一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]整機(jī)柜產(chǎn)品中的JB0D (高密度磁盤框)的密度是很大的，而每個(gè)JB0D上又有很多個(gè)磁盤。這個(gè)弊端是在較小的空間內(nèi)無法完成很好的散熱，磁盤的散熱問題仍沒有得到很好的解決。然而磁盤工作的穩(wěn)定性是非常重要的，這直接影響到存儲(chǔ)系統(tǒng)的穩(wěn)定性。而影響磁盤穩(wěn)定性的重要因素就是磁盤的散熱。磁盤散熱的方式有很多，物理降溫最為常見的就是加風(fēng)扇，在多磁盤的存儲(chǔ)設(shè)備中，還可以擺放隔斷、加磁盤散熱片、磁盤散熱架等方式進(jìn)行散熱通風(fēng)。但是某些JB0D中的磁盤因持續(xù)的讀寫數(shù)據(jù)信息過多成為熱點(diǎn)盤，磁盤溫度相較于其他磁盤過高，這會(huì)導(dǎo)致磁盤故障率提高且使用壽命大大縮短，使系統(tǒng)處于不穩(wěn)定狀態(tài)。
[0003]如果磁盤過熱無法得到及時(shí)調(diào)節(jié)，自然會(huì)影響到存儲(chǔ)的效率，工作效率下降后，主機(jī)處理速度與存儲(chǔ)不對(duì)等產(chǎn)生延時(shí)，那么將大大降低存儲(chǔ)性能。更為嚴(yán)重的情況，磁盤溫度過高導(dǎo)致系統(tǒng)死機(jī)甚至整塊磁盤被毀。
[0004]由此可見，如何降低磁盤的故障率以提高磁盤的使用壽命是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的是提供一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法用于降低磁盤的故障率以提高磁盤的使用壽命。此外，本發(fā)明的目的還提供一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的裝置。
[0006]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法，包括:
[0007]獲取所述整機(jī)柜中各JB0D中的各磁盤的溫度信息；
[0008]當(dāng)所述溫度信息對(duì)應(yīng)的溫度檢測(cè)值大于溫度預(yù)設(shè)值時(shí)確定所述溫度檢測(cè)值對(duì)應(yīng)的磁盤為熱點(diǎn)盤，并控制之后的待存儲(chǔ)數(shù)據(jù)存入除所述熱點(diǎn)盤之外的其它磁盤中。
[0009]優(yōu)選地，所述當(dāng)所述溫度信息對(duì)應(yīng)的溫度檢測(cè)值大于溫度預(yù)設(shè)值時(shí)確定所述溫度檢測(cè)值對(duì)應(yīng)的磁盤為熱點(diǎn)盤具體包括:
[0010]接收所述溫度信息，將所述溫度信息轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的溫度檢測(cè)值；
[0011]比較所述溫度檢測(cè)值與所述溫度預(yù)設(shè)值的大小；
[0012]當(dāng)所述溫度檢測(cè)值大于所述溫度預(yù)設(shè)值時(shí)確定所述溫度檢測(cè)值對(duì)應(yīng)的磁盤為熱點(diǎn)盤。
[0013]優(yōu)選地，通過設(shè)置在所述磁盤處的溫度傳感器獲取所述整機(jī)柜中各JB0D中的各磁盤的溫度信息。
[0014]優(yōu)選地，通過數(shù)據(jù)傳輸線獲取所述溫度傳感器輸出的所述溫度信息。
[0015]優(yōu)選地，當(dāng)所述磁盤的轉(zhuǎn)速低于7200轉(zhuǎn)時(shí)，所述溫度預(yù)設(shè)值為40° ;當(dāng)所述磁盤的轉(zhuǎn)速為7200-15000轉(zhuǎn)時(shí)，所述溫度預(yù)設(shè)值為50°。
[0016]一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的裝置，包括:
[0017]設(shè)置在所述整機(jī)柜中各JB0D中的各磁盤處的溫度檢測(cè)裝置，用于獲取所述整機(jī)柜中各JB0D中的各磁盤的溫度信息；
[0018]與所述各溫度檢測(cè)裝置連接的控制器，用于當(dāng)所述溫度信息對(duì)應(yīng)的溫度檢測(cè)值大于溫度預(yù)設(shè)值時(shí)確定所述溫度檢測(cè)值對(duì)應(yīng)的磁盤為熱點(diǎn)盤，并控制之后的待存儲(chǔ)數(shù)據(jù)存入除所述熱點(diǎn)盤之外的其它磁盤中。
[0019]優(yōu)選地，所述控制器具體包括:
[0020]接收單元，用于接收所述溫度信息，將所述溫度信息轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的溫度檢測(cè)值；
[0021]比較單元，用于比較所述溫度檢測(cè)值與所述溫度預(yù)設(shè)值的大?。?br>[0022]確定單元，用于當(dāng)所述溫度檢測(cè)值大于所述溫度預(yù)設(shè)值時(shí)確定所述溫度檢測(cè)值對(duì)應(yīng)的磁盤為熱點(diǎn)盤。
[0023]優(yōu)選地，所述溫度檢測(cè)裝置為溫度傳感器，設(shè)置在所述磁盤處。
[0024]優(yōu)選地，所述溫度傳感器與所述控制器通過數(shù)據(jù)傳輸線連接。
[0025]優(yōu)選地，當(dāng)所述磁盤的轉(zhuǎn)速低于7200轉(zhuǎn)時(shí)，所述溫度預(yù)設(shè)值為40° ;當(dāng)所述磁盤的轉(zhuǎn)速為7200-15000轉(zhuǎn)時(shí)，所述溫度預(yù)設(shè)值為50°。
[0026]本發(fā)明所提供的減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法，首先檢查各磁盤的溫度信息，當(dāng)溫度信息對(duì)應(yīng)的溫度檢查值大于溫度預(yù)設(shè)值時(shí)，則確定該磁盤為熱點(diǎn)盤，那么之后的待存儲(chǔ)數(shù)據(jù)就轉(zhuǎn)存至除熱點(diǎn)盤之外的其它磁盤，因此熱點(diǎn)盤的溫度就會(huì)得到緩解，降低了磁盤的故障率，延長(zhǎng)了磁盤的使用壽命。
【附圖說明】
[0027]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖做簡(jiǎn)單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0028]圖1為本發(fā)明提供的一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法的流程圖；
[0029]圖2為本發(fā)明提供的另一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法的流程圖；
[0030]圖3為本發(fā)明提供的一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的裝置的結(jié)構(gòu)圖；
[0031]圖4為本發(fā)明提供的另一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的裝置的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0032]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下，所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)范圍。
[0033]本發(fā)明的核心是提供一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法及裝置。
[0034]為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0035]實(shí)施例一
[0036]圖1為本發(fā)明提供的一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法的流程圖。減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法包括:
[0037]S10:獲取整機(jī)柜中各JB0D中的各磁盤的溫度信息。
[0038]S20:當(dāng)溫度信息對(duì)應(yīng)的溫度檢測(cè)值大于溫度預(yù)設(shè)值時(shí)確定溫度檢測(cè)值對(duì)應(yīng)的磁盤為熱點(diǎn)盤，并控制之后的待存儲(chǔ)數(shù)據(jù)存入除熱點(diǎn)盤之外的其它磁盤中。
[0039]當(dāng)整機(jī)柜工作運(yùn)行時(shí)，某些JB0D中的磁盤持續(xù)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)過多成為熱點(diǎn)盤，磁盤溫度相較于其他盤過高，但是機(jī)房的空調(diào)環(huán)境是恒定的，不會(huì)針對(duì)某個(gè)磁盤進(jìn)行調(diào)低溫度保證散熱，這會(huì)導(dǎo)致磁盤高溫度保持一段時(shí)間，從而使磁盤故障率明顯提高，而且這也會(huì)很大程度縮短磁盤的工作壽命，使系統(tǒng)處于不穩(wěn)定狀態(tài)。這種情況轉(zhuǎn)移熱點(diǎn)盤的讀寫數(shù)據(jù)量是關(guān)鍵的。因此，本發(fā)明提出以上方法，首先獲取整機(jī)柜中各JB0D中的各磁盤的溫度信息?？梢岳斫獾氖牵麢C(jī)柜中有多個(gè)JB0D，每個(gè)JB0D中有多個(gè)磁盤，因此，步驟S10中能夠獲取多個(gè)數(shù)據(jù)信息。該溫度信息的個(gè)數(shù)與磁盤的個(gè)數(shù)對(duì)應(yīng)。通過對(duì)每個(gè)溫度信息進(jìn)行分析，當(dāng)其中的一個(gè)或幾個(gè)溫度信息對(duì)應(yīng)的溫度檢測(cè)值大于溫度預(yù)設(shè)值時(shí)，則確定該磁盤為熱點(diǎn)盤，那么剩余的其它磁盤就是非熱點(diǎn)盤。當(dāng)再有待存儲(chǔ)數(shù)據(jù)需要存入磁盤中時(shí)，則將這些待存儲(chǔ)數(shù)據(jù)存入除熱點(diǎn)盤之外的其它磁盤中，即存入非熱點(diǎn)盤。由于之后的待存儲(chǔ)數(shù)據(jù)不再存入熱點(diǎn)盤，因此，熱點(diǎn)盤的溫度就不會(huì)隨著上升，提到了保護(hù)作用。
[0040]需要說明的是，溫度預(yù)設(shè)值可以根據(jù)實(shí)際情況設(shè)定。
[0041]本實(shí)施例提供的減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法，首先檢查各磁盤的溫度信息，當(dāng)溫度信息對(duì)應(yīng)的溫度檢查值大于溫度預(yù)設(shè)值時(shí)，則確定該磁盤為熱點(diǎn)盤，那么之后的待存儲(chǔ)數(shù)據(jù)就轉(zhuǎn)存至除熱點(diǎn)盤之外的其它磁盤，因此熱點(diǎn)盤的溫度就會(huì)得到緩解，降低了磁盤的故障率，延長(zhǎng)了磁盤的使用壽命。
[0042]圖2為本發(fā)明提供的另一種減小整機(jī)柜磁盤故障率的方法的流程圖。其中，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，步驟S20:當(dāng)溫度信息對(duì)應(yīng)的溫度檢測(cè)值大于溫度預(yù)設(shè)值時(shí)確定溫度檢測(cè)值對(duì)應(yīng)的磁盤為熱點(diǎn)盤具體包括:
[0043]S200:接收溫度信息，將溫度信息轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的溫度檢測(cè)值。
[0044]S201:比較溫度檢測(cè)值與溫度預(yù)設(shè)值的大小。
[0045]S202:當(dāng)溫度檢測(cè)值大于溫度預(yù)設(shè)值時(shí)確定溫度檢測(cè)值對(duì)應(yīng)的磁盤為熱點(diǎn)盤。
[0046]對(duì)于步驟S20來說，具體分為3個(gè)步驟，首先是接收各磁盤對(duì)應(yīng)的溫度信息，并將溫度信息轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的溫度檢查值。然后比較每個(gè)溫度檢查值與溫度預(yù)設(shè)值的大小關(guān)系，如果溫度檢查值大于溫度預(yù)設(shè)值，則確定該溫度檢查值對(duì)應(yīng)的磁盤為熱點(diǎn)盤；否則為非熱點(diǎn)盤。
[0047]其中，通過設(shè)置在磁盤處的溫度傳感器獲取整機(jī)柜中各JB0D中的各磁盤的溫度
?目息。
[0048]獲取溫度信息的方式有很多種，本發(fā)明中采用溫度傳感器來獲取各磁盤的溫度信息。具體的做法是在各磁盤處設(shè)置溫度傳感器，為了達(dá)到更好的檢測(cè)效果，可以設(shè)置在磁盤的表面且盡量靠近磁盤。
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