一種基于i2c總線的系統(tǒng)及測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及嵌入式計(jì)算機(jī)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于I2C總線的系統(tǒng)及測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]I2C總線由串行數(shù)據(jù)線(SDA)和串行時(shí)鐘線(SCL)組成，僅有兩條線就可掛載多個(gè)設(shè)備，各個(gè)設(shè)備通過(guò)地址區(qū)分。帶有I2C接口的處理器廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備的主板上，實(shí)現(xiàn)溫度監(jiān)控、EEPROM讀寫(xiě)操作、系統(tǒng)間通信等。目前在嵌入式產(chǎn)品測(cè)試性設(shè)計(jì)中，提供的測(cè)試性所要求的支持電路較少，無(wú)法滿足最終產(chǎn)品對(duì)測(cè)試性的要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了解決【背景技術(shù)】中所存在的技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提出了一種基于I2C總線的系統(tǒng)及測(cè)試方法，采用I2C總線實(shí)現(xiàn)測(cè)試功能，具有簡(jiǎn)單易行、成本可控等優(yōu)勢(shì)。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:一種基于I2C總線的系統(tǒng)，其特征在于:所述測(cè)試系統(tǒng)包括η個(gè)通用處理模塊，η個(gè)通用處理模塊均通過(guò)I2C總線連接；
[0005]所述通用處理模塊包括CPU以及多個(gè)與CPU連接的具有I2C接口的器件;所述器件通過(guò)12C總線與CPU連接。
[0006]上述具有I2C接口的器件是單片機(jī)或DSP。
[0007]—種基于I2C總線的測(cè)試方法，其特征在于:所述方法包括以下步驟:
[0008]I)第一通用處理模塊通過(guò)I2C總線按照通信協(xié)議向第二通用處理模塊發(fā)送測(cè)試消息;
[0009]2)第二通用處理模塊CTU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件按照通信協(xié)議接收消息并進(jìn)行解析，確認(rèn)待測(cè)試器件的位置信息；
[0010]3)第二通用處理模塊CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件通過(guò)I2C總線向待測(cè)試器件發(fā)送測(cè)試消息；
[0011 ] 4)待測(cè)試器件按照通信協(xié)議接收測(cè)試消息并解析；
[0012]5)待測(cè)試器件響應(yīng)測(cè)試消息，完成自身測(cè)試，測(cè)試結(jié)果通過(guò)I2C發(fā)給第二通用處理模塊CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件；
[0013]6)CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件接收數(shù)據(jù)并按照通信協(xié)議組包；
[0014]7)第二通用處理模塊CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件通過(guò)I2C總線向第一通用處理模塊發(fā)送消息；
[0015]8)第一通用處理模塊接收第二通用處理模塊測(cè)試結(jié)果；
[0016]9)第一通用處理模塊對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行故障分析，并上報(bào)測(cè)試結(jié)果。
[0017]本發(fā)明的基于I2C總線的系統(tǒng)及測(cè)試方法，基于該總線的測(cè)試架構(gòu)，在通用處理模塊之間通過(guò)I2C總線實(shí)現(xiàn)測(cè)試信息的傳遞，通用處理模塊通過(guò)I2C總線接收測(cè)試信息后，內(nèi)部處理器電路通過(guò)I2C發(fā)送測(cè)試消息并獲取器件的反饋信息，從而完成對(duì)內(nèi)部模塊的測(cè)試功能。采用I2C總線實(shí)現(xiàn)測(cè)試功能，具有簡(jiǎn)單易行、成本可控等優(yōu)勢(shì)，可廣泛應(yīng)用于嵌入式產(chǎn)品領(lǐng)域;可快速實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)部測(cè)試性設(shè)計(jì)要求，提高產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)進(jìn)度、降低開(kāi)發(fā)成本。
【附圖說(shuō)明】
[0018]圖1是本發(fā)明的內(nèi)部架構(gòu)示意圖；
[0019]圖2是本發(fā)明的測(cè)試方法流程圖；
【具體實(shí)施方式】
[0020]采用基于I2C總線的系統(tǒng)測(cè)試方法的產(chǎn)品內(nèi)部，由η個(gè)通用處理模塊組成。產(chǎn)品內(nèi)部架構(gòu)如圖1所示。通用處理模塊2由CPU 20，器件21，器件22等共m個(gè)器件組成。
[0021]CPU 20駐留有測(cè)試應(yīng)用軟件，接收系統(tǒng)內(nèi)其它模塊的通信消息。
[0022]器件21、器件22和器件m具有I2C接口，通過(guò)I2C總線與CPU20連接。
[0023]I2C總線測(cè)試方法如圖2所示。處理步驟如下:
[0024]I)第一通用處理模塊I通過(guò)I2C總線按照通信協(xié)議向第二通用處理模塊2發(fā)送測(cè)試消息；
[0025]2)第二通用處理模塊CTU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件按照通信協(xié)議接收消息并進(jìn)行解析，確認(rèn)待測(cè)試器件的位置信息；
[0026]3)第二通用處理模塊CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件通過(guò)I2C總線向待測(cè)試器件發(fā)送測(cè)試消息；
[0027]4)待測(cè)試器件按照通信協(xié)議接收測(cè)試消息并解析；
[0028]5)待測(cè)試器件響應(yīng)測(cè)試消息，完成自身測(cè)試，測(cè)試結(jié)果通過(guò)I2C發(fā)給第二通用處理模塊CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件；
[0029]6)CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件接收數(shù)據(jù)并按照通信協(xié)議組包；
[0030]7)第二通用處理模塊CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件通過(guò)I2C總線向第一通用處理模塊發(fā)送消息；
[0031]8)第一通用處理模塊I接收第二通用處理模塊2測(cè)試結(jié)果；
[0032]9)第一通用處理模塊I對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行故障分析，并上報(bào)測(cè)試結(jié)果。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于I2C總線的系統(tǒng)，其特征在于:所述測(cè)試系統(tǒng)包括η個(gè)通用處理模塊，η個(gè)通用處理模塊均通過(guò)I2C總線連接； 所述通用處理模塊包括CPU以及多個(gè)與CPU連接的具有I2C接口的器件;所述器件通過(guò)12C總線與CPU連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于I2C總線的系統(tǒng)，其特征在于:所述具有I2C接口的器件是單片機(jī)或DSP。3.一種基于I2C總線的測(cè)試方法，其特征在于:所述方法包括以下步驟: 1)第一通用處理模塊通過(guò)I2C總線按照通信協(xié)議向第二通用處理模塊發(fā)送測(cè)試消息； 2)第二通用處理模塊CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件按照通信協(xié)議接收消息并進(jìn)行解析，確認(rèn)待測(cè)試器件的位置信息； 3)第二通用處理模塊CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件通過(guò)I2C總線向待測(cè)試器件發(fā)送測(cè)試消息; 4)待測(cè)試器件按照通信協(xié)議接收測(cè)試消息并解析； 5)待測(cè)試器件響應(yīng)測(cè)試消息，完成自身測(cè)試，測(cè)試結(jié)果通過(guò)I2C發(fā)給第二通用處理模塊(PU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件； 6)CRJ駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件接收數(shù)據(jù)并按照通信協(xié)議組包； 7)第二通用處理模塊CPU駐留的測(cè)試應(yīng)用軟件通過(guò)I2C總線向第一通用處理模塊發(fā)送消息； 8)第一通用處理模塊接收第二通用處理模塊測(cè)試結(jié)果； 9)第一通用處理模塊對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行故障分析，并上報(bào)測(cè)試結(jié)果。
【專利摘要】本發(fā)明提出了一種基于I2C總線的系統(tǒng)及測(cè)試方法，測(cè)試系統(tǒng)包括n個(gè)通用處理模塊，n個(gè)通用處理模塊均通過(guò)I2C總線連接；通用處理模塊包括CPU以及多個(gè)與CPU連接的具有I2C接口的器件；器件通過(guò)I2C總線與CPU連接。本發(fā)明采用I2C總線實(shí)現(xiàn)測(cè)試功能，具有簡(jiǎn)單易行、成本可控等優(yōu)勢(shì)，可廣泛應(yīng)用于嵌入式產(chǎn)品領(lǐng)域。
【IPC分類】G06F11/22
【公開(kāi)號(hào)】CN105573875
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510917822
【發(fā)明人】茹偉, 趙臘才, 孔德岐, 吳志川, 萬(wàn)欣宇, 張楊陽(yáng)
【申請(qǐng)人】中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司西安航空計(jì)算技術(shù)研究所
【公開(kāi)日】2016年5月11日
【申請(qǐng)日】2015年12月10日