內(nèi)嵌式自容觸控陣列、基板及測試治具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及觸控領(lǐng)域，特別涉及一種內(nèi)嵌式自容觸控陣列、基板及其測試治具。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)有技術(shù)中，觸摸屏一般包括內(nèi)嵌式觸摸屏和外掛式觸摸屏，其中，內(nèi)嵌式觸摸屏與顯示屏一體設(shè)計(jì)，制作于顯示面板上?，F(xiàn)有技術(shù)中一般只存在對顯示屏的柵極線、數(shù)據(jù)線和顯示像素的電學(xué)測試。沒有針對觸摸陣列，特別是內(nèi)嵌式自電容型內(nèi)嵌式自容觸摸陣列的檢測。從而導(dǎo)致了由于內(nèi)嵌式自容觸摸屏的內(nèi)嵌式自容觸控陣列的不良造成的不必要的浪費(fèi)。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型提供一種內(nèi)嵌式自容觸控陣列，包括:多個(gè)觸控電極，所述觸控電極呈陣列排布且彼此絕緣；多條觸控電極線，每條所述觸控電極線與一個(gè)所述觸控電極電連接且與其他所述觸控電極絕緣；多個(gè)第一測試端，每一所述第一測試端與一條所述觸控電極線的一端電連接；多個(gè)第二測試端，每一所述第二測試端與一條所述觸控電極線的另一端電連接。
[0004]可選的，所述內(nèi)嵌式自容觸控陣列還包括:多個(gè)像素電極，所述像素電極與所述觸控電極位于不同層，所述像素電極與所述觸控電極線位于同一層，所述觸控電極可在顯示時(shí)復(fù)用為公共電極；絕緣層，所述絕緣層位于所述像素電極與所述觸控電極之間，所述絕緣層包括多個(gè)第一過孔；其中，所述觸控電極與所述觸控電極線通過所述第一過孔電連接。
[0005]可選的，所述第一測試端和所述第二測試端與所述觸控電極位于同一層，且所述絕緣層包括多個(gè)第二過孔和多個(gè)第三過孔，所述第一測試端與所述觸控電極線通過所述第二過孔電連接，所述第二測試端與所述觸控電極線通過所述第三過孔電連接。
[0006]可選的，所述第一測試端和所述第二測試端與所述觸控電極線位于同一層且為相互連接的一體結(jié)構(gòu)。
[0007]可選的，對于至少一所述觸控電極線，在檢測時(shí)，檢測所述觸控電極線對應(yīng)的所述第一測試端至所述觸控電極線對應(yīng)的所述第二測試端之間的電阻。
[0008]可選的，對于至少一所述觸控電極線，在檢測時(shí)，為所述觸控電極線電連接的所述第一測試端提供檢測信號，在所述觸控電極線電連接的所述第二測試端進(jìn)行檢測。
[0009]可選的，所述觸控電極包括第一觸控電極和第二觸控電極，所述觸控電極線包括第一觸控電極線和第二觸控電極線，所述第一觸控電極對應(yīng)第一觸控電極線，所述第二觸控電極對應(yīng)第二觸控電極線，在檢測時(shí):
[0010]所述第一觸控電極線的第一測試端之間電連接或所述第一觸控電極線的第二測試端之間電連接，從而形成一第一導(dǎo)電通路；
[0011 ] 所述第二觸控電極線的第一測試端之間電連接或所述第二觸控電極線的第二測試端之間電連接，從而形成一第二導(dǎo)電通路。
[0012]可選的，所述第一觸控電極與所述第二觸控電極彼此相鄰排列。
[0013]本實(shí)用新型提供的內(nèi)嵌式自容觸控陣列由于設(shè)置了第一測試端和第二測試端，可以直接通過第一測試端和第二測試端進(jìn)行電路檢測，提高內(nèi)嵌式自容觸控陣列的可靠性；而且通過第一觸控電極和第二觸控電極的選取，可以使檢測方式更加靈活，進(jìn)一步提高檢測效率。采用本實(shí)用新型提供的內(nèi)嵌式自容觸控陣列，可以提高產(chǎn)品可靠性，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量。
[0014]本實(shí)用新型還提供了一種基板，包括:一透明襯底和多個(gè)本實(shí)用新型提供的內(nèi)嵌式自容觸控陣列。
[0015]本實(shí)用新型還提供了一種測試上述內(nèi)嵌式自容觸控陣列測試治具，包括:至少一第一探針；至少一第二探針；一輸入單元，所述輸入單元用于為所述第一探針提供信號。一接收單元，所述接收單元用于從所述第二探針接收信號。
[0016]可選的，對于至少一所述觸控電極線，在檢測時(shí)，所述第一探針與所述第一測試端電連接，所述第二探針與所述第二測試端電連接。
[0017]可選的，所述觸控電極包括第一觸控電極和第二觸控電極，所述觸控電極線包括第一觸控電極線和第二觸控電極線，所述第一觸控電極對應(yīng)第一觸控電極線，所述第二觸控電極對應(yīng)第二觸控電極線，在檢測時(shí):
[0018]所述第一觸控電極線的第一測試端之間電連接且所述第一觸控電極線的第二測試端之間電連接，從而形成一第一導(dǎo)電通路；所述第二觸控電極線的第一測試端之間電連接且所述第二觸控電極線的第二測試端之間電連接，從而形成一第二導(dǎo)電通路；
[0019]其中，所述第一探針與所述第二探針分別與所述第一導(dǎo)電通路或所述第二導(dǎo)電通路電連接。
[0020]本實(shí)用新型提供的治具可以快速準(zhǔn)確地對本實(shí)用新型提供的內(nèi)嵌式自容觸控陣列以及基板進(jìn)行檢測，提高了產(chǎn)品的生產(chǎn)效率，增加了產(chǎn)品的可靠性，提升了產(chǎn)品的質(zhì)量。
【附圖說明】
[0021]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種觸控陣列的俯視圖；
[0022]圖2A為圖1所示觸控陣列沿AA’的剖視圖；
[0023]圖2B為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的另一種觸控陣列的剖視圖；
[0024]圖2C為圖1所示觸控陣列沿BB’的剖視圖；
[0025]圖3A為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的另一種觸控陣列的俯視圖；
[0026]圖3B為圖3A所示觸控陣列沿CC’的剖視圖
[0027]圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種觸控陣列測試示意圖；
[0028]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的另一種觸控陣列測試示意圖；
[0029]圖6為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種基板的俯視圖；
[0030]圖7為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測試治具的示意圖；
[0031]圖8為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種基板的測試示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0032]為使本實(shí)用新型的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】做詳細(xì)的說明。
[0033]在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本實(shí)用新型，但是本實(shí)用新型還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來實(shí)施，因此本實(shí)用新型不受下面公開的具體實(shí)施例的限制。
[0034]本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種內(nèi)嵌式自容觸控陣列，如圖1所示，包括:多個(gè)觸控電極11、多條觸控電極線12、多個(gè)第一測試端13和多個(gè)第二測試端14。
[0035]觸控電極11呈陣列排布，即沿第一方向X排列和第二方向y排列構(gòu)成陣列，觸控電極11間彼此絕緣；每條觸控電極線12與一個(gè)觸控電極11電連接且與其他觸控電極11絕緣；每條觸控電極線包括兩端，分別與一個(gè)第一測試端13和一個(gè)第二測試端14電連接。即每一第一測試端13與一條觸控電極線12的一端電連接；每一第二測試端14與一條觸控電極線12未電連接第一測試端13的另一端電連接。
[0036]內(nèi)嵌式自容觸控陣列還可包含多個(gè)像素電極和絕緣層，像素電極和絕緣層的位置有多種情況，如圖2A所示，內(nèi)嵌式自容觸控陣列還包括多個(gè)像素電極18，像素電極18與觸控電極11位于不同層，像素電極18與觸控電極線12位于同一層，觸控電極11可在顯示時(shí)復(fù)用為公共電極。內(nèi)嵌式自容觸控陣列還包括一絕緣層19，絕緣層19位于所述像素電極18與觸控電極11之間，絕緣層19包括多個(gè)第一過孔15 ;其中，觸控電極11與觸控電極線12通過第一過孔15電連接。
[0037]請繼續(xù)參考圖2A，內(nèi)嵌式自容觸控陣列還可包括一驅(qū)動層20，驅(qū)動層20中可包括掃描線、數(shù)據(jù)線和薄膜晶體管(TFT)，薄膜晶體管可進(jìn)一步包括源極、漏極、柵極和半導(dǎo)體層。像素電極18位于驅(qū)動層20與觸控電極11之間，即顯示階段用作公共電極的觸控電極11處于頂部(top com)，觸控電極11與像素電極18通過絕緣層19彼此絕緣并形成電場。需要說明的是，觸控電極11的大小取決于觸控電極陣列分辨率的需求，一般情況下觸控電極11對應(yīng)多個(gè)像素電極18，此外，圖2A中雖未示出，每個(gè)觸控電極11或每個(gè)像素電極18可具有開縫，以便與另一個(gè)在像素內(nèi)形成電場。
[0038]圖2B示出了觸控電極11和像素電極18位置關(guān)系的另一種情況，內(nèi)嵌式自容觸控陣列還可包括一驅(qū)動層20，驅(qū)動層20中可包括掃描線、數(shù)據(jù)線和薄膜晶體管(TFT)，薄膜晶體管可進(jìn)一步包括源極、漏極、柵極和半導(dǎo)體層。觸控電極11位于驅(qū)動層20與像素電極18之間，即顯示階段用作公共電極的觸控電極11處于中間部(middle com)，觸控電極11與像素電極18通過絕緣層19彼此絕緣并形成電場。需要說明的是，觸控電極11的大小取決于觸控電極陣列分辨率的需求，一般情況下觸控電極11對應(yīng)多個(gè)像素電極18，此外，圖2B中雖未示出，每個(gè)觸控電極11或每個(gè)像素電極18可具有開縫，以便與另一個(gè)電極在像素內(nèi)形成電場。
[0039]可選的，第一測試端和第二測試端的位置也可有多種情況，圖2A和圖2B示出了本實(shí)用新型實(shí)施例第一測試端和第二測試端的位置的一種情況。結(jié)合圖2A、圖2B和圖2C，第一測試端13和第二測試端14與觸控電極11位于同一層，絕緣層19還可包括多個(gè)第二過孔16和多個(gè)第三過孔17，第一測試端13與觸控電極線12通過第二過孔16電連接，第二測試端14與觸控電極線11通過第三過孔17電連接。
[0040]圖3A和圖3B示出了本實(shí)用新型實(shí)施例第一測試端和第二測試端的位置的另一種情況。如圖3A與圖3B所示，第一測試端13和第二測試端14與觸控電極線12位于同一層，第一測試端13與觸控電極線12的一端為相互連接的一體結(jié)構(gòu)；第二測試端14與觸控電極線12未連接第一測試端13的另一端為相互連接的一體結(jié)構(gòu)。絕緣層19將第一測試端13和第二測試端14暴露出來以供測量。
[0041]在檢測時(shí)，對于至少一所述觸控電極線，檢測所述觸控電極線對應(yīng)的所述第一測試端至所述觸控電極線對應(yīng)的所述第二測試端的電阻。請參考圖4，在檢測時(shí)，對于待檢測的觸控電極線12，可以將檢測設(shè)備一端口 42與待檢測觸控線12對應(yīng)的第一測試端13電連接，檢測設(shè)備的另一端口 44與待檢測觸控線12對應(yīng)的第二測試端14電連接，通過檢測待檢測觸控線12對應(yīng)的第一測試端13至第二測試端14的電阻來判斷檢測結(jié)果。如果電阻無窮大，則存在斷路；如果電阻可測且并非無窮大，則判斷為不存在斷路，即第一測試端13與第二測試端通過該觸控線短路。
[0042]在檢測時(shí)除通過檢測電阻進(jìn)行斷路或短路的判斷外，還可在檢測時(shí)，為觸控電極線對應(yīng)的第一測試端提供檢測信號，在觸控電極線對應(yīng)的第二測試端進(jìn)行檢測。請繼續(xù)參考圖4，在檢測時(shí)，對于待檢測的觸控電極線12，可