基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及內(nèi)存檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的內(nèi)存檢測方法通常基于兩種應(yīng)用環(huán)境:一種基于B1S環(huán)境，另一種基于OS環(huán)境。
[0003]基于B1S環(huán)境的檢測方法的運行環(huán)境相對單純，且更貼近底層硬件，通常測試效果較好，錯誤定位較為準(zhǔn)確。但是由于受限運行環(huán)境，難以執(zhí)行并行化處理，因此測試效率通常相對較低。同時也不太適合執(zhí)行更大規(guī)模的整合測試。
[0004]基于OS環(huán)境的檢測方法基于OS環(huán)境，通常靈活性較好適合于大規(guī)模應(yīng)用，但因為存在物理內(nèi)存信息被OS以邏輯形式屏蔽的缺陷，通常檢測效果較差，通常可以發(fā)現(xiàn)問題的存在，但是無法定位到具體的位置。
[0005]以檢測工具memtester為例，雖然其程序聲稱可以實現(xiàn)基于物理內(nèi)存的分配測試，但實際上該檢測工具所采用的技術(shù)手段是映射/dev/mem設(shè)備文件，該方法在稍早一些的發(fā)行版本中出于安全性的考慮已被禁止使用，因此并不能實現(xiàn)相關(guān)功能。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]在下文中給出關(guān)于本發(fā)明的簡要概述，以便提供關(guān)于本發(fā)明的某些方面的基本理解。應(yīng)當(dāng)理解，這個概述并不是關(guān)于本發(fā)明的窮舉性概述。它并不是意圖確定本發(fā)明的關(guān)鍵或重要部分，也不是意圖限定本發(fā)明的范圍。其目的僅僅是以簡化的形式給出某些概念，以此作為稍后論述的更詳細(xì)描述的前序。
[0007]本發(fā)明提供一種能執(zhí)行并行處理，并實現(xiàn)準(zhǔn)確定位的基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法。
[0008]本發(fā)明提供一種基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法，包括:
[0009]用戶態(tài)測試程序向內(nèi)核模塊請求分配物理內(nèi)存，所述內(nèi)核模塊對物理內(nèi)存進(jìn)行檢索，分配空閑的待測物理內(nèi)存給所述用戶態(tài)測試程序；
[0010]所述內(nèi)核模塊將所述待測物理內(nèi)存映射到所述用戶態(tài)測試程序的地址空間；
[0011]所述用戶態(tài)測試程序通過運行內(nèi)存檢測算法對所述待測物理內(nèi)存進(jìn)行讀寫校驗測試;
[0012]當(dāng)所述讀寫校驗測試出錯時，根據(jù)所述映射獲取出錯物理內(nèi)存地址，根據(jù)所述出錯物理內(nèi)存地址查找到內(nèi)存插槽。
[0013]本發(fā)明提供的基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法通過將物理內(nèi)存分配映射技術(shù)與內(nèi)存檢測技術(shù)結(jié)合起來，實現(xiàn)了對內(nèi)存進(jìn)行高效并行檢測處理，并準(zhǔn)確有效地對出錯位置進(jìn)行定位，同時還可以采用多種內(nèi)存檢測算法進(jìn)行檢測，應(yīng)用范圍較為廣泛，使用更靈活。綜上所述，本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法具有檢測效率高、定位準(zhǔn)確、應(yīng)用范圍廣等優(yōu)點。
【附圖說明】
[0014]參照下面結(jié)合附圖對本發(fā)明實施例的說明，會更加容易地理解本發(fā)明的以上和其它目的、特點和優(yōu)點。附圖中的部件只是為了示出本發(fā)明的原理。在附圖中，相同的或類似的技術(shù)特征或部件將采用相同或類似的附圖標(biāo)記來表示。
[0015]圖1為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種實施方式的流程示意圖。
[0016]圖2為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種實施方式中步驟S20的流程示意圖。
[0017]圖3為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種優(yōu)選實施方式中步驟S20的流程示意圖。
[0018]圖4為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種實施方式中步驟S40的流程示意圖。
[0019]圖5為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種實施方式中步驟S80的流程示意圖。
[0020]圖6為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種優(yōu)選實施方式中，在一個60核處理器的環(huán)境中啟動60個測試線程測試60G內(nèi)存的內(nèi)存分配占用狀況的示意圖。
[0021]圖7為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種優(yōu)選實施方式中，用戶態(tài)測試程序的地址空間的邏輯地址與物理內(nèi)存地址的對應(yīng)關(guān)系示意圖。
[0022]圖8為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種優(yōu)選實施方式中，出錯物理內(nèi)存地址與SMB1S信息對應(yīng)關(guān)系示意圖。
【具體實施方式】
[0023]下面參照附圖來說明本發(fā)明的實施例。在本發(fā)明的一個附圖或一種實施方式中描述的元素和特征可以與一個或更多個其它附圖或?qū)嵤┓绞街惺境龅脑睾吞卣飨嘟Y(jié)合。應(yīng)當(dāng)注意，為了清楚的目的，附圖和說明中省略了與本發(fā)明無關(guān)的、本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的部件和處理的表示和描述。
[0024]圖1為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種實施方式的流程示意圖。
[0025]如圖1所示，在本實施方式中，本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法包括:
[0026]S20:用戶態(tài)測試程序向內(nèi)核模塊請求分配物理內(nèi)存，所述內(nèi)核模塊對物理內(nèi)存進(jìn)行檢索，分配空閑的待測物理內(nèi)存給所述用戶態(tài)測試程序。
[0027]S40:所述內(nèi)核模塊將所述待測物理內(nèi)存映射到所述用戶態(tài)測試程序的地址空間。
[0028]S60:所述用戶態(tài)測試程序通過運行內(nèi)存檢測算法對所述待測物理內(nèi)存進(jìn)行讀寫校驗測試。
[0029]S80:當(dāng)所述讀寫校驗測試出錯時，根據(jù)所述映射獲取出錯物理內(nèi)存地址，根據(jù)所述出錯物理內(nèi)存地址查找到內(nèi)存插槽。
[0030]圖2為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種實施方式中步驟S20的流程示意圖。
[0031 ] 如圖2所示，步驟S20包括:
[0032]S23:用戶態(tài)測試程序向內(nèi)核模塊請求分配物理內(nèi)存。
[0033]S25:所述內(nèi)核模塊掃描物理內(nèi)存使用狀況信息，鎖定當(dāng)前狀況為空閑的待測物理內(nèi)存，將所述待測物理內(nèi)存的頁號返回給所述用戶態(tài)測試程序。
[0034]S27:所述內(nèi)核模塊更新所述物理內(nèi)存使用狀況信息。
[0035]優(yōu)選地，當(dāng)所述用戶態(tài)測試程序運行在多核處理器環(huán)境下時，所述用戶態(tài)測試程序通過每個處理器核心發(fā)起一個測試線程。所述步驟S25還包括:所述內(nèi)核模塊將所述待測物理內(nèi)存平均分配給所述測試線程。
[0036]圖6為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種優(yōu)選實施方式中，在一個60核處理器的環(huán)境中啟動60個測試線程測試60G內(nèi)存的內(nèi)存分配占用狀況的示意圖。如圖6所示，在測試過程中內(nèi)核模塊將60G內(nèi)存分配給所述測試線程。
[0037]圖3為圖2所示步驟S20的優(yōu)選實施方式的流程示意圖。
[0038]相較于圖2所示步驟S20，圖3所示步驟S20還包括:
[0039]S21:加載支持物理內(nèi)存相關(guān)操作的內(nèi)核模塊進(jìn)入系統(tǒng)內(nèi)核空間。
[0040]圖4為本發(fā)明基于物理內(nèi)存分配映射的內(nèi)存檢測方法一種實施方式中步驟