內存測試卡的制作方法
【專利摘要】一種內存測試卡，包括一筆記本電腦內存插槽、內存卡扣及一金手指接口，所述內存測試卡內還設有分別電性連接所述筆記本電腦內存插槽和所述金手指接口的過壓偵測電路，所述筆記本電腦內存插槽包括一第一電源端，所述金手指接口包括一第二電源端，所述過壓偵測電路包括一第一三極管、一第二三極管及一第三三極管，所述第一三極管接收一直流電壓，所述第二三極管和第三三極管電性連接所述筆記本電腦內存插槽的第一電源端和所述金手指接口的第二電源端，所述筆記本電腦內存插槽內插接一筆記本電腦內存，所述金手指接口插入一臺式電腦主板上的內存插槽。
【專利說明】
內存測試卡
技術領域
[0001]本實用新型涉及一種內存測試卡。
【背景技術】
[0002]目前市場上銷售的DDR3臺式電腦主板有正插式和反插式兩種插入方向的內存插槽。臺式電腦主板上通常設有四個內存插槽，而筆記本主板上通常僅設有兩個內存插槽，在使用筆記本電腦主板對DDR3筆記本電腦內存進行測試時需配置多臺筆記本電腦，增加了測試成本。同時，在測試過程中，若因外部電壓不穩(wěn)而產生過壓時，容易對待測試的DDR3筆記本電腦內存造成損壞。
【實用新型內容】
[0003]鑒于以上，有必要提供一種內存測試卡，使得通過臺式電腦主板可對筆記本電腦內存進行測試。
[0004]—種內存測試卡，包括一筆記本電腦內存插槽、內存卡扣及一金手指接口，所述內存測試卡內還設有分別電性連接所述筆記本電腦內存插槽和所述金手指接口的過壓偵測電路，所述筆記本電腦內存插槽包括一第一電源端，所述金手指接口包括一第二電源端，所述過壓偵測電路包括一第一三極管、一第二三極管及一第三三極管，所述第一三極管接收一直流電壓，所述第二三極管和第三三極管電性連接所述筆記本電腦內存插槽的第一電源端和所述金手指接口的第二電源端，所述筆記本電腦內存插槽內插接一筆記本電腦內存，所述金手指接口插入一臺式電腦主板上的內存插槽。
[0005]優(yōu)選地，所述筆記本電腦內存插槽還包括一第一地址端、一第二地址端、一第一串行數(shù)據端及一第一串行時鐘端，所述筆記本電腦內存插槽的第一地址端、第二地址端、第一串行數(shù)據端、第一串行時鐘端及第一電源端分別用以電性連接所述筆記本電腦內存的相應地址端、數(shù)據端、時鐘端及電源端。
[0006]優(yōu)選地，所述內存卡扣自所述筆記本電腦內存插槽垂直向上延伸，當所述筆記本電腦內存插接在所述筆記本電腦內存插槽內時，所述內存卡扣卡在所述筆記本電腦內存的頂部邊緣。
[0007]優(yōu)選地，所述金手指接口還包括一第三地址端、一第四地址端、一第二串行數(shù)據端及一第二串行時鐘端，所述金手指接口的第三地址端、第四地址端、第二串行數(shù)據端、第二串行時鐘端及第二電源端分別用以電性連接所述臺式電腦主板上內存插槽的相應地址端、數(shù)據端、時鐘端及電源端。
[0008]優(yōu)選地，所述過壓偵測電路還包括一第一電阻和一第二電阻，所述第一三極管的基極和發(fā)射極分別經由所述第一電阻和第二電阻接收一直流電壓，所述第一三極管的發(fā)射極接地，所述第一三極管的集電極電性連接所述第二三極管和第三三極管的基極。
[0009]優(yōu)選地，所述第一三極管為一PNP型三極管，所述直流電壓的大小為+5V。
[0010]優(yōu)選地，所述過壓偵測電路還包括一第三電阻，所述第二三極管的集電極電性連接所述筆記本電腦內存插槽的第一電源端和所述金手指接口的第二電源端，所述第二三極管的發(fā)射極接地，所述第二三極管的發(fā)射極還經由所述第三電阻電性連接所述第二三極管的集電極。
[0011 ]優(yōu)選地，所述第二三極管為一 NPN型三極管。
[0012]優(yōu)選地，所述過壓偵測電路還包括一第四電阻，所述第三三極管的集電極電性連接所述筆記本電腦內存插槽的第一電源端和所述金手指接口的第二電源端，所述第三三極管的發(fā)射極接地，所述第三三極管的發(fā)射極還經由所述第四電阻電性連接所述第三三極管的集電極。
[0013]優(yōu)選地，所述第三三極管為一 NPN型三極管。
[0014]相較于現(xiàn)有技術，本實用新型內存測試卡通過所述第一三極管接收所述直流電壓而導通，若因外部電壓不穩(wěn)而產生過壓時，所述第二三極管和第三三極管導通從而將所述筆記本電腦內存的電源端接收到的瞬間高壓導地，進而避免了瞬間高壓對所述筆記本電腦內存的損壞。
【附圖說明】
[0015]圖1是本實用新型內存測試卡的一較佳實施方式的結構示意圖。
[0016]圖2是圖1中過壓偵測電路的電路圖。
【具體實施方式】
[0017]請參照圖1，本實用新型一種內存測試卡500的較佳實施方式包括一筆記本電腦內存插槽100、兩內存卡扣200、一金手指接口 300及一過壓偵測電路400。
[0018]所述筆記本電腦內存插槽100包括一第一地址端、一第二地址端、一第一串行數(shù)據端、一第一串行時鐘端及一第一電源端。所述筆記本電腦內存插槽100的第一地址端、第二地址端、第一串行數(shù)據端、第一串行時鐘端及第一電源端分別用以電性連接一筆記本電腦內存的相應地址端、數(shù)據端、時鐘端及電源端。
[0019]兩內存卡扣200分別自所述筆記本電腦內存插槽100的兩側垂直向上延伸，當所述筆記本電腦內存插接在所述筆記本電腦內存插槽100內時，兩內存卡扣200分別卡在所述筆記本電腦內存的頂部邊緣。
[0020]所述金手指接口300包括一第三地址端、一第四地址端、一第二串行數(shù)據端、一第二串行時鐘端及一第二電源端。所述金手指接口 300的第三地址端、第四地址端、第二串行數(shù)據端、第二串行時鐘端及第二電源端分別用以電性連接一臺式電腦主板上內存插槽的相應地址端、數(shù)據端、時鐘端及電源端。
[0021]請參照圖2，所述過壓偵測電路400分別電性連接所述筆記本電腦內存插槽100和所述金手指接口 300 ο所述過壓偵測電路400包括一第一三極管T1、一第二三極管T2、一第三三極管T3、一第一電阻Rl、一第二電阻R2、一第三電阻R3及一第四電阻R4。
[0022]所述第一三極管Tl的基極和發(fā)射極分別經由所述第一電阻Rl和第二電阻R2接收一直流電壓Vcc。所述第一三極管Tl的發(fā)射極接地。所述第一三極管Tl的集電極電性連接所述第二三極管T2和第三三極管T3的基極。其中，所述第一三極管Tl為一PNP型三極管，所述直流電壓Vcc的大小為+5V。
[0023]所述第二三極管T2的集電極電性連接所述筆記本電腦內存插槽100的第一電源端和所述金手指接口 300的第二電源端。所述第二三極管Τ2的發(fā)射極接地。所述第二三極管Τ2的發(fā)射極還經由所述第三電阻R3電性連接所述第二三極管Τ2的集電極。其中，所述第二三極管Τ2為一 NPN型三極管。
[0024]所述第三三極管Τ3的集電極電性連接所述筆記本電腦內存插槽100的第一電源端和所述金手指接口 300的第二電源端。所述第三三極管Τ3的發(fā)射極接地。所述第三三極管Τ3的發(fā)射極還經由所述第四電阻R4電性連接所述第三三極管Τ3的集電極。其中，所述第三三極管Τ3為一 NPN型三極管。
[0025]當使用所述內存測試卡500在所述臺式電腦主板上測試所述筆記本電腦內存時，先將所述筆記本電腦內存插入所述筆記本電腦內存插槽100，使得所述筆記本電腦內存的地址端、數(shù)據端、時鐘端及電源端分別電性連接所述筆記本電腦內存插槽100的第一地址端、第二地址端、第一串行數(shù)據端、第一串行時鐘端及第一電源端。接著向所述筆記本電腦內存插槽100的方向扣壓兩內存卡扣200，使得兩內存卡扣200分別卡在所述筆記本電腦內存的頂部邊緣。最后將安裝了所述筆記本電腦內存的內存測試卡500的金手指接口 300插入所述臺式電腦主板上的內存插槽，使得所述金手指接口 300的第三地址端、第四地址端、第二串行數(shù)據端、第二串行時鐘端及第二電源端分別電性連接所述臺式電腦主板上內存插槽的相應地址端、數(shù)據端、時鐘端及電源端。
[0026]在測試過程中，所述第一三極管Tl的基極接收所述+5V的直流電壓Vcc，所述第一三極管Tl導通。若因外部電壓不穩(wěn)而產生過壓時，所述筆記本電腦內存的電源端接收到的供電電壓的電位瞬間由較低電位上升至一較高電位，所述第二三極管T2和第三三極管T3的集電極分別處于高電位而導通，所述筆記本電腦內存的電源端接收到的瞬間高壓可分別經由所述第二三極管T2和第三三極管T3導地，進而避免了瞬間高壓對所述筆記本電腦內存的損壞。
[0027]本實用新型內存測試卡500通過所述第一三極管Tl接收所述直流電壓Vcc而導通，若因外部電壓不穩(wěn)而產生過壓時，所述第二三極管T2和第三三極管T3導通從而將所述筆記本電腦內存的電源端接收到的瞬間高壓導地，進而避免了瞬間高壓對所述筆記本電腦內存的損壞。
【主權項】
1.一種內存測試卡，包括一筆記本電腦內存插槽、內存卡扣及一金手指接口，其特征在于:所述內存測試卡內還設有分別電性連接所述筆記本電腦內存插槽和所述金手指接口的過壓偵測電路，所述筆記本電腦內存插槽包括一第一電源端，所述金手指接口包括一第二電源端，所述過壓偵測電路包括一第一三極管、一第二三極管及一第三三極管，所述第一三極管接收一直流電壓，所述第二三極管和第三三極管電性連接所述筆記本電腦內存插槽的第一電源端和所述金手指接口的第二電源端，所述筆記本電腦內存插槽內插接一筆記本電腦內存，所述金手指接口插入一臺式電腦主板上的內存插槽。2.如權利要求1所述的內存測試卡，其特征在于:所述筆記本電腦內存插槽還包括一第一地址端、一第二地址端、一第一串行數(shù)據端及一第一串行時鐘端，所述筆記本電腦內存插槽的第一地址端、第二地址端、第一串行數(shù)據端、第一串行時鐘端及第一電源端分別用以電性連接所述筆記本電腦內存的相應地址端、數(shù)據端、時鐘端及電源端。3.如權利要求1所述的內存測試卡，其特征在于:所述內存卡扣自所述筆記本電腦內存插槽垂直向上延伸，當所述筆記本電腦內存插接在所述筆記本電腦內存插槽內時，所述內存卡扣卡在所述筆記本電腦內存的頂部邊緣。4.如權利要求1所述的內存測試卡，其特征在于:所述金手指接口還包括一第三地址端、一第四地址端、一第二串行數(shù)據端及一第二串行時鐘端，所述金手指接口的第三地址端、第四地址端、第二串行數(shù)據端、第二串行時鐘端及第二電源端分別用以電性連接所述臺式電腦主板上內存插槽的相應地址端、數(shù)據端、時鐘端及電源端。5.如權利要求1至4中任意一項所述的內存測試卡，其特征在于:所述過壓偵測電路還包括一第一電阻和一第二電阻，所述第一三極管的基極和發(fā)射極分別經由所述第一電阻和第二電阻接收一直流電壓，所述第一三極管的發(fā)射極接地，所述第一三極管的集電極電性連接所述第二三極管和第三三極管的基極。6.如權利要求5所述的內存測試卡，其特征在于:所述第一三極管為一PNP型三極管，所述直流電壓的大小為+5V。7.如權利要求5所述的內存測試卡，其特征在于:所述過壓偵測電路還包括一第三電阻，所述第二三極管的集電極電性連接所述筆記本電腦內存插槽的第一電源端和所述金手指接口的第二電源端，所述第二三極管的發(fā)射極接地，所述第二三極管的發(fā)射極還經由所述第三電阻電性連接所述第二三極管的集電極。8.如權利要求7所述的內存測試卡，其特征在于:所述第二三極管為一NPN型三極管。9.如權利要求5所述的內存測試卡，其特征在于:所述過壓偵測電路還包括一第四電阻，所述第三三極管的集電極電性連接所述筆記本電腦內存插槽的第一電源端和所述金手指接口的第二電源端，所述第三三極管的發(fā)射極接地，所述第三三極管的發(fā)射極還經由所述第四電阻電性連接所述第三三極管的集電極。10.如權利要求9所述的內存測試卡，其特征在于:所述第三三極管為一NPN型三極管。
【文檔編號】G06F11/22GK205680081SQ201620425893
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年5月12日 公開號201620425893.9, CN 201620425893, CN 205680081 U, CN 205680081U, CN-U-205680081, CN201620425893, CN201620425893.9, CN205680081 U, CN205680081U
【發(fā)明人】陳任佳, 陳海
【申請人】深圳市嘉合勁威電子科技有限公司