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一種信息處理方法及電子設(shè)備的制造方法

文檔序號:9432211閱讀:348來源:國知局
一種信息處理方法及電子設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及通訊技術(shù),尤其設(shè)及一種信息處理方法及電子設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002] 本申請發(fā)明人在實(shí)現(xiàn)本申請實(shí)施例技術(shù)方案的過程中,至少發(fā)現(xiàn)相關(guān)技術(shù)中存在 如下技術(shù)問題:
[0003] 數(shù)據(jù)存儲安全性的一個因素是用于存儲數(shù)據(jù)的硬盤不能損耗過快,存在過多損壞 的數(shù)據(jù)塊,俗稱為"壞塊"。如果存儲數(shù)據(jù)的硬盤在讀取和寫入操作作用下?lián)p耗過快,存在過 多"壞塊",則在"壞塊"位置存儲的數(shù)據(jù)就無法正常讀取了,不利于用戶的使用。
[0004] 一種用于存儲數(shù)據(jù)的固態(tài)硬盤是基于閃存的數(shù)據(jù)存儲設(shè)備,其中的每個數(shù)據(jù)塊都 具有損耗性,擦除次數(shù)有限。如果當(dāng)某個塊的擦除次數(shù)達(dá)到上限,容易導(dǎo)致"壞塊"的出現(xiàn), 使得固態(tài)硬盤的整體性能將會大打折扣,需要使固態(tài)硬盤中所有數(shù)據(jù)塊的擦除次數(shù)盡可能 地均勻,從而避免損壞過快,W延長固態(tài)硬盤的平均壽命,減少壞塊的出現(xiàn)。
[0005] 然而,相關(guān)技術(shù)中,對于該問題,采用的方案是基于數(shù)據(jù)塊的狀態(tài)一直不會變的靜 態(tài)均衡機(jī)制,也就是說,擦除使用次數(shù)少的數(shù)據(jù)塊稱為冷數(shù)據(jù),它的狀態(tài)一直是"冷",擦除 使用次數(shù)多的數(shù)據(jù)塊稱為熱數(shù)據(jù),它的狀態(tài)一直是"熱",實(shí)際上數(shù)據(jù)塊的狀態(tài)是會發(fā)現(xiàn)變 化的,因此,所述基于數(shù)據(jù)塊的狀態(tài)一直不會變的靜態(tài)均衡機(jī)制得到的結(jié)果不準(zhǔn)確,并不是 個有效的解決方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 有鑒于此,本發(fā)明實(shí)施例希望提供一種信息處理方法及電子設(shè)備,至少解決了現(xiàn) 有技術(shù)存在的問題,使固態(tài)硬盤中所有數(shù)據(jù)塊的擦除次數(shù)盡可能地均勻,從而避免損壞過 快,W延長固態(tài)硬盤的平均壽命,減少壞塊的出現(xiàn)。
[0007] 本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案是運(yùn)樣實(shí)現(xiàn)的:
[0008] 本發(fā)明實(shí)施例的一種信息處理方法,所述方法應(yīng)用于電子設(shè)備中,所述電子設(shè)備 具備用于數(shù)據(jù)存儲的存儲器件,所述存儲器件中包括N個存儲區(qū)域,所述N為大于1的自然 數(shù);所述方法包括:
[0009] 監(jiān)測預(yù)定時間間隔內(nèi)每個存儲區(qū)域的數(shù)據(jù)操作次數(shù);
[0010] 基于所述操作次數(shù)標(biāo)記所述存儲區(qū)域;
[0011] 基于所述操作次數(shù)獲取每個存儲區(qū)域在所述預(yù)定時間間隔內(nèi)數(shù)據(jù)操作的變化參 數(shù);
[0012] 根據(jù)所述標(biāo)記W及所述數(shù)據(jù)操作的變化參數(shù)形成對于所述存儲區(qū)域的數(shù)據(jù)遷移 策略;
[0013] 根據(jù)所述遷移策略進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移。
[0014] 上述方案中,所述數(shù)據(jù)操作的變化參數(shù)包括:用于表征每個存儲區(qū)域隨著所述操 作次數(shù)的變化導(dǎo)致數(shù)據(jù)狀態(tài)發(fā)生變化所形成的參數(shù),并將其記為加速度參數(shù)。
[0015] 上述方案中,所述基于所述操作次數(shù)標(biāo)記所述存儲區(qū)域,包括:對所述存儲區(qū)域根 據(jù)所述操作次數(shù)進(jìn)行標(biāo)記時,將所述操作次數(shù)大于第一闊值的存儲區(qū)域標(biāo)記為第一類,將 所述操作次數(shù)小于第一闊值的存儲區(qū)域標(biāo)記為第二類。
[0016] 上述方案中,所述根據(jù)所述標(biāo)記W及所述數(shù)據(jù)操作的變化參數(shù)形成對于所述存儲 區(qū)域的數(shù)據(jù)遷移策略,包括:所述加速度參數(shù)大于第二闊值的第一類的數(shù)據(jù)和所述加速度 參數(shù)小于第二闊值的第二類的數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移。
[0017] 上述方案中,所述根據(jù)所述標(biāo)記W及所述數(shù)據(jù)操作的變化參數(shù)形成對于所述存儲 區(qū)域的數(shù)據(jù)遷移策略,包括:所述加速度參數(shù)小于第二闊值的第一類的數(shù)據(jù)和所述加速度 參數(shù)大于第二闊值的第二類的數(shù)據(jù)不進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移。
[0018] 上述方案中,所述根據(jù)所述標(biāo)記W及所述數(shù)據(jù)操作的變化參數(shù)形成對于所述存儲 區(qū)域的數(shù)據(jù)遷移策略,包括:所述第一類的數(shù)據(jù)其加速度小于第=闊值,所述第二類的數(shù)據(jù) 其加速度大于第四闊值時,不進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移;其中,第=闊值小于第二闊值,第四闊值大于 第二闊值。
[0019] 上述方案中,所述根據(jù)所述遷移策略進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移,包括:
[0020] 將所述第一類的數(shù)據(jù)與所述第二類的數(shù)據(jù)進(jìn)行置換,W完成所述數(shù)據(jù)遷移。
[0021] 本發(fā)明實(shí)施例的一種電子設(shè)備,所述電子設(shè)備具備用于數(shù)據(jù)存儲的存儲器件,所 述存儲器件中包括N個存儲區(qū)域,所述N為大于1的自然數(shù);所述電子設(shè)備還包括:處理 器;
[0022] 所述處理器,用于:
[0023] 監(jiān)測預(yù)定時間間隔內(nèi)每個存儲區(qū)域的數(shù)據(jù)操作次數(shù);
[0024] 基于所述操作次數(shù)標(biāo)記所述存儲區(qū)域;
[0025] 基于所述操作次數(shù)獲取每個存儲區(qū)域在所述預(yù)定時間間隔內(nèi)數(shù)據(jù)操作的變化參 數(shù);
[00%] 根據(jù)所述標(biāo)記W及所述數(shù)據(jù)操作的變化參數(shù)形成對于所述存儲區(qū)域的數(shù)據(jù)遷移 策略;
[0027] 根據(jù)所述遷移策略進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移。
[0028] 上述方案中,所述數(shù)據(jù)操作的變化參數(shù)包括:用于表征每個存儲區(qū)域隨著所述操 作次數(shù)的變化導(dǎo)致數(shù)據(jù)狀態(tài)發(fā)生變化所形成的參數(shù),并將其記為加速度參數(shù)。
[0029] 上述方案中,所述處理器,進(jìn)一步用于對所述存儲區(qū)域根據(jù)所述操作次數(shù)進(jìn)行標(biāo) 記時,將所述操作次數(shù)大于第一闊值的存儲區(qū)域標(biāo)記為第一類,將所述操作次數(shù)小于第一 闊值的存儲區(qū)域標(biāo)記為第二類。
[0030] 上述方案中,所述處理器,進(jìn)一步用于形成所述數(shù)據(jù)遷移策略,所述數(shù)據(jù)遷移策略 包括:所述加速度參數(shù)大于第二闊值的第一類的數(shù)據(jù)和所述加速度參數(shù)小于第二闊值的第 二類的數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移。
[0031] 上述方案中,所述處理器,進(jìn)一步用于形成所述數(shù)據(jù)遷移策略,所述數(shù)據(jù)遷移策略 包括:所述加速度參數(shù)小于第二闊值的第一類的數(shù)據(jù)和所述加速度參數(shù)大于第二闊值的第 二類的數(shù)據(jù)不進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移。
[0032] 上述方案中,所述處理器,進(jìn)一步用于形成所述數(shù)據(jù)遷移策略,所述數(shù)據(jù)遷移策略 包括:所述第一類的數(shù)據(jù)其加速度小于第=闊值,所述第二類的數(shù)據(jù)其加速度大于第四闊 值時,不進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移;其中,第=闊值小于第二闊值,第四闊值大于第二闊值。
[0033] 上述方案中,所述處理器,進(jìn)一步用于將所述第一類的數(shù)據(jù)與所述第二類的數(shù)據(jù) 進(jìn)行置換,W完成所述數(shù)據(jù)遷移。
[0034] 本發(fā)明實(shí)施例的信息處理方法應(yīng)用于電子設(shè)備中,所述電子設(shè)備具備用于數(shù)據(jù)存 儲的存儲器件,所述存儲器件中包括N個存儲區(qū)域,所述N為大于1的自然數(shù);所述方法包 括:監(jiān)測預(yù)定時間間隔內(nèi)每個存儲區(qū)域的數(shù)據(jù)操作次數(shù);基于所述操作次數(shù)標(biāo)記所述存儲 區(qū)域;基于所述操作次數(shù)獲取每個存儲區(qū)域在所述預(yù)定時間間隔內(nèi)數(shù)據(jù)操作的變化參數(shù); 根據(jù)所述標(biāo)記W及所述數(shù)據(jù)操作的變化參數(shù)形成對于所述存儲區(qū)域的數(shù)據(jù)遷移策略;根據(jù) 所述遷移策略進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移。
[0035] 采用本發(fā)明實(shí)施例,由于能基于所述操作次數(shù)標(biāo)記所述存儲區(qū)域,并獲取所述預(yù) 定時間間隔內(nèi)數(shù)據(jù)操作的變化參數(shù),根據(jù)運(yùn)兩個指標(biāo)來生成數(shù)據(jù)遷移策略,W便根據(jù)該數(shù) 據(jù)遷移策略進(jìn)行數(shù)據(jù)遷移,運(yùn)種動態(tài)的調(diào)整可W使固態(tài)硬盤中所有數(shù)據(jù)塊的擦除次數(shù)盡可 能地均勻,達(dá)到避免損壞過快,W延長固態(tài)硬盤的平均壽命,減少壞塊的出現(xiàn)的有益效果。
【附圖說明】
[0036] 圖1為本發(fā)明方法實(shí)施例一的一個實(shí)現(xiàn)流程示意圖;
[0037] 圖2為本發(fā)明方法實(shí)施例二的一個實(shí)現(xiàn)流程示意圖;
[0038] 圖3為本發(fā)明方法實(shí)施例=的一個實(shí)現(xiàn)流程示意圖;
[0039] 圖4為本發(fā)明方法實(shí)施例四的一個實(shí)現(xiàn)流程示意圖;
[0040] 圖5為本發(fā)明電子設(shè)備實(shí)施例的一個組成結(jié)構(gòu)示意圖;
[0041] 圖6-7為應(yīng)用本發(fā)明實(shí)施例的一應(yīng)用場景的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0042] 下面結(jié)合附圖對技術(shù)方案的實(shí)施作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。 陽0創(chuàng)方法實(shí)施例一:
[0044] 本發(fā)明實(shí)施例的一種信息處理方法,所述方法應(yīng)用于電子設(shè)備中,所述電子設(shè)備 具備用于數(shù)據(jù)存儲的存儲器件,所述存儲器件中包括N個存儲區(qū)域,所述N為大于1的自然 數(shù);如圖1所示,所述方法包括: W45] 步驟101、監(jiān)測預(yù)定時間間隔內(nèi)每個存儲區(qū)域的數(shù)據(jù)操作次數(shù)。
[0046] 運(yùn)里,由于對存儲區(qū)域的操作次數(shù)會導(dǎo)致存儲區(qū)域(或稱為數(shù)據(jù)塊)的狀態(tài)隨著 時間變化發(fā)生狀態(tài)遷移,如果存儲區(qū)域(或稱為數(shù)據(jù)塊)的初始狀態(tài)為冷數(shù)據(jù)狀態(tài),則隨著 時間變化對該存儲區(qū)域(或稱為數(shù)據(jù)塊)的操作次數(shù)越多,會由冷數(shù)據(jù)狀態(tài)變?yōu)闊釘?shù)據(jù)狀 態(tài);如果存儲區(qū)域(或稱為數(shù)據(jù)塊)的初始狀態(tài)為熱數(shù)據(jù)狀態(tài),則隨著時間變化對該存儲區(qū) 域(或稱為數(shù)據(jù)塊)的操作次數(shù)越少,會由熱數(shù)據(jù)狀態(tài)變?yōu)槔鋽?shù)據(jù)狀態(tài)。
[0047] 本步驟中的所述操作次數(shù)作為生成遷移策略的第一指標(biāo)。
[0048] 步驟102、基于所述操作次數(shù)標(biāo)記所述存儲區(qū)域。
[0049] 運(yùn)里,對所述存儲區(qū)域根據(jù)所述操作次數(shù)進(jìn)行標(biāo)記時,將所述操作次數(shù)大于第一 闊值的存儲區(qū)域標(biāo)記為第一類,將所述操作次數(shù)小于第一闊值的存儲區(qū)域標(biāo)記為第二類。
[0050] 標(biāo)記為第一類的數(shù)據(jù),其狀態(tài)即為步驟101中提及的熱數(shù)據(jù)狀態(tài);標(biāo)記為第二類 的數(shù)據(jù),其狀態(tài)即為步驟101中提及的冷數(shù)據(jù)狀態(tài),則第一類的數(shù)據(jù)所在的存儲區(qū)域也可W稱為熱數(shù)據(jù)塊,第二類的數(shù)據(jù)所在的存儲區(qū)域也可W稱為冷數(shù)據(jù)塊。
[0051] 步驟103、基于所述操作次數(shù)獲取每個存儲區(qū)域在所述預(yù)定時間間隔內(nèi)數(shù)據(jù)操作 的變化參數(shù)。
[0052]
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