臺式機內存模組測試保護轉接槽的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種針對DDR4臺式機內存條產品在Memtes測試時的保護轉接槽，其包括主卡條，主卡條的上端面設置有用于插接測試內存的卡槽，主卡條的下端面設置有轉接線路板，轉接線路板底部通過金手指接口插在臺式機主板上的內存插槽內。該保護轉接槽避免了內存條頻繁拔插對主板內存插槽的損壞。
【專利說明】
臺式機內存模組測試保護轉接槽
技術領域
[0001]本實用新型涉及一種電器元件，尤其涉及一種內存測試用轉接結構。
【背景技術】
[0002]目前使用的DDR4臺式內存條在進行Memtes測試時是將臺式內存條直接插在主板上的內存條插槽上，由于進行內存條Memtes測試時需要頻繁插拔內存條，這樣就會對主板內存條插槽造成損壞，進而需要對主板返廠維修，提高了測試成本。另外，主板內存槽卡扣位置比較短小，測試人員在帶上靜電手套測試內存時，在測試完成更換內存條時不好更換內存，更換速度慢。
【實用新型內容】
[0003]為了解決【背景技術】中存在的以上問題，本實用新型提供了一種臺式機內存模組測試保護轉接槽，該保護轉接槽避免了頻繁插拔內存對主板內存插槽的損壞。
[0004]為達到上述目的，本實用新型的技術方案如下:
[0005]—種臺式機內存模組測試保護轉接槽，包括主卡條，主卡條的上端面設置有用于插接測試內存的卡槽，主卡條的下端面設置有轉接線路板，轉接線路板底部具有金手指接
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[0006]主卡條的兩端向上伸出有固定凸起，固定凸起上設置有可轉動的內存卡扣。
[0007]轉接線路板上靠近主卡條的一側設置有插槽針腳，插槽針腳插在卡槽內。
[0008]所述插槽針腳通過轉接線路板上的線路與金手指接口通訊相連。
[0009 ]所述固定凸起相對轉接線路板的兩側邊向外伸出I厘米。
[0010]本實用新型的有益效果是:測試保護轉接槽直接插在主板內存槽上就可以測試內存，測試時內存條頻繁拔插過度造成損壞的只是保護轉接槽，只需更換保護轉接槽即可，便捷，簡單，給主板內存插槽起到保護。另外本保護轉接槽在卡扣位置加長I厘米，使更換時更加方便，更換速度得到提高。
【附圖說明】
[0011]圖1為本實用新型所述保護轉接槽的立體示意圖。
[0012]圖2為本實用新型所述保護轉接槽的立體示意圖。
[0013]圖3為本實用新型所述保護轉接槽的使用狀態(tài)示意圖。
【具體實施方式】
[0014]實施例1
[0015]如圖1、2所示，一種DDR4臺式機內存模組測試保護轉接槽，包括主卡條I，主卡條I的兩端向上伸出有固定凸起2，固定凸起2上設置有可轉動的內存卡扣3，主卡條I的上端面設置有卡槽4，卡槽4用于插接測試內存8。主卡條I的下端面固定有轉接線路板5，轉接線路板5上靠近主卡條I的一側設置有插槽針腳6，轉接線路板5上遠離主卡條I的另一側設置有金手指接口 7，插槽針腳6插在卡槽4內并通過轉接線路板5上的線路與金手指接口 7通訊相連。
[0016]圖3為該DDR4臺式機內存模組測試保護轉接槽的使用狀態(tài)示意圖，圖中11表示保護轉接槽，在進行內存Memtes測試時，將保護轉接槽11通過金手指接口 7插在臺式機主板9上的內存插槽10內，然后將測試內存8插入到保護轉接槽11上端面的卡槽4中，扳動內存卡扣3將測試內存8與保護轉接槽11牢牢固定，這時候就可以展開Memtes測試，測試完畢拔測試內存時只需要扳開內存卡扣3將測試內存8取出即可。
【主權項】
1.一種臺式機內存模組測試保護轉接槽，包括主卡條，其特征在于，主卡條的上端面設置有用于插接測試內存的卡槽，主卡條的下端面設置有轉接線路板，轉接線路板底部具有金手指接口。2.如權利要求1所述的臺式機內存模組測試保護轉接槽，其特征在于，主卡條的兩端向上伸出有固定凸起，固定凸起上設置有可轉動的內存卡扣。3.如權利要求2所述的臺式機內存模組測試保護轉接槽，其特征在于，轉接線路板上靠近主卡條的一側設置有插槽針腳，插槽針腳插在卡槽內。4.如權利要求3所述的臺式機內存模組測試保護轉接槽，其特征在于，所述插槽針腳通過轉接線路板上的線路與金手指接口通訊相連。5.如權利要求2所述的臺式機內存模組測試保護轉接槽，其特征在于，所述固定凸起相對轉接線路板的兩側邊向外伸出I厘米。
【文檔編號】G06F1/18GK205680082SQ201620427020
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年5月11日 公開號201620427020.1, CN 201620427020, CN 205680082 U, CN 205680082U, CN-U-205680082, CN201620427020, CN201620427020.1, CN205680082 U, CN205680082U
【發(fā)明人】劉現(xiàn)亭, 田景均
【申請人】深圳市嘉合勁威電子科技有限公司