633440
【發(fā)明人】陳振宇, 李雪
【申請(qǐng)人】鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
【公開日】2015年6月3日
【申請(qǐng)日】2013年12月2日