一種確定主板上的vr的方法及裝置、一種主板的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種確定主板上的VR的方法及裝置、一種主 板。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著互聯(lián)網(wǎng)的應(yīng)用范圍不斷的擴(kuò)大,網(wǎng)上審批、網(wǎng)上購物、網(wǎng)上銀行支付業(yè)務(wù)的出 現(xiàn),人們工作生活上的許多業(yè)務(wù)都呈現(xiàn)信息化的發(fā)展趨勢。對網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器的計算性能要求 越來越大,云計算的概念也因此產(chǎn)生,并初步形成了政務(wù)云、衛(wèi)生云、稅務(wù)云的新概念。隨著 云計算技術(shù)的興起和發(fā)展,作為傳統(tǒng)機(jī)房中的單元-機(jī)柜系統(tǒng),要求部署在機(jī)柜內(nèi)部服務(wù) 器計算節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)處理能力越來越強(qiáng),部署密度越來越高。計算節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)處理能力越強(qiáng) 意味著單位時間處理的數(shù)據(jù)量越多,計算節(jié)點(diǎn)的功耗越大;同時隨著計算節(jié)點(diǎn)部署密度的 增加,整個機(jī)柜的功耗勢必也會越來越大。
[0003] 計算節(jié)點(diǎn)的功耗是服務(wù)器總功耗的一部分功耗,服務(wù)器主板上的VR(Voltage Regulator,電壓調(diào)整器)產(chǎn)生的功耗也是服務(wù)器總功耗中的一部分?,F(xiàn)有技術(shù)中,服務(wù)器 主板上的VR的設(shè)置主要是考慮到VR進(jìn)行電壓轉(zhuǎn)換的功能,而VR產(chǎn)生的功耗較高,造成主 板的功耗較高。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004] 有鑒于此,本發(fā)明提供了一種確定主板上的VR的方法及裝置、一種主板,能夠降 低主板的功耗。
[0005] 第一方面,本發(fā)明提供了一種確定主板上的電壓調(diào)整器VR的方法,包括:預(yù)先確 定至少一個VR的轉(zhuǎn)換效率與負(fù)載電流的對應(yīng)關(guān)系,還包括:
[0006] Sl :確定第一主板上的至少一個VR位置處VR的負(fù)載電流,其中,所述VR位置為所 述第一主板上的VR所在的電路位置;
[0007] S2 :根據(jù)當(dāng)前VR位置處VR的負(fù)載電流和所述對應(yīng)關(guān)系,確定當(dāng)前VR位置處VR的 負(fù)載電流對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率最高的最優(yōu)VR ;
[0008] S3 :將所述最優(yōu)VR作為當(dāng)前VR位置處的VR。
[0009] 進(jìn)一步地,還包括:預(yù)先根據(jù)所述第一主板生成對應(yīng)的測試主板,其中,所述測試 主板上的每個測試VR位置與所述第一主板上的每個VR位置一一對應(yīng),所述測試VR位置為 所述測試主板上的測試VR所在的電路位置,所述測試主板上的每個測試VR位置處設(shè)置有 測試VR ;
[0010] 所述Sl,包括:
[0011] 確定所述測試主板上的至少一個測試VR位置處測試VR的負(fù)載電流,將當(dāng)前測試 VR位置處測試VR的負(fù)載電流作為當(dāng)前測試VR位置對應(yīng)的第一主板上的VR位置處VR的負(fù) 載電流。
[0012] 進(jìn)一步地,還包括:預(yù)先根據(jù)第一主板的運(yùn)行業(yè)務(wù)生成測試腳本;
[0013] 所述SI,包括:
[0014] 在所述測試主板上運(yùn)行所述測試腳本;
[0015] 在運(yùn)行所述測試腳本時,測量所述測試主板上的至少一個測試VR位置處測試VR 的負(fù)載電流。
[0016] 進(jìn)一步地,所述Sl包括:
[0017] 根據(jù)第一主板的運(yùn)行業(yè)務(wù),確定第一主板上的至少一個VR位置處VR的負(fù)載電流。
[0018] 進(jìn)一步地,還包括:預(yù)先在所述測試主板的至少一個測試VR的輸出端與負(fù)載端之 間串聯(lián)接入精密電阻;
[0019] 所述在運(yùn)行所述測試腳本時,測量所述測試主板上的至少一個測試VR位置處測 試VR的負(fù)載電流,包括:
[0020] 在運(yùn)行所述測試腳本時,測量所述測試主板上的至少一個測試VR位置處測試VR 的對應(yīng)的精密電阻兩端的電壓;
[0021] 根據(jù)公式一計算出所述測試VR位置處測試VR的負(fù)載電流,其中,所述公式一為:
R是所述精密電阻的電阻值。
[0022] 第二方面,本發(fā)明提供了一種確定主板上的電壓調(diào)整器VR的裝置,包括:
[0023] 第一確定單元,用于確定至少一個VR的轉(zhuǎn)換效率與負(fù)載電流的對應(yīng)關(guān)系;
[0024] 第二確定單元,用于確定第一主板上的至少一個VR位置處VR的負(fù)載電流,其中, 所述VR位置為主板上的VR所在的電路位置;
[0025] 第三確定單元,用于根據(jù)當(dāng)前VR位置處VR的負(fù)載電流和所述對應(yīng)關(guān)系,確定當(dāng)前 VR位置處VR的負(fù)載電流對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率最高的最優(yōu)VR,將所述最優(yōu)VR作為當(dāng)前VR位置 處的VR。
[0026] 進(jìn)一步地,還包括:
[0027] 測試主板生成單元,用于根據(jù)所述第一主板生成對應(yīng)的測試主板,其中,所述測試 主板上的每個測試VR位置與所述第一主板上的每個VR位置一一對應(yīng),所述測試VR位置為 所述測試主板上的測試VR所在的電路位置,所述測試主板上的每個測試VR位置處設(shè)置有 測試VR ;
[0028] 所述第二確定單元,用于確定所述測試主板上的至少一個測試VR位置處測試VR 的負(fù)載電流,將當(dāng)前測試VR位置處測試VR的負(fù)載電流作為當(dāng)前測試VR位置對應(yīng)的第一主 板上的VR位置處VR的負(fù)載電流。
[0029] 進(jìn)一步地,還包括:
[0030] 測試腳本生成單元,用于根據(jù)第一主板的運(yùn)行業(yè)務(wù)生成測試腳本;
[0031] 所述第二確定單元,用于在所述測試主板上運(yùn)行所述測試腳本,在運(yùn)行所述測試 腳本時,測量所述測試主板上的至少一個測試VR位置處測試VR的負(fù)載電流。
[0032] 進(jìn)一步地,所述第二確定單元,用于根據(jù)第一主板的運(yùn)行業(yè)務(wù),確定第一主板上的 至少一個VR位置處VR的負(fù)載電流。
[0033] 第三方面,本發(fā)明提供了一種主板,包括:至少一個基于第一方面中任一所述的方 法確定出的VR。
[0034] 本發(fā)明提供了一種確定主板上的VR的方法,每個主板上需要設(shè)置多個VR,不同的 VR在相同的負(fù)載電流下的轉(zhuǎn)換效率可能不同,預(yù)先確定至少一個VR的轉(zhuǎn)換效率與負(fù)載電 流的對應(yīng)關(guān)系,當(dāng)主板在運(yùn)行時,每個VR的負(fù)載電流可能是不同,確定第一主板上的至少 一個VR位置處VR的負(fù)載電流,根據(jù)負(fù)載電流和對應(yīng)關(guān)系,確定出該負(fù)載電流對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效 率最高的最優(yōu)VR,將該最優(yōu)VR作為該負(fù)載電流對應(yīng)的VR位置處的VR,由于該VR位置處上 的最優(yōu)VR的轉(zhuǎn)換效率最高,所以該VR位置處的功耗較小,進(jìn)而能夠主板的功耗。
【附圖說明】
[0035] 為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例或現(xiàn) 有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖是本發(fā)明 的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù) 這些附圖獲得其他的附圖。
[0036] 圖1是本發(fā)明一實(shí)施例1提供的一種確定主板上的VR的方法的流程圖;
[0037] 圖2是本發(fā)明一實(shí)施例1提供的一種服務(wù)器主板的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0038] 圖3是本發(fā)明一實(shí)施例1提供的一種VR1、VR2、VR3的效率曲線;
[0039] 圖4是本發(fā)明一實(shí)施例1提供的另一種確定主板上的VR的方法的流程圖;
[0040] 圖5是本發(fā)明一實(shí)施例2提供的另一種確定主板上的VR的裝置的不意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0041] 為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例 中的附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例是 本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例,基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員 在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0042] 實(shí)施例1 :
[0043] 如圖1所示,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種確定主板上的VR的方法,該方法可以包括 以下步驟:
[0044] SO :預(yù)先確定至少一個VR的轉(zhuǎn)換效率與負(fù)載電流的對應(yīng)關(guān)系;
[0045] Sl :確定第一主板上的至少一個VR位置處VR的負(fù)載電流,其中,所述VR位置為主 板上的VR所在的電路位置;
[0046] S2 :根據(jù)當(dāng)前VR位置處VR的負(fù)載電流和所述對應(yīng)關(guān)系,確定當(dāng)前VR位置處VR的 負(fù)載電流對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率最高的最優(yōu)VR ;
[0047] S3 :將所述最優(yōu)VR作為當(dāng)前VR位置處的VR。
[0048] 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種確定主板上的VR的方法,每個主板上需要設(shè)置多個VR, 不同的VR在相同的負(fù)載電流下的轉(zhuǎn)換效率可能不同,預(yù)先確定至少一個VR的轉(zhuǎn)換效率與 負(fù)載電流的對應(yīng)關(guān)系,當(dāng)主板在運(yùn)行時,每個VR的負(fù)載電流可能是不同,確定第一主板上 的至少一個VR位置處VR的負(fù)載電流,根據(jù)負(fù)載電流和對應(yīng)關(guān)系,確定出該負(fù)載電流對應(yīng)的 轉(zhuǎn)換效率最高的最優(yōu)VR,將該最優(yōu)VR作為該負(fù)載電流對應(yīng)的VR位置處的VR,由于該VR位 置處上的最優(yōu)VR的轉(zhuǎn)換效率最