檢測(cè)被測(cè)物體厚度的設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及厚度檢測(cè)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種檢測(cè)被測(cè)物體厚度的設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]在紙幣鑒偽領(lǐng)域，點(diǎn)鈔機(jī)、驗(yàn)鈔機(jī)、清分機(jī)可以通過(guò)各種手段對(duì)紙幣真?zhèn)芜M(jìn)行鑒另IJ，在鑒別紙幣真?zhèn)蔚耐瑫r(shí)，也對(duì)紙幣的厚度進(jìn)行在線測(cè)量，然而當(dāng)紙幣上貼有異物，特別是透明膠帶時(shí)，通過(guò)光和磁的檢測(cè)手段往往不能準(zhǔn)確判斷出紙幣上是否貼有異物。
[0003]為了能夠根據(jù)對(duì)紙幣厚度的準(zhǔn)確檢測(cè)判斷出紙幣上是否貼有異物，目前普遍所采用的是接觸式方法，即紙幣通過(guò)壓輪，壓輪產(chǎn)生位移帶動(dòng)霍爾元件磁場(chǎng)的變化，該磁場(chǎng)的變化轉(zhuǎn)換為電壓的變化，在被檢測(cè)紙幣上可能有不同種類的異物或者無(wú)異物的各種的情況下，紙幣的厚度不同，基于對(duì)應(yīng)的檢測(cè)到的電壓的變化不同，確定紙幣厚度，以判斷紙幣上是否有異物，從而達(dá)到準(zhǔn)確檢測(cè)紙幣厚度，并準(zhǔn)確判斷出紙幣上是否貼有異物的目的。但是該方法需使用龐大的機(jī)械設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)，并且該機(jī)械設(shè)備中的壓輪在生產(chǎn)和使用過(guò)程中存在一定的誤差，無(wú)法保證其形狀為規(guī)則的圓形，因此可能導(dǎo)致對(duì)紙幣厚度的檢測(cè)結(jié)果不正確，并且該機(jī)械設(shè)備存在體積大，成本高、安裝、調(diào)試不方便等缺點(diǎn)。
[0004]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)無(wú)法準(zhǔn)確檢測(cè)物體厚度的問(wèn)題，目前尚未提出有效的解決方案。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種檢測(cè)被測(cè)物體厚度的設(shè)備，以至少解決現(xiàn)有技術(shù)無(wú)法準(zhǔn)確檢測(cè)物體厚度的技術(shù)問(wèn)題。
[0006]根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種檢測(cè)被測(cè)物體厚度的設(shè)備，該設(shè)備包括:平行板電容，包括對(duì)應(yīng)設(shè)置的帶電電極和檢出電極對(duì);采樣裝置，與所述檢出電極對(duì)連接，用于在被測(cè)物體從所述帶電電極與所述檢出電極對(duì)之間通過(guò)時(shí)，采樣所述檢出電極對(duì)的兩個(gè)電壓信號(hào);處理裝置，與所述采樣裝置連接，用于基于所述兩個(gè)電壓信號(hào)確定所述被測(cè)物體的厚度。
[0007]進(jìn)一步地，所述處理裝置包括:差分放大電路，與所述采樣裝置連接，用于將所述兩個(gè)電壓信號(hào)進(jìn)行差分放大，得到差分放大信號(hào);模數(shù)轉(zhuǎn)換器，與所述差分放大電路連接，用于將所述差分放大信號(hào)轉(zhuǎn)換為脈沖數(shù)字信號(hào);數(shù)據(jù)處理器，與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器連接，用于基于所述脈沖數(shù)字信號(hào)生成用于表示所述被測(cè)物體厚度的可視化數(shù)據(jù)。
[0008]進(jìn)一步地，所述設(shè)備還包括:傳感器，與控制器連接，用于采集所述設(shè)備當(dāng)前的環(huán)境溫濕度;存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)所述環(huán)境溫濕度的修正參數(shù);所述控制器，分別與所述存儲(chǔ)器和所述差分放大電路連接，用于使用所述修正參數(shù)修正所述差分放大信號(hào)。
[0009]進(jìn)一步地，所述控制器，與所述存儲(chǔ)器連接，用于基于所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的補(bǔ)正電壓數(shù)據(jù)確定基準(zhǔn)電壓數(shù)據(jù);所述設(shè)備還包括:數(shù)模轉(zhuǎn)換器，分別與所述控制器和所述差分放大電路連接，用于將所述基準(zhǔn)電壓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為所述差分放大電路的模擬基準(zhǔn)信號(hào)。
[0010]進(jìn)一步地，所述控制器為:可編輯門(mén)陣列FPGA、ARM處理器或數(shù)字信號(hào)處理器。
[0011]進(jìn)一步地，所述差分放大電路包括:前級(jí)全差分放大電路和后續(xù)一級(jí)或多級(jí)放大電路。
[0012]進(jìn)一步地，所述檢出電極對(duì)為多個(gè)，各個(gè)所述檢出電極對(duì)與所述帶電電極對(duì)應(yīng)設(shè)置，所述采樣裝置包括:采樣電路;移位開(kāi)關(guān)，與所述采樣電路連接，用于依次連接各個(gè)所述檢出電極對(duì)與所述采樣電路。
[0013]進(jìn)一步地，所述移位開(kāi)關(guān)包括:移位寄存器或M0S開(kāi)關(guān)。
[0014]進(jìn)一步地，所述采樣裝置包括:驅(qū)動(dòng)電路，與所述采樣電路連接，用于驅(qū)動(dòng)所述采樣電路工作。
[0015]進(jìn)一步地，所述采樣裝置包括:復(fù)位器，與所述檢出電極對(duì)連接，用于復(fù)位所述檢出電極對(duì)。
[0016]進(jìn)一步地，所述帶電電極的帶電方式為直流帶電或脈沖帶電。
[0017]在本實(shí)用新型實(shí)施例中，當(dāng)被測(cè)物體從檢出電極對(duì)與帶電電極對(duì)之間通過(guò)物體時(shí)，檢出電極對(duì)的兩個(gè)檢出電極的電壓信號(hào)發(fā)生變化，采樣裝置采樣該兩個(gè)電壓信號(hào)，處理裝置對(duì)采樣裝置采樣的檢出電極對(duì)的該兩個(gè)電壓信號(hào)進(jìn)行處理，得到用于表示物體厚度的數(shù)據(jù)。采用上述實(shí)施例，利用本實(shí)用新型通過(guò)平行板電容原理，在被測(cè)物體通過(guò)平行板之間時(shí)，根據(jù)兩極板間的電壓變化信號(hào)確定被測(cè)物體的厚度，解決了現(xiàn)有技術(shù)無(wú)法準(zhǔn)確檢測(cè)物體厚度的技術(shù)問(wèn)題，從而能夠準(zhǔn)確檢測(cè)出物體的厚度，以判斷出物體上是否有異物，且上述實(shí)施例的檢測(cè)被測(cè)物體厚度的設(shè)備具有體積小和重量輕的特點(diǎn)。
【附圖說(shuō)明】
[0018]此處所說(shuō)明的附圖用來(lái)提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0019]圖1是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一種檢測(cè)被測(cè)物體厚度的設(shè)備的示意圖；
[0020]圖2是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一種可選的檢測(cè)被測(cè)物體厚度的設(shè)備的示意圖；
[0021]圖3是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的另一種可選的檢測(cè)被測(cè)物體厚度的設(shè)備的示意圖；
[0022]圖4是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的又一種可選的檢測(cè)被測(cè)物體厚度的設(shè)備的示意圖；
[0023]圖5是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一種確定差分放大電路的基準(zhǔn)電壓數(shù)據(jù)的示意圖；
[0024]圖6是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一種確定被測(cè)物體厚度的可視化數(shù)據(jù)的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0025]為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本實(shí)用新型方案，下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0026]需要說(shuō)明的是，本實(shí)用新型的說(shuō)明書(shū)和權(quán)利要求書(shū)及上述附圖中的術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對(duì)象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本實(shí)用新型的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤?。此外，術(shù)語(yǔ)“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列單元的過(guò)程、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些單元，而是可包括沒(méi)有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過(guò)程、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它單元。
[0027]圖1是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一種檢測(cè)被測(cè)物體厚度的設(shè)備的示意圖，如圖1所示，該設(shè)備可以包括:平行板電容10、采樣裝置30以及處理裝置50。
[0028]其中，平行板電容10，包括對(duì)應(yīng)設(shè)置的帶電電極11和檢出電極對(duì)。如圖1中的檢出電極12和檢出電極13組成一個(gè)檢出電極對(duì)。
[0029]采樣裝置30，與檢出電極對(duì)連接，用于在被測(cè)物體從帶電電極與檢出電極對(duì)之間通過(guò)時(shí)，采樣檢出電極對(duì)的兩個(gè)電壓信號(hào)。
[0030]處理裝置50，與采樣裝置連接，用于基于兩個(gè)電壓信號(hào)確定被測(cè)物體的厚度。
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