一種芯片指令高速緩存失效的檢測方法及系統(tǒng)的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及芯片生產(chǎn)技術領域，尤其涉及一種芯片指令高速緩存失效的檢測方法及系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]現(xiàn)有的移動設備的CPU處理器帶有較大容量的指令高速緩存，它靠近CPU端，用于來存取將要被CPU執(zhí)行的指令。由于其物理上靠近CPU，讀取速度快，所以能夠加快系統(tǒng)運行效率。由于工藝的波動以及生產(chǎn)流程的不可控性，會發(fā)生指令高速緩存失效、損壞的問題。因此在芯片生產(chǎn)出來之后，需要找到一種快速有效的方法，將存在指令高速緩存失效的芯片挑選出來。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術問題之一，在于提供一種芯片指令高速緩存失效的檢測方法，提高檢測效率，加快芯片檢測的流通環(huán)節(jié)，省時省力。
[0004]本發(fā)明問題之一是這樣實現(xiàn)的:一種芯片指令高速緩存失效的檢測方法，包括如下步驟:
[0005]步驟1、在芯片指令高速緩存中預設復數(shù)個最小指令單元，所述最小指令單元是一段具有自我判斷執(zhí)行結(jié)果正確與否的校驗程序；
[0006]步驟2、根據(jù)宏函數(shù)的遞歸性，逐級創(chuàng)建宏函數(shù)單元，各級宏函數(shù)單元包裹有最小指令單元，且每一級宏單元不斷的包裹前一級宏單元構(gòu)成了一大函數(shù)，所述大函數(shù)占滿了整個芯片指令高速緩存；
[0007]步驟3、CPU內(nèi)的邏輯運算單元ALU從高速緩存中獲取大函數(shù)中所有的最小指令單元的指令進行執(zhí)行，邏輯運算單元ALU訪問高速緩存的每個比特，大函數(shù)中的指令會依次執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行完成，則整個芯片指令高速緩存進行了遍歷；
[0008]步驟4、若大函數(shù)執(zhí)行過程中有錯誤發(fā)生，則其中某個最小指令單元自我校驗會錯誤，該最小指令單元會退出執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行中斷；根據(jù)大函數(shù)是否完成即能判斷芯片指令高速緩存是否失效或者異常。
[0009]進一步地，所述芯片指令高速緩存失效包括兩種情況:情況一、數(shù)據(jù)處理執(zhí)行的結(jié)果與實際意圖不符，因最小指令單元有自我校驗功能，自我校驗一旦失敗，則檢測程序退出，即能判定芯片指令高速緩存是否存在失效的情況；
[0010]情況二、芯片指令高速緩存中的指令編碼出錯，造成指令識別異常，CPU異常，大函數(shù)執(zhí)行停止，此時檢測程序退出，即能判定芯片指令高速緩存是否存在失效的情況。
[0011]進一步地，所述大函數(shù)中的指令會依次執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行完成，則整個芯片指令高速緩存進行了遍歷具體為:所述最小指令單元具備自校驗的能力，大函數(shù)中每一個最小指令單元執(zhí)行成功則會跳到下一個最小指令單元；在芯片指令高速緩存中，所有的最小指令單元所處的地址連續(xù)且緊挨著；各級宏函數(shù)單元為各個最小指令單元順序擺放，一個接著一個執(zhí)行，宏函數(shù)單元能夠正確執(zhí)行的前提是其中的每一個最小指令單元正確執(zhí)行，由于每一個最小指令單元緊挨著地址擺放在指令高速緩存中，則宏函數(shù)單元被遍歷了，則它自身程序所處的芯片指令高速緩存這段區(qū)間是正常的；在大函數(shù)內(nèi)的所有宏函數(shù)單元遞歸執(zhí)行后，整個芯片指令高速緩存進行了遍歷訪問。
[0012]本發(fā)明要解決的技術問題之二，在于提供一種芯片指令高速緩存失效的檢測系統(tǒng)，提尚檢測效率，加快芯片檢測的流通環(huán)節(jié)，省時省力。
[0013]本發(fā)明問題之二是這樣實現(xiàn)的:一種芯片指令高速緩存失效的檢測系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括設置單元、構(gòu)建函數(shù)單元、執(zhí)行單元以及失效判斷單元；
[0014]所述設置單元，用于在芯片指令高速緩存中預設復數(shù)個最小指令單元，所述最小指令單元是一段具有自我判斷執(zhí)行結(jié)果正確與否的校驗程序；
[0015]所述構(gòu)建函數(shù)單元，根據(jù)宏函數(shù)的遞歸性，逐級創(chuàng)建宏函數(shù)單元，各級宏函數(shù)單元包裹有最小指令單元，且每一級宏單元不斷的包裹前一級宏單元構(gòu)成了一大函數(shù)，所述大函數(shù)占滿了整個芯片指令高速緩存；
[0016]所述執(zhí)行單元，用于CPU內(nèi)的邏輯運算單元ALU從高速緩存中獲取大函數(shù)中所有的最小指令單元的指令進行執(zhí)行，邏輯運算單元ALU訪問高速緩存的每個比特，大函數(shù)中的指令會依次執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行完成，則整個芯片指令高速緩存進行了遍歷；
[0017]所述失效判斷單元，用于若大函數(shù)執(zhí)行過程中有錯誤發(fā)生，則其中某個最小指令單元自我校驗會錯誤，該最小指令單元會退出執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行中斷；根據(jù)大函數(shù)是否完成即能判斷芯片指令高速緩存是否失效或者異常。
[0018]進一步地，所述芯片指令高速緩存失效包括兩種情況:情況一、數(shù)據(jù)處理執(zhí)行的結(jié)果與實際意圖不符，因最小指令單元有自我校驗功能，自我校驗一旦失敗，則檢測程序退出，即能判定芯片指令高速緩存是否存在失效的情況；
[0019]情況二、芯片指令高速緩存中的指令編碼出錯，造成指令識別異常，CPU異常，大函數(shù)執(zhí)行停止，此時檢測程序退出，即能判定芯片指令高速緩存是否存在失效的情況。
[0020]進一步地，所述大函數(shù)中的指令會依次執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行完成，則整個芯片指令高速緩存進行了遍歷具體為:所述最小指令單元具備自校驗的能力，大函數(shù)中每一個最小指令單元執(zhí)行成功則會跳到下一個最小指令單元；在芯片指令高速緩存中，所有的最小指令單元所處的地址連續(xù)且緊挨著；各級宏函數(shù)單元為各個最小指令單元順序擺放，一個接著一個執(zhí)行，宏函數(shù)單元能夠正確執(zhí)行的前提是其中的每一個最小指令單元正確執(zhí)行，由于每一個最小指令單元緊挨著地址擺放在指令高速緩存中，則宏函數(shù)單元被遍歷了，則它自身程序所處的芯片指令高速緩存這段區(qū)間是正常的；在大函數(shù)內(nèi)的所有宏函數(shù)單元遞歸執(zhí)行后，整個芯片指令高速緩存進行了遍歷訪問。
[0021]本發(fā)明具有如下優(yōu)點:本發(fā)明在芯片指令高速緩存中預設復數(shù)個最小指令單元，并根據(jù)宏函數(shù)的遞歸性，逐級創(chuàng)建宏函數(shù)單元，各級宏函數(shù)單元包裹有最小指令單元，CPU內(nèi)的邏輯運算單元ALU從高速緩存中獲取大函數(shù)中所有的最小指令單元的指令進行執(zhí)行，邏輯運算單元ALU訪問高速緩存的每個比特，大函數(shù)中的指令會依次執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行完成，則整個芯片指令高速緩存進行了遍歷；根據(jù)大函數(shù)是否完成即能判斷芯片指令高速緩存是否失效或者異常；其提高檢測效率，加快芯片檢測的流通環(huán)節(jié)，省時省力。
【附圖說明】
[0022]圖1為本發(fā)明方法流程示意圖。
[0023]圖2為本發(fā)明宏函數(shù)單元遞歸的原理框圖。
[0024]圖3為本發(fā)明CPU內(nèi)的邏輯運算單元ALU執(zhí)行原理框圖。
[0025]圖4為本發(fā)明的系統(tǒng)框圖。
【具體實施方式】
[0026]請參閱圖1至圖3所示，本發(fā)明的一種芯片指令高速緩存失效的檢測方法，其特征在于:包括如下步驟:
[0027]步驟1、在芯片指令高速緩存中預設復數(shù)個最小指令單元，所述最小指令單元是一段具有自我判斷執(zhí)行結(jié)果正確與否的校驗程序；該校驗程序編譯成匯編語言后的匯編指令，構(gòu)成最小指令單元；
[0028]步驟2、根據(jù)宏函數(shù)的遞歸性，逐級創(chuàng)建宏函數(shù)單元，各級宏函數(shù)單元包裹有最小指令單元，且每一級宏單元不斷的包裹前一級宏單元構(gòu)成了一大函數(shù)，所述大函數(shù)占滿了整個芯片指令高速緩存；
[0029]步驟3、CPU內(nèi)的邏輯運算單元ALU從高速緩存中獲取大函數(shù)中所有的最小指令單元的指令進行執(zhí)行，邏輯運算單元ALU訪問高速緩存的每個比特，大函數(shù)中的指令會依次執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行完成，則整個芯片指令高速緩存進行了遍歷；大函數(shù)則是N多個宏函數(shù)單元，也就是非常非常，許許多多的最小指令單元；
[0030]步驟4、若大函數(shù)執(zhí)行過程中有錯誤發(fā)生，則其中某個最小指令單元自我校驗會錯誤，該最小指令單元會退出執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行中斷；根據(jù)大函數(shù)是否完成即能判斷芯片指令尚速緩存是否失效或者異常。
[0031]其中，所述芯片指令高速緩存失效包括兩種情況:情況一、數(shù)據(jù)處理執(zhí)行的結(jié)果與實際意圖不符，因最小指令單元有自我校驗功能，自我校驗一旦失敗，則檢測程序退出，即能判定芯片指令高速緩存是否存在失效的情況；
[0032]情況二、芯片指令高速緩存中的指令編碼出錯，造成指令識別異常，CPU異常，大函數(shù)執(zhí)行停止，此時檢測程序退出，即能判定芯片指令高速緩存是否存在失效的情況。
[0033]所述大函數(shù)中的指令會依次執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行完成，則整個芯片指令高速緩存進行了遍歷具體為:所述最小指令單元具備自校驗的能力，大函數(shù)中每一個最小指令單元執(zhí)行成功則會跳到下一個最小指令單元；在芯片指令高速緩存中，所有的最小指令單元所處的地址連續(xù)且緊挨著；各級宏函數(shù)單元為各個最小指令單元順序擺放，一個接著一個執(zhí)行，宏函數(shù)單元能夠正確執(zhí)行的前提是其中的每一個最小指令單元正確執(zhí)行，由于每一個最小指令單元緊挨著地址擺放在指令高速緩存中，則宏函數(shù)單元被遍歷了，則它自身程序所處的芯片指令高速緩存這段區(qū)間是正常的；在大函數(shù)內(nèi)的所有宏函數(shù)單元遞歸執(zhí)行后，整個芯片指令高速緩存進行了遍歷訪問。那么在N多個宏函數(shù)單元