基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及磁盤故障預(yù)測(cè)方法及裝置，更具體地，涉及基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，隨著計(jì)算機(jī)和網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用的日益廣泛以及不同領(lǐng)域的業(yè)務(wù)種類的日益豐富，基于海量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的云計(jì)算技術(shù)的應(yīng)用變得越來(lái)越廣泛，由此，隨著用于存儲(chǔ)海量數(shù)據(jù)的機(jī)械式硬盤(例如SAS硬盤以及SATA硬盤)的數(shù)量的顯著增長(zhǎng)，其發(fā)生故障的概率以及不良影響也越來(lái)越大，因此，對(duì)磁盤故障進(jìn)行處理和維護(hù)變得越來(lái)越重要。
[0003]在現(xiàn)有的技術(shù)方案中，通常通過(guò)有限的冗余備份的方式來(lái)在磁盤發(fā)生故障的情況下確保數(shù)據(jù)處理和系統(tǒng)運(yùn)行的連續(xù)性。
[0004]然而，現(xiàn)有的技術(shù)方案存在如下問(wèn)題:有限的冗余備份的方式僅能夠在少量磁盤損壞的情況下保證數(shù)據(jù)處理和系統(tǒng)運(yùn)行的連續(xù)性，而在較多磁盤發(fā)生故障的情況下，該方式難于保證系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行和數(shù)據(jù)處理效率，此外，由于不能預(yù)估發(fā)生故障的磁盤的數(shù)量，因此難于準(zhǔn)確地準(zhǔn)備用于應(yīng)急和備份的磁盤的數(shù)量，由此使得維護(hù)成本上升。
[0005]因此，存在如下需求:提供能夠預(yù)測(cè)磁盤故障發(fā)生概率以及數(shù)量的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法及裝置。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)方案所存在的問(wèn)題，本發(fā)明提出了能夠預(yù)測(cè)磁盤故障發(fā)生概率以及數(shù)量的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法及裝置。
[0007]本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
一種基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法，所述基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法包括下列步驟:
(Al)收集海量磁盤的基礎(chǔ)信息、歷史運(yùn)行信息和故障信息；
(A2)分析所收集的海量磁盤的基礎(chǔ)信息、歷史運(yùn)行信息和故障信息以確定與磁盤發(fā)生故障強(qiáng)相關(guān)的要素，并基于所確定的與磁盤發(fā)生故障強(qiáng)相關(guān)的要素構(gòu)建預(yù)測(cè)模型；
(A3)基于所述預(yù)測(cè)模型預(yù)測(cè)每個(gè)正在運(yùn)行的磁盤發(fā)生故障的概率以及數(shù)量。
[0008]在上面所公開(kāi)的方案中，優(yōu)選地，所述預(yù)測(cè)模型是線性預(yù)測(cè)模型。
[0009]在上面所公開(kāi)的方案中，優(yōu)選地，所述方法還包括:周期性地檢測(cè)并記錄每個(gè)正在運(yùn)行的磁盤的運(yùn)行狀態(tài)信息，并且在磁盤發(fā)生故障時(shí)記錄故障發(fā)生時(shí)間、故障原因以及發(fā)生故障時(shí)該磁盤的運(yùn)行狀態(tài)。
[0010]在上面所公開(kāi)的方案中，優(yōu)選地，所述基礎(chǔ)信息包括磁盤類型、磁盤生產(chǎn)商、磁盤出廠信息，所述歷史運(yùn)行信息包括運(yùn)行時(shí)間、運(yùn)行環(huán)境以及基于時(shí)間序列的運(yùn)行狀態(tài)信息，所述故障信息包括故障發(fā)生時(shí)間、故障原因。
[0011]在上面所公開(kāi)的方案中，優(yōu)選地，所述步驟(A2)進(jìn)一步包括:分析磁盤的基礎(chǔ)信息、歷史運(yùn)行信息和故障信息意之間的相關(guān)性以確定與磁盤發(fā)生故障強(qiáng)相關(guān)的要素，并將所確定的強(qiáng)相關(guān)要素作為采樣點(diǎn)而構(gòu)建所述線性預(yù)測(cè)模型。
[0012]在上面所公開(kāi)的方案中，優(yōu)選地，所述步驟(A3)進(jìn)一步包括:獲取各個(gè)磁盤的基礎(chǔ)信息和當(dāng)前運(yùn)行信息并基于所述線性預(yù)測(cè)模型計(jì)算并預(yù)測(cè)每個(gè)磁盤未來(lái)一天或一周內(nèi)發(fā)生故障的概率，并且基于所預(yù)測(cè)的概率確定未來(lái)一天或一周內(nèi)可能會(huì)發(fā)生故障的磁盤的數(shù)量。
[0013]本發(fā)明的目的也可以通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
一種基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)裝置，所述基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)裝置包括:
信息收集單元，所述信息收集單元收集海量磁盤的基礎(chǔ)信息、歷史運(yùn)行信息和故障信息，并將所收集的海量磁盤的基礎(chǔ)信息、歷史運(yùn)行信息和故障信息傳送至模型構(gòu)建單元；模型構(gòu)建單元，所述模型構(gòu)建單元分析所述海量磁盤的基礎(chǔ)信息、歷史運(yùn)行信息和故障信息以確定與磁盤發(fā)生故障強(qiáng)相關(guān)的要素，并基于所確定的與磁盤發(fā)生故障強(qiáng)相關(guān)的要素構(gòu)建預(yù)測(cè)模型，以及將所述預(yù)測(cè)模型提供給故障預(yù)測(cè)單元；
故障預(yù)測(cè)單元，所述故障預(yù)測(cè)單元基于所述預(yù)測(cè)模型預(yù)測(cè)每個(gè)正在運(yùn)行的磁盤發(fā)生故障的概率以及數(shù)量。
[0014]在上面所公開(kāi)的方案中，優(yōu)選地，所述預(yù)測(cè)模型是線性預(yù)測(cè)模型。
[0015]在上面所公開(kāi)的方案中，優(yōu)選地，所述裝置還包括信息記錄單元，所述信息記錄單元周期性地檢測(cè)并記錄每個(gè)正在運(yùn)行的磁盤的運(yùn)行狀態(tài)信息，并且在磁盤發(fā)生故障時(shí)記錄故障發(fā)生時(shí)間、故障原因以及發(fā)生故障時(shí)該磁盤的運(yùn)行狀態(tài)。
[0016]在上面所公開(kāi)的方案中，優(yōu)選地，所述基礎(chǔ)信息包括磁盤類型、磁盤生產(chǎn)商、磁盤出廠信息，所述歷史運(yùn)行信息包括運(yùn)行時(shí)間、運(yùn)行環(huán)境以及基于時(shí)間序列的運(yùn)行狀態(tài)信息，所述故障信息包括故障發(fā)生時(shí)間、故障原因。
[0017]在上面所公開(kāi)的方案中，優(yōu)選地，所述模型構(gòu)建單元以如下方式構(gòu)建所述線性預(yù)測(cè)模型:分析磁盤的基礎(chǔ)信息、歷史運(yùn)行信息和故障信息意之間的相關(guān)性以確定與磁盤發(fā)生故障強(qiáng)相關(guān)的要素，并將所確定的強(qiáng)相關(guān)要素作為采樣點(diǎn)而構(gòu)建所述線性預(yù)測(cè)模型。
[0018]在上面所公開(kāi)的方案中，優(yōu)選地，所述故障預(yù)測(cè)單元以如下方式預(yù)測(cè)每個(gè)正在運(yùn)行的磁盤發(fā)生故障的概率以及數(shù)量:獲取各個(gè)磁盤的基礎(chǔ)信息和當(dāng)前運(yùn)行信息并基于所述線性預(yù)測(cè)模型計(jì)算并預(yù)測(cè)每個(gè)磁盤未來(lái)一天或一周內(nèi)發(fā)生故障的概率，并且基于所預(yù)測(cè)的概率確定未來(lái)一天或一周內(nèi)可能會(huì)發(fā)生故障的磁盤的數(shù)量。
[0019]本發(fā)明所公開(kāi)的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法及裝置具有以下優(yōu)點(diǎn):能夠預(yù)測(cè)磁盤故障發(fā)生概率以及數(shù)量，由此能夠確保系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行和數(shù)據(jù)處理的效率，并且能夠預(yù)估發(fā)生故障的磁盤的數(shù)量，從而能夠更準(zhǔn)確地準(zhǔn)備用于應(yīng)急和備份的磁盤，使得維護(hù)便捷且成本較低。
【附圖說(shuō)明】
[0020]結(jié)合附圖，本發(fā)明的技術(shù)特征以及優(yōu)點(diǎn)將會(huì)被本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解，其中:
圖1是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法的流程圖； 圖2是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)裝置的示意性結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0021]圖1是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法的流程圖。如圖1所示，本發(fā)明所公開(kāi)的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法包括下列步驟:(A1)收集海量磁盤的基礎(chǔ)信息、歷史運(yùn)行信息和故障信息；(A2)分析所收集的海量磁盤的基礎(chǔ)信息、歷史運(yùn)行信息和故障信息以確定與磁盤發(fā)生故障強(qiáng)相關(guān)的要素，并基于所確定的與磁盤發(fā)生故障強(qiáng)相關(guān)的要素構(gòu)建預(yù)測(cè)模型；(A3)基于所述預(yù)測(cè)模型預(yù)測(cè)每個(gè)正在運(yùn)行的磁盤發(fā)生故障的概率以及數(shù)量。
[0022]優(yōu)選地，在本發(fā)明所公開(kāi)的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法中，所述預(yù)測(cè)模型是線性預(yù)測(cè)模型。
[0023]優(yōu)選地，本發(fā)明所公開(kāi)的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法還包括:周期性地(例如10秒或者I分鐘)檢測(cè)并記錄每個(gè)正在運(yùn)行的磁盤的運(yùn)行狀態(tài)信息，并且在磁盤發(fā)生故障時(shí)記錄故障發(fā)生時(shí)間、故障原因以及發(fā)生故障時(shí)該磁盤的運(yùn)行狀態(tài)。
[0024]優(yōu)選地，在本發(fā)明所公開(kāi)的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法中，所述基礎(chǔ)信息包括但不限于磁盤類型、磁盤生產(chǎn)商、磁盤出廠信息，所述歷史運(yùn)行信息包括但不限于運(yùn)行時(shí)間、運(yùn)行環(huán)境(即使用場(chǎng)景，例如，如果是海量數(shù)據(jù)處理環(huán)境則涉及大量的讀寫操作，如果是虛擬化環(huán)境，則僅涉及少量的讀寫操作)以及基于時(shí)間序列的運(yùn)行狀態(tài)信息，所述故障信息包括但不限于故障發(fā)生時(shí)間、故障原因。
[0025]優(yōu)選地，在本發(fā)明所公開(kāi)的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法中，所述步驟(A2)進(jìn)一步包括:分析磁盤的基礎(chǔ)信息、歷史運(yùn)行信息和故障信息意之間的相關(guān)性以確定與磁盤發(fā)生故障強(qiáng)相關(guān)的要素(例如運(yùn)行時(shí)間、訪問(wèn)頻度等等)，并將所確定的強(qiáng)相關(guān)要素作為采樣點(diǎn)而構(gòu)建所述線性預(yù)測(cè)模型(例如，所述線性預(yù)測(cè)模型的時(shí)間單位為“天”)。
[0026]優(yōu)選地，在本發(fā)明所公開(kāi)的基于預(yù)測(cè)模型的磁盤故障預(yù)測(cè)方法中，所述步驟(A3)進(jìn)一步包括:獲取各個(gè)磁盤的基礎(chǔ)信息和當(dāng)前運(yùn)行信息并基于所述線性預(yù)測(cè)模型計(jì)算并預(yù)測(cè)每個(gè)磁盤未來(lái)一天或一周內(nèi)發(fā)生故障的概率，并且基于所預(yù)測(cè)的概率確定未來(lái)一天或一周內(nèi)可能會(huì)發(fā)生故障的磁盤的數(shù)量(例如發(fā)生故障的概率大于預(yù)定閾值的磁盤的數(shù)量)。