專利名稱：用于測試諸如紙幣或有價(jià)證券的片狀材料處理裝置中存儲數(shù)據(jù)完整性的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種對片狀材料處理裝置中所存儲數(shù)據(jù)的完整性(intactness)進(jìn)行測試的方法，所述片狀材料可以是例如紙幣或有價(jià)證券。
這樣的處理裝置通常包括若干組件，其中每一組件在對片狀材料進(jìn)行處理的過程中實(shí)現(xiàn)一定的功能。該處理裝置的一個(gè)組件是控制裝置，其重要性高于其余的組件。該控制裝置控制處理裝置的各個(gè)運(yùn)作。其余的組件被設(shè)計(jì)成模塊，用于實(shí)現(xiàn)對片狀材料的實(shí)際處理。單個(gè)模塊的處理操作可以是例如將疊放在一起的片狀材料分離開來、測試片狀材料的狀態(tài)或真?zhèn)巍魉推瑺畈牧?、堆積或銷毀片狀材料。
處理裝置的組件可以裝有存儲器，用于存儲操縱處理裝置所需的數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)可以是例如控制命令、程序、結(jié)果數(shù)據(jù)或基準(zhǔn)數(shù)據(jù)。將處理裝置的單個(gè)組件彼此連接起來，使得能夠在它們之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。
上述處理裝置可以在不同的操作狀態(tài)下工作。所述工作狀態(tài)可以例如由操作者通過輸入一定的參數(shù)來確定。這樣的參數(shù)可以是需要測試的張數(shù)、紙幣的金額、某種測試標(biāo)準(zhǔn)的類型或等級或者類似的信息。
德國專利DE-PS27060453號披露了一種這樣的處理裝置。為了存儲數(shù)據(jù)，所述控制裝置和單個(gè)的模塊都設(shè)有各自的存儲器，用于存儲操縱處理裝置所需的數(shù)據(jù)。通過一個(gè)主存儲器來進(jìn)行控制裝置和模塊之間的數(shù)據(jù)交換，所述控制裝置和模塊都可以訪問該主存儲器。此外，各個(gè)模塊也都直接相互連接起來，以便進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。
德國專利申請公開DE-OS3347607號披露了一種處理裝置，其中采用了多個(gè)相似的模塊，用于對片狀材料進(jìn)行光學(xué)測試。其中控制裝置和單個(gè)的模塊都具有用于存儲數(shù)據(jù)的存儲器。通過數(shù)據(jù)總線將單個(gè)的模塊彼此連接起來并與控制裝置相連接。此外，在該數(shù)據(jù)總線上還連接了一個(gè)級別更高的存儲器，所有的組件都可以訪問該存儲器。
在上述類型的裝置中，存儲在處理裝置中的數(shù)據(jù)有可能會出現(xiàn)不希望的變化。這些變化既可以是處理裝置中的干擾所引起的，例如數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)誤或者數(shù)據(jù)的丟失，也可以是出于欺騙目的而對數(shù)據(jù)進(jìn)行有意處置所引起的。
已知裝置都沒有設(shè)置用來查明存儲在處理裝置中的數(shù)據(jù)中的不希望變化的措施。
本發(fā)明的目的是為解決上述問題，提供一種對片狀材料處理裝置中所存儲數(shù)據(jù)的完整性進(jìn)行測試的方法，能夠?qū)λ鰯?shù)據(jù)的變化進(jìn)行核實(shí)。
上述問題是通過獨(dú)立權(quán)利要求中所述的技術(shù)方案來解決的。
本發(fā)明的基本構(gòu)思是首先在處于完整狀態(tài)的處理裝置的某一操作狀態(tài)下，將對應(yīng)于處理裝置的一個(gè)組件的被測試數(shù)據(jù)的完整數(shù)據(jù)存儲在一個(gè)測試裝置中。為了檢驗(yàn)該組件中的被測試數(shù)據(jù)的完整性，在測試裝置中為每一次測試產(chǎn)生一個(gè)密鑰，該密鑰不同于先前測試中使用過的密鑰。采用上述密鑰和一種密碼算法來編制兩個(gè)密碼。其中一個(gè)密碼由處理裝置的所述組件根據(jù)被測試的數(shù)據(jù)來編制，在該組件中存儲了需要測試的數(shù)據(jù)；另一個(gè)密碼由測試裝置根據(jù)上述完整數(shù)據(jù)來編制。此后，將上述兩個(gè)密碼進(jìn)行相互比較。如果密碼相符，則被測試的數(shù)據(jù)與完整數(shù)據(jù)相符，從而判斷沒有出現(xiàn)不希望的改變。
這種方法的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是其中一個(gè)密碼由測試裝置計(jì)算，另一個(gè)密碼由被測試的組件計(jì)算產(chǎn)生。這也分割了形成密碼所需的計(jì)算容量。
另一優(yōu)點(diǎn)是在每一次測試中產(chǎn)生的密鑰都不同于先前測試中使用過的密鑰。因此，不必對密鑰采取保密措施，不存在密鑰被竊取的危險(xiǎn)。
可以通過在每一次測試中加入一個(gè)隨機(jī)數(shù)，使得用于編制密碼的任選數(shù)據(jù)動態(tài)化。當(dāng)對同樣的數(shù)據(jù)進(jìn)行多次測試時(shí)，是經(jīng)過該動態(tài)化處理之后的數(shù)據(jù)所編制的密碼就會各不相同。這就防止了通過重放先前測試中的密碼來對進(jìn)行欺騙性測試操作。
為了編制所述密碼，最好選擇一種這樣的密碼算法，它同時(shí)還能夠?qū)崿F(xiàn)數(shù)據(jù)的壓縮。由此產(chǎn)生的密碼與原始數(shù)據(jù)量相比具有相對較小的數(shù)據(jù)量。這些密碼的較小數(shù)據(jù)量使得它們能夠更為方便和快速地進(jìn)行交換和比較。
根據(jù)本發(fā)明，來自處理裝置的多個(gè)組件的被存儲數(shù)據(jù)也可以在一次操作中予以測試。為此，在測試裝置中存儲了一個(gè)數(shù)表，根據(jù)其組件需要被測試的處理裝置的工作狀態(tài)，在該數(shù)表中指明在哪些存儲區(qū)域中存儲了來自特定組件的被測試數(shù)據(jù)，在測試裝置的哪些存儲區(qū)域中存儲了相應(yīng)的完整數(shù)據(jù)。采用這一數(shù)表，測試裝置就能夠編制為檢驗(yàn)單個(gè)組件所需的密碼，并將這些密碼與特定組件所產(chǎn)生的密碼進(jìn)行比較。
本發(fā)明的進(jìn)一步的特點(diǎn)能夠由從屬權(quán)利要求看出。下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明，其中

圖1是本發(fā)明第一種實(shí)施例的流程圖；圖2示出了密碼算法的兩種實(shí)施例的流程圖；圖3是處理裝置的方框圖；圖4示出了本發(fā)明第一種實(shí)施例的第一種實(shí)現(xiàn)方式；圖5是包括處理裝置和輔助裝置的系統(tǒng)的方框圖；圖6示出了本發(fā)明第一種實(shí)施例的第二種實(shí)現(xiàn)方式；圖7是本發(fā)明第二種實(shí)施例的流程圖；圖8是經(jīng)過擴(kuò)充的處理裝置的方框圖；圖9示出了本發(fā)明第二種實(shí)施例的實(shí)現(xiàn)方式。
圖1是本發(fā)明第一種實(shí)施例的流程圖。為了通過檢測裝置PE來測試片狀材料處理裝置的組件KP中存儲的數(shù)據(jù)的完整性，首先將完整的數(shù)據(jù)DU存儲在測試裝置PE中。在處于完整狀態(tài)下的處理裝置的某一工作狀態(tài)BZ中，上述完整數(shù)據(jù)DU對應(yīng)于處理裝置的組件KP中需要測試的數(shù)據(jù)DP。
在對處理裝置的組件KP存儲的數(shù)據(jù)的每一次測試中，測試裝置PE都會產(chǎn)生一個(gè)密鑰S，該密鑰在每次數(shù)據(jù)完整性測試中是不同的。該密鑰S用于通過一種密碼算法KY來產(chǎn)生一種密碼。測試裝置PE也能產(chǎn)生任選的一個(gè)隨機(jī)數(shù)Z，用于使數(shù)據(jù)DP或DU動態(tài)化。
隨后，將編制密碼所需的數(shù)據(jù)S或Z由測試裝置PE傳輸?shù)叫枰獪y試的組件KP。在測試裝置PE和被測試組件KP中均采用該密碼算法KY和密鑰S或隨機(jī)數(shù)Z來計(jì)算出密碼。在處理裝置的組件KP中，根據(jù)需要測試的數(shù)據(jù)DP來編制密碼KYP。在測試裝置PE中，根據(jù)所述完整數(shù)據(jù)DU來編制密碼KYU，該完整數(shù)據(jù)DU對應(yīng)于完整狀態(tài)下的被測試數(shù)據(jù)DP。
隨后，在比較V中對密碼KYU和KYP進(jìn)行比較。為此，將密碼KYP由需要測試的組件KP傳輸?shù)綔y試裝置PE。上述比較V例如可以直接由測試裝置來進(jìn)行。另一種進(jìn)行比較V的方式是以可讀方式輸出密碼KYU和密碼KYP，然后由處理裝置的操作者BD來進(jìn)行密碼的比較V。
如果需要測試的是處理裝置中的幾個(gè)組件，或者處理裝置的不同工作狀態(tài)BZ中的一個(gè)組件，或者是上述兩種可能性的結(jié)合，則可選擇地在測試裝置中存儲一個(gè)數(shù)表TAB。在上述數(shù)表TAB中，根據(jù)其組件需要予以測試的處理裝置的可能工作狀態(tài)BZ，指明在哪些存儲區(qū)域SP中存儲了特定組件的需要測試的數(shù)據(jù)DP，在測試裝置PE的哪些存儲區(qū)域SU中存儲了所述完整數(shù)據(jù)DU。此外，根據(jù)處理裝置的各種可能的工作狀態(tài)，將所有的完整數(shù)據(jù)DU都存在測試裝置的上述數(shù)表TAB中。
可以采用例如直接物理存儲器地址或者邏輯名稱來確定存儲區(qū)域SP或SU。直接物理存儲器地址通常用于半導(dǎo)體存儲器，例如RAM、ROM、EPROM、EEPROM或者類似存儲器。通過例如指定存儲器中的起始地址和結(jié)尾地址，或者通過指定存儲器中的起始地址和存儲區(qū)域的長度來確定存儲區(qū)域。對于大容量存儲器來說，例如硬盤、磁盤、CDROM驅(qū)動器或類似存儲裝置，通常采用邏輯名稱(文件名)來確定一定的存儲區(qū)域。
圖2a示出了密碼算法KY的一種實(shí)施例。在執(zhí)行實(shí)際密碼算法KY之前，可以通過加入隨機(jī)數(shù)Z，使需要予以編碼的數(shù)據(jù)DU或DP動態(tài)化?？梢赃M(jìn)行這種動態(tài)化處理，以便采用本來是相同的密碼算法KY獲得不同的密碼KYU或KYP。這一步驟可以防止通過對處理裝置的欺騙性操作由已往的測試來盜竊密碼，進(jìn)而在處理裝置中重新使用來模仿正確的測試。
采用壓縮方法KV，對采用隨機(jī)數(shù)Z予以動態(tài)化之后的數(shù)據(jù)DU或DP進(jìn)行壓縮。隨后，通過采用密鑰S的編碼方法VV對經(jīng)過壓縮所獲得的數(shù)據(jù)KD進(jìn)行編碼。采用編碼方法VV獲得的結(jié)果就是所需要的密碼KYU或KYP。
可以采用所有的公知方法來進(jìn)行上述壓縮和編碼。已知的壓縮方法例如可以是散列函數(shù)。所采用的編碼方法VV例如可以是數(shù)據(jù)加密標(biāo)準(zhǔn)(DES)或者諸如RSA算法之類的公共密鑰(Public key)方法。
圖2b示出了密碼算法KY的另一種實(shí)施例。根據(jù)這種實(shí)施例，首先在需要編碼的數(shù)據(jù)DU或DP中加入密鑰S，然后采用壓縮方法KV直接將它們壓縮成為密碼KYU或KYP。一般說來，也可以采用其他類型的密碼算法KY。
圖3是片狀材料處理裝置的結(jié)構(gòu)方框圖。它包括3個(gè)組件10、20、30，通過數(shù)據(jù)線100將這些組件彼此連接起來?？刂平M件10是一個(gè)其重要地位高于其他組件的組件，用于控制其他單個(gè)組件的運(yùn)行。該控制組件10除了其他部分之外，主要包括處理器11，它可以訪問半導(dǎo)體存儲器12和大容量存儲器13。
半導(dǎo)體存儲器12可以由易失性PAM或非易失性ROM、EPROM、EEPROM或類似存儲器構(gòu)成。在執(zhí)行程序的過程中處理器11通常是采用易失性PAm。非易失性存儲器中存儲用于操縱該處理裝置所需的數(shù)據(jù)。通常采用直接物理存儲器地址來確定半導(dǎo)體存儲器12的存儲區(qū)域。
大容量存儲器13用于存儲大量的數(shù)據(jù)，可以采用例如硬盤、磁盤、CD-ROM驅(qū)動器或類似存儲裝置來實(shí)現(xiàn)。大容量存儲器13中存儲操縱處理裝置所需的數(shù)據(jù)。大容量存儲器13的存儲區(qū)域通常采用邏輯名稱來確定。
如圖所示的處理裝置另外的組件是兩個(gè)模塊(module)20和30。盡管它們具有相同的方框結(jié)構(gòu)，但是在處理裝置對片狀材料進(jìn)行處理的過程中卻能夠?qū)崿F(xiàn)不同的功能。在圖中將模塊的數(shù)目表示為兩個(gè)僅僅是為了清楚起見。
與控制裝置10相似，每一個(gè)模塊20、30都分別具有處理器21、31，半導(dǎo)體存儲器22、32和大容量存儲器23、33。存儲在存儲器22、23、32、33中的數(shù)據(jù)用于操縱相應(yīng)的模塊。
存儲在存儲器12、13、22、23、32、33中的數(shù)據(jù)一般是不同的，通常取決于處理裝置的工作狀態(tài)BZ和組件的功能。
在圖4所示的本發(fā)明第一種實(shí)施例的第一種實(shí)現(xiàn)方式流程圖中，測試裝置PE的功能由控制裝置10來完成。與在完整狀態(tài)之下存儲在存儲器12、13、22、23、32、33中的被測試數(shù)據(jù)DP相對應(yīng)的完整數(shù)據(jù)DU如圖3所示被存儲在控制裝置10的大容量存儲器13的相應(yīng)存儲區(qū)域D12、D13、D22、D23、D32、D33中。此外，在大容量存儲器13中還存儲了相應(yīng)的數(shù)表TAB，用于對處理裝置的多個(gè)組件進(jìn)行測試。為測試所需的密碼KYU由控制裝置10編制。相應(yīng)的密碼KYP由被測試的組件編制。被測試的組件KP可以是模塊20或30或者是控制裝置10本身。隨后，由控制裝置10來進(jìn)行所編制的密碼KYU或KYP的比較V，或者由控制裝置10以可讀方式輸出所述密碼，以便由處理裝置的操作者可以進(jìn)行該比較V。
圖5示出了配有一個(gè)輔助裝置40的處理裝置的結(jié)構(gòu)方框圖。該輔助裝置40可以是一個(gè)個(gè)人計(jì)算機(jī)，可以將該計(jì)算機(jī)置于不同于處理裝置的位置。所述輔助裝置40也包括一個(gè)處理器41、半導(dǎo)體存儲器42和大容量存儲器43。由于輔助裝置40被用于執(zhí)行如下的測試裝置PE的功能，因此將測試所需的完整數(shù)據(jù)DU或數(shù)表TAB存儲在輔助裝置40的大容量存儲器43中。
為了進(jìn)行測試，所述輔助裝置40與處理裝置之間所需的數(shù)據(jù)交換可以通過不同的方式來進(jìn)行。其中一種可行的方式是由輔助裝置40將該數(shù)據(jù)寫在一個(gè)可攜帶的數(shù)據(jù)載體101上，然后將該載體101送入到控制裝置10中。上述可攜帶的數(shù)據(jù)載體可以是例如芯片卡或軟盤。
另一種可行的方式是提供數(shù)據(jù)線102，用于在控制裝置10與輔助裝置40之間進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。根據(jù)具體空間狀況，上述數(shù)據(jù)線可以是直接連接兩個(gè)組件或者是直接連接一個(gè)網(wǎng)絡(luò)組成。
再一種可行方式是將輔助裝置40直接與處理裝置的內(nèi)部數(shù)據(jù)線100相連接。在這樣的情況下，可以將輔助裝置40看作是處理裝置的一個(gè)組件。
圖6示出了本發(fā)明第一種實(shí)施例的第二種實(shí)現(xiàn)方式的流程圖，亦即采用輔助裝置40的處理裝置的流程圖。如上所述，完整數(shù)據(jù)DU或數(shù)表TAB被存儲在輔助裝置40中。在輔助裝置40中產(chǎn)生另外的密鑰或隨機(jī)數(shù)Z。為了測試存儲在處理裝置中的數(shù)據(jù)的完整性，通過上述連接101、102、103中的一個(gè)將密鑰S和隨機(jī)數(shù)Z傳輸?shù)娇刂蒲b置10。
為了測試數(shù)據(jù)的完整性，此時(shí)必須將控制裝置10置于檢查所需的工作狀態(tài)BZ。這一點(diǎn)可以通過由操作者直接將信息輸入到控制裝置10之中來實(shí)現(xiàn)，也可以通過由輔助裝置將相應(yīng)的信息傳送到控制裝置10來實(shí)現(xiàn)。根據(jù)這樣的信息，控制裝置10就能夠?qū)⑻幚硌b置置于所需的工作狀態(tài)BZ。
根據(jù)所需的工作狀態(tài)BZ，通過輔助裝置40可以將測試所需的信息，亦即被測試的是哪個(gè)組件以及來自特定組件10、20、30的被測試數(shù)據(jù)DP被存儲在哪個(gè)存儲區(qū)域SP中，從數(shù)表TAB中讀出，并傳送到控制裝置10中。
另一種可行的方式是將數(shù)表TAB復(fù)制件存儲在控制裝置10中。此后，控制裝置10就能夠根據(jù)選擇的工作狀態(tài)BZ，從復(fù)制的數(shù)表TAB中直接讀出所需的信息。
輔助裝置40隨后編制所需的密碼KYU，同時(shí)在處理裝置的特定組件10、20、30中編制為進(jìn)行比較所需的密碼KYP。
為了密碼KYU和密碼KYP的比較V，現(xiàn)在可以將密碼KYU由輔助裝置40傳輸?shù)娇刂蒲b置10中，以便在控制裝置10中進(jìn)行比較。此外，也可以從控制裝置10中以可讀方式輸出密碼KYU和密碼KYP。此后，由處理裝置的操作者來進(jìn)行密碼的比較。
如果選用可攜帶的數(shù)據(jù)載體101來作為輔助裝置40和控制裝置10之間的傳送介質(zhì)，為了更為經(jīng)濟(jì)起見，可以在一個(gè)工作步驟中將密鑰S或隨機(jī)數(shù)Z以及編制的KYU寫在可攜帶的數(shù)據(jù)載體101上，然后立即送到控制裝置10中。
圖7是本發(fā)明另一種實(shí)施例的流程圖。如果需要對處理裝置中多個(gè)組件的被存儲數(shù)據(jù)進(jìn)行測試，在測試裝置PE中就必須編制多個(gè)密碼KYU。在這一實(shí)施例中，為了減輕測試裝置PE，將密碼的計(jì)算轉(zhuǎn)移到附加的計(jì)算裝置RE。為此，將計(jì)算密碼所需的完整數(shù)據(jù)DU和密鑰S或隨機(jī)數(shù)Z轉(zhuǎn)移到該計(jì)算裝置RE之中。此后，由計(jì)算裝置RE根據(jù)完整數(shù)據(jù)DU來編制密碼KYU，并將該密碼KYU送回到測試裝置RE。其余的方法步驟與上述第一種實(shí)施例的步驟相似。
圖8示出了一種經(jīng)過擴(kuò)充的處理裝置，它具有附加的計(jì)算裝置50。該計(jì)算裝置50也具有處理器51、半導(dǎo)體存儲器52和大容量存儲器53。計(jì)算裝置50例如可以采用個(gè)人計(jì)算機(jī)來實(shí)現(xiàn)。計(jì)算裝置50通過與數(shù)據(jù)線102相似的數(shù)據(jù)線104，或者通過與數(shù)據(jù)線103相似的數(shù)據(jù)線105與處理裝置相連接。
盡管從理論上講可以采用可攜帶的數(shù)據(jù)載體來連接計(jì)算裝置50和控制裝置10，但是在本實(shí)施例中不推薦采用這種方式，因?yàn)檫@樣需要將數(shù)據(jù)量很大的完整數(shù)據(jù)DU由控制裝置10全部轉(zhuǎn)移到計(jì)算裝置50中。
圖9是在配有計(jì)算裝置50的處理裝置中實(shí)現(xiàn)本發(fā)明第二種實(shí)施例的流程圖。該流程圖與圖4所示的實(shí)現(xiàn)第一種實(shí)施例的流程圖之間的區(qū)別點(diǎn)僅僅在于密碼KYU的計(jì)算是在計(jì)算裝置50中進(jìn)行，然后再將該密碼轉(zhuǎn)移到控制裝置10中。同樣，對密碼KYP和KYU的比較V即可以直接在控制裝置10中進(jìn)行，也可以在以可讀方式輸出該密碼之后由處理裝置的操作者來進(jìn)行。
總之，也可以采用說明書中沒有提到的另外的實(shí)施方式來實(shí)施本發(fā)明?？梢圆捎脝蝹€(gè)的方式為單個(gè)的組件提供上述實(shí)施例中提到的存儲器，如果希望的話，甚至可以部分地省略它們。
權(quán)利要求
1.一種通過測試裝置測試片狀材料處理裝置中所存儲數(shù)據(jù)的完整性的方法，所述片狀材料可以是例如紙幣或有價(jià)證券，該處理裝置具有多個(gè)用于處理片狀材料的組件，并可以在不同的工作狀態(tài)下進(jìn)行工作，其特征在于該方法包括如下的步驟在測試裝置(PE)中存儲完整的數(shù)據(jù)(DU)，該完整數(shù)據(jù)(DU)對應(yīng)于來自處理裝置的一個(gè)組件(KP)的被測試數(shù)據(jù)(DP)，該處理裝置此時(shí)處于完整狀態(tài)下的某一工作狀態(tài)(BZ)；通過測試裝置(PE)來產(chǎn)生一個(gè)密鑰(S)，在每一次對數(shù)據(jù)的完整性進(jìn)行測試時(shí)該密鑰都是不同的；在處理裝置的某一工作狀態(tài)(BZ)下，由其數(shù)據(jù)需要予以測試的那一個(gè)組件(KP)編制一個(gè)密碼(KYP)，該密碼(KYP)是通過密碼算法(KY)和該密鑰(S)，根據(jù)來自組件(KP)的需要測試的數(shù)據(jù)DP計(jì)算出來的；由測試裝置(PE)編制密碼(KYU)，該密碼(KYU)是通過密碼算法(KY)和該密鑰(S)，根據(jù)所述完整的數(shù)據(jù)(DU)計(jì)算出來的；對所述密碼(KYU)和(密碼KYP)進(jìn)行比較(V)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于將數(shù)表(TAB)存儲在測試裝置(PE)中，用于測試來自處理裝置的多個(gè)組件(10、20、30)的被存儲數(shù)據(jù)，根據(jù)處理裝置的工作狀態(tài)(BZ)將下述數(shù)據(jù)存儲在所述數(shù)表(TAB)中需要予以測試的是組件(10、20、30)中哪一個(gè)；在哪個(gè)存儲區(qū)域(SP)中存儲了來自特定組件(10、20、30)的需要被測試的數(shù)據(jù)；在測試裝置(PE)的哪個(gè)存儲區(qū)域(SU)中存儲了相應(yīng)的完整數(shù)據(jù)(DU)。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于可以采用直接物理存儲地址和/或邏輯名稱來訪問上述存儲區(qū)域(SP、SU)。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于在執(zhí)行密碼算法(KY)之前通過加入隨機(jī)數(shù)Z來使數(shù)據(jù)(DU、DP)動態(tài)化。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述密碼算法首先采用一種壓縮方法來壓縮數(shù)據(jù)(DU，DP)，然后通過采用密鑰S的編碼方法(VV)對經(jīng)過壓縮的數(shù)據(jù)(KD)進(jìn)行編碼。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于為了編制密碼(KYU)將完整的數(shù)據(jù)(DU)和密鑰(S)或隨機(jī)數(shù)(Z)通過數(shù)據(jù)線(104、105)由測試裝置(PE)傳送到計(jì)算裝置(RE)；由計(jì)算裝置(RE)計(jì)算出密碼(KYU)；計(jì)算裝置(RE)通過數(shù)據(jù)線(104、105)將密碼(KYU)傳送到測試裝置(PE)。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于所述計(jì)算裝置是處理裝置的一個(gè)組件(50)。
8.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于所述計(jì)算裝置(RE)是一個(gè)外部的裝置。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述測試裝置(PE)是處理裝置的一個(gè)組件(10)。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述測試裝置(PE)是一個(gè)外部裝置(40)。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于通過可攜帶的載體(101)在處理裝置和外部裝置(40)之間傳輸測試所需的數(shù)據(jù)。
12.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于通過數(shù)據(jù)線(102、103)在處理裝置和外部裝置(40)之間傳輸測試所需的數(shù)據(jù)。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述比較(V)由測試裝置(PE)來進(jìn)行。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于以可讀方式輸出密碼(KYP、KYU)，由處理裝置的操作者(BD)來進(jìn)行所述比較(V)。
全文摘要
為了測試被存儲數(shù)據(jù)的完整性，首先在處于完整狀態(tài)的處理裝置的某一個(gè)工作狀態(tài)下，將來自處理裝置的一個(gè)組件的對應(yīng)于被測試數(shù)據(jù)的完整數(shù)據(jù)存儲在測試裝置中。為了檢驗(yàn)一個(gè)組件中被測試數(shù)據(jù)的完整性，在測試裝置中為每一次測試產(chǎn)生一個(gè)密鑰。采用這一密鑰和一種密碼算法來編制兩個(gè)密碼。其中一個(gè)密碼由處理裝置的一個(gè)組件根據(jù)需要被測試數(shù)據(jù)來編制，該組件中存儲了需要被測試的數(shù)據(jù)；另一個(gè)密碼由測試裝置根據(jù)完整數(shù)據(jù)來編制。在此之后，對上述兩個(gè)密碼進(jìn)行相互比較。如果密碼相符，則被測試的數(shù)據(jù)與完整數(shù)據(jù)相符，從而判斷出沒有出現(xiàn)不希望的改變。
文檔編號G07D7/00GK1150849SQ96190362
公開日1997年5月28日 申請日期1996年3月19日 優(yōu)先權(quán)日1995年3月23日
發(fā)明者博多·艾伯特, 威廉·邦特謝克 申請人:吉賽克與德弗連特股份有限公司