一種磁盤壓力測(cè)試方法及裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種磁盤壓力測(cè)試方法及裝置，該方法包括：首先獲取每一個(gè)待測(cè)試磁盤的標(biāo)識(shí)；以及根據(jù)獲取到的標(biāo)識(shí)以及預(yù)先設(shè)置好的磁盤壓力測(cè)試程序，編輯該磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表；然后，啟動(dòng)與該磁盤列表相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線程，并利用該多個(gè)線程執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序。通過(guò)多線程同時(shí)運(yùn)行磁盤壓力測(cè)試程序，可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)磁盤的多盤位并發(fā)壓力測(cè)試，因此，本方案能夠提高服務(wù)器磁盤壓力測(cè)試的效率。
【專利說(shuō)明】
一種磁盤壓力測(cè)試方法及裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種磁盤壓力測(cè)試方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著磁盤技術(shù)的不斷發(fā)展，為了滿足服務(wù)器數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間的日益增長(zhǎng)，單個(gè)磁盤 的容量變得越來(lái)越大。此外，隨著訪問(wèn)服務(wù)器的用戶越來(lái)越多，業(yè)務(wù)軟件的讀寫操作愈加頻 繁，故對(duì)磁盤的壓力也就越大，磁盤陣列的整體I/O性能也受到影響。通過(guò)對(duì)服務(wù)器磁盤進(jìn) 行壓力測(cè)試，能夠使存在故障隱患的磁盤快速表現(xiàn)出故障問(wèn)題。
[0003] 目前，可以通過(guò)對(duì)待測(cè)試磁盤反復(fù)進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作，以使異常磁盤在此壓力環(huán) 境下表現(xiàn)出故障問(wèn)題，從而完成磁盤壓力測(cè)試操作。
[0004] 由于現(xiàn)有的磁盤壓力測(cè)試方法是對(duì)單塊待測(cè)試磁盤進(jìn)行壓力測(cè)試，故測(cè)試效率較 低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明提供了一種磁盤壓力測(cè)試方法及裝置，能夠提高服務(wù)器磁盤壓力測(cè)試的效 率。
[0006] 為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明是通過(guò)如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：
[0007] 一方面，本發(fā)明提供了一種磁盤壓力測(cè)試方法，預(yù)先設(shè)置磁盤壓力測(cè)試程序，還包 括：
[0008] 獲取每一個(gè)待測(cè)試磁盤的標(biāo)識(shí)；
[0009] 根據(jù)所述標(biāo)識(shí)，編輯所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表；
[0010] 啟動(dòng)與所述磁盤列表相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線程；
[0011] 利用所述多個(gè)線程，執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序。
[0012] 進(jìn)一步地，所述執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序，包括：
[0013] S1:利用for并發(fā)語(yǔ)句，分別讀取所述磁盤列表中的每一個(gè)所述標(biāo)識(shí)；
[0014] S2:利用test()函數(shù)，針對(duì)與每一個(gè)所述標(biāo)識(shí)相對(duì)應(yīng)的待測(cè)試磁盤均執(zhí)行：向所述 待測(cè)試磁盤中讀寫固定block大小和數(shù)量的塊數(shù)據(jù)；
[0015] S3:利用while循環(huán)語(yǔ)句，再次執(zhí)行S2。
[0016] 進(jìn)一步地，所述根據(jù)所述標(biāo)識(shí)，編輯所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表，包括： 根據(jù)獲取到的每一個(gè)待測(cè)試磁盤的盤符，將所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表編輯為 1 ist =(盤符1盤符2…盤符n)，且每一個(gè)所述盤符之間用空格隔開。
[0017] 進(jìn)一步地，在所述執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序之后，進(jìn)一步包括:生成與每一個(gè)所 述待測(cè)試磁盤相對(duì)應(yīng)的磁盤壓力測(cè)試報(bào)告；
[0018] 所述磁盤壓力測(cè)試報(bào)告，包括:單次測(cè)試的壓力大小、單詞測(cè)試所用時(shí)間和磁盤讀 寫速度中的任意一種或多種。
[0019] 進(jìn)一步地，在所述執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序之前，進(jìn)一步包括:對(duì)所述磁盤壓力 測(cè)試程序賦予相應(yīng)的可執(zhí)行權(quán)限:#chmod 777DiskTest。
[0020] 另一方面，本發(fā)明提供了一種磁盤壓力測(cè)試裝置，包括：
[0021] 設(shè)置單元，用于設(shè)置磁盤壓力測(cè)試程序；
[0022] 獲取單元，用于獲取每一個(gè)待測(cè)試磁盤的標(biāo)識(shí)；
[0023] 編輯單元，用于根據(jù)所述標(biāo)識(shí)，編輯所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表；
[0024]處理單元，用于啟動(dòng)與所述磁盤列表相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線程；以及利用所述多個(gè)線程， 執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序。
[0025] 進(jìn)一步地，所述處理單元，具體用于利用for并發(fā)語(yǔ)句，分別讀取所述磁盤列表中 的每一個(gè)所述標(biāo)識(shí);利用test 〇函數(shù)，針對(duì)與每一個(gè)所述標(biāo)識(shí)相對(duì)應(yīng)的待測(cè)試磁盤均執(zhí)行： 向所述待測(cè)試磁盤中讀寫固定block大小和數(shù)量的塊數(shù)據(jù);利用while循環(huán)語(yǔ)句，循環(huán)執(zhí)行 所述讀寫操作。
[0026] 進(jìn)一步地，所述編輯單元，具體用于根據(jù)獲取到的每一個(gè)待測(cè)試磁盤的盤符，將所 述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表編輯為1 i st =(盤符1盤符2…盤符n )，且每一個(gè)所述盤 符之間用空格隔開。
[0027] 進(jìn)一步地，該裝置還包括:報(bào)告生成單元，用于生成與每一個(gè)所述待測(cè)試磁盤相對(duì) 應(yīng)的磁盤壓力測(cè)試報(bào)告；
[0028]所述磁盤壓力測(cè)試報(bào)告，包括:單次測(cè)試的壓力大小、單詞測(cè)試所用時(shí)間和磁盤讀 寫速度中的任意一種或多種。
[0029] 進(jìn)一步地，該裝置還包括:權(quán)限賦予單元，用于對(duì)所述磁盤壓力測(cè)試程序賦予相應(yīng) 的可執(zhí)行權(quán)限:#chmod 777DiskTest。
[0030] 本發(fā)明提供了一種磁盤壓力測(cè)試方法及裝置，首先獲取每一個(gè)待測(cè)試磁盤的標(biāo) 識(shí)；以及根據(jù)獲取到的標(biāo)識(shí)以及預(yù)先設(shè)置好的磁盤壓力測(cè)試程序，編輯該磁盤壓力測(cè)試程 序中的磁盤列表;然后，啟動(dòng)與該磁盤列表相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線程，并利用該多個(gè)線程執(zhí)行所述 磁盤壓力測(cè)試程序。通過(guò)多線程同時(shí)運(yùn)行磁盤壓力測(cè)試程序，可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)磁盤的多盤位 并發(fā)壓力測(cè)試，因此，本發(fā)明能夠提高服務(wù)器磁盤壓力測(cè)試的效率。
【附圖說(shuō)明】
[0031] 為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn) 有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明 的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù) 這些附圖獲得其他的附圖。
[0032] 圖1是本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種磁盤壓力測(cè)試方法的流程圖；
[0033] 圖2是本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種磁盤壓力測(cè)試方法的流程圖；
[0034] 圖3是本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種磁盤壓力測(cè)試裝置的示意圖；
[0035] 圖4是本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種磁盤壓力測(cè)試裝置的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0036]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例 中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是 本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例，基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員 在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。 [0037]如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種磁盤壓力測(cè)試方法，可以包括以下步驟： [0038]步驟101:預(yù)先設(shè)置磁盤壓力測(cè)試程序。
[0039] 步驟102:獲取每一個(gè)待測(cè)試磁盤的標(biāo)識(shí)。
[0040] 步驟103:根據(jù)所述標(biāo)識(shí)，編輯所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表。
[0041 ]步驟104:啟動(dòng)與所述磁盤列表相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線程。
[0042] 步驟105:利用所述多個(gè)線程，執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序。
[0043] 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種磁盤壓力測(cè)試方法，首先獲取每一個(gè)待測(cè)試磁盤的標(biāo) 識(shí)；以及根據(jù)獲取到的標(biāo)識(shí)以及預(yù)先設(shè)置好的磁盤壓力測(cè)試程序，編輯該磁盤壓力測(cè)試程 序中的磁盤列表;然后，啟動(dòng)與該磁盤列表相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線程，并利用該多個(gè)線程執(zhí)行所述 磁盤壓力測(cè)試程序。通過(guò)多線程同時(shí)運(yùn)行磁盤壓力測(cè)試程序，可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)磁盤的多盤位 并發(fā)壓力測(cè)試，因此，本發(fā)明實(shí)施例能夠提高服務(wù)器磁盤壓力測(cè)試的效率。
[0044] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，為了說(shuō)明一種磁盤壓力測(cè)試過(guò)程，以實(shí)現(xiàn)多磁盤并發(fā) 壓力循環(huán)測(cè)試，所以，所述執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序，包括：
[0045] 步驟1051:利用for并發(fā)語(yǔ)句，分別讀取所述磁盤列表中的每一個(gè)所述標(biāo)識(shí)；
[0046] 步驟1052:利用test()函數(shù)，針對(duì)與每一個(gè)所述標(biāo)識(shí)相對(duì)應(yīng)的待測(cè)試磁盤均執(zhí)行： 向所述待測(cè)試磁盤中讀寫固定block大小和數(shù)量的塊數(shù)據(jù)；
[0047] 步驟1053:利用while循環(huán)語(yǔ)句，再次執(zhí)行步驟1052。
[0048] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，為了說(shuō)明一種磁盤列表編輯方式，以便于系統(tǒng)能夠快 速、準(zhǔn)確的獲取到待測(cè)試磁盤的盤符，所以，所述根據(jù)所述標(biāo)識(shí)，編輯所述磁盤壓力測(cè)試程 序中的磁盤列表，包括:根據(jù)獲取到的每一個(gè)待測(cè)試磁盤的盤符，將所述磁盤壓力測(cè)試程序 中的磁盤列表編輯為1 ist =(盤符1盤符2…盤符n)，且每一個(gè)所述盤符之間用空格隔開。
[0049] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，為了能夠查看和分析磁盤壓力測(cè)試的結(jié)果，以便于準(zhǔn) 確確定故障磁盤，所以，在所述執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序之后，進(jìn)一步包括:生成與每一 個(gè)所述待測(cè)試磁盤相對(duì)應(yīng)的磁盤壓力測(cè)試報(bào)告；
[0050] 所述磁盤壓力測(cè)試報(bào)告，包括:單次測(cè)試的壓力大小、單詞測(cè)試所用時(shí)間和磁盤讀 寫速度中的任意一種或多種。
[0051] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，為了保證磁盤壓力測(cè)試程序能夠順利執(zhí)行，所以，在所 述執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序之前，進(jìn)一步包括:對(duì)所述磁盤壓力測(cè)試程序賦予相應(yīng)的可 執(zhí)行權(quán)限:#chmod 777DiskTest。
[0052] 為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本 發(fā)明作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
[0053]如圖2所示，本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供了磁盤壓力測(cè)試方法，該方法可以包括以下步 驟：
[0054]步驟201:確定磁盤壓力測(cè)試程序。
[0055]舉例來(lái)說(shuō)，現(xiàn)將一臺(tái)Linux服務(wù)器中安裝5塊待測(cè)試磁盤，以通過(guò)對(duì)該5塊磁盤進(jìn)行 并發(fā)壓力測(cè)試，從而確定該5塊磁盤是否為故障磁盤，或檢驗(yàn)該5塊磁盤是否會(huì)在高壓并發(fā) 測(cè)試條件下出現(xiàn)異常。為實(shí)現(xiàn)多個(gè)磁盤的并發(fā)循環(huán)壓力測(cè)試，首先需要確定磁盤壓力測(cè)試 程序。
[0056]詳細(xì)地，可以預(yù)先設(shè)置一個(gè)磁盤壓力測(cè)試程序，并將程序內(nèi)容保存為一個(gè)腳本文 件并進(jìn)行命名，如命名為DiskTest。然后，可以將該腳本文件復(fù)制到該Linux服務(wù)器中的任 一目錄位置，如/root目錄。
[0057]舉例來(lái)說(shuō)，該磁盤壓力測(cè)試程序的代碼程序可以如下所示：
[0058] #!/bin/bash
[0059] list = (b c)
[0060] function test(){
[0061] while[[1 ]]
[0062] do
[0063] dd if = /dev/zero of = /dev/sd$lbs = lM count = 1000 2>>report. txt
[0064] done
[0065] }
[0066] for device in${list[i]}
[0067] do
[0068] test$device&
[0069] done
[0070] 在本實(shí)施例所提供的該代碼程序中，首先，for并發(fā)語(yǔ)句可以從list數(shù)組中逐個(gè)提 取盤符，如for device in${list[0]};然后，可以調(diào)用test〇函數(shù)逐個(gè)生成壓力測(cè)試過(guò)程， 如test$device&，其中，device可以用來(lái)表示待測(cè)試磁盤的盤符，&可以使測(cè)試過(guò)程在后臺(tái) 運(yùn)行;之后，test ()函數(shù)中的whi le循環(huán)語(yǔ)句可以使所有待測(cè)試磁盤的并發(fā)壓力循環(huán)持續(xù)進(jìn) 行。
[0071] 在本實(shí)施例中，通過(guò)執(zhí)行設(shè)定的磁盤壓力測(cè)試程序，可以同時(shí)對(duì)多個(gè)磁盤進(jìn)行高 壓并發(fā)循環(huán)壓力測(cè)試。與單塊磁盤壓力測(cè)試相比，本實(shí)施例所提供的壓力測(cè)試方法的測(cè)試 壓力更高、測(cè)試環(huán)境復(fù)雜，因此更容易使存在故障隱患的磁盤快速表現(xiàn)出故障問(wèn)題，故不僅 可以提高磁盤壓力測(cè)試的工作效率，而且可以提高磁盤壓力測(cè)試的準(zhǔn)確性。
[0072] 步驟202:對(duì)磁盤壓力測(cè)試程序賦予相應(yīng)的可執(zhí)行權(quán)限:#chmod 777DiskTest。
[0073] 在本實(shí)施例中，為了保證設(shè)置的磁盤壓力測(cè)試程序能夠順利執(zhí)行，在程序執(zhí)行之 前，可以預(yù)先對(duì)其賦予相應(yīng)的可執(zhí)行權(quán)限，如#chmod 777DiskTest。
[0074]步驟203:獲取服務(wù)器中的每一個(gè)待測(cè)試磁盤的盤符。
[0075]詳細(xì)地，首先獲取服務(wù)器中所有磁盤的磁盤信息:#fdisk-l，并從中獲取每一個(gè)待 測(cè)試磁盤的盤符。
[0076] 舉例來(lái)說(shuō)，對(duì)于該Linux服務(wù)器，可以獲取到如下所示的信息：
[0077] Disk/dev/sda:999.7GB,999653638144bytes
[0078] 255heads,63sectors/track,121534cylinders,total 1952448512sectors
[0079] Units = sectors of l*512 = 512bytes
[0080] Sector size(logical/physical):512bytes/4096bytes
[0081] 1/0 size(minimum/optimal):4096bytes/4096bytes
[0082] Disk identifier:0x0000d421
[0083] Device Boot Start End Blocks Id System /dev/sdal * 2048 2105343 1051648 83 LinuK /dcv/sda2 2105344 35663871 16779264 82 Linux swap /dev/sda3 35663872 664817663 314576896 83 Linux /dcv/sda4 664817664 1952448511 643815424 f W95 ExtTd (LBA) /dev/sda5 664819712 706762751 20971520 83 Linux /dev/sda6 706764800 748709887 20972544 83 Linux /dev/sda7 748711936 769673215 10480640 83 Linux /dev/sda8 769675264 1818253311 524289024 83 Linux
[0084] Disk/dev/sdb:999.7GB,999653638144bytes
[0085] 255heads,63sectors/track,121534cylinders,total 1952448512sectors
[0086] Units = sectors of l*512 = 512bytes
[0087] Sector size(logical/physical):512bytes/4096bytes
[0088] 1/0 size(minimum/optimal):4096bytes/4096bytes
[0089] Disk identifier:0x00000000
[0090] Disk/dev/sdc:999.7GB,999653638144bytes
[0091 ] 255heads,63sectors/track,121534cylinders,total 1952448512sectors
[0092] Units = sectors of l*512 = 512bytes
[0093] Sector size(logical/physical):512bytes/4096bytes
[0094] 1/0 size(minimum/optimal):4096bytes/4096bytes
[0095] Disk identif ier:0x00000000
[0096] Disk/dev/sdd:4000.2GB,4000225165312bytes
[0097] 255heads,63sectors/track,486333cylinders,total 7812939776sectors
[0098] Units = sectors of l*512 = 512bytes
[0099] Sector size(logical/physical):512bytes/4096bytes
[0100] 1/0 size(minimum/optimal):4096bytes/4096bytes
[0101] Disk identifier:0x00000000
[0102] Disk/dev/sde:4000.2GB,4000225165312bytes
[0103] 255heads,63sectors/track,486333cylinders,total 7812939776sectors
[0104] Units = sectors of l*512 = 512bytes
[0105] Sector size(logical/physical):512bytes/4096bytes
[0106] 1/0 size(minimum/optimal):4096bytes/4096bytes
[0107] Disk identifier:0x00000000
[0108] Disk/dev/sdf:4000.2GB,4000225165312bytes
[0109] 255heads,63sectors/track,486333cylinders,total 7812939776sectors
[0110] Units = sectors of l*512 = 512bytes
[0111] Sector size(logical/physical):512bytes/4096bytes
[0112] I/O size(minimum/optimal):4096bytes/4096bytes
[0113] Disk identifier:0x00000000
[0114]在本實(shí)施例中，在獲取到的6塊磁盤中，不僅包含5塊待測(cè)試磁盤/dev/sdb、/dev/ sdc、/dev/sdd、/dev/sde和/dev/sdf，還包含服務(wù)器內(nèi)置系統(tǒng)盤/dev/sda。因此，除去系統(tǒng) 盤/dev/sda，可以獲取到這5個(gè)待測(cè)試磁盤的盤符，分別為b、c、d、e和f。
[0115] 步驟204:根據(jù)獲取到的盤符，將磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表編輯為list=(b c d e f) 〇
[0116] 具體地，每一個(gè)盤符之間用空格隔開。
[0117] 例如，根據(jù)獲取到的盤符b、c、d、e和f，可以將上述代碼程序中的1 ist = (b c)-行 編輯為list = (b c d e f)。在本實(shí)施例中，可以由工作人員人為編輯磁盤列表。
[0118] 步驟205:啟動(dòng)與磁盤列表相對(duì)應(yīng)的5個(gè)線程。
[0119] 在本實(shí)施例中，由于需要對(duì)5塊磁盤進(jìn)行多磁盤并發(fā)壓力測(cè)試，故相應(yīng)的，可以啟 動(dòng)5個(gè)線程以同時(shí)進(jìn)行壓力測(cè)試操作。
[0120] 步驟206:利用for并發(fā)語(yǔ)句，分別讀取磁盤列表中的每一個(gè)盤符。
[0121 ] 具體地，執(zhí)行上述腳本程序:#./DiskTest。
[0122] 在本實(shí)施例中，可以利用上述代碼程序中的for并發(fā)語(yǔ)句，以分別讀取每一個(gè)盤 符。
[0123] 步驟207:利用該5個(gè)線程，以及利用test〇函數(shù)，針對(duì)與每一個(gè)盤符相對(duì)應(yīng)的待測(cè) 試磁盤均執(zhí)行：向該待測(cè)試磁盤中讀寫固定block大小和數(shù)量的塊數(shù)據(jù)。
[0124] 在本實(shí)施例中，可以利用上述代碼程序中的test()函數(shù)，分別對(duì)每一個(gè)待測(cè)試磁 盤執(zhí)行數(shù)據(jù)讀寫操作，例如，可以向待測(cè)試磁盤中讀寫固定block大小和數(shù)量的塊數(shù)據(jù)。
[0125] 步驟208:利用whi le循環(huán)語(yǔ)句，再次執(zhí)行步驟207。
[0126] 在本實(shí)施例中，在任意一塊磁盤完成任意一次數(shù)據(jù)讀寫操作之后，均可以利用上 述代碼程序中的while循環(huán)語(yǔ)句，再次執(zhí)行數(shù)據(jù)讀寫操作，以實(shí)現(xiàn)多磁盤并發(fā)循環(huán)壓力測(cè)試 過(guò)程。
[0127] 此外，對(duì)于任意一塊磁盤，每完成一次數(shù)據(jù)讀寫操作，系統(tǒng)便可以自動(dòng)生成一條相 應(yīng)的記錄信息。例如，與該多磁盤并發(fā)循環(huán)壓力測(cè)試過(guò)程相對(duì)應(yīng)的部分測(cè)試結(jié)果記錄信息 可以如下進(jìn)行顯示：
[0128] 記錄了1000+0的讀入
[0129] 記錄了1000+0的寫出
[0130] 1048576000 字節(jié)（1 ? 0GB)已復(fù)制，16 ? 4364秒，63 ? 8MB/秒
[0131] 記錄了1000+0的讀入
[0132] 記錄了1000+0的寫出
[0133] 1048576000 字節(jié)（1 ? 0GB)已復(fù)制，16 ? 2769秒，64 ? 4MB/秒
[0134] 記錄了 1000+0的讀入
[0135] 記錄了1000+0的寫出
[0136] 1048576000 字節(jié)（1 ? 0GB)已復(fù)制，16 ? 2616 秒，64 ? 5MB/秒
[0137] 記錄了1000+0的讀入
[0138] 記錄了1000+0的寫出
[0139] 1048576000 字節(jié)（1 ? 0GB)已復(fù)制，16 ? 2826秒，64 ? 4MB/秒
[0140] 記錄了1000+0的讀入
[0141] 記錄了1000+0的寫出
[0142] 1048576000 字節(jié)（1 ? 0GB)已復(fù)制，16 ? 4311秒，63 ? 8MB/秒
[0143] 步驟209:在磁盤壓力測(cè)試程序執(zhí)行完成之后，生成與每一個(gè)待測(cè)試磁盤相對(duì)應(yīng)的 磁盤壓力測(cè)試報(bào)告。
[0144] 具體地，磁盤壓力測(cè)試報(bào)告包括單次測(cè)試的壓力大小、單詞測(cè)試所用時(shí)間和磁盤 讀寫速度中的任意一種或多種。
[0145] 在本實(shí)施例中，可以預(yù)先設(shè)置磁盤壓力測(cè)試程序的結(jié)束執(zhí)行時(shí)間，以便于壓力測(cè) 試過(guò)程自動(dòng)停止，也可以由工作人員根據(jù)實(shí)際需求隨時(shí)手動(dòng)停止。
[0146] 在本實(shí)施例中，若服務(wù)器在壓力測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)死機(jī)、無(wú)響應(yīng)等問(wèn)題，說(shuō)明服務(wù)器 的磁盤通道，如RAID卡、SAS線、硬盤背板、硬盤等均有可能存在異常，則后續(xù)可以利用分組、 最小化等故障測(cè)試方法對(duì)故障部件進(jìn)行定位。
[0147] 相應(yīng)的，若服務(wù)器在壓力測(cè)試過(guò)程中未出現(xiàn)問(wèn)題，則在測(cè)試完成之后，可以在 DiskTest所在的目錄下生成測(cè)試報(bào)告report.txt，且該測(cè)試報(bào)告中詳細(xì)記錄了本次測(cè)試的 測(cè)試信息，如單次測(cè)試所用時(shí)間、硬盤寫入速度等。例如，系統(tǒng)自動(dòng)記錄的磁盤/dev/sdb的 測(cè)試報(bào)告可以如下所示：
[0148] 1048576000 字節(jié)（1 ? 0GB)已復(fù)制，16 ? 2616 秒，74 ? 5MB/秒
[0149] 1048576000 字節(jié)（1 ? 0GB)已復(fù)制，17 ? 0383秒，69 ? 4MB/秒
[0150] 1048576000 字節(jié)（1 ? 0GB)已復(fù)制，24 ? 5782秒，35 ? 0MB/秒
[0151 ] 1048576000 字節(jié)（1 ? 0GB)已復(fù)制，26 ? 1049秒，31 ? 8MB/秒
[0152] 1048576000 字節(jié)（1 ? 0GB)已復(fù)制，26 ? 0361秒，31 ? 3MB/秒
[0153] ……
[0154] 在本實(shí)施例中，通過(guò)對(duì)比單個(gè)磁盤的每一次的測(cè)試時(shí)間，可以檢驗(yàn)該磁盤在連續(xù) 讀寫環(huán)境下的穩(wěn)定性;通過(guò)對(duì)比單個(gè)磁盤的每一次的測(cè)試速度，可以檢驗(yàn)該磁盤的性能；以 及，通過(guò)對(duì)比全部磁盤的每一次的測(cè)試時(shí)間和測(cè)試速度，可以檢驗(yàn)該全部磁盤所屬RAID卡 的整體I/O性能。
[0155] 例如，根據(jù)上述磁盤/dev/sdb的測(cè)試報(bào)告，可以看出其測(cè)試結(jié)果有較大波動(dòng)，說(shuō)明 該磁盤在高壓力環(huán)境下雖然沒有引發(fā)服務(wù)器出現(xiàn)死機(jī)、無(wú)響應(yīng)等問(wèn)題，但其在該測(cè)試環(huán)境 下已經(jīng)出現(xiàn)不穩(wěn)定現(xiàn)象，I/O性能明顯下降，可能存在故障或其它缺陷，故可以對(duì)該磁盤進(jìn) 行維修或更換。
[0156] 在本實(shí)施例中，通過(guò)向所有待測(cè)試磁盤并發(fā)循環(huán)的讀寫塊數(shù)據(jù)，以實(shí)現(xiàn)模擬甚至 高于用戶現(xiàn)場(chǎng)磁盤壓力狀況的目的，從而使存在故障隱患的磁盤在高強(qiáng)度的壓力環(huán)境下快 速表現(xiàn)出故障，便于定位磁盤故障。此外，還可以快速檢出RAID卡的故障問(wèn)題，從而可以檢 驗(yàn)磁盤陣列在連續(xù)讀寫環(huán)境下的穩(wěn)定性和整體I/O性能。
[0157] 此外，本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)多盤位并發(fā)壓力測(cè)試，同樣可以實(shí)現(xiàn)對(duì)服務(wù)器進(jìn)行故障 定位、拷機(jī)等目的。
[0158] 在本實(shí)施例中，所提出的多盤位并發(fā)壓力測(cè)試方法在對(duì)磁盤進(jìn)行壓力測(cè)試時(shí)，無(wú) 需安裝第三方軟件、簡(jiǎn)單易用，且使用shell腳本編寫，故通用性強(qiáng)，可跨平臺(tái)使用，從而避 免了因安裝其他磁盤壓力測(cè)試工具所引發(fā)的安裝麻煩、測(cè)試手段單一、應(yīng)用平臺(tái)窄等問(wèn)題。
[0159]如圖3所示，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種磁盤壓力測(cè)試裝置，包括：
[0160] 設(shè)置單元301，用于設(shè)置磁盤壓力測(cè)試程序；
[0161 ]獲取單元302，用于獲取每一個(gè)待測(cè)試磁盤的標(biāo)識(shí)；
[0162] 編輯單元303，用于根據(jù)所述標(biāo)識(shí)，編輯所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表；
[0163] 處理單元304,用于啟動(dòng)與所述磁盤列表相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線程；以及利用所述多個(gè)線 程，執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序。
[0164] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述處理單元304,具體用于利用for并發(fā)語(yǔ)句，分別讀 取所述磁盤列表中的每一個(gè)所述標(biāo)識(shí);利用test()函數(shù)，針對(duì)與每一個(gè)所述標(biāo)識(shí)相對(duì)應(yīng)的 待測(cè)試磁盤均執(zhí)行：向所述待測(cè)試磁盤中讀寫固定block大小和數(shù)量的塊數(shù)據(jù);利用while 循環(huán)語(yǔ)句，循環(huán)執(zhí)行所述讀寫操作。
[0165] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述編輯單元303,具體用于根據(jù)獲取到的每一個(gè)待測(cè) 試磁盤的盤符，將所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表編輯為1 ist =(盤符1盤符2…盤符 n)，且每一個(gè)所述盤符之間用空格隔開。
[0166] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，請(qǐng)參考圖4,該裝置還可以包括:報(bào)告生成單元401，用 于生成與每一個(gè)所述待測(cè)試磁盤相對(duì)應(yīng)的磁盤壓力測(cè)試報(bào)告；
[0167] 所述磁盤壓力測(cè)試報(bào)告，包括:單次測(cè)試的壓力大小、單詞測(cè)試所用時(shí)間和磁盤讀 寫速度中的任意一種或多種。
[0168] 在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，請(qǐng)參考圖4,該裝置還可以包括:權(quán)限賦予單元402,用 于對(duì)所述磁盤壓力測(cè)試程序賦予相應(yīng)的可執(zhí)行權(quán)限:#chmod 777DiskTest。
[0169] 上述裝置內(nèi)的各單元之間的信息交互、執(zhí)行過(guò)程等內(nèi)容，由于與本發(fā)明方法實(shí)施 例基于同一構(gòu)思，具體內(nèi)容可參見本發(fā)明方法實(shí)施例中的敘述，此處不再贅述。
[0170] 綜上所述，本發(fā)明的各個(gè)實(shí)施例至少具有如下有益效果：
[0171] 1、本發(fā)明實(shí)施例中，首先獲取每一個(gè)待測(cè)試磁盤的標(biāo)識(shí)；以及根據(jù)獲取到的標(biāo)識(shí) 以及預(yù)先設(shè)置好的磁盤壓力測(cè)試程序，編輯該磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表;然后，啟動(dòng) 與該磁盤列表相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線程，并利用該多個(gè)線程執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序。通過(guò)多 線程同時(shí)運(yùn)行磁盤壓力測(cè)試程序，可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)磁盤的多盤位并發(fā)壓力測(cè)試，因此，本發(fā)明 實(shí)施例能夠提高服務(wù)器磁盤壓力測(cè)試的效率。
[0172] 2、本發(fā)明實(shí)施例中，通過(guò)執(zhí)行設(shè)定的磁盤壓力測(cè)試程序，可以同時(shí)對(duì)多個(gè)磁盤進(jìn) 行高壓并發(fā)循環(huán)壓力測(cè)試。與單塊磁盤壓力測(cè)試相比，本實(shí)施例所提供的壓力測(cè)試方法的 測(cè)試壓力更高、測(cè)試環(huán)境復(fù)雜，因此更容易使存在故障隱患的磁盤快速表現(xiàn)出故障問(wèn)題，故 不僅可以提高磁盤壓力測(cè)試的工作效率，而且可以提高磁盤壓力測(cè)試的準(zhǔn)確性。
[0173] 3、本發(fā)明實(shí)施例中，通過(guò)向所有待測(cè)試磁盤并發(fā)循環(huán)的讀寫塊數(shù)據(jù)，以實(shí)現(xiàn)模擬 甚至高于用戶現(xiàn)場(chǎng)磁盤壓力狀況的目的，從而使存在故障隱患的磁盤在高強(qiáng)度的壓力環(huán)境 下快速表現(xiàn)出故障，便于定位磁盤故障。此外，還可以快速檢出RAID卡的故障問(wèn)題，從而可 以檢驗(yàn)磁盤陣列在連續(xù)讀寫環(huán)境下的穩(wěn)定性和整體I/O性能。
[0174] 4、本發(fā)明實(shí)施例中，通過(guò)多盤位并發(fā)壓力測(cè)試，同樣可以實(shí)現(xiàn)對(duì)服務(wù)器進(jìn)行故障 定位、拷機(jī)等目的。
[0175] 5、本發(fā)明實(shí)施例中，所提出的多盤位并發(fā)壓力測(cè)試方法在對(duì)磁盤進(jìn)行壓力測(cè)試 時(shí)，無(wú)需安裝第三方軟件、簡(jiǎn)單易用，且使用shell腳本編寫，故通用性強(qiáng)，可跨平臺(tái)使用，從 而避免了因安裝其他磁盤壓力測(cè)試工具所引發(fā)的安裝麻煩、測(cè)試手段單一、應(yīng)用平臺(tái)窄等 問(wèn)題。
[0176]需要說(shuō)明的是，在本文中，術(shù)語(yǔ)"包括"、"包含"或者其任何其他變體意在涵蓋非排 他性的包含，從而使得包括一系列要素的過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而 且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備所固有 的要素。在沒有更多限制的情況下，由語(yǔ)句"包括一個(gè)......"限定的要素，并不排除 在包括所述要素的過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同因素。
[0177]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實(shí)現(xiàn)上述方法實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過(guò) 程序指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，前述的程序可以存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序 在執(zhí)行時(shí)，執(zhí)行包括上述方法實(shí)施例的步驟;而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括:ROM、RAM、磁碟或者光 盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)中。
[0178]最后需要說(shuō)明的是：以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，僅用于說(shuō)明本發(fā)明的技 術(shù)方案，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所做的任何修改、 等同替換、改進(jìn)等，均包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種磁盤壓力測(cè)試方法，其特征在于，預(yù)先設(shè)置磁盤壓力測(cè)試程序，還包括： 獲取每一個(gè)待測(cè)試磁盤的標(biāo)識(shí)； 根據(jù)所述標(biāo)識(shí)，編輯所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表； 啟動(dòng)與所述磁盤列表相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線程； 利用所述多個(gè)線程，執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序，包括： Sl:利用for并發(fā)語(yǔ)句，分別讀取所述磁盤列表中的每一個(gè)所述標(biāo)識(shí)； S2:利用test()函數(shù)，針對(duì)與每一個(gè)所述標(biāo)識(shí)相對(duì)應(yīng)的待測(cè)試磁盤均執(zhí)行：向所述待測(cè) 試磁盤中讀寫固定block大小和數(shù)量的塊數(shù)據(jù)； S3:利用while循環(huán)語(yǔ)句，再次執(zhí)行S2。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述標(biāo)識(shí)，編輯所述磁盤壓力測(cè) 試程序中的磁盤列表，包括： 根據(jù)獲取到的每一個(gè)待測(cè)試磁盤的盤符，將所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表編輯 為list =(盤符1盤符2…盤符η)，且每一個(gè)所述盤符之間用空格隔開。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于， 在所述執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試程序之后，進(jìn)一步包括：生成與每一個(gè)所述待測(cè)試磁盤 相對(duì)應(yīng)的磁盤壓力測(cè)試報(bào)告； 所述磁盤壓力測(cè)試報(bào)告，包括:單次測(cè)試的壓力大小、單詞測(cè)試所用時(shí)間和磁盤讀寫速 度中的任意一種或多種。5. 根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，在所述執(zhí)行所述磁盤壓力測(cè)試 程序之前，進(jìn)一步包括： 對(duì)所述磁盤壓力測(cè)試程序賦予相應(yīng)的可執(zhí)行權(quán)限:#chmod 777DiskTest。6. -種磁盤壓力測(cè)試裝置，其特征在于，包括： 設(shè)置單元，用于設(shè)置磁盤壓力測(cè)試程序； 獲取單元，用于獲取每一個(gè)待測(cè)試磁盤的標(biāo)識(shí)； 編輯單元，用于根據(jù)所述標(biāo)識(shí)，編輯所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表； 處理單元，用于啟動(dòng)與所述磁盤列表相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線程；以及利用所述多個(gè)線程，執(zhí)行 所述磁盤壓力測(cè)試程序。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁盤壓力測(cè)試裝置，其特征在于，所述處理單元，具體用于利 用for并發(fā)語(yǔ)句，分別讀取所述磁盤列表中的每一個(gè)所述標(biāo)識(shí);利用test()函數(shù)，針對(duì)與每 一個(gè)所述標(biāo)識(shí)相對(duì)應(yīng)的待測(cè)試磁盤均執(zhí)行：向所述待測(cè)試磁盤中讀寫固定block大小和數(shù) 量的塊數(shù)據(jù);利用whi Ie循環(huán)語(yǔ)句，循環(huán)執(zhí)行所述讀寫操作。8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁盤壓力測(cè)試裝置，其特征在于，所述編輯單元，具體用于根 據(jù)獲取到的每一個(gè)待測(cè)試磁盤的盤符，將所述磁盤壓力測(cè)試程序中的磁盤列表編輯為list =(盤符1盤符2…盤符n)，且每一個(gè)所述盤符之間用空格隔開。9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁盤壓力測(cè)試裝置，其特征在于，還包括： 報(bào)告生成單元，用于生成與每一個(gè)所述待測(cè)試磁盤相對(duì)應(yīng)的磁盤壓力測(cè)試報(bào)告； 所述磁盤壓力測(cè)試報(bào)告，包括:單次測(cè)試的壓力大小、單詞測(cè)試所用時(shí)間和磁盤讀寫速 度中的任意一種或多種。10.根據(jù)權(quán)利要求6至9中任一所述的磁盤壓力測(cè)試裝置，其特征在于，還包括： 權(quán)限賦予單元，用于對(duì)所述磁盤壓力測(cè)試程序賦予相應(yīng)的可執(zhí)行權(quán)限：#chmod 777DiskTest〇
【文檔編號(hào)】G06F11/26GK105912435SQ201610202931
【公開日】2016年8月31日
【申請(qǐng)日】2016年4月1日
【發(fā)明人】李洋
【申請(qǐng)人】浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司