專利名稱：測試產(chǎn)品的方法和設(shè)備的制作方法
領(lǐng)域本發(fā)明涉及制造品的質(zhì)量控制。更具體地，本發(fā)明涉及在單一實體中提供測試實例、缺陷、和跟蹤信息的方法和設(shè)備。
背景可根據(jù)通常存儲在測試實例數(shù)據(jù)庫中的一組測試實例來測試產(chǎn)品以確保質(zhì)量。如果測試指示該產(chǎn)品有缺陷，則在單獨的缺陷跟蹤數(shù)據(jù)庫中跟蹤該缺陷。但是，為了重現(xiàn)測試實例以供修復(fù)該缺陷和重新測試已修復(fù)的產(chǎn)品，需要將這些測試實例重新輸入到缺陷跟蹤數(shù)據(jù)庫中。此外，一些諸如顧客報告的缺陷等在缺陷跟蹤數(shù)據(jù)庫中報告的缺陷可能無法在產(chǎn)品未來版本的測試中應(yīng)用，因為此類缺陷可能未在測試實例數(shù)據(jù)庫中被恰當?shù)貓蟾妗１３诌@兩個數(shù)據(jù)庫是更新的和一致的是很費時間的，是易于產(chǎn)生不一致和錯誤的，并且需要雙倍的力氣。
因此，需要一種用于自動存儲測試實例、缺陷、和跟蹤信息的單一實體。
概述所解釋的各個實施例提供用于對產(chǎn)品進行測試的新穎的和改進的方法和設(shè)備。該方法包括根據(jù)存儲在數(shù)據(jù)庫中的一組測試實例對產(chǎn)品進行測試，以及如果測試指示產(chǎn)品中有缺陷，則在數(shù)據(jù)庫中的一個字段指示需要解決該缺陷。在成功地解決該缺陷之后，該方法包括在數(shù)據(jù)庫中的該字段進行相應(yīng)指示，并在數(shù)據(jù)庫中報告缺陷以作為測試實例。
附圖簡述當結(jié)合附圖考慮下述的所揭示的各個實施例的具體描述，本發(fā)明的特征和優(yōu)點將會變得顯而易見，其中
圖1所示是當產(chǎn)品已受到測試并且有缺陷的情形；圖2所示是當缺陷得到解決的情形；
圖3所示是當產(chǎn)品已被重新測試并且缺陷被關(guān)閉的情形；圖4所示是測試和檢測跟蹤的流程圖；以及圖5所示是一種用于測試產(chǎn)品的設(shè)備的實施例。
具體描述在具體描述若干實施例之前，應(yīng)當理解本發(fā)明的范圍不應(yīng)被限制于以下描述中闡述的或附圖中示出的組件的構(gòu)造和排列的細節(jié)。同時，應(yīng)當理解本文中所使用的措詞和術(shù)語是出于描述的目的，而不應(yīng)被視為限制。
圖1根據(jù)一個實施例示出當產(chǎn)品受到測試并且找到缺陷的情形。在此例中，根據(jù)例如數(shù)據(jù)庫中提供的一個測試實例或一組測試過程102，對一個新的產(chǎn)品，例如新的電話機進行測試就撥打國際電話進行測試。測試實例102可基于以往測試當前產(chǎn)品的較早版本的經(jīng)驗。測試實例102還可基于顧客報告的缺陷。假設(shè)新產(chǎn)品未能通過測試，則出于缺陷跟蹤目的，缺陷104被輸入到同一個數(shù)據(jù)庫。有缺陷的產(chǎn)品隨之被指派給某個實體來解決所報告的缺陷，從而該產(chǎn)品得到修復(fù)，并且獲得期望的結(jié)果106。
圖1示出包括指示缺陷狀態(tài)(status)108的字段的用戶界面，當缺陷需要解決時，該狀態(tài)可以是“活動的(Active)”，當缺陷已得到解決但已修復(fù)的產(chǎn)品還未被重新測試時，該狀態(tài)可以是“已解決(Resolved)”，當缺陷已得到解決并且已修復(fù)的產(chǎn)品已被重新測試時，該狀態(tài)可以是“已修補(Fixed)”。字段110指示要將產(chǎn)品指派給誰進行修復(fù)(Assigned to)，例如，Joe Smith。字段112指示指派該產(chǎn)品的原因(Issue Type)，例如“code defect”(代碼缺陷)指示該產(chǎn)品有缺陷。字段114指示該缺陷的嚴重程度(Severity)，而字段116指示解決該缺陷的優(yōu)先級(Priority)。字段118指示各字段中任何一個被修改的時間(Changed Date)，而字段120指示誰作出該修改(By)。圖1在用戶界面的下半部分示出關(guān)于測試實例和缺陷的信息，并在用戶界面的上半部分示出關(guān)于跟蹤這些缺陷的信息。
圖2根據(jù)一個實施例示出當缺陷得到解決的情形。由此，狀態(tài)108被改為“已解決(Resolved)”，指示該缺陷已被解決。字段110也被改為指示已修復(fù)的產(chǎn)品被指派給質(zhì)量保證(QA)以重新測試該產(chǎn)品并確保該缺陷實際上被解決?？赡苄枰淖冏侄?18和120來反映以上字段中任何一個被改變的時間。
圖2示出指示解決該缺陷的人所輸入信息的字段。字段202指示缺陷得到解決的日期(Date)。字段204指示誰解決了該缺陷(By)。字段206指示該問題已被修補(Resolution)。字段208指示已修復(fù)產(chǎn)品的修正(Rev)。圖2還在用戶界面的下半部分示出關(guān)于測試實例和缺陷的信息，并在用戶界面的上半部分示出關(guān)于跟蹤缺陷的信息。
圖3根據(jù)一個實施例，示出當缺陷實際上被解決，產(chǎn)品被重新測試，且字段106所指示的期望結(jié)果已獲驗證時的情形。由此，狀態(tài)字段108被改為“closed”(已關(guān)閉)，指示該缺陷最終被解決。字段110也被改為指示重新測試已修復(fù)產(chǎn)品的人員。字段118和120也可能需要被改變來反映以上字段中的任何一個被改變的日期。圖3還示出指示由解決該缺陷的人員輸入的信息的字段202、204、206、208。圖3又在用戶界面的下半部分示出關(guān)于測試實例和缺陷的信息，并在用戶界面的上半部分示出關(guān)于跟蹤缺陷的信息。
圖4示出如上所述地進行統(tǒng)一的測試和缺陷跟蹤的流程圖。在步驟402對照所有現(xiàn)有測試實例對產(chǎn)品進行測試以后，在步驟404如果沒有找到任何缺陷，則在步驟406狀態(tài)字段被設(shè)成“已關(guān)閉(Closed)”，指示該產(chǎn)品已經(jīng)成功地通過所有測試實例，并且它沒有任何缺陷。該測試實例隨即被關(guān)閉并保存在數(shù)據(jù)庫中，以供測試該產(chǎn)品的未來版本使用。但是，如果在步驟404于該產(chǎn)品中找到缺陷，則在步驟408狀態(tài)字段被設(shè)成“活動的(ctive)”(活動的)，指示該產(chǎn)品需被修復(fù)并且該缺陷需被解決。在步驟410該產(chǎn)品隨即被指派個某個開發(fā)者進行修復(fù)。在缺陷被修補之后，在步驟412狀態(tài)字段被設(shè)成“已解決(Resolved)”，在步驟414產(chǎn)品被指派給質(zhì)量保證進行重新測試。該過程繼續(xù)進行，直至最終所有缺陷都被修復(fù)，并且對于所有缺陷，狀態(tài)字段都被改為“已關(guān)閉(Closed)”。
在數(shù)據(jù)庫中，所檢測到的缺陷被報告為測試實例，以供測試產(chǎn)品的未來版本或更新版本。一旦測試該產(chǎn)品的新版本，先前所檢測到和所報告的缺陷就作為測試實例被重新打開，這些測試實例被應(yīng)用于測試產(chǎn)品的新版本。也可將包括產(chǎn)品的顧客和/或用戶所報告的缺陷在內(nèi)的新的測試實例輸入到數(shù)據(jù)庫中以供未來測試使用。
圖5示出一種用于測試產(chǎn)品的設(shè)備的實施例。該設(shè)備包括輸入設(shè)備502和輸出設(shè)備504。通信總線506提供圖5中的其它模塊之間的公共連接。通信總線506還耦合到存儲器單元508。存儲器單元508存儲由用于測試產(chǎn)品的設(shè)備執(zhí)行的各種操作和功能所用的計算機可讀指令。處理器510執(zhí)行存儲在存儲器單元508中的指令。
因此，所揭示的實施例提供一種有效和可靠的系統(tǒng)和方法，用于在單一數(shù)據(jù)庫中提供關(guān)于測試實例和缺陷跟蹤的信息，并還在單一用戶界面中呈現(xiàn)結(jié)果。
本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，可以用各種不同技術(shù)和協(xié)議中的任何一種來標識信息和信號。例如，貫穿以上描述所可能引用到的數(shù)據(jù)、指令、命令、信息、信號、數(shù)位、符號和芯片可由電壓、電流、電磁波、磁場或磁性粒子、光場或光粒子、或其任何組合表示。
本領(lǐng)域技術(shù)人員還可理解，結(jié)合本文中所揭示的各個實施例所描述的各個示例性邏輯框、模塊、電路、和算法步驟可實現(xiàn)為電子硬件、計算機軟件、或兩者的組合。為清楚地說明硬件和軟件的這一可交換性，以上就其功能一般描述了各種示例性組件、框、模塊、電路、和步驟。此類功能實現(xiàn)為硬件還是軟件是取決于特定的應(yīng)用和制約整個系統(tǒng)的設(shè)計限制。本領(lǐng)域技術(shù)人員可為每個特定的應(yīng)用以各種方式實現(xiàn)所描述的功能，但此類實現(xiàn)結(jié)果不應(yīng)被解釋成致使偏離本發(fā)明的范圍。
結(jié)合本文中所解釋的各個實施例所描述的各種示例性邏輯框、模塊、和電路可用通用處理器、數(shù)字信號處理器(DSP)、特定用途集成電路(ASIC)、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)或其它可編程邏輯設(shè)備、分立門或晶體管邏輯、分立硬件組件、或其設(shè)計成執(zhí)行本文中所描述的各種功能的任何組合來實現(xiàn)或執(zhí)行。通用處理器可以是微處理器，但是，替換地，處理器可以是任何常規(guī)處理器、控制器、微控制器、或狀態(tài)機。處理器可實現(xiàn)為若干計算設(shè)備的組合，例如DSP和微處理器、多個微處理器、結(jié)合DSP核心的一個或多個微處理器的組合，或任何其它此類配置。
結(jié)合本文中所揭示的各個實施例所描述的方法或算法的步驟可直接在硬件中、在處理器執(zhí)行的軟件模塊中、或這兩者的組合中具體化。軟件模塊可駐留在RAM存儲器、閃存、ROM存儲器、EPROM存儲器、EEPROM存儲器、寄存器、硬盤、可移動磁盤、CD-ROM、或現(xiàn)有技術(shù)中已知的任何其它形式的存儲介質(zhì)中。示例性存儲介質(zhì)被耦合到處理器，從而處理器可從該存儲介質(zhì)讀取信息，并將信息寫到該存儲介質(zhì)中。替換地，存儲介質(zhì)可集成到處理器中。處理器和存儲介質(zhì)可駐留在ASIC中。ASIC可駐留在用戶終端中。替換地，處理器和存儲介質(zhì)可駐留為用戶終端中的分立組件。
提供所揭示的實施例的描述，以使本領(lǐng)域中任何技術(shù)人員能夠制造或使用本發(fā)明。對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說，對這些實施例的各種修改可能已經(jīng)顯而易見，并且本文中所定義的普遍原理可使用于其它實施例，例如，在即時消息服務(wù)或任何一般無線數(shù)據(jù)通信應(yīng)用中，而不會偏離本發(fā)明的精神和范圍。因此，并不試圖將本發(fā)明限于本文中所示的實施例，而是要使其符合與本文中所揭示的原理和新穎特性相一致的最寬泛的范圍。本文中無一例外地使用單詞“示例性的”來指“擔當示例、實例、或說明”。
權(quán)利要求
1.一種對產(chǎn)品執(zhí)行測試的方法，所述方法包括根據(jù)存儲在數(shù)據(jù)庫中的一組測試實例，對產(chǎn)品應(yīng)用測試；如果所述測試指示所述產(chǎn)品中有缺陷，則在所述數(shù)據(jù)庫中標明一個指示需要解決所述缺陷的字段；以及在所述缺陷被成功地解決之后，在所述數(shù)據(jù)庫中相應(yīng)地標明所述字段。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述字段包括一狀態(tài)字段。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述狀態(tài)字段包括活動的、已解決、或已修補中的一個。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述字段包括所述產(chǎn)品被指派給一方進行修復(fù)的信息。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述字段包括關(guān)于所述缺陷的嚴重程度的信息。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述字段包括關(guān)于所述缺陷的優(yōu)先級的信息。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述字段包括關(guān)于執(zhí)行所述測試的一方的信息。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述字段包括關(guān)于所述測試的日期的信息。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述字段包括關(guān)于對所述產(chǎn)品的修正的信息。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述字段包括關(guān)于解決所述缺陷的日期的信息。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述字段包括關(guān)于解決所述缺陷的一方的信息。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括在所述數(shù)據(jù)庫中報告所述缺陷作為測試實例。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括在所述數(shù)據(jù)庫中報告顧客報告的缺陷作為測試實例。
14.一種包含用于對產(chǎn)品執(zhí)行測試的方法的計算機可讀介質(zhì)，所述方法包括根據(jù)存儲在數(shù)據(jù)庫中的一組測試實例，對產(chǎn)品應(yīng)用測試；如果所述測試指示所述產(chǎn)品中有缺陷，則在所述數(shù)據(jù)庫中標明一個指示需要解決所述缺陷的字段；以及在所述缺陷被成功地解決之后，在所述數(shù)據(jù)庫相應(yīng)地標明所述字段。
15.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述字段包括一狀態(tài)字段。
16.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述狀態(tài)字段包括活動的、已解決、或已修補中的一個。
17.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述字段包括所述產(chǎn)品被指派給一方進行修復(fù)的信息。
18.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述字段包括關(guān)于所述缺陷的嚴重程度的信息。
19.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述字段包括關(guān)于所述缺陷的優(yōu)先級的信息。
20.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述字段包括關(guān)于執(zhí)行所述測試的一方的信息。
21.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述字段包括關(guān)于所述測試的日期的信息。
22.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述字段包括關(guān)于對所述產(chǎn)品的修正的信息。
23.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述字段包括關(guān)于解決所述缺陷的日期的信息。
24.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述字段包括關(guān)于解決所述缺陷的一方的信息。
25.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述方法還包括在所述數(shù)據(jù)庫中報告所述缺陷作為測試實例。
26.如權(quán)利要求14所述的計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，所述方法還包括在所述數(shù)據(jù)庫中報告顧客報告的缺陷作為測試實例。
27.一種用于對產(chǎn)品執(zhí)行測試的設(shè)備，包括用于根據(jù)存儲在數(shù)據(jù)庫中的一組測試實例對產(chǎn)品應(yīng)用測試的裝置；用于在所述測試指示所述產(chǎn)品中有缺陷的情況下在所述數(shù)據(jù)庫中標明一指示需要解決所述缺陷的字段的裝置；以及用于在所述缺陷被成功地解決之后在所述數(shù)據(jù)庫中相應(yīng)地標明所述字段的裝置。
28.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，所述字段包括一狀態(tài)字段。
29.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，所述狀態(tài)字段包括活動的、已解決、或已修補中的一個。
30.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，所述字段包括所述產(chǎn)品被指派給一方進行修復(fù)的信息。
31.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，所述字段包括關(guān)于所述缺陷的嚴重程度的信息。
32.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，所述字段包括關(guān)于所述缺陷的優(yōu)先級的信息。
33.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，所述字段包括關(guān)于執(zhí)行所述測試的一方的信息。
34.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，所述字段包括關(guān)于所述測試的日期的信息。
35.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，所述字段包括關(guān)于對所述產(chǎn)品的修正的信息。
36.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，所述字段包括關(guān)于解決所述缺陷的日期的信息。
37.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，所述字段包括關(guān)于解決所述缺陷的一方的信息。
38.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，還包括用于在所述數(shù)據(jù)庫中報告所述缺陷作為測試實例的裝置。
39.如權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其特征在于，還包括用于在所述數(shù)據(jù)庫中報告顧客報告的缺陷作為測試實例的裝置。
40.一種對產(chǎn)品執(zhí)行測試的方法，所述方法包括根據(jù)存儲在數(shù)據(jù)庫中的一組測試實例，對產(chǎn)品應(yīng)用測試；如果所述測試指示有缺陷，則在所述數(shù)據(jù)庫中報告所述缺陷作為測試實例。
41.一種對產(chǎn)品執(zhí)行測試的方法，所述方法包括根據(jù)存儲在數(shù)據(jù)庫中的一組測試實例，對產(chǎn)品應(yīng)用測試；如果未能通過所述測試，則在所述數(shù)據(jù)庫中標明一指示所述產(chǎn)品需要修復(fù)的字段；在所述數(shù)據(jù)庫中報告所述缺陷作為測試實例；根據(jù)所述數(shù)據(jù)庫中存儲的一組修復(fù)過程來修復(fù)所述產(chǎn)品；以及在所述產(chǎn)品被成功地修復(fù)之后，在所述數(shù)據(jù)庫中相應(yīng)地標明所述字段。
42.一種為產(chǎn)品提供測試信息的方法，所述方法包括提供一組測試實例用于測試產(chǎn)品；以及提供一組字段用于跟蹤所述測試的結(jié)果，其中，所述一組測試實例和所述一組字段是在一個實體中提供的。
全文摘要
對產(chǎn)品進行測試的方法和設(shè)備包括根據(jù)存儲在數(shù)據(jù)庫中的一組測試實例對產(chǎn)品進行測試。此方法還包括，如果測試指示產(chǎn)品中有缺陷，則在數(shù)據(jù)庫中的一個字段指示需要解決該缺陷，以及在數(shù)據(jù)庫中的該字段指示已成功解決該缺陷。該方法還包括在數(shù)據(jù)庫中報告缺陷以作為測試實例。
文檔編號G07C3/14GK1802644SQ200480010951
公開日2006年7月12日 申請日期2004年3月17日 優(yōu)先權(quán)日2003年3月17日
發(fā)明者E·S·－H·赫西 申請人:高通股份有限公司