一種測試硬盤的方法及裝置的制造方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及電子技術領域，特別涉及一種測試硬盤的方法及裝置。
【背景技術】
[0002] 隨著電子技術的飛速發(fā)展，用戶對電子設備的要求也越來越高。其中，硬盤是很多 電子設備中非常重要的一個組成部分，為了保證電子設備的應用環(huán)境的穩(wěn)定、可靠和高性 能等，電子設備中的硬盤的性能需要滿足要求，這就需要對硬盤進行全面的功能性、穩(wěn)定性 等性能測試，找到滿足要求的硬盤。
[0003] 現(xiàn)有技術中，用戶對測試硬盤的工具進行手動配置，然后對單個硬盤進行測試，輸 出測試數(shù)據(jù)。通過上述描述可見，現(xiàn)有技術中，一般只是對單個硬盤進行測試，無法同時對 多個硬盤的性能進行測試。

【發(fā)明內容】

[0004] 有鑒于此，本發(fā)明提供了一種測試硬盤的方法及裝置，能夠同時對多個硬盤的性 能進行測試。
[0005] 一方面，本發(fā)明提供了一種測試硬盤的方法，包括：預先設置用于存儲測試數(shù)據(jù)的 excel模板，預先設置多個待測試硬盤，預先設置多種測試環(huán)境組合，其中，每種測試環(huán)境組 合中包括：讀寫模式、數(shù)據(jù)塊大小、IO深度，還包括：
[0006] Sl:根據(jù)當前測試環(huán)境組合，對多個待測試硬盤進行測試；
[0007] S2 :輸出所有待測試硬盤的測試數(shù)據(jù)；
[0008] S3 :將所述測試數(shù)據(jù)導入到所述excel模板中；
[0009]S4:通過所述excel模板將測試數(shù)據(jù)轉換成測試結果圖表。
[0010] 進一步地，所述讀寫模式包括：順序讀、順序寫、隨機讀、隨機寫；
[0011] 所述數(shù)據(jù)塊大小包括：512b、lk、2k、4k、8k、16k、32k、64k、128k、256k、512k、lM;
[0012] 所述IO深度包括：1、2、4、8、16、32、64、128。
[0013] 進一步地，所述S3包括：
[0014] 將生成的用于存儲測試數(shù)據(jù)的TXT文件中的數(shù)據(jù)導入到所述excel模板的原始數(shù) 據(jù)頁中；
[0015] 所述S4包括：
[0016] 通過所述excel模板根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)頁中的數(shù)據(jù)生成所述測試結果圖表。
[0017] 進一步地，在所述Sl之前，還包括：預先設置測試腳本；
[0018] 所述S1，包括：通過所述測試腳本，根據(jù)當前測試環(huán)境組合配置FIO,通過FIO對多 個待測試硬盤進行測試。
[0019] 進一步地，所述S2包括：輸出每個待測試硬盤的每秒進行讀寫操作的次數(shù)IOPS和 帶寬，其中，所述測試數(shù)據(jù)包括：IOPS和帶寬。
[0020] 另一方面，本發(fā)明提供了一種測試硬盤的裝置，包括：
[0021] 設置單元，用于設置用于存儲測試數(shù)據(jù)的excel模板，設置多個待測試硬盤，設置 多種測試環(huán)境組合，其中，每種測試環(huán)境組合中包括：讀寫模式、數(shù)據(jù)塊大小、IO深度；
[0022] 測試單元，用于根據(jù)當前測試環(huán)境組合，對多個待測試硬盤進行測試；
[0023] 輸出單元，用于輸出所有待測試硬盤的測試數(shù)據(jù)；
[0024] 導入單元，用于將所述測試數(shù)據(jù)導入到所述excel模板中；
[0025] 轉換單元，用于通過所述excel模板將測試數(shù)據(jù)轉換成測試結果圖表。
[0026] 進一步地，所述讀寫模式包括：順序讀、順序寫、隨機讀、隨機寫；
[0027]所述數(shù)據(jù)塊大小包括：512b、lk、2k、4k、8k、16k、32k、64k、128k、256k、512k、lM;
[0028]所述IO深度包括：1、2、4、8、16、32、64、128。
[0029] 進一步地，所述導入單元，用于將生成的用于存儲測試數(shù)據(jù)的TXT文件中的數(shù)據(jù) 導入到所述excel模板的原始數(shù)據(jù)頁中；
[0030] 所述轉換單元，用于通過所述excel模板根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)頁中的數(shù)據(jù)生成所述 測試結果圖表。
[0031] 進一步地，還包括：
[0032] 腳本設置單元，用于設置測試腳本；
[0033] 所述測試單元，用于通過所述測試腳本，根據(jù)當前測試環(huán)境組合配置FIO,通過 FIO對多個待測試硬盤進行測試。
[0034] 進一步地，所述輸出單元，用于輸出每個待測試硬盤的每秒進行讀寫操作的次數(shù) IOPS和帶寬，其中，所述測試數(shù)據(jù)包括：IOPS和帶寬。
[0035] 本發(fā)明提供了一種測試硬盤的方法及裝置，預先設置多個待測試硬盤，預先設置 多種測試環(huán)境組合，在每種測試環(huán)境組合中，對每一個待測試硬盤進行測試，得到所有待測 試硬盤在每種測試環(huán)境組合中的測試數(shù)據(jù)，實現(xiàn)對多個待測試硬盤同時進行測試，將測試 數(shù)據(jù)導入到excel模板中，通過excel模板將測試數(shù)據(jù)轉換成測試結果圖表，能夠更直觀的 顯示每種硬盤的性能。
【附圖說明】
[0036] 為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn) 有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明 的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù) 這些附圖獲得其他的附圖。
[0037] 圖1是本發(fā)明一實施例提供的一種測試硬盤的方法的流程圖；
[0038] 圖2是本發(fā)明一實施例提供的另一種測試硬盤的方法的流程圖；
[0039] 圖3是本發(fā)明一實施例提供的一種測試硬盤的裝置的示意圖；
[0040]圖4是本發(fā)明一實施例提供的另一種測試硬盤的裝置的示意圖。
【具體實施方式】
[0041] 為使本發(fā)明實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合本發(fā)明實施例 中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是 本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例，基于本發(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員 在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0042] 如圖1所示，本發(fā)明實施例提供了一種測試硬盤的方法，該方法可以包括以下步 驟：
[0043] SO:預先設置用于存儲測試數(shù)據(jù)的excel模板，預先設置多個待測試硬盤，預先設 置多種測試環(huán)境組合，其中，每種測試環(huán)境組合中包括：讀寫模式、數(shù)據(jù)塊大小、IO深度； [0044]Sl:根