應(yīng)用程序的測(cè)試方法及裝置、電子設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本公開涉及應(yīng)用測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及應(yīng)用程序的測(cè)試方法及裝置、電子設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]在智能設(shè)備的使用過程中，用戶可以在智能設(shè)備上安裝各種各樣的應(yīng)用程序，以實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的功能和效果。應(yīng)用程序由開發(fā)者完成開發(fā)；同時(shí)，由于應(yīng)用程序本身的編寫、智能設(shè)備的硬件兼容等各方面的原因，開發(fā)者需要對(duì)應(yīng)用程序進(jìn)行測(cè)試后，才會(huì)提供給用戶進(jìn)行使用，從而避免用戶在使用過程中出現(xiàn)各種問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本公開提供應(yīng)用程序的測(cè)試方法及裝置、電子設(shè)備，以解決相關(guān)技術(shù)中的不足。
[0004]根據(jù)本公開實(shí)施例的第一方面，提供一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法，包括:
[0005]接收測(cè)試請(qǐng)求，所述測(cè)試請(qǐng)求包括待測(cè)試應(yīng)用程序和設(shè)備型號(hào)信息；
[0006]選取與所述設(shè)備型號(hào)信息相匹配的可用測(cè)試設(shè)備；
[0007]在所述可用測(cè)試設(shè)備上測(cè)試所述待測(cè)試應(yīng)用程序，并采集相應(yīng)的測(cè)試結(jié)果；
[0008]將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送至所述測(cè)試請(qǐng)求的發(fā)送方用戶。
[0009]可選的，所述選取與所述設(shè)備型號(hào)信息相匹配的可用測(cè)試設(shè)備，包括:
[0010]調(diào)取已接入的測(cè)試設(shè)備的實(shí)時(shí)狀態(tài)的匯總信息；
[0011]在與所述設(shè)備型號(hào)信息相匹配的所有已接入的測(cè)試設(shè)備中，根據(jù)所述匯總信息選取實(shí)時(shí)狀態(tài)為空閑的測(cè)試設(shè)備，以作為所述可用測(cè)試設(shè)備。
[0012]可選的，所述測(cè)試請(qǐng)求還包括:測(cè)試類型；以及，所述在所述可用測(cè)試設(shè)備上測(cè)試所述待測(cè)試應(yīng)用程序，包括:
[0013]選取與所述測(cè)試類型相匹配的測(cè)試腳本；
[0014]通過所述測(cè)試腳本，對(duì)所述待測(cè)試應(yīng)用程序進(jìn)行測(cè)試。
[0015]可選的，所述測(cè)試類型包括以下至少之一:兼容性測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試、遍歷測(cè)試。
[0016]可選的，還包括:
[0017]根據(jù)所述測(cè)試請(qǐng)求生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試任務(wù)，并在所述測(cè)試任務(wù)與所述測(cè)試請(qǐng)求的發(fā)送方用戶之間建立關(guān)聯(lián)關(guān)系；以及
[0018]所述將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送至所述測(cè)試請(qǐng)求的發(fā)送方用戶，包括:根據(jù)所述關(guān)聯(lián)關(guān)系，將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送至所述發(fā)送方用戶。
[0019]根據(jù)本公開實(shí)施例的第二方面，提供一種應(yīng)用程序的測(cè)試裝置，包括:
[0020]接收單元，接收測(cè)試請(qǐng)求，所述測(cè)試請(qǐng)求包括待測(cè)試應(yīng)用程序和設(shè)備型號(hào)信息；
[0021]選取單元，選取與所述設(shè)備型號(hào)信息相匹配的可用測(cè)試設(shè)備；
[0022]測(cè)試單元，在所述可用測(cè)試設(shè)備上測(cè)試所述待測(cè)試應(yīng)用程序，并采集相應(yīng)的測(cè)試結(jié)果；
[0023]發(fā)送單元，將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送至所述測(cè)試請(qǐng)求的發(fā)送方用戶。
[0024]可選的，所述選取單元包括:
[0025]調(diào)取子單元，調(diào)取已接入的測(cè)試設(shè)備的實(shí)時(shí)狀態(tài)的匯總信息；
[0026]選取子單元，在與所述設(shè)備型號(hào)信息相匹配的所有已接入的測(cè)試設(shè)備中，根據(jù)所述匯總信息選取實(shí)時(shí)狀態(tài)為空閑的測(cè)試設(shè)備，以作為所述可用測(cè)試設(shè)備。
[0027]可選的，所述測(cè)試請(qǐng)求還包括:測(cè)試類型；以及，所述測(cè)試單元包括:
[0028]腳本選取子單元，選取與所述測(cè)試類型相匹配的測(cè)試腳本；
[0029]測(cè)試子單元，通過所述測(cè)試腳本，對(duì)所述待測(cè)試應(yīng)用程序進(jìn)行測(cè)試。
[0030]可選的，所述測(cè)試類型包括以下至少之一:兼容性測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試、遍歷測(cè)試。
[0031]可選的，還包括:
[0032]建立單元，根據(jù)所述測(cè)試請(qǐng)求生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試任務(wù)，并在所述測(cè)試任務(wù)與所述測(cè)試請(qǐng)求的發(fā)送方用戶之間建立關(guān)聯(lián)關(guān)系；以及
[0033]所述發(fā)送單元包括:結(jié)果發(fā)送子單元，根據(jù)所述關(guān)聯(lián)關(guān)系，將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送至所述發(fā)送方用戶。
[0034]根據(jù)本公開實(shí)施例的第三方面，提供一種電子設(shè)備，包括:
[0035]處理器；
[0036]用于存儲(chǔ)處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；
[0037]其中，所述處理器被配置為:
[0038]接收測(cè)試請(qǐng)求，所述測(cè)試請(qǐng)求包括待測(cè)試應(yīng)用程序和設(shè)備型號(hào)信息；
[0039]選取與所述設(shè)備型號(hào)信息相匹配的可用測(cè)試設(shè)備；
[0040]在所述可用測(cè)試設(shè)備上測(cè)試所述待測(cè)試應(yīng)用程序，并采集相應(yīng)的測(cè)試結(jié)果；
[0041]將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送至所述測(cè)試請(qǐng)求的發(fā)送方用戶。
[0042]本公開的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果:
[0043]本公開通過集中各種型號(hào)的智能設(shè)備，建立起統(tǒng)一的測(cè)試平臺(tái)，則開發(fā)者只需要提供待測(cè)試應(yīng)用程序和測(cè)試需求，即可在該測(cè)試平臺(tái)上完成各類測(cè)試，無需開發(fā)者手動(dòng)連接至所需的智能設(shè)備，更無需開發(fā)者自行購買智能設(shè)備，避免對(duì)智能設(shè)備的資源浪費(fèi)。
[0044]應(yīng)當(dāng)理解的是，以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開。
【附圖說明】
[0045]此處的附圖被并入說明書中并構(gòu)成本說明書的一部分，示出了符合本公開的實(shí)施例，并與說明書一起用于解釋本公開的原理。
[0046]圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法的流程圖。
[0047]圖2是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種應(yīng)用程序測(cè)試的場(chǎng)景示意圖。
[0048]圖3是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法的流程圖。
[0049]圖4-7是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種應(yīng)用程序的測(cè)試裝置的框圖。
[0050]圖8是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種用于應(yīng)用程序的測(cè)試的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0051]這里將詳細(xì)地對(duì)示例性實(shí)施例進(jìn)行說明，其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時(shí)，除非另有表示，不同附圖中的相同數(shù)字表示相同或相似的要素。以下示例性實(shí)施例中所描述的實(shí)施方式并不代表與本公開相一致的所有實(shí)施方式。相反，它們僅是與如所附權(quán)利要求書中所詳述的、本公開的一些方面相一致的裝置和方法的例子。
[0052]圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法的流程圖，如圖1所示，該方法用于云測(cè)試平臺(tái)，可以包括以下步驟。
[0053]在步驟102中，接收測(cè)試請(qǐng)求，所述測(cè)試請(qǐng)求包括待測(cè)試應(yīng)用程序和設(shè)備型號(hào)信息。
[0054]在本實(shí)施例中，云測(cè)試平臺(tái)可以由多臺(tái)物理服務(wù)器構(gòu)成，這些物理服務(wù)器相互連接并執(zhí)行相應(yīng)的功能，從而在整體上構(gòu)成本公開的云測(cè)試平臺(tái)。云測(cè)試平臺(tái)一方面通過互聯(lián)網(wǎng)連接至開發(fā)者的終端設(shè)備，獲取這些終端設(shè)備發(fā)起的測(cè)試請(qǐng)求，并返回對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果；另一方面，云測(cè)試平臺(tái)連接至各種型號(hào)的測(cè)試設(shè)備，以用于執(zhí)行對(duì)應(yīng)于測(cè)試請(qǐng)求的測(cè)試任務(wù)。
[0055]在步驟104中，選取與所述設(shè)備型號(hào)信息相匹配的可用測(cè)試設(shè)備。
[0056]在本實(shí)施例中，云測(cè)試平臺(tái)通過調(diào)取已接入的測(cè)試設(shè)備的實(shí)時(shí)狀態(tài)的匯總信息，并在與所述設(shè)備型號(hào)信息相匹配的所有已接入的測(cè)試設(shè)備中，根據(jù)所述匯總信息選取實(shí)時(shí)狀態(tài)為空閑的測(cè)試設(shè)備，以作為所述可用測(cè)試設(shè)備。
[0057]在該實(shí)施例中，通過獲取和匯總測(cè)試設(shè)備的實(shí)時(shí)狀態(tài)，可以準(zhǔn)確了解測(cè)試設(shè)備的可用性，有助于及時(shí)選取合適的測(cè)試設(shè)備，以提升測(cè)試效率。
[0058]在步驟106中，在所述可用測(cè)試設(shè)備上測(cè)試所述待測(cè)試應(yīng)用程序，并采集相應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。
[0059]在本實(shí)施例中，測(cè)試請(qǐng)求還可以包括:測(cè)試類型；那么，云測(cè)試平臺(tái)可以選取與所述測(cè)試類型相匹配的測(cè)試腳本，然后通過所述測(cè)試腳本，對(duì)所述待測(cè)試應(yīng)用程序進(jìn)行測(cè)試。其中，測(cè)試類型可以包括以下至少之一:兼容性測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試、遍歷測(cè)試。
[0060]在該實(shí)施例中，通過在測(cè)試請(qǐng)求中指明測(cè)試類型，可以明確開發(fā)者的測(cè)試需求，從而有助于提升測(cè)試效率；當(dāng)然，測(cè)試類型并非必要的信息，則云測(cè)試平臺(tái)可以按照默認(rèn)的測(cè)試類型或全部測(cè)試類型，對(duì)應(yīng)用程序進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試。
[0061]在步驟108中，將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送至所述測(cè)試請(qǐng)求的發(fā)送方用戶。
[0062]在本實(shí)施例中，云測(cè)試平臺(tái)可以根據(jù)所述測(cè)試請(qǐng)求生成對(duì)應(yīng)